JPH0416497Y2 - - Google Patents

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JPH0416497Y2
JPH0416497Y2 JP18112584U JP18112584U JPH0416497Y2 JP H0416497 Y2 JPH0416497 Y2 JP H0416497Y2 JP 18112584 U JP18112584 U JP 18112584U JP 18112584 U JP18112584 U JP 18112584U JP H0416497 Y2 JPH0416497 Y2 JP H0416497Y2
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  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 この考案はフラツトパツケージに関し、より詳
しくはパツケージ本体とキヤツプとを低融点ガラ
スを介してシールしてなり、特に例えば水晶振動
子に好適するものである。
従来の技術 半導体装置や水晶振動子等の電子部品におい
て、半導体素子や水晶片等の素子は、湿気等によ
つて特性変動を起こすため、パツケージングされ
ている。樹脂でパツケージングするものもある
が、信頼性の点でカンケースやセラミツクパツケ
ージに封入したものに比較して劣るので、高信頼
性を要求される用途には、カンケースやセラミツ
クパツケージが用いられている。ところがカンケ
ースやセラミツクパツケージを用いるものでは、
水分の浸入はないが、実公昭40−36187号公報に
開示されているように、半田を用いてシールする
と、フラツクスの蒸気によつて素子が劣化するた
め、ガラスでシールしたものが考えられている。
第2図は従来のガラスシール型セラミツクフラ
ツトパツケージの一例のキヤツプを除いた平面図
を示し、第3図は第2図の−線に沿う断面図
を示す。図において、1はパツケージ本体で、ア
ルミナ、ステアタイト等のセラミツクよりなる四
角形状の底板2と枠体3との間に、ガラス4を介
して一対のコバール、42合金(Fe;85%、Ni;
42%)等よりなる板状のリード5,6を気密に封
着したものである。7はアルミナ、ステアタイト
等のセラミツクよりなるキヤツプで、低融点ガラ
ス8を介して前記枠体3に気密に封着されてい
る。図中、二点鎖線9は水晶片の素子で、導電性
接着剤等を介して、前記一対のリード5,6に跨
つて電気的および機械的に接続固着されている。
ところで、上記の構成においては、キヤツプ7
のシール用ガラスに、リード5,6を封着するガ
ラス4より融点の低い低融点ガラス8を使用して
はいるが、低融点ガラス8の溶融のために、全体
を抵抗式加熱炉等で加熱するため、素子9が高温
になつて特性劣化を起こしたり、素子9を有機物
質を含む導電性接着剤を用いて接続固着している
場合は、導電性接着剤からガスを発生して、素子
9の特性劣化の原因になつていた。
そこで本件出願人は、別途キヤツプの下面の少
なくともパツケージ本体とのシール箇所に低融点
ガラスを被着しておき、前記キヤツプの上面にヒ
ータを押し当てて、キヤツプの伝導熱で低融点ガ
ラスを溶融させてパツケージ本体とキヤツプとを
シールする方法を提案している。
第4図はこの考案の背景となる上記シール方法
について説明するための分解断面図を示す。図に
おいて、次の点を除いては第3図と同一であるの
で、同一部分には同一参照符号を付して、その説
明を省略する。第3図との相違点は、パツケージ
本体1の底板2の下にベリリヤ、鉄、銅、アルミ
ニウム等の良熱伝導体よりなる放熱板10を配置
したことと、キヤツプ7の上面にセラミツクヒー
タ等のヒータ11を押圧していることである。
上記の構成によれば、ヒータ11からのキヤツ
プ7の伝導熱によつて、その下面に被着されてい
る低融点ガラス8が加熱溶融されて、キヤツプ7
がパツケージ本体1の枠体3に融着シールされ
る。このとき、枠体3およびガラス4の熱抵抗に
よつて、リード5,6の温度上昇が抑圧され、し
かもリード5,6の熱はガラス4および底板2を
