JPH04204319A - 検出コイルの出力信号処理装置 - Google Patents
検出コイルの出力信号処理装置Info
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- JPH04204319A JPH04204319A JP2339129A JP33912990A JPH04204319A JP H04204319 A JPH04204319 A JP H04204319A JP 2339129 A JP2339129 A JP 2339129A JP 33912990 A JP33912990 A JP 33912990A JP H04204319 A JPH04204319 A JP H04204319A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、渦流式探傷装置や荷重センサ、位置検出装置
等の検出コイルの出力信号の、温度の変化によるドリフ
トを補償する信号処理装置に関する。
等の検出コイルの出力信号の、温度の変化によるドリフ
トを補償する信号処理装置に関する。
渦流式探傷装置や荷重センサまたは位置検出装置等にお
いては、被検出部材の電気磁気的特性の変化を、検出コ
イルを用いてコイル特性（自己インダクタンス、相互イ
ンダクタンスなど）の変化として検知することがしばし
ば行われている。しかし、検出コイルの出力特性は、環
境の変動によって影響を受け、ゼロ点等が変動する。特
に、コイル自身の温度変化による影響が太きい。このた
め、従来は、検出コイルと別に温度検出用のコイルを設
け、この温度検出用コイルによって温度補正信号を出力
させ、検出コイルの出力信号を温度補正信号によって補
正し、温度変化による影響を除去するようにしている。
いては、被検出部材の電気磁気的特性の変化を、検出コ
イルを用いてコイル特性（自己インダクタンス、相互イ
ンダクタンスなど）の変化として検知することがしばし
ば行われている。しかし、検出コイルの出力特性は、環
境の変動によって影響を受け、ゼロ点等が変動する。特
に、コイル自身の温度変化による影響が太きい。このた
め、従来は、検出コイルと別に温度検出用のコイルを設
け、この温度検出用コイルによって温度補正信号を出力
させ、検出コイルの出力信号を温度補正信号によって補
正し、温度変化による影響を除去するようにしている。
しかし、上記のように、検出コイルと別に温度検出用コ
イルを設けて補正を行う方法は、検出コイル用と温度検
出用コイルとの信号処理回路を設ける必要があり、二重
の信号処理回路を設けなければならず、て装置が複雑化
するばかりでなく、高価となる。
イルを設けて補正を行う方法は、検出コイル用と温度検
出用コイルとの信号処理回路を設ける必要があり、二重
の信号処理回路を設けなければならず、て装置が複雑化
するばかりでなく、高価となる。
本発明は、上記従来技術の欠点を解消するためになされ
たもので、温度変化に基づくゼロ点等の変動を安価に補
正することができる検出コイルの出力信号処理装置を提
供することを目的としている。
たもので、温度変化に基づくゼロ点等の変動を安価に補
正することができる検出コイルの出力信号処理装置を提
供することを目的としている。
検出コイル自身や周囲環境の温度が変化すると、コイル
自身の磁気特性や被検出部材の透磁率の変化等によって
検出コイルのインダクタンスが変化し、検出部の出力信
号の位相がずれてくる。
自身の磁気特性や被検出部材の透磁率の変化等によって
検出コイルのインダクタンスが変化し、検出部の出力信
号の位相がずれてくる。
この温度が変化に伴い位相ずれが生ずることに注目して
なされたもので、上記の目的を達成するために、本発明
の第１は、被検出部材の電磁気的変化を検出する検出部
の検出コイルに基準信号を与える交流信号源と、この交
流信号源の出力信号を受け、所定の角度だけ位相をずら
して出力する移相器と、前記検出部の出力信号が入力す
