JPH0419603B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野］ 本発明は、磁気テープ装置等の磁気記録装置、
特に、ライトヘツドを介して情報を書き込んでい
る最中にリードヘツドを介して当該書き込み情報
を順次読み取るようにした磁気記録装置における
磁気ヘツドの良否判別方法に関する。

［技術の背景］ この種の磁気記録装置、例えば磁気テープ装置
における各磁気ヘツドの構成は、例えば第１図に
示すようになつている。これは、情報の記録媒体
となる磁気テープＴの走行方向（図中の矢印方
向）に沿つて消去ヘツド１、ライトヘツド２、リ
ードヘツド３が順次配置されたものとなり、情報
の書き込みの際には、消去ヘツド１によつて走行
している磁気テープＴ上の情報を消去しつつライ
トヘツド２を介して上位装置（図示していない）
によつて指定された新たな情報を書き込でゆき、
更に、その書き込みつつある情報をリードヘツド
３を介して順次読み取り、上位装置によつて指定
された情報が正確に書き込まれているか等を確認
するようにしている。

そして、このような磁気テープ装置では、磁気
テープＴ上に情報がブロツク単位（データブロツ
クDB）に順次書き込まれ、各ブロツクDBの間
には当該各ブロツクの区切り等を示すギヤツプ
（インタブロツクギヤツブIBG）が設けられるよ
うになつおり、更に、このギヤツプIBGの磁気テ
ープＴ上での長さは、通常ライトヘツド２とリー
ドヘツド３との間のヘツド間ギヤツプGhよりも
長く設定しなければならない。

ところで、上記のような磁気テープ装置におい
て、情報記録媒体となる磁気テープＴへの情報記
録密度を上げようとすると、ライトヘツド２とリ
ードヘツド３との間のヘツド間ギヤツプGhを狭
くしなければならない。ところがこのヘツド間ギ
ヤツプGhを単に狭くすると、ライトヘツド２を
介した情報の書き込み時に、リードヘツド３で検
出されるライトヘツド２からの磁束漏れの量（以
下フイードスルー量という）が多くなり、リード
ヘツド３が本来ギヤツプIBGである部分でデータ
を誤検出したり、リードヘツド３を介した読み取
り信号の波形が歪んで上位装置が読み取りデータ
を誤つて認識するという事態が発生してしまう。

そこで、近年、このような磁気テープ装置で
は、上記のようなフイードスルー量を減らすため
に、ライト、リードヘツド２，３の近傍に金属片
等を設けたり、或いは、フイールドスルーの影響
を排除するために第２図に示すように、リードヘ
ツド３から出力されるリード信号に対して、読み
取り信号として認識すべき部分の閾値を、ライト
ヘツド２を介した書き込み情報がリードヘツド３
にて検出される以前では高レベルTh1（例えば、
本来の書き込み情報部における信号ピーク値の20
％程度）に設定し、本来の書き込み情報を検出し
ている時は低レベルTh2（同信号ピーク値の10％
程度）に設定するようにしている。

即ち、フイードスルー量は磁気テープ装置等に
おける磁気ヘツド（ライトヘツド、リードヘツ
ド）の良否を左右する重要なフアクターとなるこ
とから、各磁気ヘツドに対して上記のような種々
の対策が講じられることになるのである。従つ
て、上記のような種々の対策が有効に働いている
か否かは、対となるライトヘツド、リードヘツド
の製品管理上重要なことである。

［従来技術と問題点］ 従来、上記のようにフイードスルーの影響を排
除するようにしたライトヘツド、リードヘツド対
の製品管理上の当該磁気ヘツドの良否判別は、磁
気テープ装置等の磁気記録装置の製造段階にあつ
ては、フイードスルー量を直接測定する専用テス
タ等を用いて行なつている。

しかしながら、磁気記録装置をユーザに納入し
た後の定期保守等の段階にあつては、フイードス
ルー量を直接測定する携帯用の専用テスタが無い
ことから、単に、ライトヘツドとリードヘツドと
のヘツド間ギヤツプGh等のチエツク程度に留ま
るものであつた。

［発明の目的］ 本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、
磁気記録装置をユーザに納入した後の定期保守の
段階においても、フイードスルーの影響に関した
磁気ヘツドの良否を容易に判別できるようにした
磁気ヘツド良否判別方法を提供することを目的と
している。

