JPH04117531A - 検査用診断プログラム制御方式 - Google Patents

検査用診断プログラム制御方式

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JPH04117531A
JPH04117531A JP2237373A JP23737390A JPH04117531A JP H04117531 A JPH04117531 A JP H04117531A JP 2237373 A JP2237373 A JP 2237373A JP 23737390 A JP23737390 A JP 23737390A JP H04117531 A JPH04117531 A JP H04117531A
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JP
Japan
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diagnosis
error
diagnostic program
program control
errors
Prior art date
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Pending
Application number
JP2237373A
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English (en)
Inventor
Taiji Asakawa
浅川　泰司
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Computertechno Ltd
Original Assignee
NEC Computertechno Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は検査用診断プログラム制御方式に関し、特にエ
ラー発生時の処理方法に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種の検査用診断プログラムは、診断中エラー
が発生した時点でエラーを表示し、診断を中断すること
となっていた。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の検査用診断プログラム制御方式は、診断
中にエラーが発生した場合エラーを表示して診断を中断
することとなっているので、診断プログラム実行中は人
間が常に装置を監視していなくてはならないという欠点
がある。
〔課題を解決するための手段〕
本発明の検査用診断プログラム制御方式の構成は、コン
ピュータハードウェアの検査用診断プログラムにおいて
、診断中に発生したエラーを検査装置本体に内蔵されて
いる電池でバックアップされたメモリに記録することで
、エラー発生と同時に診断を中断してそのエラーの内容
を確認することなく継続して診断を実施でき、診断終了
後に、すべてのエラーをまとめて確認できることを特徴
とする。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第１図は本発明の一実施例の流れ図である。
診断を開始した後、エラーが発生したら、不揮発性メモ
リにエラーを記録し、診断終了後、その発生したエラー
を確認する。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、診断中に発生したエラー
を不揮発性メモリに記録するだけで診断は継続して行う
ことにより、診断中入間が装置を監視していなくても、
発生したエラーの内容を確認することができ、さらに１
回の診断でエラーが発生した部分以外の部分の診断を終
了させることができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明の一実施例の診断プログラムのエラー発
生時の処理の流れ図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. コンピュータハードウェアの検査用診断プログラムにお
    いて、診断中に発生したエラーを検査装置本体に内蔵さ
    れている電池でバックアップされたメモリに記録するこ
    とで、エラー発生と同時に診断を中断してそのエラーの
    内容を確認することなく継続して診断を実施でき、診断
    終了後に、すべてのエラーをまとめて確認できることを
    特徴とする検査用診断プログラム制御方式。
JP2237373A 1990-09-07 1990-09-07 検査用診断プログラム制御方式 Pending JPH04117531A (ja)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62100845A (ja) * 1985-10-29 1987-05-11 Nec Corp 情報処理装置の試験方式
JPH0248744A (ja) * 1988-08-10 1990-02-19 Nec Eng Ltd 運用監視方式

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62100845A (ja) * 1985-10-29 1987-05-11 Nec Corp 情報処理装置の試験方式
JPH0248744A (ja) * 1988-08-10 1990-02-19 Nec Eng Ltd 運用監視方式

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