るとともに、前記移相器の出力を受けて、前記検出部の
出力信号を移相検波する位相検波器とを有することを特
徴としている。
なされたもので、上記の目的を達成するために、本発明
の第１は、被検出部材の電磁気的変化を検出する検出部
の検出コイルに基準信号を与える交流信号源と、この交
流信号源の出力信号を受け、所定の角度だけ位相をずら
して出力する移相器と、前記検出部の出力信号が入力す
るとともに、前記移相器の出力を受けて、前記検出部の
出力信号を移相検波する位相検波器とを有することを特
徴としている。
また、本発明の第２は、被検出部材の電磁気的変化を検
出する検出部の検出コイルに基準信号を与える交流信号
源と、この交流信号源の出力信号を受け、所定の角度だ
け位相をずらして出力する移相器と、前記検出部の出力
信号が入力するとともに、前記移相器の出力を受けて、
前記検出部の出力信号を移相検波する位相検波器と、前
記検出コイルと前記被検出部材との少なくとのいずれか
一方の温度と前記検出部の出力信号の位相ずれとの関係
を示すデータを格納したメモリと、検出された前記温度
に対応した前記メモリ内のデータを読み出し、前記移相
器の移相量を制御する移相制御器とを有することを特徴
としている。
出する検出部の検出コイルに基準信号を与える交流信号
源と、この交流信号源の出力信号を受け、所定の角度だ
け位相をずらして出力する移相器と、前記検出部の出力
信号が入力するとともに、前記移相器の出力を受けて、
前記検出部の出力信号を移相検波する位相検波器と、前
記検出コイルと前記被検出部材との少なくとのいずれか
一方の温度と前記検出部の出力信号の位相ずれとの関係
を示すデータを格納したメモリと、検出された前記温度
に対応した前記メモリ内のデータを読み出し、前記移相
器の移相量を制御する移相制御器とを有することを特徴
としている。
（作用〕
上記の如く構成した本発明の第１は、検出コイルなどが
一定温度変化したときに、移相器によって温度が変化し
たことによる位相のずれを生じた分だけ交流信号源の出
力信号の位相をずらし、これに基づいて位相検波するこ
とにより、温度変動により影響を小さくすることができ
、測定精度が向上する。
一定温度変化したときに、移相器によって温度が変化し
たことによる位相のずれを生じた分だけ交流信号源の出
力信号の位相をずらし、これに基づいて位相検波するこ
とにより、温度変動により影響を小さくすることができ
、測定精度が向上する。
また、本発明の第２においては、検出コイルと被検出部
材との少なくとのいずれか一方の温度と検出部の出力信
号の位相ずれとの関係を求め、メモリに格納しておく。
材との少なくとのいずれか一方の温度と検出部の出力信
号の位相ずれとの関係を求め、メモリに格納しておく。
そして、移相制御器が入力してきた温度に基づいて、メ
モリから対応する位相ずれ量を読み出し、交流信号源が
出力した基準信号が、メモリから読み出した位相ずれ分
だけ位相角がずれるように移相器を制御する。
モリから対応する位相ずれ量を読み出し、交流信号源が
出力した基準信号が、メモリから読み出した位相ずれ分
だけ位相角がずれるように移相器を制御する。
これにより、移相器は、交流信号源の出力信号を温度の
変動によって位相かずれた分に応じて交流信号源の出力
信号の位相をずらして検波回路に送り、検波回路がこの
位相をずらせた信号によって、検出部の出力信号を検波
する。従って、温度変化に伴う検出部の出力信号の位相
ずれを補正することができ、温度変化によるドリフトを
除去して検出精度を向上することができる。しかも、本
発明は、温度検出用コイルを用いるのと異なり、二重の
信号処理回路を必要とせず、装置の簡素化が図れて、コ
ストを低減することができる。
変動によって位相かずれた分に応じて交流信号源の出力
信号の位相をずらして検波回路に送り、検波回路がこの
位相をずらせた信号によって、検出部の出力信号を検波
する。従って、温度変化に伴う検出部の出力信号の位相
ずれを補正することができ、温度変化によるドリフトを
