JPH04123452A - 集積回路収納容器および集積回路装置 - Google Patents
集積回路収納容器および集積回路装置Info
- Publication number
- JPH04123452A JPH04123452A JP2244337A JP24433790A JPH04123452A JP H04123452 A JPH04123452 A JP H04123452A JP 2244337 A JP2244337 A JP 2244337A JP 24433790 A JP24433790 A JP 24433790A JP H04123452 A JPH04123452 A JP H04123452A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- integrated circuit
- storage container
- connection terminal
- top surface
- terminal
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、回路基板に実装後も機能や回路定数の測定、
検査を可能にする集積回路収納容器および集積回路装置
に関する。
検査を可能にする集積回路収納容器および集積回路装置
に関する。
従来の技術
現在使用されている主な集積回路装置としては、収納容
器の側面の2方向から接続端子が出たデニアルインライ
ンパッケージ(以下DILと称する)または収納容器の
側面の4方向から接続端子が出たクワッドフラットパッ
ケージ(以下QFPと称する)が多い。また集積回路の
電極数が非常に多い場合には、基板の中央に集積回路を
収納する収納部を有し、その収納部の周辺に基板の下方
に突出する接続端子を有するピングリッドアレイパッケ
ージ(以下PGAと称する)が使用される。
器の側面の2方向から接続端子が出たデニアルインライ
ンパッケージ(以下DILと称する)または収納容器の
側面の4方向から接続端子が出たクワッドフラットパッ
ケージ(以下QFPと称する)が多い。また集積回路の
電極数が非常に多い場合には、基板の中央に集積回路を
収納する収納部を有し、その収納部の周辺に基板の下方
に突出する接続端子を有するピングリッドアレイパッケ
ージ(以下PGAと称する)が使用される。
これらの集積回路装置を回路基板に実装した後に電気的
動作を確認するためには、オンロスコープやロジックア
ナライザのプローブを集積回路装置の接続端子に接触さ
せて電気的特性を測定している。
動作を確認するためには、オンロスコープやロジックア
ナライザのプローブを集積回路装置の接続端子に接触さ
せて電気的特性を測定している。
発明が解決しようとする課題
しかしながら上記従来の集積回路装置では、接続端子間
の間隔の縮小、複雑な収納容器構造なとのために、実装
後、各種測定器のプローブを接続端子に接触させること
が困難になってきている。
の間隔の縮小、複雑な収納容器構造なとのために、実装
後、各種測定器のプローブを接続端子に接触させること
が困難になってきている。
本発明は上記従来の課題を解決するもので、回路基板に
実装後も機能や電気的特性を容易に測定できる集積回路
収納容器および集積回路装置を提供することを目的とす
る。
実装後も機能や電気的特性を容易に測定できる集積回路
収納容器および集積回路装置を提供することを目的とす
る。
課題を解決するための手段
この目的を達成するために本発明の集積回路収納容器お
よび集積回路装置は、収納容器の上面に入出力信号や集
積回路内部の信号波形を測定するための接触部を有する
ものである。
よび集積回路装置は、収納容器の上面に入出力信号や集
積回路内部の信号波形を測定するための接触部を有する
ものである。
作用
この構成によって、接続端子の端子間隔が狭かったり、
PGAのように多数の接続端子が複数列に並んだような
構造を持つ集積回路装置でも、入出力信号や集積回路内
部の信号波形を容易に測定することかできる。
PGAのように多数の接続端子が複数列に並んだような
構造を持つ集積回路装置でも、入出力信号や集積回路内
部の信号波形を容易に測定することかできる。
実施例
以下本発明の一実施例について、図面を参照しながら説
明する。
明する。
第1図は本発明の一実施例における集積回路収納容器の
斜視図である。図において、1はPGA型の集積回路収
納容器(以下収納容器と称する)、2は回路基板に集積
回路装置を実装するための接続端子、3は収納容器1の
上面に設けられた接触部としての端子孔、4は端子孔3
に挿入する端子ピンで測定を必要とする接続端子2が貫
通した端子孔3に挿入する。
斜視図である。図において、1はPGA型の集積回路収
納容器(以下収納容器と称する)、2は回路基板に集積
回路装置を実装するための接続端子、3は収納容器1の
上面に設けられた接触部としての端子孔、4は端子孔3
に挿入する端子ピンで測定を必要とする接続端子2が貫
通した端子孔3に挿入する。
第2図は本発明の一実施例における集積回路装置の分解
斜視図である。第2図はPGAであるが、収納容器1は
収納容器本体5と蓋体6から構成されており、収納容器
本体5の下面には接続端子2が多数本設置されている。
斜視図である。第2図はPGAであるが、収納容器1は
収納容器本体5と蓋体6から構成されており、収納容器
本体5の下面には接続端子2が多数本設置されている。
収納容器本体5の中央に設けられた収納部7には集積回
路8が設置され、集積回路8の電極と接続端子2が接続
されている。また収納容器本体5の表面には接続端子2
の頭部が露出してい墨。この状態で蓋体6を収納容器本
体5に重ね、接着する。蓋体6には接続端子2の頭部に
外部から接触するための端子孔3が設けられている。な
お蓋体6は集積回路8を保護する目的が第1であるため
、端子孔3が収納部7にかからないように設計する必要
がある。
路8が設置され、集積回路8の電極と接続端子2が接続
されている。また収納容器本体5の表面には接続端子2
の頭部が露出してい墨。この状態で蓋体6を収納容器本
体5に重ね、接着する。蓋体6には接続端子2の頭部に
外部から接触するための端子孔3が設けられている。な
お蓋体6は集積回路8を保護する目的が第1であるため
、端子孔3が収納部7にかからないように設計する必要
がある。
第3図は本発明の一実施例における集積回路装置を実装
した状態を示す斜視図である。図に示すように、回路基
板9の上には本発明の一実施例における集積回路装置1
0(図ではPGAの例を示している)、DIL型集積回
路1)および抵抗12などが実装されている。なお13
は測定器のプローブである。
した状態を示す斜視図である。図に示すように、回路基
板9の上には本発明の一実施例における集積回路装置1
