JPH0419487B2 - - Google Patents
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- JPH0419487B2 JPH0419487B2 JP57002618A JP261882A JPH0419487B2 JP H0419487 B2 JPH0419487 B2 JP H0419487B2 JP 57002618 A JP57002618 A JP 57002618A JP 261882 A JP261882 A JP 261882A JP H0419487 B2 JPH0419487 B2 JP H0419487B2
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B13/00—Viewfinders; Focusing aids for cameras; Means for focusing for cameras; Autofocus systems for cameras
- G03B13/18—Focusing aids
- G03B13/20—Rangefinders coupled with focusing arrangements, e.g. adjustment of rangefinder automatically focusing camera
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
- G01C3/02—Details
- G01C3/06—Use of electric means to obtain final indication
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/46—Indirect determination of position data
- G01S17/48—Active triangulation systems, i.e. using the transmission and reflection of electromagnetic waves other than radio waves
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/30—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line
- G02B7/32—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line using active means, e.g. light emitter
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- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
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- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Viewfinders (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、小型カメラ等に適した測距装置に関
するものである。
するものである。
［従来の技術］
従来、三角測距の原理を利用した光投射式の測
距装置は種々提案されている。
距装置は種々提案されている。
そのなかで、すでに本出願人により提案をした
測距装置（特願昭55−124268（特開昭57−48703））
は、単一の受光素子面上を遮光板が走査すること
によつて、受光素子の光電出力が変化することを
検出して測距を行うシステムである。以下、遮光
板走査型測距装置と呼ぶ。
測距装置（特願昭55−124268（特開昭57−48703））
は、単一の受光素子面上を遮光板が走査すること
によつて、受光素子の光電出力が変化することを
検出して測距を行うシステムである。以下、遮光
板走査型測距装置と呼ぶ。
［発明が解決しようとする課題］
遮光板走査型測距装置においては、これに適し
た処理回路が提案されていなかつた。
た処理回路が提案されていなかつた。
本発明の目的は、遮光板走査型測距装置におい
て、これに適した処理回路を提供することであ
る。