［発明の構成］ 上記目的を達成するため、本発明は、所定の間
隔をおいて設置された対となるライトヘツドとリ
ードヘツドとを有し、これら各磁気ヘツドに対し
て相対的に移動する磁気記録媒体に上記ライトヘ
ツドを介して情報を書き込んでいる最中に上記リ
ードヘツドを介して当該書き込み情報を順次読み
取るようにした磁気記録装置において、上記ライ
トヘツドを介して情報を書き込む最中であり、か
つ上記ライトヘツドを介して書き込まれた情報が
リードヘツドにて検出される以前に、該ラードヘ
ツドを介して得られるリード信号に対して所定の
閾値を設定し、当該閾値と、この閾値を超える当
該リード信号の有無に基づいて上記ライトヘツ
ド、リードヘツド対の良否を判別するようにした
ものである。

［発明の実施例］ 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。

第３図は本発明の一実施例を示すブロツク図で
ある。同図において、１０は上位装置からのライ
ト開始信号Swによつて起動し、当該上位装置か
らの指令に基づいてライトデータを作成するライ
トデータ作成回路、１１はライトデータ作成回路
１０からのライトデータを電流変化に変換するラ
イト波形発生回路、１２はライトアンプであり、
ライトデータ作成回路１０からのライトデータが
ライト波形発生回路１１、ライトアンプ１２を介
して電流変化となつてライトヘツド２に印加し、
上記電流変化に伴なつて発生するライトヘツド２
からの磁束変化がライトデータとして走行する磁
気テープＴに記録されるようになつている。ま
た、１３は磁気テープＴに記録されたデータに対
応したがリードヘツド３からの電流信号を増幅す
るプリアンプ、１４はプリアンプ１３からの信号
に対するゲインを調整するゲイン調整回路、２２
は後述する振幅検査回路からのスライスレベル信
号に基づいてゲイン調整回路１４からのリードデ
ータをスライスするスライス回路、１５はゲイン
調節回路２２を経て出力されるリードデータに対
応した信号を微分処理する微分回路、１６は微分
回路１４からの出力信号に対するノイズを除去す
るフイルタ、１７はフイルタ１６を介して入力す
る微分回路１５からの信号のピークを検出するピ
ーク検出回路であり、このピーク検出回路１７か
らの出力パターンが当該リードデータとして上位
装置に認識されるようになつている。

上記構成は一般的な磁気テープ装置のものと同
様であるが、一方、１８は本来のリード信号に対
して、例えば何％以上をリード信号として認識す
べきかのスライスレベル情報（例えば10％等）を
出力するスライスレベル発生器であり、このスラ
イスレベル発生器１８は上位装置からの当該スラ
イスレベルの指定信号Ssに基づいて作動する制
御回路２０によつて制御されるようになつてい
る。１９はゲイン調整回路１４での設定ゲインに
基づいて、リードヘツド３からの検出信号に対応
するゲイン調整回路１４からの出力信号の振幅を
検査する振幅検査回路であり、この振幅検査回路
１９は更に、上位装置からリード開始信号Srが
出力している間、スライスレベル発生器１８から
のスライスレベル情報に基づきゲイン調整回路１
４から出力される信号に対してどのレベル以上を
リード信号として次段の微分回路１５に入力させ
るかを決める閾値Thを設定するようになつてい
る。また、２１はピーク検出回路１７からピーク
検出信号が出力されている間、Ｈレベル信号（タ
イムセンス信号St）を出力するタイムセンス回路
である。

次に、第４図に示すタイミングチヤートに従つ
て当該装置の作動について説明する。

まず、上位装置からライト開始信号Swとリー
ド開始信号Srとが同時に出力される。ここで、
リード開始信号Srの出力時間は磁気テープＴの
走行速度とヘツド間ギヤツプGhとに基づいて定
められ、ライトヘツド２を介した書込み情報がリ
ードヘツド３にて検出される以前に当該リード開
始信号Srは立ち下がるものである。

