JPH04104074A - 電子基板検査装置 - Google Patents
電子基板検査装置Info
- Publication number
- JPH04104074A JPH04104074A JP2221855A JP22185590A JPH04104074A JP H04104074 A JPH04104074 A JP H04104074A JP 2221855 A JP2221855 A JP 2221855A JP 22185590 A JP22185590 A JP 22185590A JP H04104074 A JPH04104074 A JP H04104074A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- variable resistor
- circuit board
- volume
- converter
- electronic board
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Adjustable Resistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、可変抵抗器（以下、ボリュームという）を
有する電子基板の動作を検査するための装置に関するも
のである。
有する電子基板の動作を検査するための装置に関するも
のである。
［従来の技術］
第４図（ａ）、（ｂ）に示すように、ボリューム（第５
図の符号１参照）を有する被検査対象の電子基板２を、
所定の接続手段を介して外部の試験器に接続した後、そ
の接続手段に電子基板２の動作に必要な電源および信号
（例えば第５図に示すような波形Ａの信号）を供給し、
第５図に示すように、所定のボリューム１のつまみを手
動または電動ドライバにより直接操作して抵抗値を変更
し、電子基板２の動作を計測器等で確ごしている。
図の符号１参照）を有する被検査対象の電子基板２を、
所定の接続手段を介して外部の試験器に接続した後、そ
の接続手段に電子基板２の動作に必要な電源および信号
（例えば第５図に示すような波形Ａの信号）を供給し、
第５図に示すように、所定のボリューム１のつまみを手
動または電動ドライバにより直接操作して抵抗値を変更
し、電子基板２の動作を計測器等で確ごしている。
つまり、ボリューム１のつまみを調整することにより、
ボリューム１にて設定される抵抗値を変えることで信号
を変化させ、その電圧出力を電圧計等の計測器により確
認するという手順であり、試験器そのものが、回路を正
常に動作させるための周辺または内部的回路９機構を有
していても。
ボリューム１にて設定される抵抗値を変えることで信号
を変化させ、その電圧出力を電圧計等の計測器により確
認するという手順であり、試験器そのものが、回路を正
常に動作させるための周辺または内部的回路９機構を有
していても。
ボリューム１そのものは、手動またはドライバ等で駆動
することによってのみ制御されている。
することによってのみ制御されている。
また、例えば、第５図に示すように、回路内で発生した
信号の制御を行なっているようなボリューム１を変換さ
せることによる検査は、やはりボリューム１を直接操作
することにより行なっている。
信号の制御を行なっているようなボリューム１を変換さ
せることによる検査は、やはりボリューム１を直接操作
することにより行なっている。
なお、第５図において、符号２ａは電子基板２上のＩＣ
，Ｑｌは電子基板２上のトランジスタである。
，Ｑｌは電子基板２上のトランジスタである。
また、上記接続手段としては、第４図（’ａ ）に示す
ようなコネクタ３によるものや、第４図（ｂ）に示すよ
うなピン４によるものなどがある。後者の接続手段では
、コネクタ３等を接続する代りに、試験器に接続される
針状のピン４を、電子基板２裏のパターン部に直接接触
させることにより、外部との電気的接続を行なっている
。
ようなコネクタ３によるものや、第４図（ｂ）に示すよ
うなピン４によるものなどがある。後者の接続手段では
、コネクタ３等を接続する代りに、試験器に接続される
針状のピン４を、電子基板２裏のパターン部に直接接触
させることにより、外部との電気的接続を行なっている
。
［発明が解決しようとする課題］
従来の電子基板の検査手段では、ボリューム１による抵
抗設定量の制御を手動または電動ドライバ等によりボリ
ューム１を直接駆動することによってのみ行なっている
。しかしながら、ボリューム１の位置、形状等から電動
９手動ドライバが挿入困難な電子基板２も多く、検査の
