JPH04107901A - 電圧非直線抵抗体とその製造方法 - Google Patents
電圧非直線抵抗体とその製造方法Info
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- JPH04107901A JPH04107901A JP2225304A JP22530490A JPH04107901A JP H04107901 A JPH04107901 A JP H04107901A JP 2225304 A JP2225304 A JP 2225304A JP 22530490 A JP22530490 A JP 22530490A JP H04107901 A JPH04107901 A JP H04107901A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は酸化亜鉛を主成分とする電圧非直線抵抗体に関
するものである。
するものである。
(従来の技術と課題)
従来、から酸化亜鉛(ZnO)を主成分としてBiu(
h+5b2O3+ 5iOz+ Co2O3. Mn0
z等の少量の金属酸化物を副成分として含有した抵抗体
は、優れた電圧非直線性を示すことが広く知られており
、その性質を利用して避雷器等に使用されている。
h+5b2O3+ 5iOz+ Co2O3. Mn0
z等の少量の金属酸化物を副成分として含有した抵抗体
は、優れた電圧非直線性を示すことが広く知られており
、その性質を利用して避雷器等に使用されている。
一方、架空送配電線における電気事故のうち、半数以上
が雷による事故で占められており、送配電線への落雷に
より、鉄塔電位が上昇すると、アークホーンで放電し、
続いて故障電流(続流)が流れるため変電所の遮断器で
遮断し、停電していた。
が雷による事故で占められており、送配電線への落雷に
より、鉄塔電位が上昇すると、アークホーンで放電し、
続いて故障電流(続流)が流れるため変電所の遮断器で
遮断し、停電していた。
この問題を解決する為、応答性が良く、続流遮断性の良
好なギャップレス避雷器が用いられている。この送配電
用ギャップレス避雷器は既存の鉄塔間に挿入しなければ
ならないので、変電所用避雷器と比較して小型化が問題
となっていた。また、ギャップレスである為、上記抵抗
体は常時課電される。従って信転性の点で抵抗体の課電
寿命特性が問題となっていた。
好なギャップレス避雷器が用いられている。この送配電
用ギャップレス避雷器は既存の鉄塔間に挿入しなければ
ならないので、変電所用避雷器と比較して小型化が問題
となっていた。また、ギャップレスである為、上記抵抗
体は常時課電される。従って信転性の点で抵抗体の課電
寿命特性が問題となっていた。
(課題を解決するための手段)
本発明の目的は、主に送配電線用ギャップレス避雷器を
小型化できる電圧非直線抵抗体を提供するにある。
小型化できる電圧非直線抵抗体を提供するにある。
本発明の他の目的は、課電寿命の良好な電圧非直線抵抗
体を提供するにある。
体を提供するにある。
本発明は酸化亜鉛を主成分とし、
■ 酸化ビスマスをB12offに換算して0.5〜1
.2mole%、 ■ 酸化コバルトをC02O3に換算して0.3〜1.
5mole%、 ■ 酸化マンガンをMnO□に換算して0.2〜Q、3
mole%、 ■ 酸化アンチモンを5bzo、に換算して0.5〜1
.5mole%、 ■ 酸化クロムをCrzO,に換算して0.1〜1.5
mole%、 ■ 酸化ケイ素をSiO□に換算して0.6〜2.Qm
ole%、■ 酸化ニッケルをNiOに換算して0.8
〜2.5mole%、 ■ 酸化アルミニウムをAl2O3に換算し0.02m
ole%以下、 ■ 酸化ホウ素をB2O.に換算してo、oooi〜0
,05mole%、 [相] 酸化銀をAg2Oに換算してO,OO1〜0.
05mole%、を含有し、 ■ 0.1mA/cm2の電流密度における制限電圧力
(焼結体単位厚さに換算して230〜330V/mm、
@ 10 A/cm2 と0.1 mA/Cm2の電
流密度におGする制限電圧比V10A/Vo、 ImA
が1.25〜1.45、■ 単位面積当り5KA/cm
2の雷サージ電流(4/10μs波形)を2回印加した
前後の0.1 n+A/(1”の電流密度における制限
電圧低下率が10%以下、Q O,1mA/cm”と
1μA/cm2の電流密度における制限電圧比VO,+
mA/V+ II Aが1.4以下、好ましくは1.3
5以下、 の特性を有することを特徴とする電圧非直線抵抗体であ
る。
.2mole%、 ■ 酸化コバルトをC02O3に換算して0.3〜1.
5mole%、 ■ 酸化マンガンをMnO□に換算して0.2〜Q、3
mole%、 ■ 酸化アンチモンを5bzo、に換算して0.5〜1
.5mole%、 ■ 酸化クロムをCrzO,に換算して0.1〜1.5
mole%、 ■ 酸化ケイ素をSiO□に換算して0.6〜2.Qm
ole%、■ 酸化ニッケルをNiOに換算して0.8
〜2.5mole%、 ■ 酸化アルミニウムをAl2O3に換算し0.02m
ole%以下、 ■ 酸化ホウ素をB2O.に換算してo、oooi〜0
,05mole%、 [相] 酸化銀をAg2Oに換算してO,OO1〜0.
05mole%、を含有し、 ■ 0.1mA/cm2の電流密度における制限電圧力
(焼結体単位厚さに換算して230〜330V/mm、
@ 10 A/cm2 と0.1 mA/Cm2の電
流密度におGする制限電圧比V10A/Vo、 ImA
が1.25〜1.45、■ 単位面積当り5KA/cm
2の雷サージ電流(4/10μs波形)を2回印加した
前後の0.1 n+A/(1”の電流密度における制限
電圧低下率が10%以下、Q O,1mA/cm”と
1μA/cm2の電流密度における制限電圧比VO,+
mA/V+ II Aが1.4以下、好ましくは1.3
5以下、 の特性を有することを特徴とする電圧非直線抵抗体であ
る。
本発明はまた、
i) 次の組成
酸化亜鉛を主成分とし、
■ 酸化ビスマスをBi2O3に換算して0.5〜1.
2mole%、 ■ 酸化コバルトをCo□03に換算して0.3〜1.
5mole%、 ■ 酸化マンガンをMnO□に換算して0.2〜0.8
mole%、 ■ 酸化アンチモンをSb2O3に換算して0.5〜1
.5mole%、 ■ 酸化クロムをCrzOiに換算して0.1〜1.5
+wole%、 ■ 酸化ケイ素をSiO□に換算して0.6〜2.0m
ole%、■ 酸化−1−7ケルをNiOに換算して0
.8〜2.5mole%、 ■ 酸化アルミニウムをAl2O2に換算して0.02
mole%以下、 ■ 酸化ホウ素をB2O3に換算して0.0001〜0
.05mole%、 [相] 酸化銀をAgzOに換算して0.001〜0.
