JPH04115548A - 面実装ｉｃのピン検査用テーブル - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はＱＦＰ、、ＳＯＰ等の面実装ＩＣのピンを画像
処理装置を用いて検査する際、ＩＣをｓ！置するための
ピン検査用テーブルに関するものである。

〔従来の技術〕

面実装ＩＣのピンを画像処理装置を用いて検査するに当
っては、従来は第２図に示すように、鏡面台２の中央部
に、四角柱型の透明アクリル樹脂製検査台１を、その上
部を突出させて設置したテーブルを用い、ＩＣ３を当該
検査台１上に載せ、ＩＣ３のピン４を鏡面台２に接触さ
せてピン４の撮影をしていた ところで、近時スタンドオフ、即ち、ピン４によってＩ
Ｃ３が浮上する距ｌ１ｌ（第３図ｄ）が０のＩＣが増え
てきたが、そのようなＩＣの場合、従来の検査台を用い
ると、ピン４が鏡面台２から浮上してしまうことになり
、その場合はピン４の検査を正確に行なうことができな
くなる。また、ＩＣ３が検査台１上で滑動しやすいとい
う問題もある。

〔発明が解決しようとする課題〕

従来の検査台を用いた場合、上述した理由により、スタ
ンドオフがＯの面実装ＩＣについて適確なピン検査を行
なうことは困難であった。

そこで本発明は、スタンドオフがＯの面実装ＩＣであっ
ても、適確にピン検査を行なうことができる面実装ＩＣ
のピン検査用テーブルを提供することを目的とする。

〔課題を解決するための手段〕

本発明は、鏡面台の中央部に透孔を形成し、そこに、上
面にＩＣの下半部が収まる凹陥部を形成した透明アクリ
ル樹脂等の透明資材製の検査台を嵌装して成る面実装Ｉ
Ｃのビン検査用テーブル、を以て上記課題を解決した。

〔作　用〕

ＩＣ本体の下半部は検査台の凹陥部内に収まるので、ビ
ンは確実に鏡面台に接触すると共に、ＩＣの位置決めが
なされ、以て適確なビン検査が可能となる。

〔実施例〕

本発明の好ましい実施例を第１図に拠って説明する。

図中２は従来のものと同様の鏡面台で、その中央部に透
孔２ａが形成され、その下方に適宜光源が配備される。

５は透孔２８内に嵌装された検査台で、その上面に、Ｉ
Ｃ３の下半部が楽に収まる大きさの凹陥部６が形成され
る。検査台５は、透明アクリル樹脂、ガラスその他の透
明資材製とする。

かかる構成のピン検査用テーブルを用い、ＩＣ３のビン
４を画像処理装置にて検査するに当っては、ＩＣ３を検
査台５上に載せるが、その際ＩＣ３の下半部は検査台５
の凹陥部６内に収まるので、ビン４は確実に鏡面台２に
接触することとなる。その際、ビン４が、検査台５の側
壁５ａ上に当接しないよう側壁５ａの高さが設定される
。また、ビン４が検査台５の側壁５ａに跨がることにな
るので、そこにおいてＩＣ３が横ずれすることはなく、
何らの操作も要せずに確実に位置決めを行なうことがで
きることとなり、確実にビン検査を行なうことができる
。

〔発明の効果〕

本発明は上述した通りであって、１３８な構成にして、
スタンドオフが０のＩＣであっても適確なビン検査を行
なうことができ、また、ＩＣを載置するだけで位置決め
ができると共にＩＣを静止杖態に保持し得る効果がある
。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の実施例の一部縦断面図、第２図は従来
のピン検査用テーブルを示す図、第３図はスタンドオフ
の説明図である。 符号の説明 ２−　　テーブル、 ３・−・・ＩＣ。 ５−・−検査台、 ２ａ−−・−透孔 ４・−ビン ６−　凹陥部 第１図 特許出願人　　　国際システムサイエンス第２図 第３図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １、鏡面台（２）の中央部に透孔（２ａ）を形成し、そ
   こに、上面にＩＣ（３）の下半部が収まる凹陥部（６）
   を形成した透明アクリル樹脂等の透明資材製の検査台（
   ５）を嵌装して成る面実装ＩＣのピン検査用テーブル。