JPH04181723A - 光cvd装置および光cvd成膜方法 - Google Patents
光cvd装置および光cvd成膜方法Info
- Publication number
- JPH04181723A JPH04181723A JP31072690A JP31072690A JPH04181723A JP H04181723 A JPH04181723 A JP H04181723A JP 31072690 A JP31072690 A JP 31072690A JP 31072690 A JP31072690 A JP 31072690A JP H04181723 A JPH04181723 A JP H04181723A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- substrate
- material gas
- emitted
- lighting window
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 28
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 23
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims abstract description 12
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 6
- 239000007789 gas Substances 0.000 abstract description 27
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 abstract 1
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 abstract 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 12
- 239000000047 product Substances 0.000 description 4
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 4
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 2
- BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N Silane Chemical compound [SiH4] BLRPTPMANUNPDV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XMIJDTGORVPYLW-UHFFFAOYSA-N [SiH2] Chemical compound [SiH2] XMIJDTGORVPYLW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 alkyl metal compound Chemical class 0.000 description 1
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013067 intermediate product Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229940007392 tylan Drugs 0.000 description 1
- WBPYTXDJUQJLPQ-VMXQISHHSA-N tylosin Chemical compound O([C@@H]1[C@@H](C)O[C@H]([C@@H]([C@H]1N(C)C)O)O[C@@H]1[C@@H](C)[C@H](O)CC(=O)O[C@@H]([C@H](/C=C(\C)/C=C/C(=O)[C@H](C)C[C@@H]1CC=O)CO[C@H]1[C@@H]([C@H](OC)[C@H](O)[C@@H](C)O1)OC)CC)[C@H]1C[C@@](C)(O)[C@@H](O)[C@H](C)O1 WBPYTXDJUQJLPQ-VMXQISHHSA-N 0.000 description 1
- 235000019375 tylosin Nutrition 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、光CVD装置に関し、特に、パターン化され
た膜を形成することのできる光CVD装置に関する。
た膜を形成することのできる光CVD装置に関する。
[従来の技術]
光CVD技術は低温の成膜技術として注目を集めている
。従来の光CVDH置としては、「LSI工場自動化書
新プロセス技術集成J (1984,3゜311工ビ
ポツク社発行)P、I97、図−12に示されているよ
うな、米国タイラン(TYLAN)社製PVD−100
0などが知られている。これは、第5図に示すように、
内部に、ヒータ21を内蔵する基板載置台22、基板載
置台22上に搭載された基板1上面を照射する紫外線ラ
ンプ23、および紫外線ランプ23と基板1とを隔離す
る透明な光学窓24を有する真空容器25と、真空容器
25の中の基板1の上面に材料ガスを流すことが可能な
材料ガスボンベ26と、真空容器25内の不要ガスを排
