JPS62100845A - 情報処理装置の試験方式 - Google Patents
情報処理装置の試験方式Info
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- JPS62100845A JPS62100845A JP60240547A JP24054785A JPS62100845A JP S62100845 A JPS62100845 A JP S62100845A JP 60240547 A JP60240547 A JP 60240547A JP 24054785 A JP24054785 A JP 24054785A JP S62100845 A JPS62100845 A JP S62100845A
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- 230000010365 information processing Effects 0.000 claims description 34
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 15
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 25
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 9
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
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- 206010011224 Cough Diseases 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野]
本発明は情報処理装置の試験方式に関し、特にランダム
に生成した試験データ及び試験手順を用いる試験方式に
関する。
に生成した試験データ及び試験手順を用いる試験方式に
関する。
従来、この種の情報処理装置の試験方式は、乱数を用い
ランダムに生成した試験データ及び試験手順とから成る
ランダム試験プログラムを、例えば被試験情報処理装置
の先行制御!lを行動にした状態で実行した結果と、先
行詞′41■を無効にした状態で実行した結果とを比較
し、比較エラーを検出したときはエラーメツセージを出
力した後、次のランダム試験プログラムを生成し、試験
を続行するようになっていた。
ランダムに生成した試験データ及び試験手順とから成る
ランダム試験プログラムを、例えば被試験情報処理装置
の先行制御!lを行動にした状態で実行した結果と、先
行詞′41■を無効にした状態で実行した結果とを比較
し、比較エラーを検出したときはエラーメツセージを出
力した後、次のランダム試験プログラムを生成し、試験
を続行するようになっていた。
〔発明が解決しようとする問題点]
しかし、上述した従来の情報処理装置の試験方式は、ラ
ンダム試験プログラムが何等かの理由によりストールし
た時、試験を続行することができなかったので、長時間
の自動連続実行ができず試験効率が悪いという欠点があ
った。
ンダム試験プログラムが何等かの理由によりストールし
た時、試験を続行することができなかったので、長時間
の自動連続実行ができず試験効率が悪いという欠点があ
った。
本発明の目的は、ランダム試験プログラムがス゛ 1
しても試験の続行を可能とすることにより、試験効率を
向上することにある。
しても試験の続行を可能とすることにより、試験効率を
向上することにある。
[問題点を解決するための手段]
本発明は上記目的を達成するために、主記憶装置に接続
される情報処理装置を試験するためのランダム試験プロ
グラムを前記主記憶装置に生成し実行する1rJ報処理
装置の試験方式において、ランダム試験プログラム生成
手段と、 該生成手段で生成されたランダム試験プログラムを前記
情報処理装置上で起動させるランダム試験プログラム起
動手段と、 咳起動手段によって起動させられたランダム試験プログ
ラムの実行結果を判定する実行結果判定手段と、 前記起動させられたランダム試験プログラムのス)・−
ルを監視するストール監視手段と、該ストール監視手段
でスI・−ルが検出されたとき前記情報処理装置をラン
ダム試験プログラムが実行できる状態に再度設定してラ
ンダム試験を続行させる試験続行手段とを備える。
される情報処理装置を試験するためのランダム試験プロ
グラムを前記主記憶装置に生成し実行する1rJ報処理
装置の試験方式において、ランダム試験プログラム生成
手段と、 該生成手段で生成されたランダム試験プログラムを前記
情報処理装置上で起動させるランダム試験プログラム起
動手段と、 咳起動手段によって起動させられたランダム試験プログ
ラムの実行結果を判定する実行結果判定手段と、 前記起動させられたランダム試験プログラムのス)・−
ルを監視するストール監視手段と、該ストール監視手段