自動化等において障害があった。例えば、ボリューム１
の操作時間がかかったり、多数のボリューム１が電子基
板２上にある場合、ミスにより未検査のボリューム１が
発生する等の不具合が発生する。
抗設定量の制御を手動または電動ドライバ等によりボリ
ューム１を直接駆動することによってのみ行なっている
。しかしながら、ボリューム１の位置、形状等から電動
９手動ドライバが挿入困難な電子基板２も多く、検査の
自動化等において障害があった。例えば、ボリューム１
の操作時間がかかったり、多数のボリューム１が電子基
板２上にある場合、ミスにより未検査のボリューム１が
発生する等の不具合が発生する。
この発明は上記のような課題を解消するためになさ些た
もので、ボリューム（可変抵抗器）自体を操作すること
なくボリュームを操作したのと同じ変化を外部から被検
査対象に与えられるようにして、検査の省力化、自動化
を実現した電子基板検査装置を得ることを目的とする。
もので、ボリューム（可変抵抗器）自体を操作すること
なくボリュームを操作したのと同じ変化を外部から被検
査対象に与えられるようにして、検査の省力化、自動化
を実現した電子基板検査装置を得ることを目的とする。
口課題を解決するための手段］
この発明に係る電子基板検査装置は、可変抵抗器の入力
端の電圧をＤ／Ａコンバータによって減衰させるととも
にＤ／Ａコンバータの出力を可変抵抗器の出力端に与え
て可変抵抗器の操作を模擬し、電子基板の動作を検査す
るものである。
端の電圧をＤ／Ａコンバータによって減衰させるととも
にＤ／Ａコンバータの出力を可変抵抗器の出力端に与え
て可変抵抗器の操作を模擬し、電子基板の動作を検査す
るものである。
［作 用］
この発明における電子基板検査装置では、電子基板中に
ある可変抵抗器の出力に、外部のＤ／Ａコンバータによ
り可変抵抗器が変化した時と同様の波形が加えられ、あ
たかも可変抵抗器自体が変化したのと同様の動作を、電
子基板中の回路に生じさせて、その電子基板の動作を検
査することができる。
ある可変抵抗器の出力に、外部のＤ／Ａコンバータによ
り可変抵抗器が変化した時と同様の波形が加えられ、あ
たかも可変抵抗器自体が変化したのと同様の動作を、電
子基板中の回路に生じさせて、その電子基板の動作を検
査することができる。
［発明の実施例コ
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第１，２図において、１は被検査対象の電子基板２中の
ボーリューム（可変抵抗器）、２ａは電子基板２中のＩ
Ｃｌ３はボリュームコントロール回路で、このボリュー
ムコントロール回路５は、Ｄ／Ａコンバータ６および出
力用のプッシュプルゲート（出力用バッファ）７を有し
て構成されており、Ｄ’／’Ａコンバータ６としては、
例えば、ＮＥＣ社製のＤ’／ＡコンバータμＰＤ６’３
２６Ｃなどが用いられる。そして５ボリユ一ムコントロ
ール回路５は、ピン８，８′を介して電子基板２上のボ
リューム１の入力端Ｐ工および出力端Ｐ２に接続される
よう゛になっている。
ボーリューム（可変抵抗器）、２ａは電子基板２中のＩ
Ｃｌ３はボリュームコントロール回路で、このボリュー
ムコントロール回路５は、Ｄ／Ａコンバータ６および出
力用のプッシュプルゲート（出力用バッファ）７を有し
て構成されており、Ｄ’／’Ａコンバータ６としては、
例えば、ＮＥＣ社製のＤ’／ＡコンバータμＰＤ６’３
２６Ｃなどが用いられる。そして５ボリユ一ムコントロ
ール回路５は、ピン８，８′を介して電子基板２上のボ
リューム１の入力端Ｐ工および出力端Ｐ２に接続される
よう゛になっている。
さて、ボリューム１を操作した場合、入力端Ｐ１の電圧
が減衰して出力端Ｐ２に発生し、後段のＩＣ２ａに所定
の作用を及ぼ−１のであるが、従来の検査手段では、こ
のボリューム１を操作し、ＩＣ２ａの出力を観察するこ
とにより回路の動作状態を検査していたが１本実施例の
装置では、Ｄ／Ａコンバータ６、プッシュプルゲート７
などから構成されたボリュームコントロール回路５によ
り、次のように電子基板２の動作を検゛査する。
が減衰して出力端Ｐ２に発生し、後段のＩＣ２ａに所定
の作用を及ぼ−１のであるが、従来の検査手段では、こ
のボリューム１を操作し、ＩＣ２ａの出力を観察するこ
とにより回路の動作状態を検査していたが１本実施例の
装置では、Ｄ／Ａコンバータ６、プッシュプルゲート７
などから構成されたボリュームコントロール回路５によ
り、次のように電子基板２の動作を検゛査する。
■ボリューム１の入力端Ｐ１の電圧（波形）を、Ｄ／Ａ
コンバータ６の基準電源とす入く、ピン８を介してＤ／
