JPH04155247A - 顕微式フーリエ変換赤外分光法における試料観察方法 - Google Patents
顕微式フーリエ変換赤外分光法における試料観察方法Info
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- JPH04155247A JPH04155247A JP28047790A JP28047790A JPH04155247A JP H04155247 A JPH04155247 A JP H04155247A JP 28047790 A JP28047790 A JP 28047790A JP 28047790 A JP28047790 A JP 28047790A JP H04155247 A JPH04155247 A JP H04155247A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 9
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 4
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- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 4
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、顕微式フーリエ変換赤外分光法における試料
観察方法に関する。
観察方法に関する。
第4図は、従来の一般的な顕微分光測定装置を示し、試
料観察時には、光源1°からの可視光を試料2に照射し
、その透過光を対物鏡3で集光し、像面4に拡大像を形
成する。更に、この像面4からの光をリレーレンズ5を
介して拡大結像させ、その後、接眼レンズ6により像面
4を観察する。
料観察時には、光源1°からの可視光を試料2に照射し
、その透過光を対物鏡3で集光し、像面4に拡大像を形
成する。更に、この像面4からの光をリレーレンズ5を
介して拡大結像させ、その後、接眼レンズ6により像面
4を観察する。
一方、分光測定を行う場合には、可視光を赤外光に切換
え、光路切換え用ミラー7を像面4とリレーレンズ5と
の間に介装することによりリレー光学系8に赤外光を導
き、その後、検出器9により分光スペクトルを得て、解
析を行う。
え、光路切換え用ミラー7を像面4とリレーレンズ5と
の間に介装することによりリレー光学系8に赤外光を導
き、その後、検出器9により分光スペクトルを得て、解
析を行う。
そして、例えば第5図(a)に示すような試料2中の測
定対象部位Aのみの分光スペクトルを測定したい場合、
第4図に示すように、像面4に測定対象部位以外からの
光束を遮蔽するマスク10.11を設置し、測定対象部
位からの光束のみを分光して、その分光スペクトルを得
るのである。
定対象部位Aのみの分光スペクトルを測定したい場合、
第4図に示すように、像面4に測定対象部位以外からの
光束を遮蔽するマスク10.11を設置し、測定対象部
位からの光束のみを分光して、その分光スペクトルを得
るのである。
つまり、第5図(b)に示すように、像面4に、各辺が
ナイフェツジに形成され、且つスリット長を任意に変更
できる長方形のスリットからなる遮蔽マスク10.11
を設置し、測定対象部位A以外の部位B、Cからの光束
を遮蔽し、且つ測定対象部位Aからの光束が最大限に得
られるようにスリット長を可変とし、測定を行う。
ナイフェツジに形成され、且つスリット長を任意に変更
できる長方形のスリットからなる遮蔽マスク10.11
を設置し、測定対象部位A以外の部位B、Cからの光束
を遮蔽し、且つ測定対象部位Aからの光束が最大限に得
られるようにスリット長を可変とし、測定を行う。
〔発明が解決しようとするiB)
しかしながら、上記方法で測定対象を限定すると、第5
図(c)に示すように、遮蔽マスクl0111を通して
観測されるのは部位Aのみであり、他の部位B、Cは遮
蔽されているために試料2の保全体における部位への位
置間係を目視観察により再確認することができない、ま
して、測定対象が微小になるほど、あるいは全体像が半
導体チップや生体細胞組織のように複雑であるほど測定
対象の位置関係を把握することが非常に重要であるにも
拘わらず、遮蔽マスク10.11を通しては非常に困難
である。
図(c)に示すように、遮蔽マスクl0111を通して
観測されるのは部位Aのみであり、他の部位B、Cは遮
蔽されているために試料2の保全体における部位への位
置間係を目視観察により再確認することができない、ま
して、測定対象が微小になるほど、あるいは全体像が半
導体チップや生体細胞組織のように複雑であるほど測定
対象の位置関係を把握することが非常に重要であるにも