て、これに適した処理回路を提供することであ
る。
［実施例］
以下、添付図面に従つて実施例について説明す
る。
る。
第１図は、遮光板走査型の投光式測距装置の原
理図である。
理図である。
１は発光素子、２は投光レンズ、３は投光軸を
示す。４は被写体８からの反射光軸を示し、５は
受光レンズ、６は受光素子である。７は上記受光
素子の面上を走査する遮光板である。９は上記測
距装置を組み込んだカメラボデイである。
示す。４は被写体８からの反射光軸を示し、５は
受光レンズ、６は受光素子である。７は上記受光
素子の面上を走査する遮光板である。９は上記測
距装置を組み込んだカメラボデイである。
作動について説明すると、発光素子１から出た
光は投光レンズによつて集光し光ビームとなつて
被写体８に当り、反射光が受光レンズ５によつて
受光素子６上の一点に光スポツトとして結像す
る。一方、遮光板７は被写体までの距離とある相
関を持つて図上右から左に走査する。上記遮光板
７が光軸４を横切つたとき、被写体からの反射光
は遮られて受光素子６上に当たらなくなり、受光
素子６の光電出力は減衰する。遮光板７が光軸４
を通り過ぎてしまうと、再び出力は元のレベルに
上る。この関係を第２図に示し、負のピークとな
つた点lpが被写体までの距離である。被写体が遠
くなるほど、第１図の受光素子６上にできる光ス
ポツトの位置は左にずれる。
光は投光レンズによつて集光し光ビームとなつて
被写体８に当り、反射光が受光レンズ５によつて
受光素子６上の一点に光スポツトとして結像す
る。一方、遮光板７は被写体までの距離とある相
関を持つて図上右から左に走査する。上記遮光板
７が光軸４を横切つたとき、被写体からの反射光
は遮られて受光素子６上に当たらなくなり、受光
素子６の光電出力は減衰する。遮光板７が光軸４
を通り過ぎてしまうと、再び出力は元のレベルに
上る。この関係を第２図に示し、負のピークとな
つた点lpが被写体までの距離である。被写体が遠
くなるほど、第１図の受光素子６上にできる光ス
ポツトの位置は左にずれる。
第３図は、本発明の制御回路とともにカメラに
組み込まれる測距装置の機構の一例である。
組み込まれる測距装置の機構の一例である。
同図において、１１はレリーズレバーであり、
バネ１２によつて上方に付勢されている。１７は
走査板であり、受光素子１６の表面を走査する遮
光板１７ａがある。また、走査板１７はバネ１８
によつて右方向に付勢されているが、係止部材１
３およびバネ１４によつて係止されている。１９
はギヤ、２０はアンクルであり、走査板の走行ス
ピードを制御する。２１は制御レバーであり、バ
ネ２２によつて時計方向に回転習性が与えられて
おり、走査板１７上のピン１７ｃに係合して回転
する。２３は電磁石、２４は鉄片であり、バネ２
５が電磁石より引き離し方向に作用している。２
６はシヤツタ前走レバー２８の係止部材で、２９
はシヤツタ前走レバー２８を右方向に付勢するバ
ネである。３０は対物レンズの繰り出し量を決定
するための段カムであり、バネ３２によつて反時
計方向に回転習性が与えられている。３３は接片
であり、対物レンズの繰り出しに応じて抵抗３６
を選定し、フラツシユマチツク等の距離情報とし
て使用するためのものである。
バネ１２によつて上方に付勢されている。１７は
走査板であり、受光素子１６の表面を走査する遮
光板１７ａがある。また、走査板１７はバネ１８
によつて右方向に付勢されているが、係止部材１
３およびバネ１４によつて係止されている。１９
はギヤ、２０はアンクルであり、走査板の走行ス
ピードを制御する。２１は制御レバーであり、バ
ネ２２によつて時計方向に回転習性が与えられて
おり、走査板１７上のピン１７ｃに係合して回転
する。２３は電磁石、２４は鉄片であり、バネ２
５が電磁石より引き離し方向に作用している。２
６はシヤツタ前走レバー２８の係止部材で、２９
はシヤツタ前走レバー２８を右方向に付勢するバ
ネである。３０は対物レンズの繰り出し量を決定
するための段カムであり、バネ３２によつて反時
計方向に回転習性が与えられている。３３は接片
であり、対物レンズの繰り出しに応じて抵抗３６
を選定し、フラツシユマチツク等の距離情報とし
て使用するためのものである。
第４図は、本発明の測距装置における制御回路
の一実施例である。
の一実施例である。
同図において、PDは受光素子であり、初段の
増幅器Ａ１によつて短絡電流を電圧に変換してい
る。Ｒ１は帰還抵抗である。Ｃ１は交流結合用コ
ンデンサ、Ａ２は２段目の増幅器で交流増幅を行