除去して検出精度を向上することができる。しかも、本
発明は、温度検出用コイルを用いるのと異なり、二重の
信号処理回路を必要とせず、装置の簡素化が図れて、コ
ストを低減することができる。
（実施例〕
本発明に係る検出コイルの出力信号処理装置の好ましい
実施例を、添付図面に従って詳説する。
実施例を、添付図面に従って詳説する。
第１図は、本発明の実施例に係る検出コイルの出力信号
処理装置のブロック図である。
処理装置のブロック図である。
第１図において、出力信号処理装置１０に接続しである
検出部３０は、ブリッジ回路からなっている。このブリ
ッジ回路は、接続点ａ、Ｃ間と接読点ａ、ｄｆＦｉとに
検出コイルＬ３、Ｌｘが接続してあり、接続点ｃ、ｂと
接続点ｄ、ｂ間とに抵抗Ｒ，、Ｒ，が接続しである。
検出部３０は、ブリッジ回路からなっている。このブリ
ッジ回路は、接続点ａ、Ｃ間と接読点ａ、ｄｆＦｉとに
検出コイルＬ３、Ｌｘが接続してあり、接続点ｃ、ｂと
接続点ｄ、ｂ間とに抵抗Ｒ，、Ｒ，が接続しである。
検出コイルＬ、、Ｌ２は、例えば磁歪式のいわゆるブレ
スダクタ型荷重センサ３０の検出コイルであって、第２
図に示したように、薄板ケイ素鋼板の積層体３２の中央
部に設けた４つのコイル孔３４に巻いてあり、検出コイ
ルＬ１と検出コイルＬ、とが直交交差するように配置し
である。なお、第２図に示した矢印Ｆは、荷重センサ３
０に作用する荷重方向を示している。
スダクタ型荷重センサ３０の検出コイルであって、第２
図に示したように、薄板ケイ素鋼板の積層体３２の中央
部に設けた４つのコイル孔３４に巻いてあり、検出コイ
ルＬ１と検出コイルＬ、とが直交交差するように配置し
である。なお、第２図に示した矢印Ｆは、荷重センサ３
０に作用する荷重方向を示している。
出力信号処理装置１０は、交流信号源としての発振器１
２と、この発振器１２の出力を増幅する出力増幅器１４
とを有し、出力増幅器１４の出力側がブリッジ回路の入
力側となっている接続点ａ、ｂに接続してあり、ブリッ
ジ回路に給電できるようにしである。また、出力信号処
理装置１０には、発振器１２の出力信号の位相を変える
移相器１６と、この移相器１６に移相制御信号を入力す
る移相制御器１８と、移相制御器１８に接続しであるメ
モリ２０とが設けであるとともに、ブリッジ回路の出力
側である接続点ｃ、ｄと移相器１６の出力側とに接続し
てあり、移相器１６の出力に基づいてブリッジ回路（検
出部３０）の出力″信号を位相検波する位相検波器２２
、位相検波器２２の出力信号から雑音を除去するフィル
タ２４、フィルタ２４を透過した信号を積分する積分器
２６、積分器２６の出力を増幅する増幅器２６を備えて
いる。そして、上記した移相制御器１８には、検出コイ
ルＬ、 、Ｌ２ と被検出部材との少なくとの一方の温
度を検出する温度センサ３６の検出信号が入力するよう
になっている。
２と、この発振器１２の出力を増幅する出力増幅器１４
とを有し、出力増幅器１４の出力側がブリッジ回路の入
力側となっている接続点ａ、ｂに接続してあり、ブリッ
ジ回路に給電できるようにしである。また、出力信号処
理装置１０には、発振器１２の出力信号の位相を変える
移相器１６と、この移相器１６に移相制御信号を入力す
る移相制御器１８と、移相制御器１８に接続しであるメ
モリ２０とが設けであるとともに、ブリッジ回路の出力
側である接続点ｃ、ｄと移相器１６の出力側とに接続し
てあり、移相器１６の出力に基づいてブリッジ回路（検
出部３０）の出力″信号を位相検波する位相検波器２２
、位相検波器２２の出力信号から雑音を除去するフィル
タ２４、フィルタ２４を透過した信号を積分する積分器
２６、積分器２６の出力を増幅する増幅器２６を備えて
いる。そして、上記した移相制御器１８には、検出コイ
ルＬ、 、Ｌ２ と被検出部材との少なくとの一方の温
度を検出する温度センサ３６の検出信号が入力するよう
になっている。
上記の如く構成した実施例の作用は、次のとおりである
。
。
