JPH04199655A - 真空吸着基板保持装置の真空配管 - Google Patents
真空吸着基板保持装置の真空配管Info
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- JPH04199655A JPH04199655A JP2326002A JP32600290A JPH04199655A JP H04199655 A JPH04199655 A JP H04199655A JP 2326002 A JP2326002 A JP 2326002A JP 32600290 A JP32600290 A JP 32600290A JP H04199655 A JPH04199655 A JP H04199655A
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- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
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- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は半導体露光装置に用いられる真空吸着方式の基
板保持装置と真空吸着用吸着源とを連結する真空配管に
関する。
板保持装置と真空吸着用吸着源とを連結する真空配管に
関する。
[従来の技術]
真空吸着方式によってウェハを保持する従来の基板保持
装置の一例を第3図に示す。
装置の一例を第3図に示す。
第3図に示すようにウェハ61を吸着保持する搬送チャ
ック51が、該搬送チャック51を2方向(紙面に対し
て垂直な方向)に移動させるZステージ54とX方向(
図中左右方向)に移動するXステージ53とからなる基
板搬送装置に取付けられており、該基板搬送装置が移動
することによって、前記搬送チャック51と、同様にウ
ェハ61を吸着保持する露光用のウェハチャック52と
の間の前記ウェハ61の受渡しを行なう構成となってお
り、前記基板搬送装置および搬送チャック51とウェハ
チャック52は減圧雰囲気の真空チャンバ62内に収容
されている。
ック51が、該搬送チャック51を2方向(紙面に対し
て垂直な方向)に移動させるZステージ54とX方向(
図中左右方向)に移動するXステージ53とからなる基
板搬送装置に取付けられており、該基板搬送装置が移動
することによって、前記搬送チャック51と、同様にウ
ェハ61を吸着保持する露光用のウェハチャック52と
の間の前記ウェハ61の受渡しを行なう構成となってお
り、前記基板搬送装置および搬送チャック51とウェハ
チャック52は減圧雰囲気の真空チャンバ62内に収容
されている。
前記搬送チャック51は、真空ライン55、バルブ57
およびディストリビュータ59を介して、真空チャンバ
62の外部に配置されているポンプ60に連結され、ま
た、ウェハチャック52は、真空ライン56、バルブ5
8およびディストリビュータ59を介してポンプ60に
連結されており、搬送チャック51およびウェハチャ・
ツク52共にポンプ60による吸引動作によってウェハ
61を着脱する。前記バルブ57.58は、共に三方弁
であり、それぞれ、搬送チャック51とポンプ60、ウ
ェハチャック52とポンプ60を連通させる(a)状態
と、搬送チャック51と真空チャンバ62内の雰囲気(
以下チャンバ雰囲気という)、ウェハチャック52とチ
ャンバ雰囲気を連通させる(b)状態とに切換えが可能
である。
およびディストリビュータ59を介して、真空チャンバ
62の外部に配置されているポンプ60に連結され、ま
た、ウェハチャック52は、真空ライン56、バルブ5
8およびディストリビュータ59を介してポンプ60に
連結されており、搬送チャック51およびウェハチャ・
ツク52共にポンプ60による吸引動作によってウェハ
61を着脱する。前記バルブ57.58は、共に三方弁
であり、それぞれ、搬送チャック51とポンプ60、ウ
ェハチャック52とポンプ60を連通させる(a)状態
と、搬送チャック51と真空チャンバ62内の雰囲気(
以下チャンバ雰囲気という)、ウェハチャック52とチ
ャンバ雰囲気を連通させる(b)状態とに切換えが可能
である。
ここで、搬送チャック51からウェハチャック52ヘウ