拘わらず、遮蔽マスク10.11を通しては非常に困難
である。
本発明は、上述の事柄に留意してなされたもので、その
目的とするところは、試料全体における測定部位の位置
確認及び移動を容易に行うことができる顕微式フーリエ
変換赤外分光法における試料観察方法を提供することに
ある。
目的とするところは、試料全体における測定部位の位置
確認及び移動を容易に行うことができる顕微式フーリエ
変換赤外分光法における試料観察方法を提供することに
ある。
上述の目的を達成するため、本発明に係る顕微式フーリ
エ変換赤外分光法における試料観察方法は、マスクを像
点に設けると共に、光路に対して移動自在に構成し、当
該マスクを光路中に設けた状態で像点における結合像を
テレビカメラによってモニターし、当該テレビカメラか
らの信号を画像処理装置に入力して、当該画像処理装置
によってマスクで遮光された部位のみを第1画像として
記録した後、前記マスクを光路から外した状態で再び像
点における結合像を前記テレビカメラによってモニター
し、当該テレビカメラからの信号を画像処理装置に入力
して第2画像として前記第1画像と同一の画面上で合成
像として観察できるようにした点に特徴がある。
エ変換赤外分光法における試料観察方法は、マスクを像
点に設けると共に、光路に対して移動自在に構成し、当
該マスクを光路中に設けた状態で像点における結合像を
テレビカメラによってモニターし、当該テレビカメラか
らの信号を画像処理装置に入力して、当該画像処理装置
によってマスクで遮光された部位のみを第1画像として
記録した後、前記マスクを光路から外した状態で再び像
点における結合像を前記テレビカメラによってモニター
し、当該テレビカメラからの信号を画像処理装置に入力
して第2画像として前記第1画像と同一の画面上で合成
像として観察できるようにした点に特徴がある。
上記特徴構成によれば、マスクによって遮蔽された部位
の像を第1画像として記録した後、試料の全体像を第2
画像として前記第1i!i像と同一の画面上で合成して
表示するため、試料全体における測定対象部位の位置関
係が明確になると共に、容易に測定対象部位の変更が行
えるため、従来のものと比べて飛躍的な測定時間の短縮
及び測定精度の向上が可能となる。
の像を第1画像として記録した後、試料の全体像を第2
画像として前記第1i!i像と同一の画面上で合成して
表示するため、試料全体における測定対象部位の位置関
係が明確になると共に、容易に測定対象部位の変更が行
えるため、従来のものと比べて飛躍的な測定時間の短縮
及び測定精度の向上が可能となる。
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図ないし第3図は、本発明に係る顕微式フーリエ変
換赤外分光法における試料観察方法の一実施例を示し、
これらの図において第4回及び第5図に示す符号と同一
のものは同一物または相当物を示す。
換赤外分光法における試料観察方法の一実施例を示し、
これらの図において第4回及び第5図に示す符号と同一
のものは同一物または相当物を示す。
まず、第1図に示すように、試料観察時には、光源1°
からの可視光をミラー12.13およびコンデンサ鏡】
4を介して試料ステージ2°に載置された試料2に照射
する。試02を透過した光または照射光によって励起さ
れた螢光や燐光などの光は、対物鏡3を介して像点4で
結像する。この像点4には、測定対象部位以外からの光
を遮蔽する例えば、各辺がナイフェツジに形成され、且
つスリット長を任意に変更できる長方形のスリットから
成る遮蔽マスク】0、】】を設置し、試料2中の測定対
象部位からの光のみが遮蔽マスク10、IIを通過する
ように設定する。なお、遮蔽する手段として他に、円形
のピンホール等を用いてもよい。
からの可視光をミラー12.13およびコンデンサ鏡】
4を介して試料ステージ2°に載置された試料2に照射
する。試02を透過した光または照射光によって励起さ
れた螢光や燐光などの光は、対物鏡3を介して像点4で
結像する。この像点4には、測定対象部位以外からの光
を遮蔽する例えば、各辺がナイフェツジに形成され、且
つスリット長を任意に変更できる長方形のスリットから
成る遮蔽マスク】0、】】を設置し、試料2中の測定対
象部位からの光のみが遮蔽マスク10、IIを通過する
ように設定する。なお、遮蔽する手段として他に、円形
のピンホール等を用いてもよい。
その後、像点4を通過しだ光をテレビカメラ】5によっ
て像点4における結合像としてモニターし、テレビカメ
ラ15からの信号を画像処理装置16に入力して、遮蔽
マスク】Oll】によって遮蔽された部位のみを第1画
像aとして記録し、テレビモニタ17の画面上に表示す
る(第3図参照)。
て像点4における結合像としてモニターし、テレビカメ
