JPH0413868A - スパッタリング装置 - Google Patents
スパッタリング装置Info
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- JPH0413868A JPH0413868A JP11523790A JP11523790A JPH0413868A JP H0413868 A JPH0413868 A JP H0413868A JP 11523790 A JP11523790 A JP 11523790A JP 11523790 A JP11523790 A JP 11523790A JP H0413868 A JPH0413868 A JP H0413868A
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- Japan
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- shield
- particles
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- Granted
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- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
タリング装置、さらに詳しくいえば、スパッタリングの
際、当該装置内に発生する微少粒子(パーティクル)の
低減化と保守の改善を考慮したスパッタリング装置に関
する。
。
面図である。
が配置されている。
6が設けられている。カソード6の外縁部は容器9に部
材11.12を介して固定されており、カソード6の外
縁部1部材11.12および容器9との間はOリング8
によって気密性が確保されている。
するターゲットシールド10がターゲット3を覆うよう
に配置されている。開口部10aは基板2方向に進行す
るターゲット粒子のみ通すような大きさおよび形状とな
っている。他の方向に進行するターゲット粒子はターゲ
ットシールド10の内壁に付着する。
ンバシールド5が容器9に取りつけられている。このチ
ェンバシールド5はターゲットシールド10にも基板3
にも付着しないターゲット粒子が容器内の上に抜は出な
いように阻止するためのものである。
空洞部が形成されており、冷却水を循環させることによ
りターゲット6部分に発生する予熱を放散している。
近傍に位置することから最も膜付着量が多い。そのため
、一定の付着圧に達すると膜剥離を起こしやすく、特に
垂直を成す面の剥離が顕著に見られる。
傍のターゲツト面から飛来するターゲ・ノド粒子が斜め
方向から付着しその膜の堆積過程において何等かのはが
れ要素を持つものと考えられる。
がって、できれば基板以外にはスノマ・ツタ膜を付着さ
せない方が良い。
のは不可能である。
パッタ膜は洗浄、再生作業を容易にするために小面積と
し、また、保守周期より定められた一定の付着厚さに達
しても膜剥離を起こさないような対策が望まれる。
ールドに付着するターゲ・ノド粒子により形成される膜
の剥離による微少粒子の発生を抑え、これにより保守周
期が延長できるとともに、ターゲットシールドの洗浄、
再生作業も従来に比較しく3) 簡単になるスパッタリング装置を提供することにある。
装置は真空容器中にターゲットを搭載した負電極と基板
ホルダに保持した基板とを対面させ、前記負電極に負電
圧を印加することにより前記ターゲットをスパッタリン
グして前記基板に膜を形成するようにし、前記ターゲッ
トから前記基板の方向に飛来するターゲット粒子のみが
前記基板に当たり、他の方向に飛来するターゲット粒子
はクーゲットシールドの壁に付着させるように前記ター
ゲットの上部にターゲットシールドを設けたスパッタリ
ング装置において、前記ターゲットシールドの前記ター
ゲットに対面する内壁を、前記ターゲットの周縁部付近
から飛来するターゲット粒子の進行方向に対し略直角の
面になるような形状にして構成しである。
る。
概略断面図である。
その付近の形状が異なっており、他の部分は従来例と変
わるところはない。
略する。
14に取りつけられ、この部材14をカソード6にビス
13で固定することにより、カソード6に固定されてい
るが、本発明ではカソード6を固定するための部材14
が取り除かれており、この部分までターゲットシールド
1を進出させた構造としている。
近の拡大部分断面図である。
面3aから飛来するターゲット粒子の進行してくる方向
に対し略直角になるような形状にしである。したがって
、ターゲット粒子がターゲットシールド1に被着する角
度は内壁に対し直角関係になっている。
トシールド1の内壁に対し略同様な関係になっている。
ド1の内壁に飛来するが、方向がターゲット垂直軸に対
し大きな角度となるので、垂直方向に飛ぶターゲット粒
子に比較し少なく、また、ターゲットシールド内壁面ま
で飛行する距離が大きいことから、中央部付近から飛来
するターゲット粒子は非常に少ない。
ド内壁に対し距離も短く、ターゲットの垂直軸に対し小
さい角度方向にターゲットシールド内壁があることから
、ターゲット内壁に膜を形成するターゲット粒子はター
ゲット3の端部付近から飛来するターゲット粒子が大部
分である。
ゲット3の端部付近から飛来するターゲ・ノド粒子によ
ってであり、殆どがターゲ・ノドシールド1の内壁に対