つている。Ｃ２およびＲ３は帰還コンデンサおよ
び抵抗である。Ｄ１は検波用ダイオード、Ｒ６，
Ｃ３は積分用抵抗およびコンデンサ、Ｒ５は放電
抵抗である。Ａ３はボルテージフオロワ、Ａ４は
積分出力の直流増幅器、Ｒ７は入力抵抗、Ｒ８は
帰還抵抗である。SHはサンプルホールド回路で
あり、Ａ５は差動増幅器を形成し、入力抵抗はＲ
１０とＲ１１である。CP１はコンパレータであ
り、非反転入力には積分出力が入力され、反転入
力にはコンデンサＣ６と抵抗Ｒ１７が接続され、
また入力間にはダイオードＤ３を接続し、クラン
プ回路を構成している。コンパレータCP１の出
力はトランジスタTr１に接続されている。Ｒ１
３，Ｃ５は第２の積分回路用の抵抗とコンデンサ
である。Ａ６は反転増幅器であり、その出力はコ
ンパレータCP２の非反転入力に接続されている。
PSDは正傾斜検出回路であり、この出力とコン
パレータCP２の出力がオア回路ORに入り、さら
にフリツプフロツプFFに接続されている。Tr２
は測距用電磁石Mg制御用のトランジスタであ
る。CP３はコンパレータであり、非反転入力に
は第１の積分出力が入力され、反転入力には抵抗
Ｒ１９，Ｒ２０からなるブリーダーに接続されて
いる。AND１，AND２はアンドゲート、INVは
インバーター、Ｓ２は走査板が走査完了点に近い
所でオンするスイツチである。Tr３は警告用
LED制御用トランジスタ、Tr４は電子ブザーＢ
制御用トランジスタである。OSCは発振器であ
る。TMEはタイマー回路であり、シヤツタのレ
リーズスイツチＳ３でトリガ作動し、IRED駆動
回路DRVの作動を制御する。IREDは投光用赤外
発光ダイオードであり、トランジスタTr５でパ
ルス駆動される。Ｓ１は電源スイツチである。
増幅器Ａ１によつて短絡電流を電圧に変換してい
る。Ｒ１は帰還抵抗である。Ｃ１は交流結合用コ
ンデンサ、Ａ２は２段目の増幅器で交流増幅を行
つている。Ｃ２およびＲ３は帰還コンデンサおよ
び抵抗である。Ｄ１は検波用ダイオード、Ｒ６，
Ｃ３は積分用抵抗およびコンデンサ、Ｒ５は放電
抵抗である。Ａ３はボルテージフオロワ、Ａ４は
積分出力の直流増幅器、Ｒ７は入力抵抗、Ｒ８は
帰還抵抗である。SHはサンプルホールド回路で
あり、Ａ５は差動増幅器を形成し、入力抵抗はＲ
１０とＲ１１である。CP１はコンパレータであ
り、非反転入力には積分出力が入力され、反転入
力にはコンデンサＣ６と抵抗Ｒ１７が接続され、
また入力間にはダイオードＤ３を接続し、クラン
プ回路を構成している。コンパレータCP１の出
力はトランジスタTr１に接続されている。Ｒ１
３，Ｃ５は第２の積分回路用の抵抗とコンデンサ
である。Ａ６は反転増幅器であり、その出力はコ
ンパレータCP２の非反転入力に接続されている。
PSDは正傾斜検出回路であり、この出力とコン
パレータCP２の出力がオア回路ORに入り、さら
にフリツプフロツプFFに接続されている。Tr２
は測距用電磁石Mg制御用のトランジスタであ
る。CP３はコンパレータであり、非反転入力に
は第１の積分出力が入力され、反転入力には抵抗
Ｒ１９，Ｒ２０からなるブリーダーに接続されて
いる。AND１，AND２はアンドゲート、INVは
インバーター、Ｓ２は走査板が走査完了点に近い
所でオンするスイツチである。Tr３は警告用
LED制御用トランジスタ、Tr４は電子ブザーＢ
制御用トランジスタである。OSCは発振器であ
る。TMEはタイマー回路であり、シヤツタのレ
リーズスイツチＳ３でトリガ作動し、IRED駆動
回路DRVの作動を制御する。IREDは投光用赤外
発光ダイオードであり、トランジスタTr５でパ
ルス駆動される。Ｓ１は電源スイツチである。
つぎに、第３図および第４図の動作について説
明する。なお、回路各部の作動波形については第
５図に示す。
明する。なお、回路各部の作動波形については第
５図に示す。
レリーズレバー１１を押し下げると、電源スイ
ツチＳ１が入り回路各部に給電が行われ、受光回
路が作動状態となり、投光用IREDが駆動回路
DRVからの一定周期のパルスによりパルス駆動
される。さらにレリーズレバー１１を押し下げる
と、係止部材１３による走査板１７の係止が外
れ、ガバナー１９，２０によつて一定スピードで
走査板１７は図中矢印方向に走査を開始する。第
５図SC，Ｐが走査板１７の作動を示し、ｎは至
近距離である。遮光板１７ａが受光素子１６上に
走査して受光素子上の光スポツトを遮光し始める
と、交流増幅器Ａ２の出力Ａの波形は第５図のよ