エハ61を受渡す場合について説明する。
エハ61を受渡す場合について説明する。
まず、搬送チャック51によってウェハ61を吸着する
ため、バルブ57を(a)状態、すなわち搬送チャック
51がポンプ60と連通する状態として該ポンプ60を
作動させ、前記搬送チャック51によってウェハ61を
吸着保持する。このとき、バルブ58は(b)状態とし
、ウェハチャック52はチャンバ雰囲気に連通した状態
となっており、真空ライン56内の圧力はチャンバ雰囲
気圧力と同じになっている。
ため、バルブ57を(a)状態、すなわち搬送チャック
51がポンプ60と連通する状態として該ポンプ60を
作動させ、前記搬送チャック51によってウェハ61を
吸着保持する。このとき、バルブ58は(b)状態とし
、ウェハチャック52はチャンバ雰囲気に連通した状態
となっており、真空ライン56内の圧力はチャンバ雰囲
気圧力と同じになっている。
次に、Xステージ53を駆動して、搬送チャック51で
吸着保持しているウェハ61をウェハチャック52のチ
ャック面上まで移動させる。その後、Zステージ54を
駆動して、前記ウェハ61がウェハチャック52のチャ
ック面に接する位置まで搬送チャックを移動させる。そ
して、ウェハ61がウェハチャック52のチャック面に
接した状態で、バルブ58を(a)状態に切換えると、
ウェハ61はウェハチャック52によって吸着される。
吸着保持しているウェハ61をウェハチャック52のチ
ャック面上まで移動させる。その後、Zステージ54を
駆動して、前記ウェハ61がウェハチャック52のチャ
ック面に接する位置まで搬送チャックを移動させる。そ
して、ウェハ61がウェハチャック52のチャック面に
接した状態で、バルブ58を(a)状態に切換えると、
ウェハ61はウェハチャック52によって吸着される。
このとき、ウェハ61は、ウェハチャック52とともに
搬送チャック51についても吸着された状態となってい
るので、バルブ57を(b)状態に切換えて搬送チャッ
ク51をチャンバ雰囲気と連通させて該搬送チャック5
1の吸着力を無くし、搬送チャック51からウェハ61
を離脱させる。ウェハ61がウェハチャック52のみで
吸着された状態になると、前記2ステージ54およびX
ステージ53を順に駆動して搬送チャック51を元の位
置まで戻し、ウェハ61のウニハチやツク52への受渡
しが完了したことになる。
搬送チャック51についても吸着された状態となってい
るので、バルブ57を(b)状態に切換えて搬送チャッ
ク51をチャンバ雰囲気と連通させて該搬送チャック5
1の吸着力を無くし、搬送チャック51からウェハ61
を離脱させる。ウェハ61がウェハチャック52のみで
吸着された状態になると、前記2ステージ54およびX
ステージ53を順に駆動して搬送チャック51を元の位
置まで戻し、ウェハ61のウニハチやツク52への受渡
しが完了したことになる。
また、ウェハチャック52で保持したウェハ61につい
ての露光が終了すると、再びXステージおよび2ステー
ジ54を駆動して搬送チャック51を、ウェハチャック
52の位置まで移動させて、ウェハ61のウェハチャッ
ク52から搬送チャック51への受渡しを行なう。この
場合、上述した搬送チャック51からウェハチャック5
2への受渡しの場合と逆の動作を行なうことで、ウェハ
61をウェハチャック52から搬送チャック51へ受渡
すことができる。
ての露光が終了すると、再びXステージおよび2ステー
ジ54を駆動して搬送チャック51を、ウェハチャック
52の位置まで移動させて、ウェハ61のウェハチャッ
ク52から搬送チャック51への受渡しを行なう。この
場合、上述した搬送チャック51からウェハチャック5
2への受渡しの場合と逆の動作を行なうことで、ウェハ
61をウェハチャック52から搬送チャック51へ受渡
すことができる。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、上記従来の技術では、基板保持装置間で
基板の受渡しを行なう際、例えば前述の搬送チャック5
1からウェハチャック52ヘウエハ61を受渡す際、該
ウェハチャック52を吸着状態にするため、バルブ58
を切換えることによって前記ウェハチャック52をポン
プ60と連通させるが、該ウェハチャック52に通して
いる真空ライン56はそれ以前にチャンバ雰囲気と同圧