出する真空ポンプ27とで構成されている。
。従来の光CVDH置としては、「LSI工場自動化書
新プロセス技術集成J (1984,3゜311工ビ
ポツク社発行)P、I97、図−12に示されているよ
うな、米国タイラン(TYLAN)社製PVD−100
0などが知られている。これは、第5図に示すように、
内部に、ヒータ21を内蔵する基板載置台22、基板載
置台22上に搭載された基板1上面を照射する紫外線ラ
ンプ23、および紫外線ランプ23と基板1とを隔離す
る透明な光学窓24を有する真空容器25と、真空容器
25の中の基板1の上面に材料ガスを流すことが可能な
材料ガスボンベ26と、真空容器25内の不要ガスを排
出する真空ポンプ27とで構成されている。
次に、この従来装置の動作について説明する。
まず、ヒータ21で基板1を加熱する。次に、紫外線ラ
ンプ23で基板1の上面に遠紫外線を照射する。この状
態で材料ガスボンベ26からSiH4ガスを基板1の上
面に流すと、次の反応が起こる。
ンプ23で基板1の上面に遠紫外線を照射する。この状
態で材料ガスボンベ26からSiH4ガスを基板1の上
面に流すと、次の反応が起こる。
S+H4+hν → SiH2+2H
3+H4+h ν → 5i)(3+Hこの1次分
解過程により生成された中間生成物(S iH2、S
iHa )が基板上で反応してアモルファスシリコンが
成長する。而して、このようにして形成された薄膜をパ
ターニングするには、通常、フォトエツチング工程が必
要となる。
解過程により生成された中間生成物(S iH2、S
iHa )が基板上で反応してアモルファスシリコンが
成長する。而して、このようにして形成された薄膜をパ
ターニングするには、通常、フォトエツチング工程が必
要となる。
一方、パターン化された薄膜を直接光CVD法によって
得る方法としては、光源と基板との間にマスク介在させ
る光CVD手段が知られている(例:特開昭63−51
643号公報)。
得る方法としては、光源と基板との間にマスク介在させ
る光CVD手段が知られている(例:特開昭63−51
643号公報)。
[発明が解決しようとする課題]
上述した第1の従来技術では薄膜をパターニングするに
は煩雑なフォトエツチング工程が必要となり、また、第
2の従来技術ではパターニングされた薄膜が直接得られ
る長所はあるものの、第1の従来例と同様にマスクが必
要となる。
は煩雑なフォトエツチング工程が必要となり、また、第
2の従来技術ではパターニングされた薄膜が直接得られ
る長所はあるものの、第1の従来例と同様にマスクが必
要となる。
マスクを必要とする従来技術ではマスク作成工程が必要
であり、またマスク自体が高価なものであるので製品の
コスト高を招く欠点があった。更に、製品の設計変更の
場合にはマスク自体を作製し直さなければならないとい
う不都合があった。
であり、またマスク自体が高価なものであるので製品の
コスト高を招く欠点があった。更に、製品の設計変更の
場合にはマスク自体を作製し直さなければならないとい
う不都合があった。
また、いずれの従来技術でも、高さ方向に連続して変化
するパターンを作成することは不可能なことであった。
するパターンを作成することは不可能なことであった。
[課題を解決するための手段]
本発明の光CVD装置は、上面に採光窓を有し採光窓下
に基板搭載台を有する真空容器と、前記真空容器内に材
料ガスを供給する材料ガス供給系と、前記真空容器内の
不要ガスを排出する排気系と、前記採光窓の上方に配置
された光源と、前記採光窓と前記光源との間に配置され
た液晶シャッタと、を含んで構成されるものである。
に基板搭載台を有する真空容器と、前記真空容器内に材
料ガスを供給する材料ガス供給系と、前記真空容器内の
不要ガスを排出する排気系と、前記採光窓の上方に配置
された光源と、前記採光窓と前記光源との間に配置され
た液晶シャッタと、を含んで構成されるものである。
「実施例コ
次に、本発明の実施例について、図面を参照して説明す
る。
る。
第1図は、本発明の一実施例を示す模式図であり、第2
図は、第1図のA−A線断面図である。
図は、第1図のA−A線断面図である。
この実施例の光CVD装置は、上面と側面に採光窓を有
し、上面採光窓の下方に基板1を設置することが可能な
基板載置台2を有する真空容器3と、真空容器3の中の
基板1の上面に材料ガスを供給する材料ガスボンベ4と
、真空容器3の両線光窓面に不活性ガスを流すことが可
能な不活性ガスボンベ5と、真空容器3中の不要ガスを
排出する真空ポンプ6と、真空容器3の上面採光窓の上
方に設置したレンズ7と、レンズ7の上方に設置した液
晶ンヤッタ8と、液晶シャッタ8の上方に設置した光源
9aと、真空容器3の側面採光窓の側方で基板1の上面
の高さに設置された光源8bと、光源9bの放出光を平
面光線とするシリンドリカルレンズ10とを含んで構成
される。
し、上面採光窓の下方に基板1を設置することが可能な
基板載置台2を有する真空容器3と、真空容器3の中の
基板1の上面に材料ガスを供給する材料ガスボンベ4と
、真空容器3の両線光窓面に不活性ガスを流すことが可
能な不活性ガスボンベ5と、真空容器3中の不要ガスを
排出する真空ポンプ6と、真空容器3の上面採光窓の上
方に設置したレンズ7と、レンズ7の上方に設置した液
晶ンヤッタ8と、液晶シャッタ8の上方に設置した光源
9aと、真空容器3の側面採光窓の側方で基板1の上面
の高さに設置された光源8bと、光源9bの放出光を平
面光線とするシリンドリカルレンズ10とを含んで構成