うに振幅が変化する。この交流信号をダイオード
Ｄ１により検波し、Ｒ６およびＣ３で積分する
と、増幅器Ａ４によつて増幅された波形はＢに示
すようにデイツプ波形となる。さらに、サンプル
ホールド回路SHを介した波形はＤのように階段
状になる。ＢとＤの波形を差動増幅器Ａ５に入力
すると出力Ｅが得られる。ここでクランプ回路が
CP１，Ｄ３，Ｃ６，Ｒ１７によつて構成される
が、CP１の反転入力波形はＣで示すように上記
Ｂのデイツプ波形に対して立下がりの遅れを持つ
回路となつている。そして、Ｂ＞Ｃのときにトラ
ンジスタTr１はオンして、差動増幅器Ａ５の出
力をクランプしている。これは、光スポツトに遮
光板１７ａが当つていないときに外乱等によつて
積分出力Ｂが微少に変化するのを押え込んで、誤
動作を防止するものである。出力Ｅを抵抗Ｒ１３
とコンデンサＣ５で積分し、反転増幅器Ａ６で増
幅した出力がＧである。上記反転増幅器Ａ６の出
力はコンパレータCP２の非反転入力に接続され、
また、このコンパレータCP２の反転入力はGnd
レベルにある。非反転入力および反転入力のオフ
セツト電圧をｖとすれば、上記非反転入力がGnd
レベルよりｖを越えたときに出力が反転し、その
波形をＨで示す。オア回路ORには上記コンパレ
ータCP２の出力と後述する正傾斜検出回路PSD
の出力が入力されており、コンパレータCP２の
出力が反転するとオア回路ORを介して次段のフ
リツプフロツプFFをセツトし、出力が反転し
てトランジスタTr２がオフとなる。従つて、測
距用電磁石Mgがカツトオフする。すなわち、遮
光板１７ａが受光素子１６上を走査することによ
つて積分出力はＢのようにデイツプし、そのピー
ク点で電磁石Mgがオフとなる。電磁石Mgがオ
フになつた時点で走査板１７の位置が被写体まで
の距離に対応している。第３図の制御レバー２１
は、走査板１７の走行に追従して時計方向に回転
を始めている。上記電磁石Mg２３がオフするこ
とによつて鉄片２４のフツクが制御レバー２１の
ラチエツト部に入り、制御レバー２１の回転を止
める。さらにレリーズレバー１１を押し下げるこ
とによつて、係止レバー２６によつて係止が外れ
たシヤツタ前走部材２８が走行し、図示しない構
構によつてまず段カム３０を反時計方向に回転さ
せる。上記制御レバー２１の段カムストツパー部
２１ｂによつて段カムの回転角度が制御され、従
つて対物レンズの繰り出し量が自動的に決まる。
この後でシヤツタの開閉動作が行われる。対物レ
ンズの繰り出しとともに接片３３も回転し、被写
体距離に応じた抵抗値が選択されて、フラツシユ
マチツクあるいは連動外警告用の情報として使用
される。スイツチＳ２は走査板が近距離から遠距
離に走査を終了したときにオンするスイツチで、
後述する連動外警告のためのタイミング信号を作
つたり、赤外発光ダイオードIREDのオフ信号と
して使う。スイツチＳ３はシヤツタ前走部材２８
の作動でオンし、タイマー回路TMEのトリガ信
号として使う。タイマー回路TMEの目的は、レ
リーズレバー１１を早押しした場合でも測距作動
が終るまではIREDをオンさせておくためで、こ
の場合はスイツチＳ２はIREDをオフさせるため
には必要ではなくなる。また、電磁石Mgのオフ
でIREDをオフすることも可能である。
ツチＳ１が入り回路各部に給電が行われ、受光回
路が作動状態となり、投光用IREDが駆動回路
DRVからの一定周期のパルスによりパルス駆動
される。さらにレリーズレバー１１を押し下げる
と、係止部材１３による走査板１７の係止が外
れ、ガバナー１９，２０によつて一定スピードで
走査板１７は図中矢印方向に走査を開始する。第
５図SC，Ｐが走査板１７の作動を示し、ｎは至
近距離である。遮光板１７ａが受光素子１６上に
走査して受光素子上の光スポツトを遮光し始める
と、交流増幅器Ａ２の出力Ａの波形は第５図のよ
うに振幅が変化する。この交流信号をダイオード
Ｄ１により検波し、Ｒ６およびＣ３で積分する
と、増幅器Ａ４によつて増幅された波形はＢに示
すようにデイツプ波形となる。さらに、サンプル
ホールド回路SHを介した波形はＤのように階段
状になる。ＢとＤの波形を差動増幅器Ａ５に入力
すると出力Ｅが得られる。ここでクランプ回路が
CP１，Ｄ３，Ｃ６，Ｒ１７によつて構成される
が、CP１の反転入力波形はＣで示すように上記
Ｂのデイツプ波形に対して立下がりの遅れを持つ
回路となつている。そして、Ｂ＞Ｃのときにトラ
ンジスタTr１はオンして、差動増幅器Ａ５の出