力となっており、バルブ58が切換えられた際、圧力の
高い気体かディストリビュータ59に流入し、ディスト
リビュータ59の圧力が高くなる。その結果、該搬送チ
ャック51の圧力が高くなるため吸着力が弱まることに
なる。これによって搬送チャック51とチャンバ雰囲気
との差圧が充分でなくなると、基板を落下させてしまう
という問題点かある。
基板の受渡しを行なう際、例えば前述の搬送チャック5
1からウェハチャック52ヘウエハ61を受渡す際、該
ウェハチャック52を吸着状態にするため、バルブ58
を切換えることによって前記ウェハチャック52をポン
プ60と連通させるが、該ウェハチャック52に通して
いる真空ライン56はそれ以前にチャンバ雰囲気と同圧
力となっており、バルブ58が切換えられた際、圧力の
高い気体かディストリビュータ59に流入し、ディスト
リビュータ59の圧力が高くなる。その結果、該搬送チ
ャック51の圧力が高くなるため吸着力が弱まることに
なる。これによって搬送チャック51とチャンバ雰囲気
との差圧が充分でなくなると、基板を落下させてしまう
という問題点かある。
本発明は、上J己従来の技術か有する問題点に鑑みてな
されたもので、真空吸着基板保持装置が基板を吸着保持
している際の吸引圧力と雰囲気圧力との差圧を、基板の
吸着保持に充分なものに保ち得る、真空吸着基板保持装
置の真空配管を提供することを目的としている。
されたもので、真空吸着基板保持装置が基板を吸着保持
している際の吸引圧力と雰囲気圧力との差圧を、基板の
吸着保持に充分なものに保ち得る、真空吸着基板保持装
置の真空配管を提供することを目的としている。
[課題を解決するための手段]
本発明は、真空吸着用の吸引源の吸引ラインからディス
トリビュータによって分配されて複数の真空吸着基板保
持装置それぞれに連結され、前記各真空吸着基板保持装
置に対して基板を着脱させる真空吸着基板保持装置のバ
ルブが介在されている真空配管において、 前記ディストリビュータとバルブとの間に絞り弁を配し
たものであり、 前記真空吸着基板保持装置バルブとの間に、該真空吸着
基板保持装置の吸引圧力を検知するためのバキュームセ
ンサを配した。
トリビュータによって分配されて複数の真空吸着基板保
持装置それぞれに連結され、前記各真空吸着基板保持装
置に対して基板を着脱させる真空吸着基板保持装置のバ
ルブが介在されている真空配管において、 前記ディストリビュータとバルブとの間に絞り弁を配し
たものであり、 前記真空吸着基板保持装置バルブとの間に、該真空吸着
基板保持装置の吸引圧力を検知するためのバキュームセ
ンサを配した。
[作用]
本発明の真空吸着基板保持装置の真空配管は、真空吸着
基板保持装置が基板を吸着保持している際、他の真空吸
着基板保持装置側からの圧力の高い気体の流入を、絞り
弁によって抑えることができる。また、この絞り弁は、
バルブとディストリビュータとの間に配されているので
、真空吸着基板保持装置から基板を離脱させるために、
該真空吸着基板保持装置の吸引圧力と雰囲気圧力との差
を無くす際、絞り弁を介すことなく気体を流通させるこ
とができる。
基板保持装置が基板を吸着保持している際、他の真空吸
着基板保持装置側からの圧力の高い気体の流入を、絞り
弁によって抑えることができる。また、この絞り弁は、
バルブとディストリビュータとの間に配されているので
、真空吸着基板保持装置から基板を離脱させるために、
該真空吸着基板保持装置の吸引圧力と雰囲気圧力との差
を無くす際、絞り弁を介すことなく気体を流通させるこ
とができる。
[実施例]
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の真空吸着基板保持装置の真空配管の一
実施例を示す図である。
実施例を示す図である。
本実施例では、搬送チャック11,21.31およびウ
ェハチャック41の4個の真空吸着基板保持装置を不図
示の真空チャンバ内に収容したものである。搬送チャッ
ク11,21.31およびウェハチャック41は、真空
チャンバ外に配されたポンプ1の吸引動作中に、前記各
搬送チャック11.21・、31およびウェハチャック
41にそれぞれ連通する真空ライン15,25.35お
よび45に配されたバルブ13,23,33.43を開
閉させることによって、前記搬送チャック11.21.
