JPH0411157Y2 - - Google Patents

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JPH0411157Y2
JPH0411157Y2 JP1984051986U JP5198684U JPH0411157Y2 JP H0411157 Y2 JPH0411157 Y2 JP H0411157Y2 JP 1984051986 U JP1984051986 U JP 1984051986U JP 5198684 U JP5198684 U JP 5198684U JP H0411157 Y2 JPH0411157 Y2 JP H0411157Y2
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cylindrical
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negative pressure
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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E30/00Energy generation of nuclear origin
    • Y02E30/30Nuclear fission reactors

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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
  • Special Conveying (AREA)
  • Feeding Of Articles To Conveyors (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は、円筒物体の表面を検査するための
装置において用いられる円筒物体搬送装置に関
し、特に搬送途中での円筒物体の浮き上りを防止
するようにしたことに関する。
〔従来の技術〕
本出願前では未公開であるが、円筒物体の円筒
周面を検査するための装置として次のようなもの
が考えられている。すなわち、複数の円筒物体を
ほぼ同軸状に一列に配列して回転させながら軸方
向に搬送し、搬送途中に設けられた光学系により
円筒物体周面を検査するようにしたものである。
この場合の装置の一例を断面図にて略示すると第
1図のようであり、近接した2本の回転ローラ
1,2の上に円筒物体3を載せ、該ローラ1,2
を同方向に回転駆動することにより円筒物体3を
逆方向に従動回転させ、該円筒物体3の配列を背
後から軸方向に押圧することにより該ローラ1,
2上で搬送する。表面検査用の光学系4は搬送途
中の所定箇所で搬送装置の上方に設けられてお
り、光源4a,収束レンズ4b、シリンドリカル
レンズ4cから成る投光系によつて円筒物体3の
表面上に相当する所定の位置に投射光の焦点を結
ばせ、その反射光を集光レンズ4d,CCD(チヤ
ージ・カツプルド・デバイス)等から成る受光素
子4eを介して受光する。しかし、このような搬
送装置においては、搬送中に円筒物体3が浮き上
がり、照明光の焦点から外れて誤検出を招くおそ
れがあつた。
この浮き上がり現象は、主として次のような原
因に基いている。(1)多数の(例えば20乃至40個程
度)の円筒物体が列を成して背後から押圧され
る。(2)円筒物体の両端面の加工精度が低く、軸に
対して直角になつていない場合がある。(3)円筒物
体の円筒周面が完全な円筒になつていない場合が
ある。(4)円筒物体の端面間の摩擦が大きい場合は
せり上がりが生じる。以上のような要因により、
円筒物体列の最後端を局部的に押圧すれば、各円
筒物体は軸心が完全には一致しないまま各端面間
で部分接触しつつ回転しながら搬送されることに
なるので、特に円筒物体配列の中間部で浮き上が
りが生じ易くなる。
〔考案が解決しようとする問題点〕
この考案は上述の点に鑑みてなされたもので、
搬送途中での円筒物体の浮き上がりを防止し、結
果的に精度の良い円筒物体表面検査を行うことが
できるようにした搬送装置を提供しようとするも
のである。
〔問題点を解決するための手段及び作用〕
この考案は、円筒物体列の搬送路を形成する2
本の回転ローラ間の隙間に沿つて所定範囲で負圧
吸引装置を設け、負圧吸引によつて円筒物体全体
をローラに密着させた状態で搬送するようにした
ことを特徴とするものである。
〔実施例〕
以下添付図面を参照してこの考案の一実施例に
つき詳細に説明しよう。
第2図において、2本の回転ローラ1,2は互
いに近接して搬送方向に平行に延びており、図示
しないモータ等の駆動手段により同一方向に回転
駆動される。該ローラ1,2間の上部に複数の円
筒物体3がほぼ同軸状に一列に配列され、その円
筒物体列3Aの背後よりプツシヤ6により押圧力
を与えて該円筒物体列3Aを矢印A方向に移送す
る。各円筒物体3はローラ1,2の回転に従動し
てそれては反対方向に回転させられ、こうして従
動回転しつつ矢印A方向に(軸方向に沿つて)移