力をクランプしている。これは、光スポツトに遮
光板１７ａが当つていないときに外乱等によつて
積分出力Ｂが微少に変化するのを押え込んで、誤
動作を防止するものである。出力Ｅを抵抗Ｒ１３
とコンデンサＣ５で積分し、反転増幅器Ａ６で増
幅した出力がＧである。上記反転増幅器Ａ６の出
力はコンパレータCP２の非反転入力に接続され、
また、このコンパレータCP２の反転入力はGnd
レベルにある。非反転入力および反転入力のオフ
セツト電圧をｖとすれば、上記非反転入力がGnd
レベルよりｖを越えたときに出力が反転し、その
波形をＨで示す。オア回路ORには上記コンパレ
ータCP２の出力と後述する正傾斜検出回路PSD
の出力が入力されており、コンパレータCP２の
出力が反転するとオア回路ORを介して次段のフ
リツプフロツプFFをセツトし、出力が反転し
てトランジスタTr２がオフとなる。従つて、測
距用電磁石Mgがカツトオフする。すなわち、遮
光板１７ａが受光素子１６上を走査することによ
つて積分出力はＢのようにデイツプし、そのピー
ク点で電磁石Mgがオフとなる。電磁石Mgがオ
フになつた時点で走査板１７の位置が被写体まで
の距離に対応している。第３図の制御レバー２１
は、走査板１７の走行に追従して時計方向に回転
を始めている。上記電磁石Mg２３がオフするこ
とによつて鉄片２４のフツクが制御レバー２１の
ラチエツト部に入り、制御レバー２１の回転を止
める。さらにレリーズレバー１１を押し下げるこ
とによつて、係止レバー２６によつて係止が外れ
たシヤツタ前走部材２８が走行し、図示しない構
構によつてまず段カム３０を反時計方向に回転さ
せる。上記制御レバー２１の段カムストツパー部
２１ｂによつて段カムの回転角度が制御され、従
つて対物レンズの繰り出し量が自動的に決まる。
この後でシヤツタの開閉動作が行われる。対物レ
ンズの繰り出しとともに接片３３も回転し、被写
体距離に応じた抵抗値が選択されて、フラツシユ
マチツクあるいは連動外警告用の情報として使用
される。スイツチＳ２は走査板が近距離から遠距
離に走査を終了したときにオンするスイツチで、
後述する連動外警告のためのタイミング信号を作
つたり、赤外発光ダイオードIREDのオフ信号と
して使う。スイツチＳ３はシヤツタ前走部材２８
の作動でオンし、タイマー回路TMEのトリガ信
号として使う。タイマー回路TMEの目的は、レ
リーズレバー１１を早押しした場合でも測距作動
が終るまではIREDをオンさせておくためで、こ
の場合はスイツチＳ２はIREDをオフさせるため
には必要ではなくなる。また、電磁石Mgのオフ
でIREDをオフすることも可能である。
つぎに、第６図により正傾斜検出回路について
説明する。
説明する。
第６図ａに示すように、受光素子１６、遮光板
１７ａ、光スポツト３５が理想状態よりわずかに
ずれた場合を想定する。これは生産時の取り付け
誤差等で起き得る問題である。同図ｃのＢに示す
ように、走査板１７（SC，Ｐ）が走行すると、
積分出力はデイツプせず単調増加の信号となる。
この場合でも電磁石Mgがオフするための回路例
として、同図ｂのような回路を形成する。コンパ
レータCP４の非反転入力に対しては、コンデン
サＣ７、充電用抵抗Ｓ２５およびスイツチングト
ランジスタTr６を、上記コンパレータCP４の出
力によつて作動するように構成し、コンパレータ
CP４の反転入力には、上記第１積分出力を入力
する。この回路は、上記第１積分出力が増加を始
めたことによつて次段のオアゲートORに対する
作動信号を送り、電磁石２３をオフすることがで
きるものである。上記オア回路ORにはデイツプ
のピーク検出信号も入力されているので、通常
は、第４図におけるコンパレータCP２の出力ま
たは正傾斜検出回路PSDの出力のうち、どちら
か早い方のタイミングでオアゲートORが開いて
フリツプフロツプFFが作動する。
１７ａ、光スポツト３５が理想状態よりわずかに
ずれた場合を想定する。これは生産時の取り付け
誤差等で起き得る問題である。同図ｃのＢに示す
ように、走査板１７（SC，Ｐ）が走行すると、
積分出力はデイツプせず単調増加の信号となる。
この場合でも電磁石Mgがオフするための回路例
として、同図ｂのような回路を形成する。コンパ
レータCP４の非反転入力に対しては、コンデン
サＣ７、充電用抵抗Ｓ２５およびスイツチングト
ランジスタTr６を、上記コンパレータCP４の出
力によつて作動するように構成し、コンパレータ
CP４の反転入力には、上記第１積分出力を入力