ラ15からの信号を画像処理装置16に入力して、遮蔽
マスク】Oll】によって遮蔽された部位のみを第1画
像aとして記録し、テレビモニタ17の画面上に表示す
る(第3図参照)。
次に、試料2全体からの光が像点4を通過するように遮
蔽マスク10.11を光路から外し、像点4を通過した
光は、再びテレビカメラ15によって像点4における試
料2の全体像としてモニターし、テレビカメラ15から
の信号を画像処理装置16に入力して第2画像すとして
テレビモニタ17の西面上に表示された第1画像aと同
一画面上に合成像として表示するC輌3図参照)。
蔽マスク10.11を光路から外し、像点4を通過した
光は、再びテレビカメラ15によって像点4における試
料2の全体像としてモニターし、テレビカメラ15から
の信号を画像処理装置16に入力して第2画像すとして
テレビモニタ17の西面上に表示された第1画像aと同
一画面上に合成像として表示するC輌3図参照)。
従って、この合成像を観察する場合、第1画像aにおけ
る遮蔽マスク10.11により遮蔽された部位以外は遮
蔽マスク10.11により形成された測定対象部位観察
用の開口部であるため、この開口部と第2画像すとして
の試料2の全体像とを同一の画面上で確認できるため、
試料2中における測定対象部位の位1関係が明確となる
と共に、試料2を移動させることにより、測定対象部位
の変更も容易に行える。
る遮蔽マスク10.11により遮蔽された部位以外は遮
蔽マスク10.11により形成された測定対象部位観察
用の開口部であるため、この開口部と第2画像すとして
の試料2の全体像とを同一の画面上で確認できるため、
試料2中における測定対象部位の位1関係が明確となる
と共に、試料2を移動させることにより、測定対象部位
の変更も容易に行える。
而して、上記方法により測定対象部位を設定した後、赤
外光を用いて測定対象部位の分光特性や強度を測定する
には、第2菌に示すように、遮蔽マスク10.11を第
1画像aとして記録した位置に戻した後、ミラー12を
移動させ、光源1から発した赤外光を例えば三光束干渉
計等からなる干渉計18を通過させて、波長ごとにエネ
ルギー強度変調をかけ、その後ミラー19.20.13
およびコンデンサ鏡14を介して試料2に照射し、その
透過光を対物鏡3を介して像点4で結像する。
外光を用いて測定対象部位の分光特性や強度を測定する
には、第2菌に示すように、遮蔽マスク10.11を第
1画像aとして記録した位置に戻した後、ミラー12を
移動させ、光源1から発した赤外光を例えば三光束干渉
計等からなる干渉計18を通過させて、波長ごとにエネ
ルギー強度変調をかけ、その後ミラー19.20.13
およびコンデンサ鏡14を介して試料2に照射し、その
透過光を対物鏡3を介して像点4で結像する。
像点4には、予め可視光を用いて測定対象部位の光束の
みを透過させるように試料2を設定しであるため、測定
対象部位以外からの赤外光は遮蔽される。そして、ミラ
ー21を光路中に導入し、測定対象部位からの赤外光を
リレー光学系8に導入する。赤外光は干渉計18によっ
て波長毎に周波数の異なるエネルギー変調を受けている
ので、測定対象部位からの赤外光を直接検出器9で検出
し、周波数分析することによって分光スペクトルを得る
。
みを透過させるように試料2を設定しであるため、測定
対象部位以外からの赤外光は遮蔽される。そして、ミラ
ー21を光路中に導入し、測定対象部位からの赤外光を
リレー光学系8に導入する。赤外光は干渉計18によっ
て波長毎に周波数の異なるエネルギー変調を受けている
ので、測定対象部位からの赤外光を直接検出器9で検出
し、周波数分析することによって分光スペクトルを得る
。
上述の実施例では透過式の顕微式フーリエ変換赤外分光
法について説明したが、反射式で測定を行う場合には、
第2図に示すように、矢印P方向にミラー19を移動さ
せ、ミラー22.23.24を介して試料2に光を照射
してその反射光を用いて同様に測定を行えばよい。
法について説明したが、反射式で測定を行う場合には、
第2図に示すように、矢印P方向にミラー19を移動さ
せ、ミラー22.23.24を介して試料2に光を照射
してその反射光を用いて同様に測定を行えばよい。
以上説明したように、本発明によれば、マスクによって
遮蔽された部位の像を第1画像として記録した後、試料
の全体像を第2画像として前記第1画像と同一の画面上
で合成して表示するため、試料全体における測定対象部
位の位置関係が明確になると共に、容易に測定対象部位
の変更が行えるため、従来のものと比べて飛躍的な測定
時間の短縮及び測定精度の向上が可能となったのである
。
遮蔽された部位の像を第1画像として記録した後、試料
の全体像を第2画像として前記第1画像と同一の画面上