05mole%、を含有する電圧非直線抵抗体素体を形
成し、ii) 前記素体の形成に当っては、主成分の
酸化亜鉛と■の酸化アルミニウムに相当する量のアルミ
ニウムを含む溶液を混合し、噴霧乾燥させ、これを仮焼
し、この仮焼物に他の前述の金属酸化物を混合したもの
を用い、造粒し、成形し、iii) 1130〜12
40℃で本焼成し、iV) 400〜530℃未満で
熱処理することを特徴とする電圧非直線抵抗体の製造方
法である。
2mole%、 ■ 酸化コバルトをCo□03に換算して0.3〜1.
5mole%、 ■ 酸化マンガンをMnO□に換算して0.2〜0.8
mole%、 ■ 酸化アンチモンをSb2O3に換算して0.5〜1
.5mole%、 ■ 酸化クロムをCrzOiに換算して0.1〜1.5
+wole%、 ■ 酸化ケイ素をSiO□に換算して0.6〜2.0m
ole%、■ 酸化−1−7ケルをNiOに換算して0
.8〜2.5mole%、 ■ 酸化アルミニウムをAl2O2に換算して0.02
mole%以下、 ■ 酸化ホウ素をB2O3に換算して0.0001〜0
.05mole%、 [相] 酸化銀をAgzOに換算して0.001〜0.
05mole%、を含有する電圧非直線抵抗体素体を形
成し、ii) 前記素体の形成に当っては、主成分の
酸化亜鉛と■の酸化アルミニウムに相当する量のアルミ
ニウムを含む溶液を混合し、噴霧乾燥させ、これを仮焼
し、この仮焼物に他の前述の金属酸化物を混合したもの
を用い、造粒し、成形し、iii) 1130〜12
40℃で本焼成し、iV) 400〜530℃未満で
熱処理することを特徴とする電圧非直線抵抗体の製造方
法である。
本発明の目的である避雷器の小型化、即ち避雷器の径及
び長さの短縮を図るには、避雷器に収納される電圧非直
線抵抗体(以下素子と記載)の特性を向上して、素子の
径及び段積みされる素子の合計長さを短縮する必要があ
る。
び長さの短縮を図るには、避雷器に収納される電圧非直
線抵抗体(以下素子と記載)の特性を向上して、素子の
径及び段積みされる素子の合計長さを短縮する必要があ
る。
素子の径を短縮するには、素子の開閉サージ放電耐量を
向上する必要がある。これはギヤツブ付及びギャップレ
ス避雷器として遮断器の開閉に伴い発生する開閉サージ
エネルギーが一般に最も大きく、通常これにより素子径
が決定されるからである。本発明者は上述の素子組成及
び製造方法により、IOA/CI”と0.11mA/C
11zの電流密度における制限電圧比V、。A/cm2
/Vo、 111A/CIl+2(以下V10A/Vo
、 ImAと記載)を1.25〜1.45に上げること
により、開閉サージ耐量特性が向上することを見出した
。然し、開閉サージ放電耐量が大幅に向上した場合には
、素子径は短縮されるが、素子径が小さくなりすぎると
雷サージ放電耐量により律速される場合もある。従って
、好ましくは雷サージ放電耐量の向上も必要である。特
にギャップ付避雷器では雷サージ印加に伴う続流電流が
流れる為、雷サージ放電耐量の向上も好ましくは必要で
ある。
向上する必要がある。これはギヤツブ付及びギャップレ
ス避雷器として遮断器の開閉に伴い発生する開閉サージ
エネルギーが一般に最も大きく、通常これにより素子径
が決定されるからである。本発明者は上述の素子組成及
び製造方法により、IOA/CI”と0.11mA/C
11zの電流密度における制限電圧比V、。A/cm2
/Vo、 111A/CIl+2(以下V10A/Vo
、 ImAと記載)を1.25〜1.45に上げること
により、開閉サージ耐量特性が向上することを見出した
。然し、開閉サージ放電耐量が大幅に向上した場合には
、素子径は短縮されるが、素子径が小さくなりすぎると
雷サージ放電耐量により律速される場合もある。従って
、好ましくは雷サージ放電耐量の向上も必要である。特
にギャップ付避雷器では雷サージ印加に伴う続流電流が
流れる為、雷サージ放電耐量の向上も好ましくは必要で
ある。
次に避雷器の長さを短縮するためには、避雷器に収納さ
れる素子のバリスタ電圧を向上しかつ、雷サージ印加後
のバリスタ電圧低下を抑制する必要がある。ここでのバ
リスタ電圧は、0.11mA/CI”の電流密度におけ
る制限電圧V0..IIA/C1l”(以下Vo、1m
Aと記載)を意味する。
れる素子のバリスタ電圧を向上しかつ、雷サージ印加後
のバリスタ電圧低下を抑制する必要がある。ここでのバ
リスタ電圧は、0.11mA/CI”の電流密度におけ
る制限電圧V0..IIA/C1l”(以下Vo、1m
Aと記載)を意味する。
本発明者は上述の素子組成及び製造方法により、230
〜330V/閣の高いバリスタ電圧特性を有し、かつ、
単位面積当り5kA/Cm”の雷サージ電流(4/10
μs波形)を2回印加した前後のバリスタ電圧低下率が
10%以下の素子を得ることができることを見出した。
〜330V/閣の高いバリスタ電圧特性を有し、かつ、
単位面積当り5kA/Cm”の雷サージ電流(4/10
μs波形)を2回印加した前後のバリスタ電圧低下率が
10%以下の素子を得ることができることを見出した。
上述の雷サージ印加条件は一般に避雷器にて設計されて
いる条件に準じたものである。
いる条件に準じたものである。
なお、ギャップレス避雷器では定格電圧を印加した時に
避雷器内に収納されている素子に流れる最大電流を単位
面積(cm”)当り0.1mAとして設計しており、雷
サージ電流印加後のバリスタ電圧低下率の小さな素子を
使用することにより避雷器に収納される素子枚数、即ち
避雷器内に段積される素子の合計長さを短縮することが
できる。
避雷器内に収納されている素子に流れる最大電流を単位
面積(cm”)当り0.1mAとして設計しており、雷
サージ電流印加後のバリスタ電圧低下率の小さな素子を
使用することにより避雷器に収納される素子枚数、即ち
避雷器内に段積される素子の合計長さを短縮することが
できる。
また一方、課電寿命の向上も実用上必要であり、上述の
素子組成及び素子特性を有した素子に於いては、0.1
mA/cm”と1μ八/Cl112の夫々のt流密度に
おける制限電圧比V、1mA/C1l”/Vl uA/