でスI・−ルが検出されたとき前記情報処理装置をラン
ダム試験プログラムが実行できる状態に再度設定してラ
ンダム試験を続行させる試験続行手段とを備える。
被試験情報処理装置上で起動されたランダム試験プログ
ラムが何等かの理由によりストールした場合、これがス
トール監視手段により検出され、試験続行手段により被
試験情報処理装置がランダム試験プログラムを実行でき
る状態に再度設定されて試験が続行される。
ラムが何等かの理由によりストールした場合、これがス
トール監視手段により検出され、試験続行手段により被
試験情報処理装置がランダム試験プログラムを実行でき
る状態に再度設定されて試験が続行される。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の要部ブロック図であり、l
は試験処理装置、2は被試験情報処理装置である。試験
処理装置1には主記憶装置3と命令処理部5とが含まれ
、主記憶装置3上にランダム試験プログラム生成手段1
1. ランダム試験プログラム起動手段12. 害f
i4u果判定手段13.ストール監視手段14および試
験続行手段15を有するランダム試験タスク10と、オ
ペレーティング・システム30とが格納されている。ま
た、被試験情報処理装置2には、ランダム試験プログラ
ム20がロードされる主記憶装置4と、命令処理部6と
が含まれ、試験処理装置1とは装置間インクフェイス7
により接続されている。
は試験処理装置、2は被試験情報処理装置である。試験
処理装置1には主記憶装置3と命令処理部5とが含まれ
、主記憶装置3上にランダム試験プログラム生成手段1
1. ランダム試験プログラム起動手段12. 害f
i4u果判定手段13.ストール監視手段14および試
験続行手段15を有するランダム試験タスク10と、オ
ペレーティング・システム30とが格納されている。ま
た、被試験情報処理装置2には、ランダム試験プログラ
ム20がロードされる主記憶装置4と、命令処理部6と
が含まれ、試験処理装置1とは装置間インクフェイス7
により接続されている。
第2図は、ランダム試験タスク10が生成したランダム
試験プログラム20の内容の一例を示したもので、乱数
を用いて生成した合計100個の命令とランダム試験プ
ログラムの終了を通知する装置間通信命令とを含むラン
ダム試験手順と、このランダム試験手順が使用しやはり
乱数を用いて生成されたレジスタ用データ及びメモリ用
データとを含むランダム試験データとから構成されてい
る。
試験プログラム20の内容の一例を示したもので、乱数
を用いて生成した合計100個の命令とランダム試験プ
ログラムの終了を通知する装置間通信命令とを含むラン
ダム試験手順と、このランダム試験手順が使用しやはり
乱数を用いて生成されたレジスタ用データ及びメモリ用
データとを含むランダム試験データとから構成されてい
る。
また、第3図はランダム試験タスクlOの処理の一例を
示す流れ図、第4図は被試験情報処理装置2が行なう処
理の一例を示す流れ図、第5図はストール監視手段14
の処理の一例を示す流れ図であり、100〜113.2
00〜204.300〜302は各ステップを示す。以
下、各図を参照して本実施例の動作を説明する。
示す流れ図、第4図は被試験情報処理装置2が行なう処
理の一例を示す流れ図、第5図はストール監視手段14
の処理の一例を示す流れ図であり、100〜113.2
00〜204.300〜302は各ステップを示す。以
下、各図を参照して本実施例の動作を説明する。
先ず、オペレーティング・システム30は、ランダム試
験タスク10を図示しない外部記憶装置等から主起jf
J装置3にロードし、このランダム試験タスク10を起
動する。
験タスク10を図示しない外部記憶装置等から主起jf
J装置3にロードし、このランダム試験タスク10を起
動する。
起動されたランダム試験タスク10は、第3図に示した
ように、先ず第2図に示したランダム試験プログラムを
生成しく100) 、装置間インクフェイス7の例えば
診断制御線を経由して被試験情報処理装置2の命令処理
部6の先行制御を有効状態に設定しく101) 、次に
ランダム試験プログラム20を装置間インクフェイス7
を経由して被試験情報処理装置2の主記憶装置4にロー
ドした後やはり装置間インクフェイス7を介して被試験
情報処理装置2に装置間通信によって送信を行なってラ
ンダム試験プログラム20を起動する(102)。
ように、先ず第2図に示したランダム試験プログラムを
生成しく100) 、装置間インクフェイス7の例えば
診断制御線を経由して被試験情報処理装置2の命令処理
部6の先行制御を有効状態に設定しく101) 、次に
ランダム試験プログラム20を装置間インクフェイス7
を経由して被試験情報処理装置2の主記憶装置4にロー
ドした後やはり装置間インクフェイス7を介して被試験
情報処理装置2に装置間通信によって送信を行なってラ
ンダム試験プログラム20を起動する(102)。
試験処理装置1からの装置間通信を受信した被試験情報
処理装置2は、例えば第4図に示したような装置間通(