検出コイルＬｌ、Ｌｍを配置した周囲環境の温度や、例
えば第２図に示した荷重センサ３０を取り付けた被検出
部材の温度が変化すると、検出コイルし１、Ｌ２や積層
体３２の温度が変化する。
えば第２図に示した荷重センサ３０を取り付けた被検出
部材の温度が変化すると、検出コイルし１、Ｌ２や積層
体３２の温度が変化する。
ところで、検出コイルＬ、 、Ｌ２の電磁気特性が全く
同じであり、かつ積層体３２が全体にわたって一様であ
れば、荷重センサに荷重か作用していない場合、周囲の
温度が変動しても検出部３０であるブリッジ回路の出力
端子となる接続点Ｃ１ｄは同電位であるはずである。と
ころが、一般に検出コイルＬ、、Ｌ２は、製作誤差や材
質のバラツキ等から電気磁気特性が異なり、また積層体
３２の電気磁気特性が部分的に異なっている。このため
、周囲温度等が変動り、被検出部材の温度が変化すると
、各検出コイルＬＬ、Ｌ２のインダクタンスが相違し、
回路ａ、ｃ、ｂと回路ａ、ｄ、ｂとでインピーダンスが
異なって、接続点ｃ、ｄ間の位相ずれを生ずる。従って
、例えば第２図の荷重センサ３０に荷重が作用していな
いにもかかわらず、温度が変化すると接点ｃ、ｄ間に電
圧が出力されてゼロ点が変動し、いわゆるドリフトを生
ずる。そこで、未実施例では、この温度の変化によるド
リフトを次のようにして補正している。
同じであり、かつ積層体３２が全体にわたって一様であ
れば、荷重センサに荷重か作用していない場合、周囲の
温度が変動しても検出部３０であるブリッジ回路の出力
端子となる接続点Ｃ１ｄは同電位であるはずである。と
ころが、一般に検出コイルＬ、、Ｌ２は、製作誤差や材
質のバラツキ等から電気磁気特性が異なり、また積層体
３２の電気磁気特性が部分的に異なっている。このため
、周囲温度等が変動り、被検出部材の温度が変化すると
、各検出コイルＬＬ、Ｌ２のインダクタンスが相違し、
回路ａ、ｃ、ｂと回路ａ、ｄ、ｂとでインピーダンスが
異なって、接続点ｃ、ｄ間の位相ずれを生ずる。従って
、例えば第２図の荷重センサ３０に荷重が作用していな
いにもかかわらず、温度が変化すると接点ｃ、ｄ間に電
圧が出力されてゼロ点が変動し、いわゆるドリフトを生
ずる。そこで、未実施例では、この温度の変化によるド
リフトを次のようにして補正している。
まず、検出コイルＬｔ、Ｌｘまたは被検出部材の温度と
検出部３０の出力信号の位相ずれとの関係を予め求めて
おき、この関係をテーブルまたは関数等にしてメモリ２
０に格納しておく。また、荷重センサ３０にサーミスタ
等の温度センサ３６を装着し、荷重センサ３０の温度を
検出して、検出信号を移相制御器１８に入力する。
検出部３０の出力信号の位相ずれとの関係を予め求めて
おき、この関係をテーブルまたは関数等にしてメモリ２
０に格納しておく。また、荷重センサ３０にサーミスタ
等の温度センサ３６を装着し、荷重センサ３０の温度を
検出して、検出信号を移相制御器１８に入力する。
交流信号源である発振器１２は、駆動されて第３図（Ａ
）に示したような正弦波の基準信号を出力する。この発
振器１２の出力信号は、出力増幅器１４と移相器１６と
に入力される。
）に示したような正弦波の基準信号を出力する。この発
振器１２の出力信号は、出力増幅器１４と移相器１６と
に入力される。
出力増幅器１４は、発振器１２の出力を増幅して検出部
３０であるブリッジ回路の入力端子となっている接続点
ａ、ｂに印加する。そして、ブリッジ回路の出力端子で
ある接続点ｃ、ｄからは、例えば第３図（Ｂ）に示した
ような、発振器１２の出力信号（基準信号）に対して９
０度位相の遅れた信号が出力される。この出力信号は、
例えば同図（Ｃ）に示したように、検出部３０の出力信
号に対して４５度位相が進んでいる（基準信号に対して
４５度位相が遅れている）荷重対応信号と、同図（Ｄ）
に示したように検出部３０の出力信号に対して４５度位
相が遅れている（基準信号に対して１３５３５度位相れ
ている）温度変動に基づく温度誤差信号からなっている