cm2(以下V、、、m^ハ、μAと記載)が1.4以
下であれば良いことを本発明者は見出した。上述の素子
組成及び製造方法により上述の開閉サージ耐量特性、制
限電圧比V10A/Vo、 +llA 、ハ’) スタ
ii圧、M’j−’;i流印加後のバリスタ電圧低下率
、課電寿命の特性を同時に満足する素子が得られた。
素子組成及び素子特性を有した素子に於いては、0.1
mA/cm”と1μ八/Cl112の夫々のt流密度に
おける制限電圧比V、1mA/C1l”/Vl uA/
cm2(以下V、、、m^ハ、μAと記載)が1.4以
下であれば良いことを本発明者は見出した。上述の素子
組成及び製造方法により上述の開閉サージ耐量特性、制
限電圧比V10A/Vo、 +llA 、ハ’) スタ
ii圧、M’j−’;i流印加後のバリスタ電圧低下率
、課電寿命の特性を同時に満足する素子が得られた。
上述の素子組成において、酸化ビスマスはBi、O。
に換算して、0.5〜1.2 mole%、好ましくは
0.6〜0.9 mole%、を用いる。Bit’、は
ZnO粒子間に粒界層を形成しているが、バリスタ特性
の発現に関係するショットキー障壁の形成に係わってい
ると考えられる重要な添加物である。
0.6〜0.9 mole%、を用いる。Bit’、は
ZnO粒子間に粒界層を形成しているが、バリスタ特性
の発現に関係するショットキー障壁の形成に係わってい
ると考えられる重要な添加物である。
0.5 mole%未満では雷サージ放電耐量が低下し
、1.2 mole%を越えると雷サージ印加後の制限
電圧V、、 、mAの低下率(以下ΔVo、 1mAと
記!りが増大する。
、1.2 mole%を越えると雷サージ印加後の制限
電圧V、、 、mAの低下率(以下ΔVo、 1mAと
記!りが増大する。
酸化コバルト及び酸化マンガンはCot’s及びMn0
zに換算し、Co20:I O,3〜1.5 mole
%、好ましくは0.5〜1.25tole%、Mn0z
O,2〜0.8 llole%、好ましくは0.3〜
0.7 mole%、を用いる。Co2O3及びMnO
□はその一部がZnO粒子内に固溶するとともに、一部
は粒界層に析出してショットキー障壁の高さを高める作
用を有する。また、障壁の安定性にも関係していると考
えられる。CozOzが0.3mole%未満では雷サ
ージ印加後のΔv0,1■Aが増大し、1.55tol
e%を越えるとやはり雷サージ印加後のΔV、1mAが
増大し、MnO2が0.2 viole%未満では課電
寿命が悪化し、0.8 mole%を越えるとやはり課
電寿命が悪化する。
zに換算し、Co20:I O,3〜1.5 mole
%、好ましくは0.5〜1.25tole%、Mn0z
O,2〜0.8 llole%、好ましくは0.3〜
0.7 mole%、を用いる。Co2O3及びMnO
□はその一部がZnO粒子内に固溶するとともに、一部
は粒界層に析出してショットキー障壁の高さを高める作
用を有する。また、障壁の安定性にも関係していると考
えられる。CozOzが0.3mole%未満では雷サ
ージ印加後のΔv0,1■Aが増大し、1.55tol
e%を越えるとやはり雷サージ印加後のΔV、1mAが
増大し、MnO2が0.2 viole%未満では課電
寿命が悪化し、0.8 mole%を越えるとやはり課
電寿命が悪化する。
酸化アンチモン及び酸化クロムはSb2O3及びCr
zo 3に換算して、5bzOz 0.5〜1.5 m
ole%、好ましくは0.8〜1.2 mole%、C
rtCh 0.1〜1.5蒙o1e%、好ましくは0
.3〜1.Omole%、を用いる。
zo 3に換算して、5bzOz 0.5〜1.5 m
ole%、好ましくは0.8〜1.2 mole%、C
rtCh 0.1〜1.5蒙o1e%、好ましくは0
.3〜1.Omole%、を用いる。
5bzOi 、CrzOzはZnOと反応してスピネル
相を形成することにより、ZnO粒子の異常粒成長を抑
制して、焼結体の均一性を向上する作用を有する。
相を形成することにより、ZnO粒子の異常粒成長を抑
制して、焼結体の均一性を向上する作用を有する。
5bzOsが0.55iole%未満では雷サージ印加
後)△v0.1■Aが悪化し、雷サージ放電耐量が悪化
し、1.5mole%越えるとやはり雷サージ印加後の
Δv0.。
後)△v0.1■Aが悪化し、雷サージ放電耐量が悪化
し、1.5mole%越えるとやはり雷サージ印加後の
Δv0.。
s+Aが悪化し、開閉サージ放電耐量が悪化し、雷サー
ジ放電耐量が悪化する。CrgO,がQ、l mole
%未満では雷サージ印加後のΔv0.1■Aが悪化し、
1.5mole%を越えるとやはり雷サージ印加後のΔ
v01−Aが悪化する。
ジ放電耐量が悪化する。CrgO,がQ、l mole
%未満では雷サージ印加後のΔv0.1■Aが悪化し、
1.5mole%を越えるとやはり雷サージ印加後のΔ
v01−Aが悪化する。
酸化ケイ素はSiO2に換算して、0.6〜2.0 m
ole%、好ましくは0.7〜1.45tole%、を
用いる。Singは粒界層に析出して、ZnO粒子の粒
成長を抑制する効果がある。非晶質シリカを用いると反
応性が″ 向上し素子特性が向上するため好ましい。
ole%、好ましくは0.7〜1.45tole%、を
用いる。Singは粒界層に析出して、ZnO粒子の粒
成長を抑制する効果がある。非晶質シリカを用いると反
応性が″ 向上し素子特性が向上するため好ましい。
SiO□が9.5 mole%未満では雷サージ放電耐
量が悪化し、2、Omole%を越えると雷サージ放電
耐量が悪化し、雷サージ印加後のΔVo、 vAが悪化
する。
量が悪化し、2、Omole%を越えると雷サージ放電
耐量が悪化し、雷サージ印加後のΔVo、 vAが悪化
する。
酸化−1−7ケルはNiOに換算して、0.8〜2.5
mole%、好ましくは1.0〜1.5mole%、
を用いる。NiOの添加は雷サージ印加後のΔV、、
、n+Aと大電流域における制御!電圧比(シ、kA/
cm”/νo、rmA/Cm”、以下(VskA/Vo
、 1mAと記載)の改善に効果がある。NiOが0.
