JPH04131786U - Ｌｓｉテスタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【目的】 テスタ本体とテストヘッド間の信号ケ−ブル
の接続を簡単に行えるようにした。 【構成】 被検査対象デバイスを試験する検査信号をテ
ストヘッドを介してテスタ本体１０と検査対象デバイス
との間で授受するＬＳＩテスタであって、テスタ本体１
０の前面に一側をヒンジとして開閉可能に取りるけられ
たパネル２０と、パネル２０の背面に設けられていて、
テスタ本体１０とテストヘッド間の信号線を中継してい
て、中継部分でテスタ本体１０とテストヘッド間の配線
関係を編集しているプリント基板とを設けるようにして
いる。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、テスタ本体とテストヘッド間の信号ケ−ブルの接続に改良を加えた ＬＳＩテスタに関する。

【０００２】

【従来の技術】

ＬＳＩテスタは、テストのための各種の信号を被検査対象デバイス（以下、Ｄ ＵＴと省略する）に加え、その結果ＤＵＴから出力される信号を各測定モジュ− ルに導入してＤＵＴの品質を検査する装置である。 このため、ＬＳＩテスタは、ＤＵＴの各ピンと各種の信号を授受できるように テスタ本体のモジュ−ルから引き出した信号ケ−ブルを一旦テストヘッドで振り 分けて配線し、このテストヘッドを介してＤＵＴに接続されている。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】

このような従来のＬＳＩテスタは、信号ケ−ブルの配線の振り分けがテストヘ ッド内で行われているために、次のような欠点を有していた。 (1) 信号ケ−ブルの配線を一本ずつ振り分けてテストヘッドに接続するために、 接続作業に多大な工数が必要になる。 (2) テストヘッド内で信号ケ−ブルがタコ足配線になるために、ケ−ブルの収納 性が悪い。 (3) 信号ケ−ブル内の配線に一本でも断線が生じると、配線がタコ足配線されて いるために信号ケ−ブルの交換が大変で、メンテナンス性が悪い。

【０００４】 本考案は、このような点に鑑みてなされたもので、テスタ本体とテストヘッド 間の信号ケ−ブルの接続を振り分け作業を行わないでできるようにしたもので、 信号ケ−ブルの接続作業の簡略化とメンテナンス性の良いＬＳＩテスタを提供す ることを目的とする。

【０００５】

【課題を解決するための手段】

このような目的を達成するために、本考案は、 被検査対象デバイスを試験する検査信号をテストヘッドを介してテスタ本体と 検査対象デバイスとの間で授受するＬＳＩテスタであって、 前記テスタ本体の前面に一側をヒンジとして開閉可能に取りるけられたパネル と、 このパネルの背面に設けられていて、前記テスタ本体と前記テストヘッド間の 信号線を中継していて、中継部分でテスタ本体とテストヘッド間の配線関係を編 集しているプリント基板とを設けたことを特徴している。

【０００６】

【作用】

本考案の各構成要素は、次に示すような作用をする。 パネルは、テスタ本体の前面にヒンジを介して開閉可能に取り付けられている 。 プリント基板は、パネルの背面に設けられていて、モジュ−ルの信号ケ−ブ ルから入力される信号を編集し、信号ケ−ブルを介してテストヘッドに接続する 。

【０００７】

【実施例】

以下図面を用いて、本考案の一実施例を説明する。図１は、本考案の一実施例 を示すＬＳＩテスタのテスタ本体部の要部正面図である。図２は、パネルが開か れた状態の要部の側断面図、図３はパネルが閉じられた状態の要部の側断面図で ある。図中、１０は箱形のテスタ本体で、数段にネスト１１が設けられていて、 各ネスト１１には複数のモジュ−ル１２が挿入並設されている。 ２０はパネルで、ヒンジ２１を中心にＹ−Ｙ´方向に開閉できるようになって いて、背面にはプリント基板２２（以下、マ−シャリングボ−ドと呼ぶ）が絶縁 部材を介して取り付けられている。

【０００８】 マ−シャリングボ−ド２２は、複数枚が２段になって設けられていて、テスタ 本体１０のモジュ−ル１２から導出された信号ケ−ブル１３が接続されている。 信号ケ−ブル１３は、両端に多ピンのコネクタ１３ａ、ｂが設けられていて、 このコネクタ１３ａ，ｂを介してモジュ−ル１２とマ−シャリングボ−ド２２を 接続している。 マ−シャリングボ−ド２２に接続された信号ケ−ブル１３は、マ−シャリング ボ−ド２２で編集され、両端にコネクタ１４ａ有した信号ケ−ブル１４を介して テストヘッド（図省略）のマザ−ボ−ドに接続される。

【０００９】 このように、本考案のＬＳＩテスタは、モジュ−ル１２とマ−シャリングボ− ド２２間をコネクタ付きの信号ケ−ブル１３で接続し、更にマ−シャリングボ− ド２２とテストヘッド間をコネクタ付きのケ−ブル１４で接続するため、接続が 簡単である。

【００１０】 ケ−ブル１３、１４の接続は、パネル２０をヒンジ２１を中心にＹ´方向に回 転して開き、チェ−ン２５によってパネル２０を水平に保持した状態において行 う。 チェ−ン２５は、長さが調整できるようになっていて、長さを変えることでパ ネル２０の開口度を自由に変えることができる。 ２６はパネル２０を閉じたときにテスタ本体１０にパネル２０を固定する固定 螺子で、パネル２０から脱落しないようにパネル２０に一体になって構成されて いる。

【００１１】

【考案の効果】

以上詳細に説明したように、本考案のＬＳＩテスタは、マ−シャリングボ−ド を介してテスタ本体のモジュ−ルとテストヘッドとを接続するようにしているた め、信号ケ−ブルを分岐して接続する必要がなく、信号ケ−ブルの接続が場所を 取らずに簡単に行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例を示すＬＳＩテスタのテスタ
本体部の要部正面図である。

【図２】パネルが開かれた状態の要部の側断面図であ
る。

【図３】パネルが閉じられた状態の要部の側断面図であ
る。

【符号の説明】

１０ テスタ本体 １２ モジュ−ル １３、１４ 信号ケ−ブル ２０ パネル ２２ マ−シャリングボ−ド

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 被検査対象デバイスを試験する検査信号
   をテストヘッドを介してテスタ本体と検査対象デバイス
   との間で授受するＬＳＩテスタであって、前記テスタ本
   体の前面に一側をヒンジとして開閉可能に取りるけられ
   たパネルと、このパネルの背面に設けられていて、前記
   テスタ本体と前記テストヘッド間の信号線を中継してい
   て、中継部分でテスタ本体とテストヘッド間の配線関係
   を編集しているプリント基板と、を設けたことを特徴と
   したＬＳＩテスタ。