JPS63259476A - ジツタ測定回路 - Google Patents

ジツタ測定回路

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Publication number
JPS63259476A
JPS63259476A JP9193387A JP9193387A JPS63259476A JP S63259476 A JPS63259476 A JP S63259476A JP 9193387 A JP9193387 A JP 9193387A JP 9193387 A JP9193387 A JP 9193387A JP S63259476 A JPS63259476 A JP S63259476A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pulse width
circuit
memory
address
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9193387A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenta Mikuriya
健太 御厨
Hideko Tanaka
秀子 田中
Masuo Hanawaka
花若 増生
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP9193387A priority Critical patent/JPS63259476A/ja
Publication of JPS63259476A publication Critical patent/JPS63259476A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/02Measuring characteristics of individual pulses, e.g. deviation from pulse flatness, rise time or duration

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、入力信号のパルス幅を測定し、そのパルス幅
が変動する程度を度数分布として把握するジッタ測定回
路に関するものである。
〔従来の技術〕
第4図は従来のジッタ測定回路の一例を示す構成図であ
る8図において、1はパルス幅測定回路。
2.3はメモリ、4は演算処理回路である。入力信号S
iのパルス幅はパルス幅測定回路1により測定され、そ
の測定値Miは一次第1のメモリ2に蓄えられる。ここ
で、演算処理回路4は第1のメモリ2に蓄えられた測定
値M1を読み出し、この測定値Miを所定の間隔(パル
ス幅値)でランク分けするとともに、各パルス幅値にお
ける出現回数を第2のメモリ3に記憶させる。したがっ
て、第2のメモリ3からはパルス幅が変動する程度を示
した度数分布が得られる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
さて、このようなジッダ測定回路においては。
演算処理回路4における演算速度がパルス幅測定回路1
の測定速度よりも遅いために、全ての測定値旧を一度第
1のメモリ2に蓄えておく必要がある。しかしながら、
一般に、きれいな度数分布を得るためには10万程度の
データ数が必要であるので、このデータを全て記憶して
おくためには、膨大なメモリ容量が必要となってしまう
。また、この膨大な数のデータを演算処理回路4により
処理するためには、非常に長い時間を要してしまう。
本発明は、上記のようが従来装置の欠点をなくし、少な
いメモリ容量で、しかも高速にパルス幅値の度数分布を
得ることのできるジッタ測定回路を簡単な構成により実
現することを目的としたものである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明のジッタ測定回路は、入力信号のパルス幅を測定
しそのパルス幅が変動する程度を度数分布として把握す
るジッタ測定回路において、入力信号のパルス幅を測定
するパルス幅測定回路と、所定の間隔でランク分けされ
たパルス幅値に対する累積度数を記憶するメモリと、前
記パルス幅測定回路において1回の測定が終るごとにそ
の測定出力をアドレス情報として前記メモリをアクセス
し指定されたアドレスの記憶内容に1を加算する積算制
御回路とを具備するようにしたものである。
〔作 用〕
このように、パルス幅測定回路による測定出力をアドレ
ス情報として利用し、指定されたアドレスの内容を1ず
つ増加させるようにすると、測定出力を演算処理回路に
よりランク分けすることなく、直接メモリ上に累積度数
を記憶させることができ、少ないメモリ容量で、しかも
高速にパルス幅値の度数分布を得ることができる。
〔実施例〕
第1rIAは本発明のジッタ測定回路の一実施例を示す
構成図である0図において、前記第4図と同様のものは
同一符号を付して示す。5はパルス幅測定回路1におい
て1回の測定が終るごとに、その測定出力旧をアドレス
情報としてメモリ3をアクセスし、指定されたアドレス
の記憶内容に1を加算する積算制御回路であり、各回路
における動作のタイミングを制御するタイミング制御回
路51と、メモリ3の記憶内容に1を加算する+1演算
回路52とにより構成されている。6はジッタ測定回路
の動作なI11御するとともに、メモリ3の内容を読み
出し1度数分布のグラフを出力する計算機などのインタ
フェースである。
このように構成されたジッタ測定回路において。
パルス幅測定回路1はタイミング制御回路51からの指
令Pgによりパルス幅の測定を開始し、測定終了時に終
了パルスreを発生するとともに、その測定出力Miを
メモリ3のアドレスバスに出力する。
なお、パルス幅測定回路1の形態としては、入力信号S
iのパルス幅をクロックにより計数するものや、入力信
号Hを積分し、その積分値をA/D変換するものなどが
考えられるが、いずれの回路においても、測定出力旧は
2進のバイナリ信号として得ることができ、そのままア
ドレスバスに出力することができる。
ここで、タイミング制御回路51はリード・ライト信号
R/Wを発生し、測定出力Miをアドレス情報としてメ
モリ3をアクセスする。メモリ3において指定されたア
ドレスの内容は+1演算回路52に読み出され、1を加
算された後、再度同じアドレスに格納される。
例えば、入力信号S1のパルス幅がtelling]で
あったとすると、測定出力旧は“11+8”となり、こ
の11・”がアドレスバスに出力される。したがって、
メモリ3においては!66回地がアクセスされ、その内
容に1が加えられる。同様に、パルス幅がINS[nx
]であれば、1000番地の内容に1が加えられる。