8 mole%未満では雷サージ印加後のΔV、0.m
Aと大電流域における制限電圧比(VskA/Vo、
rmA)が改善されず、1.5 mole%を越えると
雷サージ印加後のΔVo、 rmAが逆に悪化し、雷サ
ージ放電耐量が悪化する。
mole%、好ましくは1.0〜1.5mole%、
を用いる。NiOの添加は雷サージ印加後のΔV、、
、n+Aと大電流域における制御!電圧比(シ、kA/
cm”/νo、rmA/Cm”、以下(VskA/Vo
、 1mAと記載)の改善に効果がある。NiOが0.
8 mole%未満では雷サージ印加後のΔV、0.m
Aと大電流域における制限電圧比(VskA/Vo、
rmA)が改善されず、1.5 mole%を越えると
雷サージ印加後のΔVo、 rmAが逆に悪化し、雷サ
ージ放電耐量が悪化する。
酸化アルミナはAlzO,lに換算して、0.02mo
le%以下、好ましくは0.002〜0.01+wol
e%、を用いる。
le%以下、好ましくは0.002〜0.01+wol
e%、を用いる。
Al2O3はZnOに固溶してZnO粒子抵抗を下げ、
大電流域における制限電圧比(V、kA/ν。、、mA
)を改善するとともに雷サージ放電耐量を向上する効果
がある。また、誘電率向上効果もある。然し、添加量が
増すと微小電流域の■−■特性が低下(v01mA/V
+μAは増大)するとともに雷サージ印加後のΔ。、、
mAが低下する。AhOffが0.02mole%を越
えると大電流域における制限電圧比(VskA/Vo、
+mA)の改善が頭打となり、雷サージ放電耐量は低
下し雷サージ印加後のΔV、、 、mAも低下する。
大電流域における制限電圧比(V、kA/ν。、、mA
)を改善するとともに雷サージ放電耐量を向上する効果
がある。また、誘電率向上効果もある。然し、添加量が
増すと微小電流域の■−■特性が低下(v01mA/V
+μAは増大)するとともに雷サージ印加後のΔ。、、
mAが低下する。AhOffが0.02mole%を越
えると大電流域における制限電圧比(VskA/Vo、
+mA)の改善が頭打となり、雷サージ放電耐量は低
下し雷サージ印加後のΔV、、 、mAも低下する。
酸化ホウ素と酸化銀はB2O3及びAg2Oに換算して
、B2O3 0.0001〜0.05mole%、好ま
しくは0.001〜Q 、 Q3mo l e%、Ag
zo 0.001〜0.05mole%、好ましくは0
.004〜0.03mole%、を用いる。B2O3と
Ag、Oはともに粒界層を安定化する作用がある(Ag
を含むホウケイ酸ビスマスガラスとして添加すると課電
寿命がより向上するため好ましい。なお、このガラス中
にはZnO等他の金属酸化物を含んでも良い)。
、B2O3 0.0001〜0.05mole%、好ま
しくは0.001〜Q 、 Q3mo l e%、Ag
zo 0.001〜0.05mole%、好ましくは0
.004〜0.03mole%、を用いる。B2O3と
Ag、Oはともに粒界層を安定化する作用がある(Ag
を含むホウケイ酸ビスマスガラスとして添加すると課電
寿命がより向上するため好ましい。なお、このガラス中
にはZnO等他の金属酸化物を含んでも良い)。
B20.が0.0001mole%未満では課電寿命向
上効果が少なく 、0.05mole%を越えると雷サ
ージ印加後のΔV、、、mAが悪化する。Ag2Oが0
.001 mole%未満では雷サージ印加後のΔV、
0.mA改善効果が少なく、0.05 mole%を越
えると逆に雷サージ印加後のΔv0.岬^が悪化する。
上効果が少なく 、0.05mole%を越えると雷サ
ージ印加後のΔV、、、mAが悪化する。Ag2Oが0
.001 mole%未満では雷サージ印加後のΔV、
0.mA改善効果が少なく、0.05 mole%を越
えると逆に雷サージ印加後のΔv0.岬^が悪化する。
0.111A/C11”の電流密度における制@電圧V
、、 、mAを230〜330v/IfiI11(好ま
しくは240〜280 V/mm)とする理由は、23
0 V/mm未満では避雷器の小型化ができず、また、
雷サージ印加後の制限電圧低下率が大きく、330v/
II[lを越えると雷サージ放電耐量が低下する為であ
る。このため、上述した組成で本焼は1130〜124
0’Cで行なう。
、、 、mAを230〜330v/IfiI11(好ま
しくは240〜280 V/mm)とする理由は、23
0 V/mm未満では避雷器の小型化ができず、また、
雷サージ印加後の制限電圧低下率が大きく、330v/
II[lを越えると雷サージ放電耐量が低下する為であ
る。このため、上述した組成で本焼は1130〜124
0’Cで行なう。
制限電圧低下率ΔVo、 +mA (4/10,1/s
、5kA/cm2.2回印加後)を10%以下(好まし
くは5%以下)とする理由は、10%を越えると上述し
たように制限電圧低下分の素子数が多くなり避雷器の長
さ方向が増大する為である。
、5kA/cm2.2回印加後)を10%以下(好まし
くは5%以下)とする理由は、10%を越えると上述し
たように制限電圧低下分の素子数が多くなり避雷器の長
さ方向が増大する為である。
制限電圧低下率ΔV、、 、mAを10%以下とする為
には、上述した素子組成で、 ■ 熱処理を400℃以上で好ましくは0.5時間以上
(より好ましくはlhr以上)行ない、A1□03量は
0.02io1e%以下とし、 ■ AIとZnOとの仮焼は500〜1000℃1好ま
しくは600〜1400℃で行なうのが良い。
には、上述した素子組成で、 ■ 熱処理を400℃以上で好ましくは0.5時間以上
(より好ましくはlhr以上)行ない、A1□03量は
0.02io1e%以下とし、 ■ AIとZnOとの仮焼は500〜1000℃1好ま
しくは600〜1400℃で行なうのが良い。
制限電圧低下率ΔV、、 、mAをさらに好ましく5%
以下とする為には、上述した素子組成で、■ 熱処理を
450’Cで、好ましくは0.5時間(より好ましくは
1時間以上)、行ない、AIZOj量はQ、Q1mol
e%以下とし、 ■ AIとZnOとの仮焼は500〜1000℃1好ま
しくは600〜1400℃とし、 ■ ZnOとアルミニウムとの仮焼物及び金属酸化物の
微粉砕物をアトライタで混合する。
以下とする為には、上述した素子組成で、■ 熱処理を
450’Cで、好ましくは0.5時間(より好ましくは
1時間以上)、行ない、AIZOj量はQ、Q1mol
e%以下とし、 ■ AIとZnOとの仮焼は500〜1000℃1好ま
しくは600〜1400℃とし、 ■ ZnOとアルミニウムとの仮焼物及び金属酸化物の
微粉砕物をアトライタで混合する。
アトライタでの混合では、AIを固溶したZnOと金属
酸化物の混合分散が均一に行なわれるため、素子の均一
性が向上し、良好な電気特性が得られる。特に雷サージ
印加後の制限電圧低下が改善される。
酸化物の混合分散が均一に行なわれるため、素子の均一
性が向上し、良好な電気特性が得られる。特に雷サージ
印加後の制限電圧低下が改善される。
制限電圧比V6.1mA/Vo、 + 11 Aを1.