Ａコンバータ６の１６番端子に取り込む。
コンバータ６の基準電源とす入く、ピン８を介してＤ／
Ａコンバータ６の１６番端子に取り込む。
（■Ｉ）／Ａコンバータ６の２番端子にパソコン等（図
示せず）からの制御パルスｉ入力し、゛１５番出力端子
にボリューム１の入力端Ｐ□における電圧波形を任意に
減衰させたものを発生させる。
示せず）からの制御パルスｉ入力し、゛１５番出力端子
にボリューム１の入力端Ｐ□における電圧波形を任意に
減衰させたものを発生させる。
■１５番端子の出力をプッシュプルゲート７に入力し、
そのプッシュプルゲート７の出力を、ピン８を介してボ
□リューム１の′出力端Ｐ２に印加する。
そのプッシュプルゲート７の出力を、ピン８を介してボ
□リューム１の′出力端Ｐ２に印加する。
■ボリューム１の抵抗値設定位置によって′は元来の出
力端Ｐ２の電圧がプッシュプルゲート７の出力電圧より
低い時も高い時もあるが、このプッシュプルゲート７に
より元来の電圧より高くも低くも制御することができる
。
力端Ｐ２の電圧がプッシュプルゲート７の出力電圧より
低い時も高い時もあるが、このプッシュプルゲート７に
より元来の電圧より高くも低くも制御することができる
。
つまり、電子基板２下部よりピン８，８を利用して外部
と電気的に接続し、ボリュームコントロール回路５によ
ってボリューム１の出力を変化させ、ボリューム１を駆
動したことと同様の動作させることができる。
と電気的に接続し、ボリュームコントロール回路５によ
ってボリューム１の出力を変化させ、ボリューム１を駆
動したことと同様の動作させることができる。
第３図は、パソコン（図示せず）と組み合わせた装置全
体の概略であるが、パソコンのプログラミングにより、
ボリュームコントロール回路（ボリューム出力波形制御
回路）５に所定の信号を送り、ボリューム１を操作する
ことなく電子基板２の検査を行なうことができる。これ
により、検査時間の省略化、検査の自動化、精度の向上
をはかることができる。なお、第３図中、符号４ａ、４
ｂは電子基板２を外部回路と電気的に接続するためのピ
ンである。
体の概略であるが、パソコンのプログラミングにより、
ボリュームコントロール回路（ボリューム出力波形制御
回路）５に所定の信号を送り、ボリューム１を操作する
ことなく電子基板２の検査を行なうことができる。これ
により、検査時間の省略化、検査の自動化、精度の向上
をはかることができる。なお、第３図中、符号４ａ、４
ｂは電子基板２を外部回路と電気的に接続するためのピ
ンである。
また、ボリューム１の出力が単に直流電圧だけでなく種
々の複雑な波形であっても確実にその出力をコントロー
ルすることができる。
々の複雑な波形であっても確実にその出力をコントロー
ルすることができる。
このようにして、ボリューム１自体が制御している電圧
が直流、交流または複雑な波形であっても、確実にボリ
ューム１自体が入力して電圧波形を再現、増＄１（また
は減衰）させうるので１本発明の装置は、どのように使
われているボリューム１に対しても適用可能である。
が直流、交流または複雑な波形であっても、確実にボリ
ューム１自体が入力して電圧波形を再現、増＄１（また
は減衰）させうるので１本発明の装置は、どのように使
われているボリューム１に対しても適用可能である。
なお、上記実施例では、ボリューム１を駆動する回路と
してＤ／Ａコンバータ６を使用しているが、他にオペア
ンプ等を使用し、信号が十電位だけでなく、−電位に対
しても対応が可能な回路を構成し、より幅広い回路に対
応できるようにしてもよい。
してＤ／Ａコンバータ６を使用しているが、他にオペア
ンプ等を使用し、信号が十電位だけでなく、−電位に対
しても対応が可能な回路を構成し、より幅広い回路に対
応できるようにしてもよい。
［発明の効果］
以上のように、この発明によれば、電子基板中にある可
変抵抗器の出力に、Ｄ／Ａコンバータにより可変抵抗器
が変化した時と同様の波形を加え、あたかも可変抵抗器
自体が変化したのと同様の動 。
変抵抗器の出力に、Ｄ／Ａコンバータにより可変抵抗器
が変化した時と同様の波形を加え、あたかも可変抵抗器
自体が変化したのと同様の動 。
作を生じさせるように構成したので、可変抵抗器自体を
操作することなく、電子基板の動作を検査でき検査の省
力化、自動化を実現できる効果がある。
操作することなく、電子基板の動作を検査でき検査の省
力化、自動化を実現できる効果がある。
第１図はこの発明の一実施例による電子基板検査装置を
示す回路図、第２図は本実施例の回路の接続例を示す模
