JPH0418374U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0418374U JPH0418374U JP5980490U JP5980490U JPH0418374U JP H0418374 U JPH0418374 U JP H0418374U JP 5980490 U JP5980490 U JP 5980490U JP 5980490 U JP5980490 U JP 5980490U JP H0418374 U JPH0418374 U JP H0418374U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- insertion mechanism
- device insertion
- socket
- guide
- guide pin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 6
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims 9
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第１図はこの考案の実施例を示す正面図、第２
図はそのソケツトガイド３１の平面図、第３図は
従来のＩＣ試験装置を示す正面図、第４図はその
Ｘ−Ｙ移動機構１２を簡略に示す図である。
図はそのソケツトガイド３１の平面図、第３図は
従来のＩＣ試験装置を示す正面図、第４図はその
Ｘ−Ｙ移動機構１２を簡略に示す図である。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 デバイス挿入機構がＸ−Ｙ移動機構により、Ｘ
方向およびＹ方向に移動可能に保持され、そのＸ
−Ｙ移動機構が制御装置により制御されて、その
制御装置にセツトされた停止位置に、上記デバイ
ス挿入機構を移動させることができ、 テストヘツド上にパーフオマンスボードが取り
替え自在に取り付けられ、そのパーフオマンスボ
ード上のソケツトに対し、上記デバイス挿入機構
を対向させ、そのデバイス挿入機構に保持された
被試験ＩＣ素子をＺ方向に移動させて上記ソケツ
トに装着させることができるＩＣ試験装置におい
て、 上記パーフオマンスボードに設けられ、これに
対し、上記ソケツトの位置を正確に決めるソケツ
トガイドと、 その位置決めされたソケツトに対して所定の位
置関係で上記パーフオマンスボードに設けられた
ガイドピン（またはガイド孔）と、 上記デバイス挿入機構に設けられ、そのデバイ
ス挿入機構に保持された被試験ＩＣ素子を上記ソ
ケツトに装着可能な状態で上記ガイドピン（また
はガイド孔）と互いに嵌合して位置決めすること
ができるガイド孔（またはガイドピン）と、 上記Ｘ−Ｙ移動機構を操作して上記デバイス挿
入機構のガイド孔（またはガイドピン）を上記パ
ーフオマンスボードのガイドピン（またはガイド
孔）に位置合わせした状態で、その時のそのデバ
イス挿入機構の位置を上記制御装置に上記停止位
置としてセツトさせる手段と、 を具備することを特徴とするＩＣ試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5980490U JP2528268Y2 (ja) | 1990-06-06 | 1990-06-06 | Ｉｃ試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5980490U JP2528268Y2 (ja) | 1990-06-06 | 1990-06-06 | Ｉｃ試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0418374U true JPH0418374U (ja) | 1992-02-17 |
| JP2528268Y2 JP2528268Y2 (ja) | 1997-03-05 |
Family
ID=31586625
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5980490U Expired - Lifetime JP2528268Y2 (ja) | 1990-06-06 | 1990-06-06 | Ｉｃ試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2528268Y2 (ja) |
-
1990
- 1990-06-06 JP JP5980490U patent/JP2528268Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2528268Y2 (ja) | 1997-03-05 |
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Legal Events
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