4以下、(好ましくは1.35以下)とする理由は、1
.4を越えると課電により上記抵抗体を流れる漏洩電流
が増加し、抵抗体が熱暴走して破壊する為である。
4以下、(好ましくは1.35以下)とする理由は、1
.4を越えると課電により上記抵抗体を流れる漏洩電流
が増加し、抵抗体が熱暴走して破壊する為である。
制限電圧比Vo、1mA/V+ u Aを1.4以下と
する為には、上述した組成で熱処理を400℃〜530
℃未満で、好ましくは0.5時間以上(より好ましくは
1時間以上)、行ない、A1.0.量を0.02mol
e%以下とし、1.35以下とする為には熱処理を45
0〜510℃で好ましくは0.5時間以上(より好まし
くは1時間以上)行い、Al2O:l量をQ、Q1mo
le%以下とする。
する為には、上述した組成で熱処理を400℃〜530
℃未満で、好ましくは0.5時間以上(より好ましくは
1時間以上)、行ない、A1.0.量を0.02mol
e%以下とし、1.35以下とする為には熱処理を45
0〜510℃で好ましくは0.5時間以上(より好まし
くは1時間以上)行い、Al2O:l量をQ、Q1mo
le%以下とする。
10^/c112とQ、1mA/C112の電流密度に
おける制限電圧比V I OA/C1z/ Vo、 +
mA/cm ” (以下V10A/V6. +i+A
と記載)は1.25〜1,45、特に1.30〜1.4
0が好ましい。このようにすると開閉サージ耐量が良好
となる。この為にはAl2O3量を0.02mole%
以下、B2O3量を0.0001〜0.05+ao1e
%、Ag2O量を0.001〜0.05mole%とす
る。特に1.30〜1.40とするには、Al2O3を
0.01mole%以下、8.03量を0.001〜0
.03mole%、Agzo量を0.004〜0.03
mole%とする。
おける制限電圧比V I OA/C1z/ Vo、 +
mA/cm ” (以下V10A/V6. +i+A
と記載)は1.25〜1,45、特に1.30〜1.4
0が好ましい。このようにすると開閉サージ耐量が良好
となる。この為にはAl2O3量を0.02mole%
以下、B2O3量を0.0001〜0.05+ao1e
%、Ag2O量を0.001〜0.05mole%とす
る。特に1.30〜1.40とするには、Al2O3を
0.01mole%以下、8.03量を0.001〜0
.03mole%、Agzo量を0.004〜0.03
mole%とする。
大電流域における制限電圧比(VskA/Va、 vA
)は2.6以下が好ましく、特に2.45以下がより好
ましい。このようにするとより雷サージ放電耐量が向上
するとともに、避雷器の長さ方向がより短縮される。こ
の為にはA1□03量は0.002mole%以上が好
ましく、特に0.003+gole%以上がより好まし
い。
)は2.6以下が好ましく、特に2.45以下がより好
ましい。このようにするとより雷サージ放電耐量が向上
するとともに、避雷器の長さ方向がより短縮される。こ
の為にはA1□03量は0.002mole%以上が好
ましく、特に0.003+gole%以上がより好まし
い。
本発明に係る電圧非直線抵抗体を得るためには、まずA
1とZnOとの仮焼を行なう。
1とZnOとの仮焼を行なう。
即ち予め酸化亜鉛と所定量のアルミニウムを含む溶液を
混合し、噴霧乾燥させ、これを仮焼し、この仮焼物に金
属酸化物を混合することにより雷サージ印加後のΔV、
、 1mA、雷サージ放電耐量、開閉サージ放電耐量、
大電流域における制限電圧比及び課電寿命が改善される
。この場合には以下のような作用効果を得ることができ
る。
混合し、噴霧乾燥させ、これを仮焼し、この仮焼物に金
属酸化物を混合することにより雷サージ印加後のΔV、
、 1mA、雷サージ放電耐量、開閉サージ放電耐量、
大電流域における制限電圧比及び課電寿命が改善される
。この場合には以下のような作用効果を得ることができ
る。
(1)アルミニウムを溶液で酸化亜鉛と混合しているた
め、原子レベルで酸化亜鉛中へ固溶する。従って均一性
が良好となるとともに、酸化亜鉛の粒子抵抗が大きく低
下する。ここで、溶液は水溶液、たとえば硝酸塩、塩化
物の水溶液等が好ましい。また混合溶液の固形分濃度は
50〜75−1%が好ましい。
め、原子レベルで酸化亜鉛中へ固溶する。従って均一性
が良好となるとともに、酸化亜鉛の粒子抵抗が大きく低
下する。ここで、溶液は水溶液、たとえば硝酸塩、塩化
物の水溶液等が好ましい。また混合溶液の固形分濃度は
50〜75−1%が好ましい。
(2)混合物スラリーを噴霧乾燥させて一気に水分を除
去しているため、アルミニウムの濃度分布が均一な乾燥
物が得られる。従って均一性が良好となる。このとき、
混合物をバット等の中でゆっくりと乾燥させると、酸化
亜鉛とアルミニウムが部分的に濃度差を生じ好ましくな
い。なお、噴霧乾燥温度は200〜500℃が好ましい
。
去しているため、アルミニウムの濃度分布が均一な乾燥
物が得られる。従って均一性が良好となる。このとき、
混合物をバット等の中でゆっくりと乾燥させると、酸化
亜鉛とアルミニウムが部分的に濃度差を生じ好ましくな
い。なお、噴霧乾燥温度は200〜500℃が好ましい
。
(3)乾燥後の粉体を仮焼することにより、酸化亜鉛粒
子の中へ均一に充分にアルミニウムが固溶する。
子の中へ均一に充分にアルミニウムが固溶する。
従来の方法ではアルミニウムの酸化亜鉛への固溶は、酸
化亜鉛及び金属酸化物の混合を本焼することにより行な
われているため、アルミニウムは酸化亜鉛に充分固溶液
されないのみならず、粒界層中に残留し、雷サージ印加
後の制限電圧、雷サージ放電耐量、開閉サージ放電耐量
及び課電寿命等に悪影響を与える。なお、この仮焼温度
は500〜1000℃1より好ましくは600〜140
0℃が好ましい。
化亜鉛及び金属酸化物の混合を本焼することにより行な
われているため、アルミニウムは酸化亜鉛に充分固溶液
されないのみならず、粒界層中に残留し、雷サージ印加
後の制限電圧、雷サージ放電耐量、開閉サージ放電耐量
及び課電寿命等に悪影響を与える。なお、この仮焼温度
は500〜1000℃1より好ましくは600〜140
0℃が好ましい。
500℃未満ではアルミニウムの固溶が不充分となり、
1000℃を越えると酸化亜鉛の焼結が急速に進むため
である。
1000℃を越えると酸化亜鉛の焼結が急速に進むため
である。
より具体的には、まず0.5μ鴎程度の粒度に調整した
酸化亜鉛原料とアルミニウムを所定量含む溶液(例えば
硝酸アルミニウム水溶液等)と所定の分散剤等を混合し
、得られた混合物を例えばスプレードライヤにより噴霧
乾燥させて乾燥した粉体を得る。その後、得られた粉体