する。この回路は、上記第１積分出力が増加を始
めたことによつて次段のオアゲートORに対する
作動信号を送り、電磁石２３をオフすることがで
きるものである。上記オア回路ORにはデイツプ
のピーク検出信号も入力されているので、通常
は、第４図におけるコンパレータCP２の出力ま
たは正傾斜検出回路PSDの出力のうち、どちら
か早い方のタイミングでオアゲートORが開いて
フリツプフロツプFFが作動する。
第７図は、測距用電磁石Mg制御回路の他の実
施例である。
施例である。
同図ｃに示すように、走査板SC，Ｐが走査す
る以前に何らかの原因で被写体からの反射光の強
度がＢのように変動した場合には、従来の方法で
は電磁石Mgはａ点でオフしてしまい誤動作とな
るが、ｃのMg波形のようにすぐに再励磁して、
正規のデイツプ信号のピークすなわちｂ点で再度
オフすることによつて正しい測距が可能となる。
同図ａにおいて、電磁石２３の鉄片２４Ａはスラ
イド式を利用し、走査板１７が走行開始するまで
は係止部１７ｄでロツクレバー２４Ｂの作動を阻
止している。従つて、走査板１７が走行開始した
後は、制御レバー２１のラチエツトをロツクレバ
ー２４Ｂによつて止めることが可能となる。回路
は同図ｂに示すように、オア回路ORの次段にワ
ンシヨツトマルチバイブレータOSTを入れるこ
とによつて成り立つ。電磁石２３がオフしている
期間は、コンデンサＣ８と抵抗Ｒ２７の値で決ま
る。
る以前に何らかの原因で被写体からの反射光の強
度がＢのように変動した場合には、従来の方法で
は電磁石Mgはａ点でオフしてしまい誤動作とな
るが、ｃのMg波形のようにすぐに再励磁して、
正規のデイツプ信号のピークすなわちｂ点で再度
オフすることによつて正しい測距が可能となる。
同図ａにおいて、電磁石２３の鉄片２４Ａはスラ
イド式を利用し、走査板１７が走行開始するまで
は係止部１７ｄでロツクレバー２４Ｂの作動を阻
止している。従つて、走査板１７が走行開始した
後は、制御レバー２１のラチエツトをロツクレバ
ー２４Ｂによつて止めることが可能となる。回路
は同図ｂに示すように、オア回路ORの次段にワ
ンシヨツトマルチバイブレータOSTを入れるこ
とによつて成り立つ。電磁石２３がオフしている
期間は、コンデンサＣ８と抵抗Ｒ２７の値で決ま
る。
なお、距離表示については、制御レバー２１の
回転角度に応じた表示部材を設けることで簡単に
実施することができる。原理的には、段カムのス
トツパー部２１ｂをフアインダー内から見えるよ
うにすればよい。
回転角度に応じた表示部材を設けることで簡単に
実施することができる。原理的には、段カムのス
トツパー部２１ｂをフアインダー内から見えるよ
うにすればよい。
また、走査板１７の走行を電磁石２３のオフに
よつて停止するように構成すれば、表示部材は走
査板１７に連動する部材を設けることによつても
可能である。
よつて停止するように構成すれば、表示部材は走
査板１７に連動する部材を設けることによつても
可能である。
［発明の効果］
本発明によれば、遮光板走査型の投光式測距装
置において、光電変換素子の減衰出力を適確に検
出することができるため、被写体までの距離を正
確にとらえることができる。
置において、光電変換素子の減衰出力を適確に検
出することができるため、被写体までの距離を正
確にとらえることができる。
第１図は遮光板走査型の投光式測距装置の原理
説明のための図、第２図は同測距装置における光
電出力波形図、第３図は測距装置を構成する機構
の一例、第４図は測距装置の制御回路の一例であ
る。第５図は第４図の制御回路の作動説明のため
の各部の出力波形を示す図、第６図は正傾斜検出
回路の一例とその作動説明図、第７図は測距装置
の他の機構の一例と測距用電磁石の駆動回路の一
例およびその作動説明図である。 １…発光素子、２…投光レンズ、３…第１光
軸、４…第２光軸、５…受光レンズ、６…受光素
子、７…遮光手段、８…対象物、Ａ１〜Ａ６…増
幅器、CP１〜CP３…電圧コンパレータ、Ｄ１…
ダイオード、Ｒ６，Ｃ３…積分回路、SH…サン
プルホールド回路、PSD…正傾斜検出回路、
OSC…発振器、PD…受光素子、IRED…赤外発
光ダイオード、TME…タイマー回路、DRV…
IRED駆動回路、１７…走査板、２１…制御レバ
ー、２３…電磁石、３０…段カム、Ｓ１…電源ス
イツチ、３３…接片。
説明のための図、第２図は同測距装置における光
電出力波形図、第３図は測距装置を構成する機構
の一例、第４図は測距装置の制御回路の一例であ