し略直角に当たる。
る。
従来のターゲットシールドの内壁面の面積に比較し、少
ない面積となっている。そのため、洗浄再生作業が容易
となるという効果がある。また、ターゲット粒子のほと
んどが内壁に対し略直角方向から付着するので、従来に
比較しはがれに<<、膜剥離にともなうパーティクルの
発生を極力抑えることができる。
生じないので、保守周期の延長も可能になるという効果
がある。
す概略断面図、第2図はターゲットシールド付近を示す
拡大部分断面図、第3図は従来のスパッタリング装置の
一例を示す概略断面図である。 1.10・・・ターゲットシールド 2・・・基板 3・・・ターゲット 4・・・基板ホルダ 5・・・チェンバシールド 6・・・カソード(負電極) 8・・・0リング 11.12・・・部材 特許出願人 日電アネルバ株式会社 代理人 弁理士 井ノロ 壽
Claims (1)
- 真空容器中にターゲットを搭載した負電極と基板ホル
ダに保持した基板とを対面させ、前記負電極に負電圧を
印加することにより前記ターゲットをスパッタリングし
て前記基板に膜を形成するようにし、前記ターゲットか
ら前記基板の方向に飛来するターゲット粒子のみが前記
基板に当たり、他の方向に飛来するターゲット粒子はタ
ーゲットシールドの壁に付着させるように前記ターゲッ
トの上部にターゲットシールドを設けたスパッタリング
装置において、前記ターゲットシールドの前記ターゲッ
トに対面する内壁を、前記ターゲットの周縁部付近から
飛来するターゲット粒子の進行方向に対し略直角の面に
なるような形状にしたことを特徴とするスパッタリング
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2115237A JP2617368B2 (ja) | 1990-05-02 | 1990-05-02 | スパッタリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2115237A JP2617368B2 (ja) | 1990-05-02 | 1990-05-02 | スパッタリング装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0413868A true JPH0413868A (ja) | 1992-01-17 |
| JP2617368B2 JP2617368B2 (ja) | 1997-06-04 |
Family
ID=14657739
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2115237A Expired - Fee Related JP2617368B2 (ja) | 1990-05-02 | 1990-05-02 | スパッタリング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2617368B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5419029A (en) * | 1994-02-18 | 1995-05-30 | Applied Materials, Inc. | Temperature clamping method for anti-contamination and collimating devices for thin film processes |
| US5421956A (en) * | 1991-11-20 | 1995-06-06 | Nippondenso Co., Ltd. | Method of fabricating an integrated pressure sensor |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS58104182A (ja) * | 1981-12-14 | 1983-06-21 | Fujitsu Ltd | スパツタ装置 |
| JPS60140761U (ja) * | 1984-02-29 | 1985-09-18 | ホ−ヤ株式会社 | マグネトロンスパツタリング装置 |
| JPS61163271A (ja) * | 1985-01-10 | 1986-07-23 | Mitsubishi Electric Corp | スパツタ装置用治具 |
| JPS6339164U (ja) * | 1986-08-25 | 1988-03-14 |
-
1990
- 1990-05-02 JP JP2115237A patent/JP2617368B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| US5755936A (en) * | 1994-02-18 | 1998-05-26 | Applied Materials, Inc | Temperature clamped anti-contamination and collimating devices for thin film processes |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2617368B2 (ja) | 1997-06-04 |
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