31およびウェハチャック41の基板の着脱を行なって
、基板の搬送および相互間での受渡しを行なう。
ェハチャック41の4個の真空吸着基板保持装置を不図
示の真空チャンバ内に収容したものである。搬送チャッ
ク11,21.31およびウェハチャック41は、真空
チャンバ外に配されたポンプ1の吸引動作中に、前記各
搬送チャック11.21・、31およびウェハチャック
41にそれぞれ連通する真空ライン15,25.35お
よび45に配されたバルブ13,23,33.43を開
閉させることによって、前記搬送チャック11.21.
31およびウェハチャック41の基板の着脱を行なって
、基板の搬送および相互間での受渡しを行なう。
前記ポンプ1の吸引ライン3はディストリビュータ2に
連結されて、該ディストリビュータ2において、搬送チ
ャック11.21.31およびウェハチャック41へ通
しる4つの真空ライン15.25,35.45に分配さ
れている。各真空ランイ15,25,35.45上には
、それぞれ前記ディストリビュータ2側から順に、絞り
弁14.24,34.44とバルブ13゜23.33.
43か配設されており、さらに、各バルブ13.23,
33.43と各搬送チャック11.21.31およびウ
ェハチャック41との間には、各基板保持装置の吸引圧
力を検知するバキュームセンサ12,22,32.42
がそれぞれ配設されている。また、各バルブ13,23
゜33.43は、何れも三方弁であり、それぞれ、各搬
送チャック11,21.31およびウェハチャック41
を、前記ポンプ1に通じさせる(a)状態と真空チャン
バ内雰囲気圧力に開放する(b)状態との切換えを行な
うものであり、前記ポンプ1の吸引動作中に各バルブ1
3.23,33.43を、(a)状態にすることで、各
搬送チャック11.21.31およびウェハチャック4
1は基板を吸着することができ、(b)状態にすれば基
板の吸着が解除され該基板を離脱させることができる。
連結されて、該ディストリビュータ2において、搬送チ
ャック11.21.31およびウェハチャック41へ通
しる4つの真空ライン15.25,35.45に分配さ
れている。各真空ランイ15,25,35.45上には
、それぞれ前記ディストリビュータ2側から順に、絞り
弁14.24,34.44とバルブ13゜23.33.
43か配設されており、さらに、各バルブ13.23,
33.43と各搬送チャック11.21.31およびウ
ェハチャック41との間には、各基板保持装置の吸引圧
力を検知するバキュームセンサ12,22,32.42
がそれぞれ配設されている。また、各バルブ13,23
゜33.43は、何れも三方弁であり、それぞれ、各搬
送チャック11,21.31およびウェハチャック41
を、前記ポンプ1に通じさせる(a)状態と真空チャン
バ内雰囲気圧力に開放する(b)状態との切換えを行な
うものであり、前記ポンプ1の吸引動作中に各バルブ1
3.23,33.43を、(a)状態にすることで、各
搬送チャック11.21.31およびウェハチャック4
1は基板を吸着することができ、(b)状態にすれば基
板の吸着が解除され該基板を離脱させることができる。
前記絞り弁14.24,34.44は、前記バルブ13
.23.33.43の何れかを開閉させた際、他の搬送
チャックあるいはウェハチャックの圧力上昇を少なくす
るために設けたものである。
.23.33.43の何れかを開閉させた際、他の搬送
チャックあるいはウェハチャックの圧力上昇を少なくす
るために設けたものである。
この絞り弁14,24,34.44を配置する位置とし
ては、前述のようにバキュームセンサ12,22,32
.42およびバルブ13゜23.33.43がそれぞれ
に設けられている真空ライン15,25,35.45に
おいては、第2図に示すように、搬送チャック11.2
1゜31およびウェハチャック41とバキュームセンサ
12,22,32.42との間(位置の)、バキューム
センサ12,22,32.42とバルブ13.23.3
3.43との間(位置■)、バルブ13,23.33.