る。第５図は第４図の制御回路の作動説明のため
の各部の出力波形を示す図、第６図は正傾斜検出
回路の一例とその作動説明図、第７図は測距装置
の他の機構の一例と測距用電磁石の駆動回路の一
例およびその作動説明図である。 １…発光素子、２…投光レンズ、３…第１光
軸、４…第２光軸、５…受光レンズ、６…受光素
子、７…遮光手段、８…対象物、Ａ１〜Ａ６…増
幅器、CP１〜CP３…電圧コンパレータ、Ｄ１…
ダイオード、Ｒ６，Ｃ３…積分回路、SH…サン
プルホールド回路、PSD…正傾斜検出回路、
OSC…発振器、PD…受光素子、IRED…赤外発
光ダイオード、TME…タイマー回路、DRV…
IRED駆動回路、１７…走査板、２１…制御レバ
ー、２３…電磁石、３０…段カム、Ｓ１…電源ス
イツチ、３３…接片。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 対象物への投射光としてパルス変調光を発光
する発光素子、および、上記発光素子の上記対象
物側に配置され、上記投射光を投光する第１光軸
を有する投光レンズ、を含む投光手段と、 上記第１光軸から所定の基線長を隔てた第２光
軸を有し、上記対象物からの反射光が対象物まで
の距離に応じて異なる角度で上記第２光軸と交差
して透過する受光レンズ、および、上記受光レン
ズを透過した反射光を受光して光電変換信号を出
力する受光素子、を含む受光手段と、 上記受光素子と上記受光レンズとの間を、上記
第２光軸と交差する方向に、対象物までの距離と
相関をもつて移動し、上記反射光と交差したとき
に上記受光素子の光電変換信号の出力を減衰させ
る遮光手段と、 上記光電変換信号を増幅する交流増幅回路と、 上記交流増幅回路で増幅された交流増幅信号を
検波する検波回路と、 上記検波回路で検波された信号を積分する積分
回路と、 上記積分回路で積分された積分信号を遅延する
遅延回路と、 上記積分回路の出力と上記遅延回路の出力との
差分値を生じる差分回路と、 上記差分値に基いて上記積分信号のピークを検
出する検出回路と、 上記検出回路で上記積分信号のピークを検出し
たときの上記遮光手段の移動過程における位置に
基いて、対象物までの距離を特定する特定手段と からなる投光式測距装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57002618A JPS58120110A (ja) | 1982-01-11 | 1982-01-11 | 投光式測距装置における制御回路 |
| US06/456,789 US4497560A (en) | 1982-01-11 | 1983-01-10 | Control circuit for active type range finder |
| GB08300532A GB2113500B (en) | 1982-01-11 | 1983-01-10 | Automatic focusing |
| DE19833300695 DE3300695A1 (de) | 1982-01-11 | 1983-01-11 | Steuerschaltung fuer eine entfernungsmesseinrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57002618A JPS58120110A (ja) | 1982-01-11 | 1982-01-11 | 投光式測距装置における制御回路 |
Related Child Applications (3)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11367390A Division JPH0367118A (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | 投光式測距装置 |
| JP11367290A Division JPH03102211A (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | 投光式測距装置 |
| JP11367190A Division JPH03102210A (ja) | 1990-04-27 | 1990-04-27 | 投光式測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58120110A JPS58120110A (ja) | 1983-07-16 |
