JPH04157571A - 論理回路のフリップフロップ間ゲート段数ルール解析方式 - Google Patents

論理回路のフリップフロップ間ゲート段数ルール解析方式

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JPH04157571A
JPH04157571A JP2283924A JP28392490A JPH04157571A JP H04157571 A JPH04157571 A JP H04157571A JP 2283924 A JP2283924 A JP 2283924A JP 28392490 A JP28392490 A JP 28392490A JP H04157571 A JPH04157571 A JP H04157571A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
logic circuit
stage number
gate stage
block
storage means
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Pending
Application number
JP2283924A
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English (en)
Inventor
Hiroko Asano
浅野 裕子
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH04157571A publication Critical patent/JPH04157571A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は論理回路のフリップフロップ(以下FFと記す
)間ゲート段数ルール解析方式に関する。
〔従来の技術〕
従来の論理回路のF/F間ゲート段数ルール解析方式は
、ブロック内ゲート段数情報記憶手段、論理的にまとま
った機能記述単位(モジュール)で記憶するのではなく
1階層のみで記憶した論理回路接続情報記憶手段、論理
回路F/F間ゲート段数ルール解析手段および論理回路
F/F間ゲート段数ルール結果出力手段を有して構成さ
れており、大規模な論理回路についての論理回路のF/
F間ゲート段数ルール解析を行なうのに大容量のメモリ
を論理回路接続情報を記憶するために必要とするので解
析出来る論理回路の規模が制限されてしまう。
〔発明が解決しようとする課題〕
上述した従来の論理回路のF/F間ゲート段数ルール解
析方式では、論理回路接続情報を1階層のみで記憶して
おり、大規模な論理回路についての論理回路のF/F間
ゲート段数ルール解析を行なうのに大容量のメモリを論
理回路接続情報を記憶するために必要とするので解析出
来る論理回路の規模が制限されてしまうという欠点があ
る。
本発明の目的は、解析出来る論理回路の規模が制限され
ず大規模な論理回路についても使用できる論理回路のF
/F間ゲート段数ルール解析方式を提供することにある
〔課題を解決するための手段〕
本発明の論理回路のF/F間ゲート段数ルール解析方式
は、論理回路におけるF/F間ゲート段数ルール解析に
おいて基本となるゲート段数情報をブロック毎に記憶す
るブロック内ゲート段数情報記憶手段と、大規模論理回
路の論理回路接続情報を論理的にまとまった機能記述単
位(モジュール)で記憶する論理回路接続情報記憶手段
と、前記論理回路接続情報記憶手段中に存在するモジュ
ールを下位の階層のモジュールから処理を行うよう制御
する階層制御手段と、前記階層制御手段により選択され
た前記論理回路接続情報記憶手段内の1モジュール分の
論理回路接続情報とブロック内ゲート段数情報記憶手段
に記憶されているブロック毎のゲート段数情報より論理
回路のF/F間のゲート段数ルール解析を行ないエラー
の対象となった部位を指定する論理回路F/F間ゲート
段数ルール解析手段と、前記階層制御手段により選択さ
れた前記論理回路接続情報記憶手段内の1モジュール分
の論理回路接続情報と前記ブロック内ゲート段数情報記
憶手段に記憶されているブロック毎のゲート段数情輔よ
り1モジュールを1ブロックとみなしたゲート段数情報
を生成し前記ブロック内ゲート段数情報記憶手段に記憶
させるゲート段数情報自動生成手段と、前記論理回路F
/F間ゲート段数ルール解析手段で指定したエラーの対
象となった部位情報を出力する論理回路F/F間ゲート
段数ルール解析結果出力手段とを有している。
〔実施例〕
次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
第1図は、本発明のブロック図である。ブロック内ゲー
ト段数情報記憶手段1は論理回路におけるF/F間ゲー