3割込処理を行なう。先ず、主記憶装置4の固定番地に
ロートされたランダム試験ブログラム20のうちレジス
タ用データをソフトウェアに可視なレジスタにロードし
く200) 、命令処理部6がランダム試験手順の第1
命令から実行できるように命令カウンタを設定する(2
01)。次に、命令処理部6がランダム試験手順の第1
命令から順番に先行制御が有効な状態で命令を実行しく
202)、第100命令を実行するとソフトウェア可視
のレジスタの内容をランダム試験プログラム20のレジ
スタ用データエリアにストアした後(203) 、装置
間通信命令を実行して装置間インクフェイス7を介して
試験処理装置1に装置間通信を送信し、ランダム試験プ
ログラム20の終了を通知する(204)。
処理装置2は、例えば第4図に示したような装置間通(
3割込処理を行なう。先ず、主記憶装置4の固定番地に
ロートされたランダム試験ブログラム20のうちレジス
タ用データをソフトウェアに可視なレジスタにロードし
く200) 、命令処理部6がランダム試験手順の第1
命令から実行できるように命令カウンタを設定する(2
01)。次に、命令処理部6がランダム試験手順の第1
命令から順番に先行制御が有効な状態で命令を実行しく
202)、第100命令を実行するとソフトウェア可視
のレジスタの内容をランダム試験プログラム20のレジ
スタ用データエリアにストアした後(203) 、装置
間通信命令を実行して装置間インクフェイス7を介して
試験処理装置1に装置間通信を送信し、ランダム試験プ
ログラム20の終了を通知する(204)。
なお、上記の例はランダム試験手順の第1命令から第1
00命令までを実行させたが、その命令開始番地は必ず
しも第1命令でなく任意の番地から実行し得るものであ
り、また実行命令数も任意の数とすることができる。
00命令までを実行させたが、その命令開始番地は必ず
しも第1命令でなく任意の番地から実行し得るものであ
り、また実行命令数も任意の数とすることができる。
ランダム試験タスク10は第3図のステップ102を実
行した後、被試験情報処理装置2の終了状態の監視(ス
トール監視)を行なっている(103)。
行した後、被試験情報処理装置2の終了状態の監視(ス
トール監視)を行なっている(103)。
このランダム試験プログラム20のストール監視は、例
えば第5図に示したようにして行なわれる。すなわち、
先ず被試験情報処理装置2からの装置間通信による終了
通知を受信しているか否かを検査しく300) 、受信
していれば正常終了と判定する。
えば第5図に示したようにして行なわれる。すなわち、
先ず被試験情報処理装置2からの装置間通信による終了
通知を受信しているか否かを検査しく300) 、受信
していれば正常終了と判定する。
一方、受信していなければ装置間インクフェイス7の例
えば診断制御線を介して被試験情報処理装置2のクロッ
ク状態を検査しく301) 、クロック動作状態であれ
ば本ストール監視処理の経過時間を検査しく302)
、例えばランダム試験プログラム20の起動から一定時
間内であればステップ300に戻る。しかし、ステップ
301でクロック停止状態を検出した場合、またはステ
ップ302で一定時間を経過したことが検出された場合
はストールと判定する。
えば診断制御線を介して被試験情報処理装置2のクロッ
ク状態を検査しく301) 、クロック動作状態であれ
ば本ストール監視処理の経過時間を検査しく302)
、例えばランダム試験プログラム20の起動から一定時
間内であればステップ300に戻る。しかし、ステップ
301でクロック停止状態を検出した場合、またはステ
ップ302で一定時間を経過したことが検出された場合
はストールと判定する。
さて、第3図のステップ103でランダム試験プログラ
ム20の終了状態を正常状態と判定したときランダム試
験タスク10は、王記憶装置4に格納されているランダ
ム試験データをランダム試験プログラム20の実行結果
としてWF間インクフェイス7を経由して主記憶装置3
上のワークエリアに退避しく104) 、’A直置間ン
タフェイス7の例えば診断制御線を経由して被試験情報
処理装置2の命令処理部6の先行制御を無効状態に設定
しく105)、次のステップ106でステップ102と
同様の処理を行なってランダム試験プログラムを再度主
記憶装置4にロードし、これを起動する(106)。こ
こで、被試験情報処理装置2は第4図に示したような処
理を行なうが、今回は先行制御が無効状態に設定されて
いるので、ステップ+02で起動されたときと異なり先
行制御が無効な状態で動作する。次に、ランダム試験タ
スク10はステップ107においてランダム試験プログ
ラム20の終了状態をステップ103と同様に判定し、
正常終了と判定したときはステップ104 と同様にラ
ンダム試験プログラム20の実行結果を主記憶装置3上
のワークエリアに退避する(108)。
ム20の終了状態を正常状態と判定したときランダム試
験タスク10は、王記憶装置4に格納されているランダ
ム試験データをランダム試験プログラム20の実行結果