。
３０であるブリッジ回路の入力端子となっている接続点
ａ、ｂに印加する。そして、ブリッジ回路の出力端子で
ある接続点ｃ、ｄからは、例えば第３図（Ｂ）に示した
ような、発振器１２の出力信号（基準信号）に対して９
０度位相の遅れた信号が出力される。この出力信号は、
例えば同図（Ｃ）に示したように、検出部３０の出力信
号に対して４５度位相が進んでいる（基準信号に対して
４５度位相が遅れている）荷重対応信号と、同図（Ｄ）
に示したように検出部３０の出力信号に対して４５度位
相が遅れている（基準信号に対して１３５３５度位相れ
ている）温度変動に基づく温度誤差信号からなっている
。
一方、温度センサ３６は、荷重センサ３０の温度を検出
し、移相制御器１８に入力する。そして、移相制御器１
８は、温度センサ３６が検出した温度に基づいて、メモ
リ２０に格納しであるこの温度に対応した位相ずれ量を
読み出し、この位相ずれに応じて発振器１２の出力信号
を移相するよに移相器１６を制御する。
し、移相制御器１８に入力する。そして、移相制御器１
８は、温度センサ３６が検出した温度に基づいて、メモ
リ２０に格納しであるこの温度に対応した位相ずれ量を
読み出し、この位相ずれに応じて発振器１２の出力信号
を移相するよに移相器１６を制御する。
移相器１６は、移相制御器１８から側割信号を受け、発
振器１２から入力してくる信号の位相を遅らせ、第３図
（Ｅ）に示したような矩形波を出力する（もちろん、正
弦波として出力してもよしの。すなわち、移相器１６は
、基準信号に対して４５度位相が遅れており、温度誤差
信号のゼロクロスを中心とした矩形波を位相検波器２２
に送出する。そして、位相検波器２２は、移相器１６の
出力信号に基づいて検出部３０の出力信号を位相検波す
る。
振器１２から入力してくる信号の位相を遅らせ、第３図
（Ｅ）に示したような矩形波を出力する（もちろん、正
弦波として出力してもよしの。すなわち、移相器１６は
、基準信号に対して４５度位相が遅れており、温度誤差
信号のゼロクロスを中心とした矩形波を位相検波器２２
に送出する。そして、位相検波器２２は、移相器１６の
出力信号に基づいて検出部３０の出力信号を位相検波す
る。
これにより、検出部３０が出力した信号中の荷重対応信
号は、第３図（Ｅ）のように位相検波器２２から出力さ
れる。一方、温度誤差信号は、移相器１６の出力信号と
位相がずれているため、第３図（Ｇ）のように位相検波
器２２から出力される。従って、位相検波器２２の出力
信号をフィルタ２４によってノイズを除去したのち、積
分器２６に入力すれば、積分器２６からは、温度誤差信
号の成分を除去した荷重対応信号のみが出力される。こ
の積分器２６の出力信号は、増幅器２８によって増幅さ
れ、出力される。
号は、第３図（Ｅ）のように位相検波器２２から出力さ
れる。一方、温度誤差信号は、移相器１６の出力信号と
位相がずれているため、第３図（Ｇ）のように位相検波
器２２から出力される。従って、位相検波器２２の出力
信号をフィルタ２４によってノイズを除去したのち、積
分器２６に入力すれば、積分器２６からは、温度誤差信
号の成分を除去した荷重対応信号のみが出力される。こ
の積分器２６の出力信号は、増幅器２８によって増幅さ
れ、出力される。
このように、実施例においては温度の変動に基づく検出
信号の位相ずれに応じて、交流信号源である発振器１２
の出力信号の位相を移相器１６によってずらし、゛この
移相器１６の出力信号に基づいて位相検波器２２が検出
部３０の出力信号を位相検波するため、温度の変動によ
る誤差を除去または小さくすることができ、検出精度の
向上を図ることができる。
信号の位相ずれに応じて、交流信号源である発振器１２
の出力信号の位相を移相器１６によってずらし、゛この
移相器１６の出力信号に基づいて位相検波器２２が検出
部３０の出力信号を位相検波するため、温度の変動によ
る誤差を除去または小さくすることができ、検出精度の
向上を図ることができる。