43とディストリビュータ2との間(位置■)の3通り
が考えられ、本発明では各絞り弁14,24,34.4
4を、バルブ13.23.33.43とディストリビュ
ータ2との間(位置■)に配置している。
ては、前述のようにバキュームセンサ12,22,32
.42およびバルブ13゜23.33.43がそれぞれ
に設けられている真空ライン15,25,35.45に
おいては、第2図に示すように、搬送チャック11.2
1゜31およびウェハチャック41とバキュームセンサ
12,22,32.42との間(位置の)、バキューム
センサ12,22,32.42とバルブ13.23.3
3.43との間(位置■)、バルブ13,23.33.
43とディストリビュータ2との間(位置■)の3通り
が考えられ、本発明では各絞り弁14,24,34.4
4を、バルブ13.23.33.43とディストリビュ
ータ2との間(位置■)に配置している。
ここで、上述した3箇所に絞り弁を配置した場合につい
て説明する。
て説明する。
まず、位置■の場合、各チャックとバキュームセンサと
の間に絞り弁による圧力の低下部分が存在するため、該
バキュームセンサは各チャックの真空圧を示さず、前記
絞り弁よりポンプ側の真空度の高い部分の圧力を示すこ
とになる。この場合、チャック面での真空圧が基板の吸
着に要する圧力に達しておらず雰囲気圧力との差圧が充
分でない可能性が高く、基板を落下させてしまうことが
考えられる。
の間に絞り弁による圧力の低下部分が存在するため、該
バキュームセンサは各チャックの真空圧を示さず、前記
絞り弁よりポンプ側の真空度の高い部分の圧力を示すこ
とになる。この場合、チャック面での真空圧が基板の吸
着に要する圧力に達しておらず雰囲気圧力との差圧が充
分でない可能性が高く、基板を落下させてしまうことが
考えられる。
また、位置■に配置した場合、バキュームセンサは、絞
り弁よりチャック側になるため、各チャックの真空圧を
示すことになるか、基板をチャックによる吸着状態から
解除するためにバルブを切換えて雰囲気圧力に開放する
際、バルブよりチャック側に絞り弁かあるので、雰囲気
圧力になるまでの時間がかかりスルーブツト低下の原因
となる。位置■に配置した場合、バキュームセンサは、
絞り弁よりチャック側になるため、各チャックの真空圧
を示すことになり、さらに、バルブを開放した際も、バ
ルブか各チャック側となっているので、各チャック面の
圧力は短時間で雰囲気圧力に達することになり、上述の
ような位置■、■に配置した場合の悪影響が除去され最
適なものとなる。
り弁よりチャック側になるため、各チャックの真空圧を
示すことになるか、基板をチャックによる吸着状態から
解除するためにバルブを切換えて雰囲気圧力に開放する
際、バルブよりチャック側に絞り弁かあるので、雰囲気
圧力になるまでの時間がかかりスルーブツト低下の原因
となる。位置■に配置した場合、バキュームセンサは、
絞り弁よりチャック側になるため、各チャックの真空圧
を示すことになり、さらに、バルブを開放した際も、バ
ルブか各チャック側となっているので、各チャック面の
圧力は短時間で雰囲気圧力に達することになり、上述の
ような位置■、■に配置した場合の悪影響が除去され最
適なものとなる。
次に、本実施例による基板の受渡し動作について説明す
る。
る。
本実施例では3つの搬送チャック11,21゜31とウ
ェハチャック41とを備えているが、各チャック間の基
板の受渡し動作は同様に行なうことかできるので、ここ
では搬送チャック11から搬送チャック21への受渡し
について説明する。
ェハチャック41とを備えているが、各チャック間の基
板の受渡し動作は同様に行なうことかできるので、ここ
では搬送チャック11から搬送チャック21への受渡し
について説明する。
まず、ポンプ1を吸引動作状態とし、搬送チャック11
に連通ずる真空ライン15上のバルブ13を(a)状態
にする。この状態で、搬送チャック11は、真空ライン
15を介してポンプ1に通した状態となって吸着力が発
生しており、ウェハ61を吸着保持しているものとする
。このとき、他のバルブ23.33.43は(b)状態
とし、搬送チャック21.31およびウェハチャック4
1は何れも真空チャンバ内の雰囲気圧力と同等になって
いる。
に連通ずる真空ライン15上のバルブ13を(a)状態
にする。この状態で、搬送チャック11は、真空ライン
15を介してポンプ1に通した状態となって吸着力が発
生しており、ウェハ61を吸着保持しているものとする
。このとき、他のバルブ23.33.43は(b)状態
とし、搬送チャック21.31およびウェハチャック4
1は何れも真空チャンバ内の雰囲気圧力と同等になって