としてWF間インクフェイス7を経由して主記憶装置3
上のワークエリアに退避しく104) 、’A直置間ン
タフェイス7の例えば診断制御線を経由して被試験情報
処理装置2の命令処理部6の先行制御を無効状態に設定
しく105)、次のステップ106でステップ102と
同様の処理を行なってランダム試験プログラムを再度主
記憶装置4にロードし、これを起動する(106)。こ
こで、被試験情報処理装置2は第4図に示したような処
理を行なうが、今回は先行制御が無効状態に設定されて
いるので、ステップ+02で起動されたときと異なり先
行制御が無効な状態で動作する。次に、ランダム試験タ
スク10はステップ107においてランダム試験プログ
ラム20の終了状態をステップ103と同様に判定し、
正常終了と判定したときはステップ104 と同様にラ
ンダム試験プログラム20の実行結果を主記憶装置3上
のワークエリアに退避する(108)。
続いて、ランダム試験プログラム20の実行結果を退避
し終えたランダム試験タスク10は、ステップ104に
て退避した実行結果とステップ108にて退避した実行
結果とを比較しく109) 、−〇していればステップ
111に進み、不一致であれば、エラーを検出した旨、
ステップ100で生成されたランダム試験プログラム2
0.及びステップ104.108で退避した実行結果を
エラーメツセージとしてオペレーティング・システム3
0を介して例えば外部記憶装置等に出力しく110)
、次いでオペレーティング・システム30からの終了要
求を検査しく11.1)、終了要求が無ければステップ
100に戻ってランダム試験を続行し、終了要求が有れ
ば試験を終了する。
し終えたランダム試験タスク10は、ステップ104に
て退避した実行結果とステップ108にて退避した実行
結果とを比較しく109) 、−〇していればステップ
111に進み、不一致であれば、エラーを検出した旨、
ステップ100で生成されたランダム試験プログラム2
0.及びステップ104.108で退避した実行結果を
エラーメツセージとしてオペレーティング・システム3
0を介して例えば外部記憶装置等に出力しく110)
、次いでオペレーティング・システム30からの終了要
求を検査しく11.1)、終了要求が無ければステップ
100に戻ってランダム試験を続行し、終了要求が有れ
ば試験を終了する。
一方、ステップ103またはステップ107でランダム
試験プログラム20のストールを検出したランダム試験
タスク10は、ストールを検出した旨、ステップ100
で生成されたランダム試験プログラム20及び装置間イ
ンクフェイス7を介して続出した被試験情報処理装置2
のハードウェアの情報(例えばソフトウェアから見えな
いレジスタ等の内容やEIF (エラーインディケータ
フリノブフロノブ)の情報)をエラーメツセージとして
例えば外部記憶装置に出力する(112) 、そして、
被試験情報処理装置2を再度ランダム試験プログラムが
実行できる状態に初期設定しく113)。この後、ステ
ップ111で終了要求を検査し、終了要求が無ければス
テップ100に戻りランダム試験を続行する。
試験プログラム20のストールを検出したランダム試験
タスク10は、ストールを検出した旨、ステップ100
で生成されたランダム試験プログラム20及び装置間イ
ンクフェイス7を介して続出した被試験情報処理装置2
のハードウェアの情報(例えばソフトウェアから見えな
いレジスタ等の内容やEIF (エラーインディケータ
フリノブフロノブ)の情報)をエラーメツセージとして
例えば外部記憶装置に出力する(112) 、そして、
被試験情報処理装置2を再度ランダム試験プログラムが
実行できる状態に初期設定しく113)。この後、ステ
ップ111で終了要求を検査し、終了要求が無ければス
テップ100に戻りランダム試験を続行する。
以上、本発明の一実施例について説明したが、本発明は
以上の実施例にのみ限定されるものでなくその他各種付
加変更し得るものである。例えば、前記実施例は被試験
情報処理装置2を試験するための試験処理装置1を設け
、試験処理装置1でランダム試験プログラムの生成、ラ
ンダム試験プログラムの起動、実行結果の判定、エラー
情報の取得、ストール監視、試験続行を行なわせたが、
これらの処理を被試験情報処理装置2自体に行なわせる
ことにより、試験処理装置lを省略することも可能であ
る。また、試験内容として上記のように先行詞?ffn
を有効と無効に切換えて両実行結果を比較するもの以外
の他の種類の試験を行なわせることも勿論可能である。
以上の実施例にのみ限定されるものでなくその他各種付
加変更し得るものである。例えば、前記実施例は被試験
情報処理装置2を試験するための試験処理装置1を設け
、試験処理装置1でランダム試験プログラムの生成、ラ
ンダム試験プログラムの起動、実行結果の判定、エラー
情報の取得、ストール監視、試験続行を行なわせたが、
これらの処理を被試験情報処理装置2自体に行なわせる
ことにより、試験処理装置lを省略することも可能であ
る。また、試験内容として上記のように先行詞?ffn