ト段数ルール解析において基本となるゲート段数情報を
ブロック毎に記憶し、論理回路接続情報記憶手段2は大
規模論理回路の論理回路接続情報を論理的にまとまった
機能記述単位(モジュール)で記憶する。
階層制御手段3は論理回路接続情報記憶手段2中に存在
するモジュールを下位の階層のモジュールから処理を行
うよう制御し、論理回路F/F間ゲート段数ルール解析
手段4は階層制御手段3により選択された論理回路接続
情報記憶手段2内の1モジュール分の論理回路接続情報
とブロック内ゲート段数情報記憶手段1に記憶されてい
るブロック毎のゲート段数情報より論理回路のF/F間
のゲート段数ルール解析を行ないエラーの対象となった
部位を指定する。
ゲート段数情報自動生成手段5は階層制御手段3により
選択された論理回路接続情報記憶手段2内の1モジュー
ル分の論理回路接続情報とブロック内ゲート段数情報記
憶手段1に記憶されているブロック毎のゲート段数情報
より1モジュールを1ブロックとみなしたゲート段数情
報を生成しブロック内ゲート段数情報記憶手段1に記憶
させ、論理回路F/F間ゲート段数ルール解析結果出力
手段6は論理回路F/F間ゲート段数ルール解析手段4
で指定したエラーの対象となった部位情報を出力する。
第2図、第3図および第4図は、本発明の一実施例を示
す図である。
第2図は論理回路F/F間ゲート段数ルール解析の対象
となる論理回路図を示す。論理回路接続情報記憶手段2
は論理回路図7の論理回路接続情報を論理的にまとまっ
た機能記述単位(モジュール)の論理回路図8,9およ
び10で記憶する。
モジュール8内のF/Fシンボル57.58それぞれの
詳細がモジュール7内の点線で囲われてい−る。
第3図は階層制御手段3が論理回路接続情報記憶手段2
中に存在するモジュールを9.10.8の順番でモジュ
ール9に対する論理回路F/F間ゲート段数ルール解析
4.1.モジュール10に対する論理回路F/F間ゲー
ト段数ルール解析4.2.モジュール8に対する論理回
路F/F間ゲート段数ルール解析4.3、モジュール9
に対するブロック内ゲート段数情報自動生成5.1、モ
ジュール10に対するブロック内ゲート段数情報自動生
成5.2、および下位階層のモジュール9.10に対す
る論理回路F/F間ゲート段数ルール解析結果出力6.
1、上位階層のモジュール8に対する論理回路F/F間
ゲート段数ルール解析結果出力6.2の処理を行うよう
制御した流れを示す図である。
第4図はブロック内ゲート段数情報記憶手段1に記憶さ
れているブロックのゲート段数情報として、65群は初
期状態の記憶情報として初期の各ブロックのゲート段数
情報を、66群はブロック内ゲート段数情報自動生成5
により生成されたモジュールブロック57のゲート段数
情報を、66群はブロック内ゲート段数情報自動生成手
段5により生成されたモジュールブロック58のゲート
段数情報を示す図である。
論理回路F/F間ゲート段数ルール解析手段4は、論理
回路接続情報記憶手段2に記憶されているモジュール9
の論理回路接続情報とブロック内ゲート段数情報記憶手
段1に記憶されているブロック毎のゲート段数情報によ
り、論理回路F/F間ゲート段数ルール解析を行う(4
,1)。
仮にF/F間のゲート段数を3段以上と設定した場合、
F/Fシンボル15の出力端子30からF/Fシンボル
16の入力端子31の端子間のゲート数が不足しており
、部位としてF/Fシンボル15の出力端子30からF
/Fシンボル16の入力端子31をエラーの対象部位と
して指定する。
ブロック内ゲート段数情報自動生成手段5は、論理回路
接続情報記憶手段2に記憶されているモジュール9の論
理回路接続情報とブロック内ゲート段数情報記憶手段1
に記憶されているブロック毎のゲート段数情報より、第
4図66群に示したモジュール9を一つのF/Fシンボ
ル57とみなしたゲート段数情報を生成し、ブロック内
ゲート段数情報記憶手段1に記憶させ、次に論理回路接
続情報記憶手段2に記憶されているモジュール10の論
理回路接続情報とブロック内ゲート段数情報記憶手段1
に記憶されているブロック毎のゲート段数情報より論理
回路について論理回路F/F間ゲート段数ルール解析c
4.2)、ブロック内ゲート段数情報自動生成(5゜2
)の処理を行う。
最後に論理回路接続情報記憶手段2に記憶されているモ
ジュール8の論理回路接続情報とブロック内ゲート段数
情報記憶手段1に記憶されているブロック毎のゲート段
数情報より最上位論理回路についての論理回路F/F間
ゲート段数ルール解析(4,3)を行なう。
仮にF/F間のゲート段数を3段以上と設定した場合、
F/Fシンボル57の出力端子60内下位階層のF/F
シンボル15の出力端子29とF/Fシンボル58の入
力端子62内下位階層のF/Fシンボル17の入力端子
49の間のゲート数およびF/Fシンボル57の出力端