を500〜1000℃の温度、好ましくは酸化雰囲気下
で仮焼し、好ましくは3μm以下、より好ましくは1μ
m以下の所定の粒度の酸化亜鉛原料を得る。ここで得ら
れた酸化亜鉛原料を粉砕するとより好ましい。そして、
この酸化亜鉛原料を、所定の粒度に調整した酸化ビスマ
ス、酸化コバルト、酸化マンガン1.酸化アンチモン、
酸化クロム、酸化ケイ素、酸化ニッケル、酸化銀、酸化
ホウ素等よりなる添加物の所定量を混合する。なお、こ
の場合酸化銀、酸化ホウ素の代わりに硝酸銀、ホウ酸を
用いてもよい。
酸化亜鉛原料とアルミニウムを所定量含む溶液(例えば
硝酸アルミニウム水溶液等)と所定の分散剤等を混合し
、得られた混合物を例えばスプレードライヤにより噴霧
乾燥させて乾燥した粉体を得る。その後、得られた粉体
を500〜1000℃の温度、好ましくは酸化雰囲気下
で仮焼し、好ましくは3μm以下、より好ましくは1μ
m以下の所定の粒度の酸化亜鉛原料を得る。ここで得ら
れた酸化亜鉛原料を粉砕するとより好ましい。そして、
この酸化亜鉛原料を、所定の粒度に調整した酸化ビスマ
ス、酸化コバルト、酸化マンガン1.酸化アンチモン、
酸化クロム、酸化ケイ素、酸化ニッケル、酸化銀、酸化
ホウ素等よりなる添加物の所定量を混合する。なお、こ
の場合酸化銀、酸化ホウ素の代わりに硝酸銀、ホウ酸を
用いてもよい。
好ましくは銀を含むホウケイ酸ビスマスガラスを用いる
とよい。これら原料粉末に対して所定量の結合剤(好ま
しくはポリビニルアルコール水溶液)及び分散剤等を加
え、デイスパーミル好ましくはアトライタにより混合し
た後、好ましくはスプレードライヤにより造粒して造粒
物を得る。造粒後、成形圧力800〜20000kg/
cm2の下で所定の形状に成形する。そして成形体を昇
降温速度30〜70℃/hrで800〜1000℃、保
持時間1〜5時間という条件で仮焼成する。
とよい。これら原料粉末に対して所定量の結合剤(好ま
しくはポリビニルアルコール水溶液)及び分散剤等を加
え、デイスパーミル好ましくはアトライタにより混合し
た後、好ましくはスプレードライヤにより造粒して造粒
物を得る。造粒後、成形圧力800〜20000kg/
cm2の下で所定の形状に成形する。そして成形体を昇
降温速度30〜70℃/hrで800〜1000℃、保
持時間1〜5時間という条件で仮焼成する。
なお、アトライタでの混合は媒体としてジルコニアボー
ルを用い、アジテータアーム (撹拌棒)も材質の安定
化されたジルコニアを用い、タンクの内張りは有機性樹
脂(好ましくはナイロン樹脂)を用いると汚染が極めて
少なくなり好ましい。また、スラリー温度が40℃を越
えないように管理することにより、スラリーのゲル化が
防止でき、酸化亜鉛と金属酸化物が良好に分散混合し、
均−混合及び混合効率の面で好ましい。ここで混合のた
めの時間は1〜10時間が好ましく、より好ましくは2
〜5時間である。また、媒体としてのジルコニアボール
は、酸化マグネシウム(MgO)又は酸化カルシウム(
Cab)等で安定化したジルコニアも使用できるが、酸
化イツトリウム(hoe)で安定化したジルコニアを使
用すると好ましい。
ルを用い、アジテータアーム (撹拌棒)も材質の安定
化されたジルコニアを用い、タンクの内張りは有機性樹
脂(好ましくはナイロン樹脂)を用いると汚染が極めて
少なくなり好ましい。また、スラリー温度が40℃を越
えないように管理することにより、スラリーのゲル化が
防止でき、酸化亜鉛と金属酸化物が良好に分散混合し、
均−混合及び混合効率の面で好ましい。ここで混合のた
めの時間は1〜10時間が好ましく、より好ましくは2
〜5時間である。また、媒体としてのジルコニアボール
は、酸化マグネシウム(MgO)又は酸化カルシウム(
Cab)等で安定化したジルコニアも使用できるが、酸
化イツトリウム(hoe)で安定化したジルコニアを使
用すると好ましい。
なお、仮焼成の前に成形体を昇降温度10〜100”C
/hrで400〜600℃、保持時間1〜10時間で加
熱し結合剤を飛散除去することが好ましい。これを脱脂
体という。ここで素体とは脱脂体及び仮焼体を意味する
。
/hrで400〜600℃、保持時間1〜10時間で加
熱し結合剤を飛散除去することが好ましい。これを脱脂
体という。ここで素体とは脱脂体及び仮焼体を意味する
。
次に、仮焼成した仮焼体の側面に側面高抵抗層を形成す
る。酸化ビスマス、酸化アンチモン、酸化ケイ素、酸化
亜鉛の所定量に有機結合剤としてエチルセルロース、ブ
チルカルピトール、酢酸nブチル等を加えた側面高抵抗
層用混合物ペーストを、60〜300μmの厚さに仮焼
体の側面に塗布する。
る。酸化ビスマス、酸化アンチモン、酸化ケイ素、酸化
亜鉛の所定量に有機結合剤としてエチルセルロース、ブ
チルカルピトール、酢酸nブチル等を加えた側面高抵抗
層用混合物ペーストを、60〜300μmの厚さに仮焼
体の側面に塗布する。
なお、前記混合物ペーストは成形体または脱脂体に塗布
してもよい。次に、これを昇降温速度20〜100″C
/hr (好ましくは30〜60’C/hr)、113
0〜1240℃1好ましくは保持時間3〜7時間という
条件で本焼成する。
してもよい。次に、これを昇降温速度20〜100″C
/hr (好ましくは30〜60’C/hr)、113
0〜1240℃1好ましくは保持時間3〜7時間という
条件で本焼成する。
次に空気中で好ましくは昇降温速度200℃/hr以下
で、400〜530℃未満(好ましくは450〜510
”C)の温度で、好ましくは0.5時間以上(より好ま
しくは1時間以上)、熱処理する。
で、400〜530℃未満(好ましくは450〜510
”C)の温度で、好ましくは0.5時間以上(より好ま
しくは1時間以上)、熱処理する。
なお、ガラス粉末に有機結合剤としてエチルセルロース
、ブチルカルピトール、酢酸nブチル等を加えたガラス
ペーストを前記の側面高抵抗層上に100〜300μm
の厚さに塗布し、空気中で昇降温速度200℃/hr以
下、400〜530℃未満、保持時間0.5時間以上と
いう条件で熱処理することにより、ガラス層の形成を同
時に実施することも可能である。
、ブチルカルピトール、酢酸nブチル等を加えたガラス
ペーストを前記の側面高抵抗層上に100〜300μm
の厚さに塗布し、空気中で昇降温速度200℃/hr以
下、400〜530℃未満、保持時間0.5時間以上と
いう条件で熱処理することにより、ガラス層の形成を同
時に実施することも可能である。
その後、得られた電圧非直線抵抗体の両端面を、SiC
,AlzO3,ダイヤモンド等の#400〜#2000
相当の研磨剤により、水または油を使用して研磨する。