を有効と無効に切換えて両実行結果を比較するもの以外
の他の種類の試験を行なわせることも勿論可能である。
以上説明したように、本発明は、ランダム試験プログラ
ムのストール監視手段と、試験続行手段とを備えている
ので、長時間の自動連続実行が可能となり、試験効率を
高めることができる効果がある。
ムのストール監視手段と、試験続行手段とを備えている
ので、長時間の自動連続実行が可能となり、試験効率を
高めることができる効果がある。
第1図は本発明の一実施例の要部ブロック図、第2図は
ランダム試験タスク10が生成したランダム試験プログ
ラム20の内容の一例を示す図、第3図はランダム試験
タスク10の処理の一例を示す流れ図、 第4図は被試験情報処理装置2が行なう処理の一例を示
す流れ図および、 第5図はストール監視手段14の処理の一例を示す流れ
図である。 ■は試験処理装置、2は被試験情報処理装置、3.4は
主記憶装置、5.6は命令処理部、7は装−面間インタ
フェイス、10はランダム試験タスク、11はランダム
試験プログラム生成手段、12はランダム試験プログラ
ム起動手段、13は実行結果判定手段、14はストール
監視手段、工5は試験続行手段・20はランダム試験プ
ログラム、30はオペレーティング・ソステムである。
ランダム試験タスク10が生成したランダム試験プログ
ラム20の内容の一例を示す図、第3図はランダム試験
タスク10の処理の一例を示す流れ図、 第4図は被試験情報処理装置2が行なう処理の一例を示
す流れ図および、 第5図はストール監視手段14の処理の一例を示す流れ
図である。 ■は試験処理装置、2は被試験情報処理装置、3.4は
主記憶装置、5.6は命令処理部、7は装−面間インタ
フェイス、10はランダム試験タスク、11はランダム
試験プログラム生成手段、12はランダム試験プログラ
ム起動手段、13は実行結果判定手段、14はストール
監視手段、工5は試験続行手段・20はランダム試験プ
ログラム、30はオペレーティング・ソステムである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 主記憶装置に接続される情報処理装置を試験するための
ランダム試験プログラムを前記主記憶装置に生成し実行
する情報処理装置の試験方式において、 ランダム試験プログラム生成手段と、 該生成手段で生成されたランダム試験プログラムを前記
情報処理装置上で起動させるランダム試験プログラム起
動手段と、 該起動手段によって起動させられたランダム試験プログ
ラムの実行結果を判定する実行結果判定手段と、 前記起動させられたランダム試験プログラムのストール
を監視するストール監視手段と、 該ストール監視手段でストールが検出されたとき前記情
報処理装置をランダム試験プログラムが実行できる状態
に再度設定してランダム試験を続行させる試験続行手段
とを具備したことを特徴する情報処理装置の試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60240547A JPS62100845A (ja) | 1985-10-29 | 1985-10-29 | 情報処理装置の試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60240547A JPS62100845A (ja) | 1985-10-29 | 1985-10-29 | 情報処理装置の試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62100845A true JPS62100845A (ja) | 1987-05-11 |
Family
ID=17061148
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60240547A Pending JPS62100845A (ja) | 1985-10-29 | 1985-10-29 | 情報処理装置の試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62100845A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04117531A (ja) * | 1990-09-07 | 1992-04-17 | Koufu Nippon Denki Kk | 検査用診断プログラム制御方式 |
-
1985
- 1985-10-29 JP JP60240547A patent/JPS62100845A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04117531A (ja) * | 1990-09-07 | 1992-04-17 | Koufu Nippon Denki Kk | 検査用診断プログラム制御方式 |
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