JPH0414682A

JPH0414682A - サーボデイスクの媒体検査装置

Info

Publication number: JPH0414682A
Application number: JP11734090A
Authority: JP
Inventors: Fumio Hida; 肥田　文雄; Toshihiko Nishimura; 西村　敏彦
Original assignee: Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Current assignee: Hitachi High Tech Corp
Priority date: 1990-05-07
Filing date: 1990-05-07
Publication date: 1992-01-20
Anticipated expiration: 2015-06-12
Also published as: JP3050393B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野］この発明はサーボ面方式のサーボディスクの媒体の検査
方式に関し、詳しくは単板検査装置においてサーボディ
スクの欠陥を精密に検出する方式［従来の技術］情報処理装置に使用される磁気ディスクは、高密度化の
ためにトラックのピッチがますます微小となり、データ
のアクセスの際にはトラックに対する磁気ヘッドの位置
制御を高精度に行うことが必要とされ、サーボ方式によ
り位置制御が行われる。磁気ディスク装置においては複
数の磁気ディスクがスピンドルに装着されて同時に回転
し、各ディスク対応する磁気ヘッドが所定のトラックを
シークしてデータがアクセスされる。サーボ面サーボ方
式においては、複数のディスクのうちの適当な１枚がサ
ーボディスクとされ、これにサーボ信号が書き込まれる
。サーボ信号は非常に重要であり、ディスクの媒体に欠
陥があるときは、サーボ信号にエラーが生じて正しい位
置制御が行われないので、生産段階で検査装置により検
査される。

第２図（ａ）〜（Ｃ）はサーボディスクに設定されるサ
ーボ信号と、これによる位置制御、および従来の検査方
法を示す。図（ａ）においてサーボディスク１には一定
のピッチで多数のトラックＴＲが設定され、ディスク１
はスピンドル２に装着されて回転する。各トラックＴＲ
（ｎ）に対して、磁気ヘッド１ａにより図（ｂ）に示す
サーボ信号ｐ　（ｎ）が書き込まれる。位置制御におい
ては、磁気ヘッド１３を隣接するＴＲ（ｎ）とＴＲ（ｎ
ｉｌ）の中間に置き、ディスク１の回転に従って両側の
ｐ　（ｎ）とｐ　（ｎ＋１）のそれぞれの１／２幅を同
時に読み出す。両者の読み出し信号の電圧が等しいとき
は磁気ヘッド１ａが両トラックの正しい中間にあるとし
、電圧に差異があるときは、その差電圧によりキャリッ
ジ機構を制御してデータ読み出し用の各磁気ヘッドをそ
れぞれのトラックの中心に移動するものである。

第２図（Ｃ）により、検査装置におけるサーボ信号に対
する従来の検査方法を説明する。各トラックＴＲ（ｎ）
はセクタＳ（脂）に分割され、各セクタに対して同期パ
ルスＴＰとサーボ信号ｐ　（ｎ）が書き込まれ、これに
対して上記の位置制御の場合と同様に、磁気ヘッドを両
トラックの中間に置いて両トラックの１／２幅を読み出
して図示の読み出し信号Ｒｓがえられ、Ｒ８はさらに整
形されてパルスＲＰとされる。ここでＴＰのパルス数は
ｐ　（ｎ）のそれより多くしであるので区別され、ＴＰ
ＯうちのｔＰを起点として所定の時間”ｌ’Ｄｌ　　と
ＴＤ２だけ遅延したゲート信号ＧＡＴＥｌおよびＧＡＴ
Ｅ２を作る。ＧＡＴＥｌによりサーボ信号ｐ　（ｎ）が
、またＧＡＴＥ２によりｐ（ｎ＋１）がそれぞれ検出さ
れ、これらはサンプルホールドされて波高値ｖＰ（ｎ）
とｙＰ（ｎｉｌ）かえられる。これらをコンパレータに
より比較し、両者に差異があるときは差電圧が出力され
てエラーが検出される。