| JPH0419487B2 true JPH0419487B2 (ja) | 1992-03-30 |
Family
ID=11534389
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57002618A Granted JPS58120110A (ja) | 1982-01-11 | 1982-01-11 | 投光式測距装置における制御回路 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4497560A (ja) |
| JP (1) | JPS58120110A (ja) |
| DE (1) | DE3300695A1 (ja) |
| GB (1) | GB2113500B (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59148034A (ja) * | 1983-02-14 | 1984-08-24 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | カメラの測距装置 |
| JPS60158309A (ja) * | 1984-01-30 | 1985-08-19 | Seiko Koki Kk | 距離検出装置 |
| DE3502634A1 (de) * | 1985-01-26 | 1985-06-20 | Deutsche Forschungs- und Versuchsanstalt für Luft- und Raumfahrt e.V., 5000 Köln | Optisch-elektronischer entfernungsmesser |
| JP2890175B2 (ja) * | 1995-05-10 | 1999-05-10 | 日清紡績株式会社 | 織成方法 |
| US6494095B1 (en) * | 2000-03-28 | 2002-12-17 | Opticnet, Inc. | Micro electromechanical switch for detecting acceleration or decelaration |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4291223A (en) * | 1978-02-24 | 1981-09-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Distance detecting device |
| DE2853978A1 (de) * | 1978-12-14 | 1980-07-03 | Bosch Gmbh Robert | Entfernungsmesser |
| JPS56138206A (en) * | 1980-03-31 | 1981-10-28 | Anritsu Corp | Displacement measuring equipment |
-
1982
- 1982-01-11 JP JP57002618A patent/JPS58120110A/ja active Granted
-
1983
- 1983-01-10 US US06/456,789 patent/US4497560A/en not_active Expired - Fee Related
- 1983-01-10 GB GB08300532A patent/GB2113500B/en not_active Expired
- 1983-01-11 DE DE19833300695 patent/DE3300695A1/de not_active Withdrawn
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| GB8300532D0 (en) | 1983-02-09 |
| DE3300695A1 (de) | 1983-07-21 |
| GB2113500B (en) | 1986-08-06 |
| JPS58120110A (ja) | 1983-07-16 |
| US4497560A (en) | 1985-02-05 |
| GB2113500A (en) | 1983-08-03 |
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