いる。
この状態で搬送チャック11から搬送チャック21へ基
板を受渡す場合、該搬送チャック21へ連通する真空ラ
イン25上に配されたバルブ23を(a)状態とし、搬
送チャック21とポンプ1とを通じさせて該搬送チャッ
ク21に吸着力を発生させる。このとき、搬送チャック
21は真空チャンバ内雰囲気と同等な圧力であったため
、圧力の高い気体が搬送チャック21から真空ライン2
5を通フてディストリビュータ2へ移動し、この圧力の
高い気体によって、基板を吸着保持している搬送チャッ
ク21の吸着圧力が高くなって吸着力が弱まり、保持し
ている基板を落下させてしまう可能性があるが、搬送チ
ャック11の真空ライン15上でディストリビュータ2
とバルブ13との間に配した絞り弁14により圧力の高
い気体の搬送チャック21側への影響を小さくすること
かできる。
板を受渡す場合、該搬送チャック21へ連通する真空ラ
イン25上に配されたバルブ23を(a)状態とし、搬
送チャック21とポンプ1とを通じさせて該搬送チャッ
ク21に吸着力を発生させる。このとき、搬送チャック
21は真空チャンバ内雰囲気と同等な圧力であったため
、圧力の高い気体が搬送チャック21から真空ライン2
5を通フてディストリビュータ2へ移動し、この圧力の
高い気体によって、基板を吸着保持している搬送チャッ
ク21の吸着圧力が高くなって吸着力が弱まり、保持し
ている基板を落下させてしまう可能性があるが、搬送チ
ャック11の真空ライン15上でディストリビュータ2
とバルブ13との間に配した絞り弁14により圧力の高
い気体の搬送チャック21側への影響を小さくすること
かできる。
この場合、絞り弁14のコンダクタンスを小さくすれば
、悪影響をより小さいものとすることができるが、搬送
チャック11の吸着面とチャンバ内雰囲気との差圧を、
基板の吸着保持に要するものに確保する際のスルーブツ
トの低下を考慮する必要がある。
、悪影響をより小さいものとすることができるが、搬送
チャック11の吸着面とチャンバ内雰囲気との差圧を、
基板の吸着保持に要するものに確保する際のスルーブツ
トの低下を考慮する必要がある。
次に、搬送チャック11により、吸着保持している基板
を搬送チャック21の吸着面上に移動させて、該基板を
搬送チャック11と搬送チャック21との二つの保持装
置で吸着した状態とする。
を搬送チャック21の吸着面上に移動させて、該基板を
搬送チャック11と搬送チャック21との二つの保持装
置で吸着した状態とする。
つづいて、基板を搬送チャック21のみで保持させるた
め、バルブ13を(b)状態にして、搬送チャック11
の吸着面の圧力を真空チャンバ内雰囲気圧力との差圧を
無くする。このとき、搬送チャック11に連通ずる真空
ライン15上で、絞り弁14がバルブ13より搬送チャ
ック11側に配されていると、差圧が無くなるまでに時
間かかかってスルーブツトを悪くしてしまうか、本実施
例の場合、前述のようにバルブ13よりポンプ1側に配
されているので問題はない。
め、バルブ13を(b)状態にして、搬送チャック11
の吸着面の圧力を真空チャンバ内雰囲気圧力との差圧を
無くする。このとき、搬送チャック11に連通ずる真空
ライン15上で、絞り弁14がバルブ13より搬送チャ
ック11側に配されていると、差圧が無くなるまでに時
間かかかってスルーブツトを悪くしてしまうか、本実施
例の場合、前述のようにバルブ13よりポンプ1側に配
されているので問題はない。
このように、搬送チャック11の吸着面とチャンバ雰囲
気の差圧を無くすることにより、該搬送チャック11の
吸着か無くなって、基板は搬送チャック21のみで吸着
保持したものとなり、基板が受渡されたことになる。
気の差圧を無くすることにより、該搬送チャック11の
吸着か無くなって、基板は搬送チャック21のみで吸着
保持したものとなり、基板が受渡されたことになる。
[発明の効果コ
本発明は、以上説明したように構成されているので下J
己のような効果を奏する。
己のような効果を奏する。
(1)真空吸着基板保持装置によって基板を吸着保持し
ている際、他の真空吸着基板保持装置側からの圧力の高
い気体の流れ込みを抑えることかできるので、真空吸着
基板保持装置の吸引圧力と雰囲気圧力との差圧を、常に
、基板の吸着保持のために充分なものとすることができ
、前J己真空吸着基板保持装置による基板の搬送あるい
は真空吸着基板保持装置相互間での基板の受渡し等の動
作を確実かつ安全に行なうことが可能となる。
ている際、他の真空吸着基板保持装置側からの圧力の高
い気体の流れ込みを抑えることかできるので、真空吸着
基板保持装置の吸引圧力と雰囲気圧力との差圧を、常に