なお、前記実施例においては、いわゆるブレスダクタ型
荷重センサ３０の検出コイルＬ、 、Ｌ２について場合
について説明したが、検出コイルはこれに限定されるの
ではなく、いわゆるマグネセル、トロイダル型マグネセ
ル、磁歪効果を利用した張力計、磁気スケールや位置検
出装置の検出コイル、さらにはロータリエンコーダや差
動トランス、渦流式探傷装置の検出コイル等の検出信号
に対しても適用することができる。
荷重センサ３０の検出コイルＬ、 、Ｌ２について場合
について説明したが、検出コイルはこれに限定されるの
ではなく、いわゆるマグネセル、トロイダル型マグネセ
ル、磁歪効果を利用した張力計、磁気スケールや位置検
出装置の検出コイル、さらにはロータリエンコーダや差
動トランス、渦流式探傷装置の検出コイル等の検出信号
に対しても適用することができる。
また、前記実施例においてな、移相器１６の出力信号の
パルス幅が発振器１２の出力信号の半周期に等しい場合
について説明したが、このパルス幅は温度誤差信号のゼ
ロクロスを中心とした任意の幅に設定することができる
。さらに、前記実施例においては、検出部３０の出力信
号を位相検波器２２に直接入力する場合について説明し
たが、検出部３０の出力信号に対して位相調整、ノイズ
対策、ゲイン調整をしたのち、位相検波器２２に入力す
るようにしてもよい。
パルス幅が発振器１２の出力信号の半周期に等しい場合
について説明したが、このパルス幅は温度誤差信号のゼ
ロクロスを中心とした任意の幅に設定することができる
。さらに、前記実施例においては、検出部３０の出力信
号を位相検波器２２に直接入力する場合について説明し
たが、検出部３０の出力信号に対して位相調整、ノイズ
対策、ゲイン調整をしたのち、位相検波器２２に入力す
るようにしてもよい。
なお、第４図のように、発振器１２の出力信号を位相分
割器４０に入力し、位相分割器４０によって例えば発振
器１２の出力信号と同相の００信号と、発振器１２の出
力信号と位相が９０度ずれた９０°信号とを出力し、こ
れらをそれぞれ検出部３０の出力信号が入力する位相検
波器２２ａ、２２ｂに入力し、位相検波器２２ａ、２２
ｂによって位相検波したのち、各位相検波器の出力信号
を位相回転器４２に入力して、位相回転させて荷重対応
信号だけを取り出すようにしてもよい。
割器４０に入力し、位相分割器４０によって例えば発振
器１２の出力信号と同相の００信号と、発振器１２の出
力信号と位相が９０度ずれた９０°信号とを出力し、こ
れらをそれぞれ検出部３０の出力信号が入力する位相検
波器２２ａ、２２ｂに入力し、位相検波器２２ａ、２２
ｂによって位相検波したのち、各位相検波器の出力信号
を位相回転器４２に入力して、位相回転させて荷重対応
信号だけを取り出すようにしてもよい。
以上に説明したように、本発明によれば、検出コイルと
被検出部材との少なくとのいずれか一方の温度と検出部
の出力信号の位相ずれとの関係を求め、メモリに格納し
ておき、移相制例器が入力してきた温度に基づいて、メ
モリから対応する位相ずれ量を読み出し、交流信号源が
出力した基準信号が、メモリから読み出した位相ずれに
応じた分たけ位相角がずれるように移相器を制御し、交
流信号源の出力信号を温度の変動によって位相がずれた
分に応じて移相をずらして検波回路に送り、位相検波器
がこの移相をずらせた信号によって、検出部の出力信号
を検波する。従って、温度変化に伴う検出部の出力信号
の位相ずれを補正することができ、温度変化によるドリ
フトを除去して検出精度を向上することができる。もち
ろん、温度変化の小さいとき（または問題にならないと
き）には、メモリを使わず、ある一定値だけ位相を常に
ずらして検波してもよい。そして、本発明は、温度検出
用コイルを用いるのと異なり、信号処理回路を二重に設
ける必要がなく、装置の簡素化が図れて、コストを低減
することができる。
被検出部材との少なくとのいずれか一方の温度と検出部
の出力信号の位相ずれとの関係を求め、メモリに格納し