0(図ではPGAの例を示している)、DIL型集積回
路1)および抵抗12などが実装されている。なお13
は測定器のプローブである。
このように実装された状態でPGAのような複雑な接続
端子を有する集積回路装置の信号波形を観測する場合、
観測したい接続端子2に連結した端子孔3に端子ピン4
を挿入し、その端子ピン4の頭部をプローブ13の先端
で挟み測定器に接続することにより容易に波形観測がで
きる。この場合、プローブ13の先端を端子孔3に直接
挿入して接続端子2の頭部と接触させてもよい。
端子を有する集積回路装置の信号波形を観測する場合、
観測したい接続端子2に連結した端子孔3に端子ピン4
を挿入し、その端子ピン4の頭部をプローブ13の先端
で挟み測定器に接続することにより容易に波形観測がで
きる。この場合、プローブ13の先端を端子孔3に直接
挿入して接続端子2の頭部と接触させてもよい。
なお、収納容器1として、PGA型のものについて説明
したが、他にDIL型、QFP型のものでも上面に接触
部を設けることは容易であり、本実施例と同様の効果が
得られるものである。
したが、他にDIL型、QFP型のものでも上面に接触
部を設けることは容易であり、本実施例と同様の効果が
得られるものである。
また収納容器1の上面に設ける接触部は本実施例に示し
た端子孔3だけでなく、接続端子2を上下両面に露出さ
せ、下面に露出した部分は回路基板9との接続に使用し
、上面に露出した部分を測定時の接触部として使用する
構成も収納容器1の形状によっては効果がある。
た端子孔3だけでなく、接続端子2を上下両面に露出さ
せ、下面に露出した部分は回路基板9との接続に使用し
、上面に露出した部分を測定時の接触部として使用する
構成も収納容器1の形状によっては効果がある。
また全ての観測、測定が終了した時点で、収納容器1の
上面に設けた端子孔3や収納容器1の上面に露出した接
続端子2を樹脂で封入することにより高い信頼性が得ら
れる。
上面に設けた端子孔3や収納容器1の上面に露出した接
続端子2を樹脂で封入することにより高い信頼性が得ら
れる。
発明の効果
以上のように本発明は、上面に外部から所定の接続端子
との電気的接触を可能にする接触部を設けることにより
、回路基板に実装した後にも容易に機能、電気特性また
は信号波形を観測・測定できる集積回路収納容器および
集積回路装置を実現できるものである。
との電気的接触を可能にする接触部を設けることにより
、回路基板に実装した後にも容易に機能、電気特性また
は信号波形を観測・測定できる集積回路収納容器および
集積回路装置を実現できるものである。
第1図は本発明の一実施例における集積回路収納容器の
斜視図、第2図は本発明の一実施例における集積回路装
置の分解斜視図、第3図は本発明の一実施例における集
積回路装置を実装した状態を示す斜視図である。 1・・・・・・集積回路収納容器、2・・・・・・接続
端子、3・・・・・・端子孔(接触部)、7・・・・・
・収納部、8・・・・・・集積回路。 代理人の氏名 弁理士小鍜治明 ほか28蛛 ンさ
斜視図、第2図は本発明の一実施例における集積回路装
置の分解斜視図、第3図は本発明の一実施例における集
積回路装置を実装した状態を示す斜視図である。 1・・・・・・集積回路収納容器、2・・・・・・接続
端子、3・・・・・・端子孔(接触部)、7・・・・・
・収納部、8・・・・・・集積回路。 代理人の氏名 弁理士小鍜治明 ほか28蛛 ンさ
Claims (4)
- (1)集積回路を収納するための収納部を有し、上面以
外の面に外部回路との接続端子が設けられ、かつ前記上
面に外部から所定の接続端子との電気的接触を可能にす
る接触部を設けた集積回路収納容器。 - (2)収納容器の周辺部に上下に貫通するピンを有し、
前記ピンの収納容器の下面に露出した部分が接続端子で
あり、前記ピンの収納容器の上面に露出した部分が接触
部である請求項1記載の集積回路収納容器。 - (3)収納容器の下面には接続端子が露出しており、収
納容器の上面から接続端子に至る孔が接触部として設け
られている請求項1記載の集積回路収納容器。 - (4)請求項1、2または3記載の集積回路収納容器の
収納部に集積回路を設置し、前記集積回路の電極と接続
端子とを接続し、前記集積回路を樹脂または蓋体で保護
した集積回路装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2244337A JPH04123452A (ja) | 1990-09-14 | 1990-09-14 | 集積回路収納容器および集積回路装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2244337A JPH04123452A (ja) | 1990-09-14 | 1990-09-14 | 集積回路収納容器および集積回路装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04123452A true JPH04123452A (ja) | 1992-04-23 |
Family
ID=17117209
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2244337A Pending JPH04123452A (ja) | 1990-09-14 | 1990-09-14 | 集積回路収納容器および集積回路装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04123452A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7486091B2 (en) | 2004-12-28 | 2009-02-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Test unit usable with a board having an electronic component |
-
1990
- 1990-09-14 JP JP2244337A patent/JPH04123452A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7486091B2 (en) | 2004-12-28 | 2009-02-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Test unit usable with a board having an electronic component |
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