,AlzO3,ダイヤモンド等の#400〜#2000
相当の研磨剤により、水または油を使用して研磨する。
次に研磨面を洗浄後、研磨した両端面に例えばアルミニ
ウム等によって、電極を例えば溶射により設けて、電圧
非直線抵抗体を得る。
ウム等によって、電極を例えば溶射により設けて、電圧
非直線抵抗体を得る。
なお、本発明の組成以外に、電圧非直線抵抗体の使用目
的に応じて、それらによる効果をあまり損なうことのな
い物質を加えて良いことは言うまでもないことである。
的に応じて、それらによる効果をあまり損なうことのな
い物質を加えて良いことは言うまでもないことである。
(実施例)
以下、本発明を実施及び比較例につきさらに詳細に説明
する。
する。
1〜61び′1〜29
次の第1表に示す組成の素体を、第1表に示す製造方法
で処理して、φ47mmXh22.5 mmの実施例1
〜61及び比較例1〜29の電圧非直線抵抗体を製造し
た。これ等の抵抗体の特性は第1表に示す通りであった
。
で処理して、φ47mmXh22.5 mmの実施例1
〜61及び比較例1〜29の電圧非直線抵抗体を製造し
た。これ等の抵抗体の特性は第1表に示す通りであった
。
ここで、電圧非直線抵抗体組成については第1表に示す
通りであるが、シリカは非晶質シリカを用い、B2O3
及びAg2Oはガラス化して用いた。
通りであるが、シリカは非晶質シリカを用い、B2O3
及びAg2Oはガラス化して用いた。
また、AIとZnOとの仮焼は硝酸アルミニウム水溶液
を用い、300℃で噴霧乾燥した後、700℃の温度で
仮焼した。この仮焼物をボットミル等で平均粒子径が1
μ■以下になるように粉砕した。
を用い、300℃で噴霧乾燥した後、700℃の温度で
仮焼した。この仮焼物をボットミル等で平均粒子径が1
μ■以下になるように粉砕した。
ZnO金属酸化物の混合は主にアトライタを使用し、酸
化イツトリウムで安定化してジルコニアボールを用い、
3時間混合した。アトライタを使用しないものについて
はデイスパーミルで3時間混合した。
化イツトリウムで安定化してジルコニアボールを用い、
3時間混合した。アトライタを使用しないものについて
はデイスパーミルで3時間混合した。
本焼は第1表に示す温度で、保持時間5時間で行なった
。
。
熱処理は第1表に示す温度で、保持時間0.5〜2時間
で行なった。
で行なった。
電気特性については、制限電圧(Vo、+mAで表示、
単位V / mm )、5kA/a++”の雷サージ電
流(4/10g波形)を2回印加(5分間隔)した前後
の制限電圧低下率ΔV、0.mAで表示、単位%)、制
限電圧比(V10A/Vo、 +mA、 Vo、 1m
+’t/vl g Aで表示)、開閉サージ放電耐量、
雷サージ放電耐量及び課電寿命を評価した。
単位V / mm )、5kA/a++”の雷サージ電
流(4/10g波形)を2回印加(5分間隔)した前後
の制限電圧低下率ΔV、0.mAで表示、単位%)、制
限電圧比(V10A/Vo、 +mA、 Vo、 1m
+’t/vl g Aで表示)、開閉サージ放電耐量、
雷サージ放電耐量及び課電寿命を評価した。
開閉サージ放電耐量は、2μsの電流波形の衝撃電流に
対する耐量(各20回印加:クリア値、単位:A)であ
る。
対する耐量(各20回印加:クリア値、単位:A)であ
る。
雷サージ放電耐量は、4710μsの電流波形の衝撃電
流に対する耐量(各2回印加:クリア値、単位:KJ)
であり、エネルギー値(電流×電圧×印加時間)で示し
た。雷サージ放電耐量は、電流値で評価した場合にはV
、、、+mAの高い素子はど印加電圧が高くなるため、
放電耐量電流値は低い値を示す。
流に対する耐量(各2回印加:クリア値、単位:KJ)
であり、エネルギー値(電流×電圧×印加時間)で示し
た。雷サージ放電耐量は、電流値で評価した場合にはV
、、、+mAの高い素子はど印加電圧が高くなるため、
放電耐量電流値は低い値を示す。
従って正当な評価ができない。
課電寿命はアレニウスプロットより換算し、40℃課電
率85%で100年以上良好なものはO印(300年以
上良好なものは◎印)、100年を満たないものは×印
で示した。
率85%で100年以上良好なものはO印(300年以
上良好なものは◎印)、100年を満たないものは×印
で示した。
なお、上記評価値は電圧非直線抵抗体の寸法には影響し
ない。例えば直径70圓φの形状でも同様な結果を示し
た。
ない。例えば直径70圓φの形状でも同様な結果を示し
た。
(効 果)
本発明は上述の組成で酸化亜鉛とアルミニウムの仮焼を
行なった上で、電圧非直線抵抗体素体を形成し、上述の
温度で本焼し、熱処理することにより、優れた電圧−電
流特性(第1図参照)が得られるとともに、良好な開閉
サージ放電耐量および雷サージ放電耐量が得られ、これ
により避雷器の径方向が短縮される。
行なった上で、電圧非直線抵抗体素体を形成し、上述の
温度で本焼し、熱処理することにより、優れた電圧−電
流特性(第1図参照)が得られるとともに、良好な開閉
サージ放電耐量および雷サージ放電耐量が得られ、これ
により避雷器の径方向が短縮される。
また、制限電圧V、1mAが大きく、雷サージ印加後に
おけるこの制限電圧V、、 、mAの低下率も小さいた
め、避雷器の長さ方向の短縮が可能となる。好ましくは
アルミニウムを固溶した酸化亜鉛と金属酸化物の混合に
アトライタを用いることにより、上記制限電圧V、1m
Aの低下率をより小さ(でき、さらに避雷器の長さ方向
の短縮が可能となる。
おけるこの制限電圧V、、 、mAの低下率も小さいた
め、避雷器の長さ方向の短縮が可能となる。好ましくは
アルミニウムを固溶した酸化亜鉛と金属酸化物の混合に
アトライタを用いることにより、上記制限電圧V、1m
Aの低下率をより小さ(でき、さらに避雷器の長さ方向
の短縮が可能となる。
さらに、課電寿命も良好であるとともに、大電流域にお
ける制限電圧も良好であるため、主にギャップレス避雷
器用電圧非直線抵抗体として好適である。
ける制限電圧も良好であるため、主にギャップレス避雷
器用電圧非直線抵抗体として好適である。
第1図は本発明の電圧直線抵抗体の電圧−電流特性の一
例を示す特性線図である。
例を示す特性線図である。
Claims (2)
- 1.酸化亜鉛を主成分とし、 1 酸化ビスマスをBi_2O_3に換算して0.5〜
1.2mole%、 2 酸化コバルトをCo_2O_3に換算して0.3〜
1.5mole%、 3 酸化マンガンをMnO_2に換算して0.2〜0.
8mole%、 4 酸化アンチモンをSb_2O_3に換算して0.5
〜1.5mole%、 5 酸化クロムをCr_2O_3に換算して0.1〜1