伝導して放熱板10に放熱される。このため、リ
ード5,6の温度は低く抑えられ、素子9やこの
素子9をリード5,6に接続固着する導電性接着
剤の温度は低く、素子9自身の高温による劣化が
ないのみならず、導電性接着剤が有機物質を含む
ものであつても有害なガスを発生することがな
く、素子9が発生ガスによつて劣化することもな
い。
上記の製法を採用する場合、キヤツプ7はアル
ミナ等の熱伝導率の大きいセラミツクで形成し、
一方枠体3はフオルステライト等の熱伝導率の小
さいセラミツクで形成する方が望ましい。
しかし、上記のように、底板2と枠体3との間
に底融点ガラス4を介してリード5,6を封着す
る構成のパツケージ本体1では、部品点数が多
く、部品材料費が嵩み、フラツトパツケージが高
価になるという問点がある。また、枠体3がセラ
ミツクであるため、熱伝導率が高く、リード5,
6かつ従つて素子9や導電性接着剤の温度上昇の
抑制にも限度があつた。
そこで、底板と側板を有する皿状のセラミツク
ベースの側板上端にガラスを介してクランク状に
屈曲されたリードをシールしたパツケージ本体
と、このパツケージ本体のガラス上に低融点ガラ
スを介してシールされたセラミツクキヤツプとで
フラツトパツケージが考えられている。
この考案は、上記のフラツトパツケージの改良
に関するものであるので、以下上記のフラツトパ
ツケージについて説明する。
第5図はキヤツプを除いた平面図で、第6図お
よび第7図はそれぞれ第5図の−線および
−線に対応する断面図である。図において、次
の点を除いては第2図および第3図と同様なの
で、同一部分には同一参照符号を付している。第
2図および第3図と相違する点はパツケージ本体
12の構造である。このパツケージ本体12は、
全体がアルミナ等よりなり、四角形状の底板14
と4つの側板15とが一体に形成された皿状のセ
ラミツクベース13の対向する一対の側板15上
にガラス16を被着し、その中にクランク状に屈
曲されたリード17,18がシールされている。
また、リード17,18の一部は、ガラス19,
20を介してセラミツクベース13の底板14に
熱的に結合されている。
上記パツケージ本体12は、例えば次のように
して製造される。まず、セラミツクベース13の
側板15の上面全面に軟化点が400℃程度の低融
点ガラス16をスクリーン印刷するとともに、底
板の一部に同様の低融点ガラス19,20を塗布
し、通炉して乾燥およびグレージングする。次い
で低融点ガラス16,19,20上にリード1
7,18を載置して、リード17,18を熱板で
加熱して、低融点ガラス16,19,20で融着
する。続いて、側板15上の低融点ガラス16お
よびリード17,18上に、軟化点が400℃の低
融点ガラス16を再びスクリーン印刷し、通炉し
て乾燥およびグレージングする。
上記のパツケージ本体12に従来と同様に下面
周縁部に軟化点が350℃程度の低融点ガラス8を
被着したキヤツプ7を重ね合せて、第5図と同様
の方法で、パツケージ本体12にキヤツプ7をシ
ールする。
なお、上記実施例に示すように、リード17,
18の一部を低融点ガラス19,20を介してセ
ラミツクベース13の底板14と熱的に結合して
おけば、キヤツプ7のシール時にリード17,1
8の熱が、効率よく底板14に放散されるので、
素子9や導電性接着剤の温度上昇をより確実に防
止できる利点があるが、場合によつては単に押出
接触するのみでもよい。
上記のフラツトパツケージによれば、皿状のセ
ラミツクベースを用いるので、従来の底板と枠体
をガラスを介して結合一体化したパツケージ本体
に比較して、部品点数が少なくコストダウン可能
である。また、ガラスはセラミツクに比較して熱
伝導率が小さいので、リードかつ従つて素子や導
電性接着剤の温度上昇の抑制に対して有利であ
る。さらに、ガラスに対して低融点ガラスを融着
するので、従来のセラミツクの枠体に対して低融
点ガラスを融着するのに比較して、融着が容易確
実になり、その点でも温度上昇抑制に対して有利
である。
考案が解決しようとする問題点 ところで、上記の構成においても、素子9や導
電性接着剤等の温度上昇の抑制には限度があり、
素子9の種類によつては、なお温度上昇を抑制し