［解決しようとする課題］サーボ信号に対する上記のエラー検出方式は、ディスク
全面の欠陥を検出するものではない。すなわち、トラッ
クに対して書き込まる同期パルスの位置や、サーボ信号
の中間の空白部に対しては欠陥が検査されない。磁気デ
ィスクの検査は２段階があり、まず単板検査装置により
サーボディスク単体について行われ、ついで磁気ディス
ク装置に実装されて稼働状態で行われるもので、上記の
検査方法は稼働状態の検査には妥当である。しかし、単
板検査はディスクの全面についてできる限り精密に媒体
検査を行うことを目的とするので、上記の検査方法は適
当でない。また、上記の検査においては、検出された欠
陥データが欠陥の大きさに比例しない欠点がある。これ
を第３図により説明する。図において、一方のトラック
ＴＲ（ｎ）の図示の位置に面積Ａの欠陥（イ）があると
し、磁気ヘッドの作用面積をＢとすると欠陥の占める割
合はＡ／Ｂである。この場合は、磁気ヘッド１ａは両ト
ラックＴＲ（ｎ）とＴＲ（ｎ＋１）に跨がって作用して
、欠陥（イ）の検出信号はＡ／Ｈの割合で低下する。

これに対して、ＴＲ（ｎ）の中心に同一面積Ａの欠陥（
ロ）があるときは、磁気ヘッドに作用する欠陥（０）の
面積がＡ／２であるために、信号の低下割合はＡ／２Ｂ
となる。例えば、両欠陥（イ）、（ロ）のＴＲ（ｎ）に
対する面積の割合Ａ／Ｂがともに１０％であるとき、（
イ）に対する検出信号の低下は１０％で、（０）に対し
ては５％となる。このように欠陥の位置により検出信号
が変化して欠陥の大きさが忠実に検出されず、単に欠陥
の有無のみがエラーとして検出されるに過ぎない。

以上の欠点に対して、空白なくディスクの全面について
検査し、かつ欠陥の大きさを忠実に検出できる検査方式
が必要であり、この発明は単板検査装置に対して上記の
問題を解決する方法を提供することを目的とするもので
ある。

［課題を解決するための手段］この発明は、磁気ディスク検査装置によるサーボ面サー
ボディスクの媒体検査方式である。サーボディスクに設
定される総数Ｎの各トラックの中心に対して、マイクロ
プロセッサの制御により磁気ヘッドを逐次シークし、サ
ーボディスクの回転によりえられるインデックス信号を
起点として各トラックの１周に対して、一定周波数で連
続した“ｌ”のテスト信号を書込み／続出しする。番号
ｎ［ｎ＝１〜（Ｎ−１）］のトラックよりの読み出し信
号の各波高値の、トラックを円周方向に適当な数に等分
割した各セクタごとの平均値を検出してメモリに記憶す
る。番号ｎのトラックに隣接する番号（ｎ＋１）のトラ
ックよりの読み出し信号の各波高値を、対応する各セク
タの平均値と比較し、両者の差電圧がそれぞれ検出され
るものである。

上記の各トラックに対するセクタの等分割は、検査装置
に設けられたディスクの回転角度検出器よりえられる角
度信号を上記のマイクロプロセッサに入力して行われる
。

［作用コ以上のサーボディスクの検査方式においては、連続した
“１″のテスト信号により総数Ｎの全トラックが検査さ
れるので、不検査の空白部が生じない。検査においては
、番号（ｎ＋１）のトラックの読み出し信号の各波高値
が、番号ｎのトラックの対応するセクタごとの各波高値
の平均値と比較されるので、ディスクの円周方向による
テスト信号の変動の影響が除かれて正しい比較がなされ
、さらに、テスト信号の読み出しがトラックの中心に磁
気ヘッドを対向して行われるので、磁気ヘッドの作用面
積に対する欠陥の面積の割合が、そのまま差電圧として
検出され、欠陥の大きさが正当に判定できるものである
。

［実施例コ第１図は（ａ）、（ｂ）は、この発明によるサーボディ
スクの媒体検査方式を適用した磁気ディスク検査装置の
実施例における検査部４のブロック構成図と、テスト信
号を示す。図（ａ）において、マイクロプロセッサ（Ｍ
ＰＵ）４１の指令により、テスト信号書き込み回路４２
、ライトアンプ４３１および磁気ヘッド１ａにより、イ
ンデックス検出器３１により検出されたインデックス（
ＩＮＤＥＸ）を起点として、総数Ｎの各ＴＲ（ｎ）の１
周に対して順次に図（ｂ）に示すテスト信号ＷＰが書き
込まれる。

次に、磁気ヘッドｆａ１　リードアンプ４３２により、
番号ｎのトラックより読み出し信号Ｒｓ（ｎ）が読み出
され、信号Ｒｓ（ｎ）はスイッチ４４を経て平均値検出
回路４５に人力する。一方、回転角度検出器３２により
検出された角度信号がセクタ分割信号発生回路４６に入
力し、セクタ分割信号が発生されて平均値検出回路４５
に与えられ、各セクタＳ　（ｒ）における信号Ｒｓ（ｎ
）の平均値Ａ　Ｖ　Ｅ　（ｒ）が検出される。