送される。プツシャ6は搬送路の全長にわたつて
ローラ1,2に平行に設けられたガイド7に沿つ
て図示しないリニアドライバによつて直線的に移
送される。
回転ローラ1,2間の隙間に沿つて所定範囲で
負圧吸引装置5が設けられる。この負圧吸引装置
5は該ローラ1,2間の隙間に沿つて所定範囲で
設けられた吸引ノズル5aと、このノズル5aに
連結した排気ダクト5b,該ダクト5bの途中に
設けられた負圧調整バルブ5c、真空ポンプ5d
を含んでいる。
前述の通り、搬送路の途中の所定箇所でローラ
1,2の上方に表面検査用の光学系4が設けられ
ており、負圧吸引装置5は少なくともこの光学系
4の配置に対応する範囲で設けられる。これは、
少なくとも表面検査時において円筒物体の浮き上
がりが生じないようにすればよいからである。し
かし、これに限らず、搬送路全長にわたつて負圧
吸引装置5を設けてもよい。
負圧吸引装置5による負圧吸引によつて円筒物
体3が吸引され、ローラ1,2に密着されると共
に、円筒物体3の周囲に塵などが付着していた場
合はこれも吸引され除去される。従つて、円筒物
体3の浮き上がりが防止され、該円筒物体表面が
光学系4の照明光の焦点から外れることのないよ
うにする。
負圧吸引力は円筒物体3の浮き上がりを防止し
得る程度の比較的弱い力でよいため、負圧調整バ
ルブ5cによつてこれを調整する。バルブ5cの
調整は手動でよいが、円筒物体3の浮き上がりを
検知して自動調整するようにしてもよい。
〔考案の効果〕
以上の通りこの考案によれば、表面検査のため
に搬送される円筒物体を負圧吸引するようにした
ので、該物体が搬送路すなわちローラに密着し、
浮き上がりを防止することができる。従つて、円
筒物体の表面位置が表面検査用照明光の焦点位置
からみだりにずれることがなくなり、該物体表面
の欠陥を見落とすことなく、検査精度を高めるこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案を適用し得る円筒物体表面検
査装置における搬送装置の一列を示す断面図、第
2図はこの考案に係る搬送装置の一実施例を示す
斜視図、である。 1,2……回転ローラ、3……円筒物体、3A
……円筒物体列、4……表面検査用光学系、4a
……光源、4b……収束レンズ、4c……シリン
ドリカルレンズ、4d……集光レンズ、4e……
受光素子、5……負圧吸引装置、5a……吸引ノ
ズル、5b……排気ダクト、5c……負圧調整バ
ルブ、5d……真空ポンプ、6……プツシヤ、7
……プツシヤガイド。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 1 互いに近接して搬送方向に平行に延びた2本
    の回転ローラを設け、該ローラ間の上部に複数
    の円筒物体をほぼ同軸状に一列に配列し、該円
    筒物体列の背後より押圧力を与えて前記ローラ
    の回転に伴つて前記円筒物体列を従動回転させ
    ながら搬送する円筒物体表面検査装置における
    搬送装置において、前記ローラ間の隙間に沿つ
    て、複数の円筒物体をカバーし得る所定範囲
    で、負圧吸引装置を設け、前記円筒物体列にお
    ける連続する複数の円筒物体を同時に負圧吸引
    した状態で該円筒物体列を搬送するようにした
    ことを特徴とする円筒物体表面検査装置におけ
    る搬送装置。 2 前記ローラ上の円筒物体面に光束を投射して
    該円筒物体面の検査を行う光学的検査装置を含
    み、前記負圧吸引装置は少なくともこの光学的
    検査装置の配置に対応する範囲で設けられてい
    る実用新案登録の範囲第1項に記載の円筒物体
    表面検査装置における搬送装置。
JP1984051986U 1984-04-11 1984-04-11 円筒物体表面検査装置における搬送装置 Granted JPS60165853U (ja)

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JPS60165853U JPS60165853U (ja) 1985-11-02
JPH0411157Y2 true JPH0411157Y2 (ja) 1992-03-19

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Families Citing this family (3)

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JP4492275B2 (ja) * 1999-02-08 2010-06-30 Jfeスチール株式会社 表面検査装置
JP2002324703A (ja) * 2001-04-26 2002-11-08 Koa Corp 電子部品の表面観察方法およびその観察装置
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JPS60165853U (ja) 1985-11-02

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