式的な斜視図、第３図は本実施例の回路をパソコンと組
み合わせた場合の全体概略図、第４図（ａ）、（ｂ）は
電子基板と外部回路との電気的接続手段の例を示す斜視
図、第５図は従来の電子基板検査手段を説明するための
電子基板の回路図である。 図において、１−＝−ボリューム（可変抵抗器）、２−
電子基板、６−Ｄ ／ Ａコンバータ。 なお１図中、同一の符号は同一、又は相当部分を示して
いる。
示す回路図、第２図は本実施例の回路の接続例を示す模
式的な斜視図、第３図は本実施例の回路をパソコンと組
み合わせた場合の全体概略図、第４図（ａ）、（ｂ）は
電子基板と外部回路との電気的接続手段の例を示す斜視
図、第５図は従来の電子基板検査手段を説明するための
電子基板の回路図である。 図において、１−＝−ボリューム（可変抵抗器）、２−
電子基板、６−Ｄ ／ Ａコンバータ。 なお１図中、同一の符号は同一、又は相当部分を示して
いる。
Claims (1)
- 可変抵抗器を有する被検査対象の電子基板の動作を検査
する電子基板検査装置において、前記可変抵抗器の入力
端の電圧をＤ／Ａコンバータによって減衰させるととも
に該Ｄ／Ａコンバータの出力を前記可変抵抗器の出力端
に与えて前記可変抵抗器の操作を模擬し、前記電子基板
の動作を検査することを特徴とする電子基板検査装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2221855A JPH04104074A (ja) | 1990-08-22 | 1990-08-22 | 電子基板検査装置 |
| KR1019910013021A KR920004854A (ko) | 1990-08-22 | 1991-07-29 | 전자기판 검사장치 |
| DE4126473A DE4126473A1 (de) | 1990-08-22 | 1991-08-09 | Verfahren und vorrichtung zur untersuchung elektronischer schaltkreise |
| GB9117906A GB2247350B (en) | 1990-08-22 | 1991-08-20 | Method and apparatus for inspecting electronic circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2221855A JPH04104074A (ja) | 1990-08-22 | 1990-08-22 | 電子基板検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04104074A true JPH04104074A (ja) | 1992-04-06 |
Family
ID=16773248
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2221855A Pending JPH04104074A (ja) | 1990-08-22 | 1990-08-22 | 電子基板検査装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04104074A (ja) |
| KR (1) | KR920004854A (ja) |
| DE (1) | DE4126473A1 (ja) |
| GB (1) | GB2247350B (ja) |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4400809A (en) * | 1981-03-02 | 1983-08-23 | Texas Instruments Incorporated | Arbitrary drive for magnetic field waveform control |
| JPS58158566A (ja) * | 1982-03-17 | 1983-09-20 | Hitachi Ltd | 検査装置 |
| US4675673A (en) * | 1984-01-27 | 1987-06-23 | Oliver Douglas E | Programmable pin driver system |
| DE3683284D1 (de) * | 1985-09-23 | 1992-02-13 | Sharetree Systems Ltd | Ofen zum einbrennen integrierter schaltungen. |