される。
ここで、側方より光源9bから光を照射しているのは、
両光源9a、9bからの光が照射された箇所においての
み成膜がなされるようにして、上面採光窓に膜が形成さ
れないようにするためである。
両光源9a、9bからの光が照射された箇所においての
み成膜がなされるようにして、上面採光窓に膜が形成さ
れないようにするためである。
次に、本実施例装置を用いた成膜方法について説明する
。
。
ます、液晶シャッタ8を、第2図に示されるようにリン
グ状に光が透過できるようにする。そして、光源9a(
ArFエキ/マレーザ)の放出光を液晶/ヤソタ8に照
射すると、リング状に光が透過し、この透過光は、レン
ズ7により縮少されて基板1の上面を照射される。次に
側方にある光i[(ArFエキンマレーザ)9bの放出
光を7リンドリカルレンズ10に入射すると、平面光に
なり基板1の上面上部を照射する。この状態で材料ガス
ボンベ4から材料ガス(S 12H6)を基板1の上面
に流すと、材料ガスは光のフォトンからエネルギーを受
けとり、分解反応を起こして基板1上にリング状のアモ
ルファスシリコン膜に成膜する。この場合に、材料ガス
が拡散して真空容器3の採光窓で成膜しないように採光
窓面に不活性ガスボンベ5から不活性ガスを流す。また
不要なガスは真空ポンプ6により排出する。
グ状に光が透過できるようにする。そして、光源9a(
ArFエキ/マレーザ)の放出光を液晶/ヤソタ8に照
射すると、リング状に光が透過し、この透過光は、レン
ズ7により縮少されて基板1の上面を照射される。次に
側方にある光i[(ArFエキンマレーザ)9bの放出
光を7リンドリカルレンズ10に入射すると、平面光に
なり基板1の上面上部を照射する。この状態で材料ガス
ボンベ4から材料ガス(S 12H6)を基板1の上面
に流すと、材料ガスは光のフォトンからエネルギーを受
けとり、分解反応を起こして基板1上にリング状のアモ
ルファスシリコン膜に成膜する。この場合に、材料ガス
が拡散して真空容器3の採光窓で成膜しないように採光
窓面に不活性ガスボンベ5から不活性ガスを流す。また
不要なガスは真空ポンプ6により排出する。
材料ガスを長時間流し続けると、基板1上には第3図(
a)(平面図)、(b)(断面図)に示されるような形
成物11が得られる。
a)(平面図)、(b)(断面図)に示されるような形
成物11が得られる。
上記の成膜例では、材料ガスに5i2Hsを用いてアモ
ルファスシリコンを成膜していたが、材料ガスにG e
Haを用いれば、ゲルマニュウムの多結晶膜を成膜す
るようにすることができる。また、材料ガスにアルキル
金属化合物ガスであるAノ(CH3)3、cd(CH3
)2などを用いれば、Aノ、cdなどの金属膜を形成す
ることができる。
ルファスシリコンを成膜していたが、材料ガスにG e
Haを用いれば、ゲルマニュウムの多結晶膜を成膜す
るようにすることができる。また、材料ガスにアルキル
金属化合物ガスであるAノ(CH3)3、cd(CH3
)2などを用いれば、Aノ、cdなどの金属膜を形成す
ることができる。
また、時間とともに液晶シャッタ8の光透過部分の形状
を変化させれば、第4図(a)(平面図)、(b)(断
面図)に示されるような、立体的構造物である形成物工
2を形成することも可能である。従って、本発明の装置
を用いれば、直径60〜120μm程度のマイクロアク
チュエータの製作も、フォトリングラフ技術やエツチン
グ技術を用いることなく実現できる。
を変化させれば、第4図(a)(平面図)、(b)(断
面図)に示されるような、立体的構造物である形成物工
2を形成することも可能である。従って、本発明の装置
を用いれば、直径60〜120μm程度のマイクロアク
チュエータの製作も、フォトリングラフ技術やエツチン
グ技術を用いることなく実現できる。
[発明の効果コ
本発明の光CVD装置は、液晶シャッタを用いて基板上
に選択的に光を照射しつるようにしたものであるので、
本発明によれば、選択的成膜をマスクを使用することな
く容易に実現することができる。また、製品の設計変更
に伴うパターン変更も液晶シャッタにおける印加電圧パ
ターンの変更によって対処できるので、効率的な設計、
試作が可能となる。さらに、シャッタの光透過部分を時
間的に変化させることにより、立体的な構造物の形成が
可能となるという効果も有する。
に選択的に光を照射しつるようにしたものであるので、
本発明によれば、選択的成膜をマスクを使用することな
く容易に実現することができる。また、製品の設計変更
に伴うパターン変更も液晶シャッタにおける印加電圧パ
ターンの変更によって対処できるので、効率的な設計、
試作が可能となる。さらに、シャッタの光透過部分を時
間的に変化させることにより、立体的な構造物の形成が
可能となるという効果も有する。
第1図は本発明の一実施例を示す模式図、第2図は、第
1図のA−A線断面図、第3図(a)、(b)および第
4図(a)、(b)は、それぞれ本実施例により形成さ
れた形成物の平面図と断面図、第5図は従来例を示す模
式図である。 1・・・基板、 2・・・基板載置台、 3・・・
真空容器、 4・・・材料ガスボンベ、 5・・・
不活性ガスボンベ、 ′ 6・・・真空ポンプ、
7・・・レンズ、 8・・・液晶シャッタ、
9a19b・・・光源、 10・・・シリンドリカ
ルレンズ、 11.12・・・形成物、 21・・
・ヒータ、 22・・・基板載置台、 23・・・
紫外線ランプ、 24・・・光学窓、 25・・・
真空容器、 26・・・材料ガスボンベ、 27