子61内下位階層のF/Fシンボル16の出力端子32
とF/Fシンボル58の入力端子63内下位階層のF/
Fシンボル18の入力端子50の間のゲート数が不足し
ており、部位としてF/Fシンボル57の出力端子60
内下位階層のF/Fシンボル15の出力端子29とF/
Fシンボル58の入力端子62内下位階層のF/Fシン
ボル17の入力端子49問およびF/Fシンボル57の
出力端子61内下位階層のF/Fシンボル16の出力端
子32とF/Fシンボル58の入力端子63内下位階層
のF/Fシンボル18の端子間をエラーの対象部位とし
て指定する。
下位階層モジュール9,10に対する論理回路F/F間
ゲート段数ルール解析結果出力(6,1)を行ない、F
/Fシンボル15の出力端子3oがらF/Fシンボル1
6の入力端子31の外部入力端子12の入力端子27と
F/Fシンボル15の出力端子30の接続である情報を
出力し、上位階層モジュール8に対する論理回路F/F
間ゲート段数ルール解析結果出力(6,2)を行ない、
F/Fシンボル57のl力端子60内下位階層のF/F
シンボル15の出力端子29とF/Fシンボル58の入
力端子62内下位階層のF/Fシンボル17の入力端子
49問およびF/Fシンボル57の出力端子61内下位
階層のF/Fシンボル16の出力端子32とF/Fシン
ボル58の入力端子63内下位階層のF/Fシンボル1
8の端子間の情報を出力する。
〔発明の効果〕
本発明は以上に説明したような構成の採用により、解析
対象となる論理回路の規模が制限されず、従って大規模
な論理回路についてもF/F間ゲート段数ルールの解析
ができるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2、第3.
第4図は本実施例の詳細を示す図である。 1・・・ブo 、yり内ゲート段数情報記憶手段、2・
・・論理回路接続情報記憶手段、3・・・階層制御手段
、4・・・論理回路F/F間ゲート段数ルール解析手段
、5・・・ブロック内ゲート段数情報自動生成手段、6
・・・論理回路F/F間ゲート段数ルール解析結果出力
手段、7〜10・・・論理回路図(モジュール)。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 論理回路におけるフリップフロップ間ゲート段数ルール
    解析において基本となるゲート段数情報をブロック毎に
    記憶するブロック内ゲート段数情報記憶手段と、 論理回路の論理回路接続情報を論理的にまとまった機能
    記述単位(モジュール)で記憶する論理回路接続情報記
    憶手段と、 前記論理回路接続情報記憶手段中に存在するモジュール
    を下位の階層のモジュールから処理を行うよう制御する
    階層制御手段と、 前記階層制御手段により選択された前記論理回路接続情
    報記憶手段内の1モジュール分の論理回路接続情報とブ
    ロック内ゲート段数情報記憶手段に記憶されているブロ
    ック毎のゲート段数情報より論理回路のフリップフロッ
    プ間のゲート段数ルール解析を行ないエラーの対象とな
    った部位を指定する論理回路フリップフロップ間ゲート
    段数ルール解析手段と、 前記階層制御手段により選択された前記論理回路接続情
    報記憶手段内の1モジュール分の論理回路接続情報と前
    記ブロック内ゲート段数情報記憶手段に記憶されている
    ブロック毎のゲート段数情報より1モジュールを1ブロ
    ックとみなしたゲート段数情報を生成し前記ブロック内
    ゲート段数情報記憶手段に記憶させるゲート段数情報自
    動生成手段と、 前記論理回路フリップフロップ間ゲート段数ルール解析
    手段で指定したエラーの対象となった部位情報を出力す
    る論理回路フリップフロップ間ゲート段数ルール解析結
    果出力手段とを有することを特徴とする論理回路のフリ
    ップフロップ間ゲート段数ルール解析方式。
JP2283924A 1990-10-22 1990-10-22 論理回路のフリップフロップ間ゲート段数ルール解析方式 Pending JPH04157571A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009038079A (ja) * 2007-07-31 2009-02-19 Nec Corp 半導体集積回路の設計方法および装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2009038079A (ja) * 2007-07-31 2009-02-19 Nec Corp 半導体集積回路の設計方法および装置

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