で合成して表示するため、試料全体における測定対象部
位の位置関係が明確になると共に、容易に測定対象部位
の変更が行えるため、従来のものと比べて飛躍的な測定
時間の短縮及び測定精度の向上が可能となったのである
。
第1図ないし第3図は本発明の一実施例を示し、第1回
は顕微式フーリエ変換赤外線分光光度計における測定対
象部位の位置確認用光学配置図、第2図は赤外光分光測
定用光学配置図、第3図は試料観察のための動作説明図
である。 第4図及び第5図は従来例を示し、第4図は従来の顕微
分光測定装置の構成図、第5図は遮蔽マスクによる非測
定対象部位の遮蔽方法を説明するための平面図である。 1、l゛ −光源、2−試料、4−像点、10.11−
゛遮蔽マスク、15 テレビカメラ、16−画像処理
袋W、a −第1画像、b−第2M像。 出 願 人 株式会社 板場製作所 代 理 人 弁理士 藤本英夫 第4図 Q17一
は顕微式フーリエ変換赤外線分光光度計における測定対
象部位の位置確認用光学配置図、第2図は赤外光分光測
定用光学配置図、第3図は試料観察のための動作説明図
である。 第4図及び第5図は従来例を示し、第4図は従来の顕微
分光測定装置の構成図、第5図は遮蔽マスクによる非測
定対象部位の遮蔽方法を説明するための平面図である。 1、l゛ −光源、2−試料、4−像点、10.11−
゛遮蔽マスク、15 テレビカメラ、16−画像処理
袋W、a −第1画像、b−第2M像。 出 願 人 株式会社 板場製作所 代 理 人 弁理士 藤本英夫 第4図 Q17一
Claims (1)
- 光源からの光を試料に照射し、該試料からの反射あるい
は透過光をマスクを介して分光測定する顕微式フーリエ
変換赤外分光法において、前記マスクを像点に設けると
共に、光路に対して移動自在に構成し、当該マスクを光
路中に設けた状態で像点における結合像をテレビカメラ
によってモニターし、当該テレビカメラからの信号を画
像処理装置に入力して、当該画像処理装置によってマス
クで遮光された部位のみを第1画像として記録した後、
前記マスクを光路から外した状態で再び像点における結
合像を前記テレビカメラによってモニターし、当該テレ
ビカメラからの信号を画像処理装置に入力して第2画像
として前記第1画像と同一の画面上で合成像として観察
できるようにしたことを特徴とする顕微式フーリエ変換
赤外分光法における試料観察方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28047790A JPH04155247A (ja) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | 顕微式フーリエ変換赤外分光法における試料観察方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28047790A JPH04155247A (ja) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | 顕微式フーリエ変換赤外分光法における試料観察方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04155247A true JPH04155247A (ja) | 1992-05-28 |
Family
ID=17625625
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28047790A Pending JPH04155247A (ja) | 1990-10-18 | 1990-10-18 | 顕微式フーリエ変換赤外分光法における試料観察方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04155247A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5864139A (en) * | 1997-02-13 | 1999-01-26 | Spectra-Tech Inc. | Confocal microspectrometer system |
-
1990
- 1990-10-18 JP JP28047790A patent/JPH04155247A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5864139A (en) * | 1997-02-13 | 1999-01-26 | Spectra-Tech Inc. | Confocal microspectrometer system |
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