| US4816750A (en) * | 1987-01-16 | 1989-03-28 | Teradyne, Inc. | Automatic circuit tester control system |
-
1990
- 1990-08-22 JP JP2221855A patent/JPH04104074A/ja active Pending
-
1991
- 1991-07-29 KR KR1019910013021A patent/KR920004854A/ko not_active Ceased
- 1991-08-09 DE DE4126473A patent/DE4126473A1/de not_active Ceased
- 1991-08-20 GB GB9117906A patent/GB2247350B/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB2247350A (en) | 1992-02-26 |
| GB9117906D0 (en) | 1991-10-09 |
| DE4126473A1 (de) | 1992-03-05 |
| KR920004854A (ko) | 1992-03-28 |
| GB2247350B (en) | 1994-02-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH04213079A (ja) | 任意波形の検査システム | |
| KR20060029268A (ko) | 통합 회로검사장치 | |
| CN107731066A (zh) | 一种基本运算电路实验板及其使用方法 | |
| JP2928534B2 (ja) | インサーキット試験装置および方法 | |
| JPH04104074A (ja) | 電子基板検査装置 | |
| CN207752676U (zh) | 一种基本运算电路实验板 | |
| Pandiev | Development of Laboratory System for Investigation of CMOS Digital Potentiometers Based on AD5143 Evaluation Board | |
| KR100231649B1 (ko) | 커패시터 충전회로를 갖는 검사용 기판 및 이를이용한 집적회로 검사 방법 | |
| TWI871783B (zh) | 自動化測試輔助設備及自動化測試輔助系統 | |
| CN101726638A (zh) | 隔离电路及具有隔离电路的阻抗检测电路 | |
| JP2000280999A (ja) | インタフェースチェッカ | |
| KR100355716B1 (ko) | 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법 | |
| Bashkirov et al. | Comparative analysis of software products for virtual simulation of electrical circuits | |
| JPH06174786A (ja) | バーンインボード | |
| JP2001147254A (ja) | 半導体集積回路のテスト装置とそのテスト方法 | |
| JPH1185251A (ja) | デジタル制御装置およびそのデジタル用入出力基板試験装置 | |
| KR930006962B1 (ko) | 반도체 시험방법 | |
| JP4046590B2 (ja) | 信頼性試験方法 | |
| KR20030094808A (ko) | PC 기반 linear tester에서의 측정 및 릴레이 매트릭스보드 회로설계 기술 | |
| JPH04144249A (ja) | 半導体素子測定方法 | |
| JPS63305263A (ja) | プリント基板測定検査装置 | |
| KR20030003683A (ko) | 전자 부품 및 모듈의 신뢰성 테스트에 이용되는 리니어테스트 장치 | |
| KR19990048279A (ko) | 전압측정에 의한 누설전류 검사방법 및 장치 | |
| JPH0235382A (ja) | 集積回路の検査プログラムの作成方法及び集積回路の検査方法 | |
| JP2004340899A (ja) | 半導体集積回路の試験方法と、半導体集積回路の試験装置と、半導体集積回路の試験方法の実施に用いる標準回路基板と、半導体集積回路の試験方法の実施に用いるｄｃ系中継手段 |