このように、測定出力M1をアドレス情報としてメモリ
3をアクセスし、その内容に順次1を加えるようにする
と、面倒な演算処理(ランク分け)を行なうことなく、
メモリ3に直接各パルス幅値に対する累積度数を記憶さ
せることができる。したがって、il定終了後にメモリ
3の内容をパルス幅値の小さい順に読み出せば、パルス
幅の変動の程度を表わす度数分布を得ることができる。
第2図に度数分布の一例を示す。また、メモリ3は累積
度数を記憶するだけであり、しかもそのアドレス数はパ
ルス幅値の分解数に対応したものであるので、非常に少
ないメモリ容量となる。
なお、上記の説明においては、パルス幅測定回路1の測
定出力M1をそのままアドレス情報とじて利用する場合
を例示したが、必要に応じて、測定出力Miの下位ビッ
トのみをアドレス情報として利用することも可能である
。例えば、パルス@沼定回路1の一形態として、パルス
幅の変動部分(終端付近)のみを高分解能で測定する回
路を使用した場合には、その部分の測定出力をアドレス
情報として利用しても良い。
第3図は前記第1図における+1演算回路52の具体例
を示す構成図である0図に示す回路は、プリセットカウ
ンタ521 とバッファ5Nとにより+1演算回路52
を構成したものである。図において、ニド弓3はメモリ
3の入出力端子、10−Nはプリセットカウンタ521
のプリセット入力端子、211−23は出力端子である
。すなわち、メモリ3に対して測定出力M1によりアド
レス情報が与えられるとともに、リード・ライト信号R
/Wが発生されると、そのアドレスに記憶された内容(
累積度数)が読み出され、入出力端子30〜33を介し
てプリセットカウンタ521のプリセット入力端子口〜
13に印加される。このプリセット入力はロード信号P
、により読み込まれ、出力端子20−23にも出力され
る。
その後、プリセットカウンタ521の計数入力端子CL
[には1つの計数パルスPcが印加され、プリセットカ
ウンタ521はこの計数パルスPcttカウントする。
このため、プリセットカウンタ5Hの出力端子20〜2
3にはメモリ3から読み出した値に1を加えた出力が得
られる。したがって、この状態からバッファ522を導
通させ、プリセットカウンタ521の出力をメモリ3の
入出力端子3ト弓3に導くとともに、リード・ライト信
号R/Wを発生すれば、この出力を元のアドレスに格納
することができ、測定出力Miにより指定されたアドレ
スの内容に1を加算することができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明のジッタ測定回路では、入
力信号のパルス幅を測定しそのパルス幅が変動する程度
を度数分布として把握するジッタ測定回路において、入
力信号のパルス幅を測定するパルス幅測定回路と、所定
の間隔でランク分けされたパルス幅値に対する累積度数
を記憶するメモリと、前記パルス幅測定回路において1
回の測定が終るごとにその測定出力をアドレス情報とし
て前記メモリをアクセスし指定されたアドレスの記憶内
容に1を加算する積算制御回路とを具備するようにして
いるので、1g定出力を演算処理回路によりランク分け
することなく、直接メモリ上に累積度数を記憶させるこ
とができ、少ないメモリ容量で、しかも高速にパルス幅
値の度数分布を得ることのできる゛ジッタ測定回路を簡
単な構成により実現することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図は本発明のジッタ測定回路の一実施例を
示す構成図、1214図は従来のジッタ測定回路の一例
を示す構成図である。 l・・・・・・パルス幅測定回路、2,3・・・・・・
メモリ。 4・・・・・・演算処理回路、5・・・・・・積算制御
回路、51・・・・・・タイミング制御回路、5ト・・
・・・+1演算回路。 521・・・・・・プリセットカウンタ、522・・・
・・・バッファ、6・・・・・・インタフェース。 第3図 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 入力信号のパルス幅を測定しそのパルス幅が変動する程
    度を度数分布として把握するジッタ測定回路において、
    入力信号のパルス幅を測定するパルス幅測定回路と、所
    定の間隔でランク分けされたパルス幅値に対する累積度
    数を記憶するメモリと、前記パルス幅測定回路において
    1回の測定が終るごとにその測定出力をアドレス情報と
    して前記メモリをアクセスし指定されたアドレスの記憶
    内容に1を加算する積算制御回路とを具備してなるジッ
    タ測定回路。
JP9193387A 1987-04-16 1987-04-16 ジツタ測定回路 Pending JPS63259476A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9193387A JPS63259476A (ja) 1987-04-16 1987-04-16 ジツタ測定回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9193387A JPS63259476A (ja) 1987-04-16 1987-04-16 ジツタ測定回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63259476A true JPS63259476A (ja) 1988-10-26

Family

ID=14040393

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9193387A Pending JPS63259476A (ja) 1987-04-16 1987-04-16 ジツタ測定回路

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JP (1) JPS63259476A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04280142A (ja) * 1990-03-23 1992-10-06 Sony Tektronix Corp 非周期信号の特性測定方法
JPH04116785U (ja) * 1991-03-29 1992-10-20 アンリツ株式会社 ジツタ測定器

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04280142A (ja) * 1990-03-23 1992-10-06 Sony Tektronix Corp 非周期信号の特性測定方法
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