Ａ　Ｖ　Ｅ　（ｒ）はＡ／Ｄ変換器４７によりデジタル
化され、ＭＰＵ４１によりメモリ（ＭＥＭ）４１１に逐
次記憶される。ついで、ＴＲ（ｎｉｌ）の中心に磁気ヘ
ッド１ａが移動して信号Ｒｓ（ｎ＋１）が読み出され、
リードアンプ４３ｂと、切り替えられたスイッチ４４を
経て差電圧検出回路４９に人力する。差電圧検出回路４
９には、ＭＰＵ４１によりＭＥＭ４１１より読み出され
、Ｄ／Ａ変換器４８によりアナログ化された前記の平均
値Ａ　Ｖ　Ｅ　（ｒ）が与えられ、これに信号Ｒｓ（ｎ
＋１）の各波形がセクタＳ　（ｒ）ごとに比較され、そ
れらの差電圧が検出されてＭＰＵ４１に入力し、所定の
フォーマットに編集されて表示器４１２に出力される。

以上の処理はｎを１から（Ｎ−１）まで順次に変えて総
数Ｎの全トラックに対して逐次行われる。また、上記の
セクタの数は、例えば５１２または１０２４個などの多
数として、テスト信号の回転角度位置による変動の影響
を極力回避する。なお、平均値検出回路４５や差電圧検
出回路４９は通常の技術によるもので詳細説明を省略す
る。

［発明の効果コ以上の説明により明らかなように、この発明によるサー
ボディスクの媒体検査方式においては、連続した“１”
のテスト信号により空白部がなくて総数Ｎの全トラック
が検査される。また、テスト信号の各波高値は、隣接す
るトラックの対応するセクタごとの各波高値の平均値と
比較されるので、ディスクの円周方向によるテスト信号
の変動の影響が除かれて正しい比較がなされ、さらに、
読み出しがトラックの中心に磁気ヘッドを対向して行わ
れるので、磁気ヘッドの作用面積に対する欠陥の面積の
割合がそのまま差電圧として検出され、欠陥の大きさが
正当に判定できるもので、単板検査装置に適用してサー
ボディスクの欠陥を高精度に検出できる効果には大きい
ものがある。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）および（ｂ）は、この発明によるサーボデ
ィスクの媒体検査方式の実施例におけるブロック構成図
とテスト信号波形を示す図、第２図（ａ）、（ｂ）およ
び（Ｃ）は、サーボ面方式のサーボディスクに設定され
るトラック、該トラックに書き込まれるサーボ信号、お
よび従来の検査方法の説明図、第３図は従来の検査方法
の一矢点の説明図である。１・・・サーボディスク、　　ｌａ・・・磁気ヘッド、
２・・・スピンドル、３１・・・インデックス検出器、
３２・・・回転角度検出器、　４・・・検査部、４１・
・・マイクロプロセッサ（ＭＰＵ）、４１１・・・メモ
リ　（ＭＥＭ）、４２・・・テスト信号書き込み回路、４３１・・・ライトアンプ、４３２・・・リードアンプ
、４４・・・スイッチ、４５・・・平均値検出回路、４
６・・・セクタ分割信号発生回路、４７・・・Ａ／Ｄ変換器、　　４８・・・Ｄ／Ａ変換器
。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）磁気ディスク検査装置によるサーボ面方式のサー
ボディスクの媒体検査において、該サーボディスクに設
定される総数Ｎの各トラックの中心に対して、マイクロ
プロセッサの制御により磁気ヘッドを逐次シークし、該
各トラックの１周に対して、該サーボディスクの回転に
よりえられるインデックス信号を起点として、一定周波
数で連続した“１”のテスト信号を書込み／読出しし、
番号ｎ［ｎ＝１〜（Ｎ−１）］のトラックよりの読み出
し信号の各波高値の、上記トラックを円周方向に適当な
数に等分割した各セクタごとの平均値を検出してメモリ
に記憶し、上記番号ｎのトラックに隣接する番号（ｎ＋
１）のトラックよりの読み出し信号の各波高値を、対応
する上記各セクタの平均値と比較し、上記各波高値と該
平均値のそれぞれの差電圧を検出することを特徴とする
、サーボディスクの媒体検査方式。
（２）上記において、上記検査装置に設けられた上記サ
ーボディスクの回転角度検出器よりえられる角度信号を
上記マイクロプロセッサに入力して、上記トラックに対
する上記セクタの等分割を行う、請求項１記載のサーボ
ディスクの媒体検査方式。