上記のように上位装置からライト開始信号Sw
とリード開始信号Srとが出力されると、ライト
データ作成回路１０からのライトデータに対応し
たライト信号がライト波形発生回路１１から出力
され、このライト信号がライトヘツド２を介して
走行する磁気テープＴに書込まれる。この時、ラ
イトヘツド２からの磁束漏れに起因したフイード
スルーに相当するリード信号がリードヘツド３に
て検出される。ここで、上位装置からのスライス
レベルの指定信号Ssに基づいてスライスレベル
発生器１８からスライスレベル情報、例えば５％
のスライスレベル情報が出力されると、振幅検査
回路１９がゲイン調整回路１４を経てリード信号
に対して上記スライスレベル５％に相当した閾値
Toを設定し、スライス回路２２は、この値で信
号をスライスし、これを超えるリード信号に対し
て、微分回路１５、フイルタ１６、ピーク検出回
路１７が夫々の処理を行なう。そして、ピークパ
ルス検出回路１７が上記閾値Toを超えたリード
信号のピークを検出する毎にピークパルスを出力
し、当該ピークパルスが出力されている間、タイ
ムセンス回路２１からタイムセンス信号Stが出力
される。

このようにタイムセンス回路２１からタイムセ
ンス信号Stが出力されると、上位装置は、上記ス
ライスレベル５％に対応した閾値Toと当該タイ
ムセンス信号Stの存在に基づいて、当該ライトヘ
ツド２とリードヘツド３との間には上記閾値To
以上のフイードスルー量が存在することを認識す
る。

更に、上記スライスレベルを種々の値に変化さ
せ、その時のタイムセンス信号の有無に基づいて
より精度良くフイードスルー量を調べることがで
きる。また、通常の磁気ヘツド対（ライトヘツ
ド、リードヘツド）では、そのフイードスルー量
が本来のリード信号の７〜８％程度であることか
ら、上記スライスレベルを10％程度に固定してお
き、その時、タイムセンス信号Stが出力された場
合、当該磁気ヘツド対は不良と判定できる。

上記のように本実施例によれば、磁気記録装置
または制御装置のマイクロプログラム、あるいは
上位装置にテストライトデータ、スライスレベ
ル、タイムセンス信号の判別等に関するテストプ
ログラムを入力しておけば、当該磁気ヘツド対の
フイードスルーに関する良否を特別なテスタを用
いることなく容易に判別できるようになる。

［発明の効果］ 以上、説明してきたように、本発明によれば、
所定の間隔をおいて設置されたライトヘツドとリ
ードヘツドとを有し、これらの各磁気ヘツドに対
して相対的に移動する磁気記録媒体に上記ライト
ヘツドを介して情報を書込んでいる最中に上記リ
ードヘツドを介して当該書込み情報を順次読み取
るようにした磁気記録装置において、上記ライト
ヘツドを介して情報を書き込む最中であり、かつ
上記ライトヘツドを介し書き込まれた情報がリー
ドヘツドにて検出される以前に当リードヘツドを
介して得られるリード信号に対して所定の閾値を
設定し、当該閾値と、この閾値を超える当該リー
ド信号の有無に基づいて上記ライトヘツド、リー
ドヘツド対の良否を判別するようにしたため、特
別なテスタ無しにフイードスルーに関する当該磁
気ヘツド対の良否が判別できるようになり、当該
磁気記録装置をユーザに納入した後の定期保守の
段階においても、当該磁気ヘツドについての検査
が容易にできるようになる。

【図面の簡単な説明】

第１図は磁気テープ装置における各磁気ヘツド
の構成を示す説明図、第２図はライトヘツドから
のフイードスルーの影響をリードデータに及ぼさ
ないための対策の一例を示す説明図、第３図は本
発明の一実施例を示すブロツク図、第４図は第３
図に示す装置の作動例を示すタイミングチヤート
である。 ２……ライトヘツド、３……リードヘツド、１
４……ゲイン調整回路、１５……微分回路、１６
……フイルタ、１７……ピーク検出回路、１８…
…スライスレベル発生回路、１９……振幅検査回
路、２０……制御回路、２１……タイムセンス回
路、２２……スライス回路。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 所定の間隔をおいて設置された対となるライ
   トヘツドとリードヘツドとを有し、これら各磁気
   ヘツドに対して相対的に移動する磁気記録媒体に
   上記ライトヘツドを介して情報を書き込んでいる
   最中に上記リードヘツドを介して当該書き込み情
   報を順次読み取るようにした磁気記録装置におい
   て、上記ライトヘツドを介して情報を書き込む最
   中であり、かつ上記ライトヘツドを介して書き込
   まれた情報がリードヘツドにて検出される以前
   に、該リードヘツドを介して得られるリード信号
   に対して所定の閾値を設定し、当該閾値と、この
   閾値を超える当該リード信号の有無に基づいて上
   記ライトヘツド、リードヘツド対の良否を判別す
   るようにしたことを特徴とする磁気記録装置にお
   ける磁気ヘツド良否判別方法。