.5mole%、 6 酸化ケイ素をSiO_2に換算して0.6〜2.0
mole%、 7 酸化ニッケルをNiOに換算して0.8〜2.5m
ole%、 8 酸化アルミニウムをAl_2O_3に換算し0.0
2mole%以下、 9 酸化ホウ素をB_2O_3に換算して0.0001
〜0.05mole%、 10 酸化銀をAg_2Oに換算して0.001〜0.
05mole%、 を含有し、 11 0.1mA/cm^2の電流密度における制限電
圧が焼結体単位厚さに換算して230〜330V/mm 12 10A/cm^2と0.1mA/cm^2の電流
密度における制限電圧比V_1_0A/V_0_._1
mAが1.25〜1.45、 13 単位面積当り5KA/cm^2の雷サージ電流(
4/10μs波形)を2回印加した前後の0.1mA/
cm^2の電流密度における制限電圧低下率が10%以
下、 14 0.1mA/cm^2と1μA/cm^2の電流
密度における制限電圧比V_0_._1mA/V_1μ
Aが1.4以下、の特性を有することを特徴とする電圧
非直線抵抗体。 - 2.i)次の組成 酸化成分を主成分とし、 1 酸化ビスマスをBi_2O_3に換算して0.5〜
1.2mole%、 2 酸化コバルトをCo_2O_3に換算して0.3〜
1.5mole%、 3 酸化マンガンをMnO_2に換算して0.2〜0.
8mole%、 4 酸化アンチモンをSb_2O_3に換算して0.5
〜1.5mole%、 5 酸化クロムをCr_2O_3に換算して0.1〜1
.5mole%、 6 酸化ケイ素をSiO_2に換算して0.6〜2.0
mole%、 7 酸化ニッケルをNiOに換算して0.8〜2.5m
ole%、 8 酸化アルミニウムをAl_2O_3に換算し0.0
2mole%以下、 9 酸化ホウ素をB_2O_3に換算して0.0001
〜0.05mole%、 10 酸化銀をAg_2Oに換算して0.001〜0.
05mole%、 を含有する電圧非直線抵抗体素体を形成し、ii)前記
素体の形成に当っては、主成分の酸化亜鉛と8の酸化ア
ルミニウムに相当する量のアルミニウムを含む溶液を混
合し、噴霧乾燥させ、これを仮焼し、この仮焼物に他の
前述の金属酸化物を混合したものを用い、造粒し、成形
し、 iii)1130〜1240℃で本焼成し、iv)40
0〜530℃未満で熱処理する ことを特徴とする電圧非直線抵抗体の製造方法。
Priority Applications (8)
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|---|---|---|---|
| JP2225304A JP2572882B2 (ja) | 1990-08-29 | 1990-08-29 | 電圧非直線抵抗体とその製造方法 |
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| CA002050097A CA2050097C (en) | 1990-08-29 | 1991-08-28 | Voltage non-linear resistor and method of producing the same |
| DE69116269T DE69116269T2 (de) | 1990-08-29 | 1991-08-28 | Spannungsabhängiger nichtlinearer Widerstand und Verfahren zu seiner Herstellung |
| EP91307888A EP0473419B1 (en) | 1990-08-29 | 1991-08-28 | Voltage non-linear resistor and method of producing the same |
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Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
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|---|---|---|---|
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Citations (3)
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|---|---|---|---|---|
| JPS5676504A (en) * | 1979-11-27 | 1981-06-24 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | Voltage nonnlinear resistance element and method of manufacturing same |
| JPH01228105A (ja) * | 1988-03-09 | 1989-09-12 | Ngk Insulators Ltd | 電圧非直線抵抗体の製造方法 |
| JPH0212901A (ja) * | 1988-06-30 | 1990-01-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 酸化亜鉛バリスタの製造方法 |
-
1990
- 1990-08-29 JP JP2225304A patent/JP2572882B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5676504A (en) * | 1979-11-27 | 1981-06-24 | Matsushita Electric Industrial Co Ltd | Voltage nonnlinear resistance element and method of manufacturing same |
| JPH01228105A (ja) * | 1988-03-09 | 1989-09-12 | Ngk Insulators Ltd | 電圧非直線抵抗体の製造方法 |
| JPH0212901A (ja) * | 1988-06-30 | 1990-01-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 酸化亜鉛バリスタの製造方法 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
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