、基板の吸着保持のために充分なものとすることができ
、前J己真空吸着基板保持装置による基板の搬送あるい
は真空吸着基板保持装置相互間での基板の受渡し等の動
作を確実かつ安全に行なうことが可能となる。
(2)絞り弁は、真空配管上において、バルブとディス
トリビュータとの間に配されており、真空吸着基板保持
装置から基板を離脱させるためバルブを操作して前記真
空吸着基板保持装置の吸引圧力を雰囲気圧力と同等にす
る際、気体は航記較り弁を介することなく流通するので
、スルーブツトを向上させることができる。
トリビュータとの間に配されており、真空吸着基板保持
装置から基板を離脱させるためバルブを操作して前記真
空吸着基板保持装置の吸引圧力を雰囲気圧力と同等にす
る際、気体は航記較り弁を介することなく流通するので
、スルーブツトを向上させることができる。
(3)請求項第2項に記載したもののように、バキュー
ムセンサをバルブと真空吸着基板保持装置との間に配す
ることにより、真空吸着面の吸着圧力を正確に検出する
ことができるので、真空吸着基板保持装置による基板の
吸着状態の良否を確認することが可能となり、基板の搬
送および受渡し動作の確実性および安全性がより高いも
のになり基板保持装置としての信頼性が向上する。
ムセンサをバルブと真空吸着基板保持装置との間に配す
ることにより、真空吸着面の吸着圧力を正確に検出する
ことができるので、真空吸着基板保持装置による基板の
吸着状態の良否を確認することが可能となり、基板の搬
送および受渡し動作の確実性および安全性がより高いも
のになり基板保持装置としての信頼性が向上する。
第1図は本発明の、真空吸着基板保持装置の真空配管の
一実施例を示す図、第2図は絞り弁の配置位置を示す図
、第3図は従来の真空吸着基板保持装置の真空配管の一
例を示す図である。 1−・ポンプ、 2−・ディストリビュータ、 3・−吸引ライン、 11.21.31−・・搬送チャック、12.22.3
2.42−−バキュームセンサ、13.23.33.4
3−・バルブ、 14.24,34.44−一絞り弁、 15.25.35.45−一真空ライン、41−・ウェ
ハチャック。 特許出願人 キャノン株式会社
一実施例を示す図、第2図は絞り弁の配置位置を示す図
、第3図は従来の真空吸着基板保持装置の真空配管の一
例を示す図である。 1−・ポンプ、 2−・ディストリビュータ、 3・−吸引ライン、 11.21.31−・・搬送チャック、12.22.3
2.42−−バキュームセンサ、13.23.33.4
3−・バルブ、 14.24,34.44−一絞り弁、 15.25.35.45−一真空ライン、41−・ウェ
ハチャック。 特許出願人 キャノン株式会社
Claims (2)
- 1.真空吸着用の吸引源の吸引ラインからディストリビ
ュータによって分配されて複数の真空吸着基板保持装置
それぞれに連結され、前記各真空吸着基板保持装置に対
して基板を着脱させる真空吸着基板保持装置のバルブが
介在されている真空配管において、 前記ディストリビュータとバルブとの間に絞り弁を配し
たことを特徴とする、真空吸着基板保持装置の真空配管
。 - 2.真空吸着基板保持装置とバルブとの間に、該真空吸
着基板保持装置の吸引圧力を検知するためのバキューム
センサを配したことを特徴とする請求項1記載の、真空
吸着基板保持装置の真空配管。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32600290A JP2975097B2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 真空吸着基板保持装置の真空配管 |
| US07/798,812 US5203547A (en) | 1990-11-29 | 1991-11-27 | Vacuum attraction type substrate holding device |
| EP91311001A EP0488722B1 (en) | 1990-11-29 | 1991-11-28 | Vacuum attraction type substrate holding device |
| DE69117680T DE69117680T2 (de) | 1990-11-29 | 1991-11-28 | Vorrichtung des Vakuumtyps zum Halten eines Substrats |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32600290A JP2975097B2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 真空吸着基板保持装置の真空配管 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04199655A true JPH04199655A (ja) | 1992-07-20 |
