JPH04143676A - 電子部品測定システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電子部品測定システムに関し、特に上位コンピ
ュータとの情報交換を行なう電子部品測定システムに関
する。

〔従来の技術〕

従来、例えばタンタル固体電解コンデンサ等の素子の静
電容量測定システムは、処理制御装置と記憶媒体を有す
るコンピュータとはオフラインにより手動で結合される
構成になっている。

第２図はかかる従来の一例を説明するための測定システ
ムのブロック図である。

第２図に示す如く、この測定システムは被測定素子と接
続する測定部８の端子を切り替える測定制御部７と、測
定順序を制御する測定制御機能４と測定制御機能７に指
示を出し測定結果を集計する中央処理機能２を有する処
理制御装置１と、測定規格情報及び測定結果を記憶する
記憶媒体１０、入力装置１１、出力装置１２を有する上
位コンピュータ９とから構成されている。

作業者は、各被測定素子のキーワードを上位コンピュー
タ９の入力装置１１より入力することにより出力装置１
２に測定規格情報を出力した後、その情報をもとに処理
制御装置１に判定情報を設定することにより被測定素子
の静電容量を測定し、得られた測定結果を上位コンピュ
ータ９の入力装置１１より再び入力していた。

また、処理制御装置１の中央処理機能２と測定制御機能
は互いに独立しては機能せず、どちらかの機能が作動中
の時には他方の機能は休止している構成であった。

〔発明か解決しようとする課題〕

この従来の測定システムでは、作業者が上位コンピュー
タ出力装置から出力された測定規格情報に基づき処理制
御装置の条件を設定したり、あるいは、得られた測定結
果情報を上位コンピュータの入力装置から直接入力操作
を行なっているため、設定・入力操作のわずられしさと
設定の誤操作による素子不良判定の発生という欠点があ
った。

また、処理制御装置の中央処理機能と測定制御機能が独
立でないなめ、各機能の構成が複雑になり維持管理に多
大な手間を要したり、測定効率が低下するという問題点
があった。

本発明の目的は、かかる入力操作を簡略化し、誤捜査を
なくすとともに、各機能の独立性を高めることにより機
能構成要素を簡略化し維持管理を容易にし、さらに各機
能を多重動作させることにより測定効率を向上させた測
定システムを提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明の電子部品測定システムは、測定装置の機械的動
作を制御する機構部制御機能と、被測定物の測定順序を
制御する測定制御機能とデータ伝送を行なう通信機能と
、前記機構部制御機能　測定制御機能及び通信機能を統
括する中央処理機能とを有する処理制御装置と前記機構
部制御機能の指示により被測定物を移動させる機構部と
前記測定制御機能の指示により被測定物の測定端子を切
り替える測定制御部と、判定部と前記通信機能と論理的
に接続され、記憶媒体を有する上位コンピュータとを備
え、前記上位コンピュータの記憶媒体上に記憶された測
定制御情報を前記処理制御装置に伝送する伝送機能と、
測定制御情報をもとに測定結果を判定する判定機能と判
定結果を前記上位コンピュータに伝送して記憶媒体に記
憶させる記憶機能を備え、前記処理制御装置の機構部制
御機能、測定制御機能１通信機能及び中央処理機能がそ
れぞれ独立に動作する機能とを備えている。

〔実施例〕

次に、本発明の実施例について図面を参照して詳細に説
明する。

第１図は本発明の一実施例を説明するための測定システ
ムのブロック図である。

第１図に示すように、本実施例の電子部品測定システム
は、中央処理機能２と機構部制御機能３と測定制御機能
４と通信機能５を含む処理制御装置１と、被測定物（図
示省略〉を測定部８へ搬入・搬出する機構部６と測定部
８にセットされた複数の被測定物の測定端子を切り替え
る測定制御部と、記憶媒体１０を有する上位コンピュー
タ９とから構成されており、その動作はまず作業者が処
理制御装置１の入力装置（図示省略）から機構部制御機
能、測定制御機能を起動し、測定を開始する。

次に処理制御装置１の入力装置から測定すべき素子のキ
ーワードを入力し通信機能５を動作させ、キーワードを
上位コンピュータ９に伝送する。

上位コンピュータ９は受信したキーワードよりあらかじ
め登録された素子の測定規格情報を記憶媒体１０から読
出し処理制御装置１の通信機能５宛に伝送する。通信機
能５は受信した測定規格情報を中央処理機能２に引き渡
し、待機状態となる。

中央処理機能２は受は取った測定規格情報を補助記憶（
図示省略）に対比し、再び素子のキーワードを入力する
という動作を繰り返す。

他方、中央処理機能２とは非同期に動作していた機構部
制御機能３は、非測定素子の終了を検知すると中央処理
機能２と測定制御機能４へ測定完了の信号を発する。

測定完了通知を受は取った測定制御機能４は測定結果を
中央処理機能１に引き渡し待機状態となる。

中央処理機能２は、機構部制御機能３からの測定完了信
号と測定制御機能４からの測定結果と、各素子の測定規
格情報がすべてそろった時点で測定結果の判定を実施し
、素子のキーワードを測定結果情報に付加した後、通信
機能５を動作させ、上位コンピュータ９宛に伝送する。

上位コンピュータ９は測定結果情報を受信すると、素子
のキーワードにより情報を分類した後、記憶媒体１０に
記憶し且つ必要に応じて判定結果情報を出力装置（図示
省略）に出力する。

〔発明の効果〕

以上説明したように、本発明は処理制御装置から素子の
キーワードを入力することにより自動的に測定規格情報
を上位コンピュータから引き出して、非同期に測定され
た測定結果と照合判定し、得られた測定結果情報を自動
的に上位コンピュータの記憶媒体に登録することができ
るので以下に示す効果がある。

（１）わずられしい測定規格情報の設定や測定結果情報
の入力が軽減され使い易くなる。

（２）測定規格の後設定に起因する素品不良の発生がな
くなるので歩留が向上する。

（３）処理制御装置の各機能が多重に動作するので、測
定効率が向上する。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の一実施例を説明するためのシステム
を示すブロック図である。 １・・・処理制御装置、２・・・中央処理機能、３・・
・機構部制御機能、４・・・測定制御機能、５・・・通
信機能、６・・・機構部、７・・・測定制御部、８・・
・測定部、９・・・上位コンピュータ、１０・・・記憶
媒体、１１・・・入力装置、１２・・・出力装置。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、測定装置の機械的動作を制御する機構部制御機能と
   被測定物の測定順序を制御する測定制御機能及びデータ
   伝送を行なう通信機能と、前記機構部制御機能、測定制
   御機能及び通信機能を統括する中央処理機能とを有する
   処理制御装置と前記機構部制御機能の指示により被測定
   物を移動させる機構部と前記測定制御機能の指示により
   被測定物の測定端子を切り替える測定制御部と、測定部
   及び前記通信機能とが論理的に接続され、記憶媒体を有
   する上位コンピュータとからなる測定システムにおいて
   、前記上位コンピュータの記憶媒体上に記憶された測定
   制御情報を前記処理制御装置に伝送する伝送機能と、測
   定制御情報をもとに測定結果を判定する判定機能と、判
   定結果を前記上位コンピュータに伝送し、記憶媒体に記
   憶させる記憶機能を備えることを特徴とする電子部品測
   定システム。 ２、前記機構部制御機能と測定制御部と通信機能と中央
   処理機能を独立に多重動作させたことを特徴とする請求
   項１記載の電子部品測定システム。