・・・真空ポンプ。
1図のA−A線断面図、第3図(a)、(b)および第
4図(a)、(b)は、それぞれ本実施例により形成さ
れた形成物の平面図と断面図、第5図は従来例を示す模
式図である。 1・・・基板、 2・・・基板載置台、 3・・・
真空容器、 4・・・材料ガスボンベ、 5・・・
不活性ガスボンベ、 ′ 6・・・真空ポンプ、
7・・・レンズ、 8・・・液晶シャッタ、
9a19b・・・光源、 10・・・シリンドリカ
ルレンズ、 11.12・・・形成物、 21・・
・ヒータ、 22・・・基板載置台、 23・・・
紫外線ランプ、 24・・・光学窓、 25・・・
真空容器、 26・・・材料ガスボンベ、 27
・・・真空ポンプ。
Claims (1)
- 上面に採光窓を有し採光窓下に基板搭載台を有する真
空容器と、前記真空容器内に材料ガスを供給する材料ガ
ス供給系と、前記真空容器内の不要ガスを排出する排気
系と、前記採光窓の上方に配置された光源と、前記採光
窓と前記光源との間に配置された液晶シャッタと、を具
備する光CVD装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2310726A JP3060528B2 (ja) | 1990-11-16 | 1990-11-16 | 光cvd装置および光cvd成膜方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2310726A JP3060528B2 (ja) | 1990-11-16 | 1990-11-16 | 光cvd装置および光cvd成膜方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04181723A true JPH04181723A (ja) | 1992-06-29 |
| JP3060528B2 JP3060528B2 (ja) | 2000-07-10 |
Family
ID=18008738
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2310726A Expired - Lifetime JP3060528B2 (ja) | 1990-11-16 | 1990-11-16 | 光cvd装置および光cvd成膜方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3060528B2 (ja) |
-
1990
- 1990-11-16 JP JP2310726A patent/JP3060528B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3060528B2 (ja) | 2000-07-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5229081A (en) | Apparatus for semiconductor process including photo-excitation process | |
| JP2002517082A (ja) | ガス均一分配用ガスマニホールドおよび光化学 | |
| JPH04181723A (ja) | 光cvd装置および光cvd成膜方法 | |
| JPS61104614A (ja) | 堆積膜形成法 | |
| JPH0774452B2 (ja) | 光化学気相成長法による機能性堆積膜の形成方法 | |
| CA1330601C (en) | Apparatus for semiconductor process including photo-excitation process | |
| JPS60128265A (ja) | 気相薄膜形成装置 | |
| JPH0122814B2 (ja) | ||
| JPS61185333A (ja) | 光助勢表面化学反応装置 | |
| JP3125004B2 (ja) | 基材の表面加工方法 | |
| JP2016192343A (ja) | 光源装置 | |
| JPH0248627B2 (ja) | Hakumakukeiseibuhinnoseizohohooyobisochi | |
| JPH0128830B2 (ja) | ||
| JP2814998B2 (ja) | 半導体素子膜の形成方法およびその形成装置 | |
| JPS61105549A (ja) | フオトマスク製造方法 | |
| JPS60216557A (ja) | 光励起反応装置 | |
| JPS61171120A (ja) | 光励起プロセス装置 | |
| JPS6142141A (ja) | 選択光化学反応装置 | |
| JPS5961122A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JPH0691018B2 (ja) | 光励起処理装置 | |
| JPH0722128B2 (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
| JPS60121716A (ja) | 光cvd法及び装置 | |
| JPH055183A (ja) | 光励起プロセス装置及びそれを用いた半導体デバイスの製造方法 | |
| JPH0448720A (ja) | 表面処理方法および装置 | |
| JPS6297336A (ja) | 半導体装置の製造方法 |