| JP2975097B2 JP2975097B2 (ja) | 1999-11-10 |
Family
ID=18183000
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32600290A Expired - Fee Related JP2975097B2 (ja) | 1990-11-29 | 1990-11-29 | 真空吸着基板保持装置の真空配管 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2975097B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5586159A (en) * | 1994-03-28 | 1996-12-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Substrate holding system and exposure apparatus having the same |
| JP2017027968A (ja) * | 2015-07-15 | 2017-02-02 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置、基板処理方法及び記録媒体 |
| CN108305848A (zh) * | 2018-01-12 | 2018-07-20 | 昆山成功环保科技有限公司 | 一种晶圆自动定位系统及包括它的装载机 |
| JP2019057706A (ja) * | 2017-09-19 | 2019-04-11 | キヤノン株式会社 | 基板搬送装置、リソグラフィ装置、および物品製造方法 |
| WO2022014509A1 (ja) * | 2020-07-17 | 2022-01-20 | ファナック株式会社 | 真空圧供給システム |
| JP2024167358A (ja) * | 2020-03-31 | 2024-12-03 | キヤノン株式会社 | 搬送装置、搬送方法、リソグラフィ装置、リソグラフィシステム、および物品製造方法 |
-
1990
- 1990-11-29 JP JP32600290A patent/JP2975097B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5586159A (en) * | 1994-03-28 | 1996-12-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Substrate holding system and exposure apparatus having the same |
| JP2017027968A (ja) * | 2015-07-15 | 2017-02-02 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板処理装置、基板処理方法及び記録媒体 |
| JP2019057706A (ja) * | 2017-09-19 | 2019-04-11 | キヤノン株式会社 | 基板搬送装置、リソグラフィ装置、および物品製造方法 |
| CN108305848A (zh) * | 2018-01-12 | 2018-07-20 | 昆山成功环保科技有限公司 | 一种晶圆自动定位系统及包括它的装载机 |
| JP2024167358A (ja) * | 2020-03-31 | 2024-12-03 | キヤノン株式会社 | 搬送装置、搬送方法、リソグラフィ装置、リソグラフィシステム、および物品製造方法 |
| WO2022014509A1 (ja) * | 2020-07-17 | 2022-01-20 | ファナック株式会社 | 真空圧供給システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2975097B2 (ja) | 1999-11-10 |
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|---|---|---|---|
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