たい場合があるし、耐熱性の低い安価な導電性接
着剤を使用したいという要望もある。
問題点を解決するための手段 この考案はパツケージ本体内のリードの立下部
を幅狭状に形成したことを特徴とするものであ
る。
作 用 上記の手段によれば、キヤツプのシール時の加
熱でリードの温度が上昇しても、リードの立下部
を幅狭状に形成したことによつて、この立下部の
断面積が減少し、応じてその熱抵抗が増大するの
で、素子やこの素子をリードに接続固着する導電
性接着剤の温度上昇が抑制できる。
実施例 以下、この考案の一実施例について図面を参照
して説明する。
第1図はこの考案のパツケージ本体の斜視図
で、図において、リード21,22を除いては第
5図と同様であるため、同一部分には同一参照符
号を付している。リード21,22が第5図のリ
ード17,18と異なる点は、リード21,22
のうちで、パツケージ本体21,22の外部に延
出したリード導出部に連設する立下部21a,2
2aを、幅狭状に形成していることである。
考案の効果 この考案によれば次の効果が得られる。
(1) 皿状のセラミツクベース13を用いることに
より従来の枠体が不要になり、部品点数が少な
くコストダウンが出来る。
(2) ガラス16の熱伝導率がセラミツクの1/10程
度に過ぎないので、リード21,22の温度上
昇を抑えられる。
(3) リード21,22がクランク状に屈曲されて
おり、キヤツプ7のシール箇所から素子固着位
置が遠くなるので、温度上昇の抑制に有利にな
る。
(4) ガラス16を介在させることにより、キヤツ
プ7のシール時に、ガラス16の軟化によるリ
ード21,22の移動を防止できるのみなら
ず、 (5) ガラス同士の融着のため、従来の低融点ガラ
ス8をセラミツク製の枠体3に融着するより
も、融着が容易かね確実になり、キヤツプ7の
シールを短時間で行ない得るため、温度上昇の
抑制に対して有利となる。
(6) キヤツプシール時にリード21,22の熱抵
抗が立下部21a,22aによつて増大し、リ
ード21,22に接続固着された素子9やこの
素子9を接続固着している導電性接着剤の温度
上昇が抑制されて、素子9自身の熱劣化や導電
性接着剤からの発生ガスによつて素子9が劣化
することがより確実に防止できる。換言すれ
ば、従来と同様の温度上昇が許容される場合
は、従来より耐熱性の低い安価な導電性接着剤
を使用できるようになるし、従来よりも耐熱性
の低い素子の封入も可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の一実施例のフラツトパツケ
ージのキヤツプを一部切り開いた斜視図である。
第2図は従来のフラツトパツケージのキヤツプを
除いた平面図で、第3図は第2図の−線に対
応する断面図である。第4図はキヤツプのシール
方法について説明するためのキヤツプシール前の
分解断面図である。第5図はこの考案の背景とな
るフラツトパツケージのキヤツプを除いた平面図
で、第6図および第7図はそれぞれ第5図の−
線および−線に対応する断面図である。 7……セラミツクキヤツプ、8…………低融点
ガラス、12……パツケージ本体、13……セラ
ミツクベース、14……底板、15……側板、1
6……(低融点)ガラス、21,22……リー
ド、21a,22a……立下部。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 底板と側板を有する皿状のセラミツクペースの
    一対の側板上に、水平状のリード導出部とリード
    導出部に連設する立下部と、立下部に連設する水
    平状の素子保持部とを有するクランク状に屈曲さ
    れたリードのリード導出基部をガラスを介してシ
    ールしたパツケージ本体と、 上記パツケージ本体とガラス上に低融点ガラス
    を介してシールされたセラミツクキヤツプとで構
    成されたフラツトパツケージにおいて、 前記パツケージ内部のリ−ドの立下部を幅狭状
    に形成したことを特徴とするフラツトパツケー
    ジ。
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