ておき、移相制例器が入力してきた温度に基づいて、メ
モリから対応する位相ずれ量を読み出し、交流信号源が
出力した基準信号が、メモリから読み出した位相ずれに
応じた分たけ位相角がずれるように移相器を制御し、交
流信号源の出力信号を温度の変動によって位相がずれた
分に応じて移相をずらして検波回路に送り、位相検波器
がこの移相をずらせた信号によって、検出部の出力信号
を検波する。従って、温度変化に伴う検出部の出力信号
の位相ずれを補正することができ、温度変化によるドリ
フトを除去して検出精度を向上することができる。もち
ろん、温度変化の小さいとき（または問題にならないと
き）には、メモリを使わず、ある一定値だけ位相を常に
ずらして検波してもよい。そして、本発明は、温度検出
用コイルを用いるのと異なり、信号処理回路を二重に設
ける必要がなく、装置の簡素化が図れて、コストを低減
することができる。
第１図は本発明の実施例に係る検出コイルの出力信号処
理装置のブロック図、第２図は検出コイルの一例を示す
斜視図であって、ブレスダクタ型荷重センサの斜視図、
第３図は実施例の作用を説明するタイムチャート、第４
図は本発明の他の実施例を示すブロック図である。 １０−一−−−出力信号処理装置、１２− 交流信号源
（発振器）、１６− 移相器、１８ 移相制御器、２
０−・−メモリ、２２〜〜−位相検波器、３０〜・−検
出部、Ｌ 、 、Ｌ 、 −一検出コイル。 第２図 ｎ 第４図 ″ＩＯ 第３図
理装置のブロック図、第２図は検出コイルの一例を示す
斜視図であって、ブレスダクタ型荷重センサの斜視図、
第３図は実施例の作用を説明するタイムチャート、第４
図は本発明の他の実施例を示すブロック図である。 １０−一−−−出力信号処理装置、１２− 交流信号源
（発振器）、１６− 移相器、１８ 移相制御器、２
０−・−メモリ、２２〜〜−位相検波器、３０〜・−検
出部、Ｌ 、 、Ｌ 、 −一検出コイル。 第２図 ｎ 第４図 ″ＩＯ 第３図
Claims (2)
- （１）被検出部材の電磁気的変化を検出する検出部の検
出コイルに基準信号を与える交流信号源と、この交流信
号源の出力信号を受け、所定の角度だけ位相をずらして
出力する移相器と、前記検出部の出力信号が入力すると
ともに、前記移相器の出力を受けて、前記検出部の出力
信号を移相検波する位相検波器とを有することを特徴と
する検出コイルの出力信号処理装置。 - （２）被検出部材の電磁気的変化を検出する検出部の検
出コイルに基準信号を与える交流信号源と、この交流信
号源の出力信号を受け、所定の角度だけ位相をずらして
出力する移相器と、前記検出部の出力信号が入力すると
ともに、前記移相器の出力を受けて、前記検出部の出力
信号を移相検波する位相検波器と、前記検出コイルと前
記被検出部材との少なくとのいずれか一方の温度と前記
検出部の出力信号の位相ずれとの関係を示すデータを格
納したメモリと、検出された前記温度に対応した前記メ
モリ内のデータを読み出し、前記移相器の移相量を制御
する移相制御器とを有することを特徴とする検出コイル
の出力信号処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2339129A JP2533409B2 (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 検出コイルの出力信号処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2339129A JP2533409B2 (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 検出コイルの出力信号処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04204319A true JPH04204319A (ja) | 1992-07-24 |
| JP2533409B2 JP2533409B2 (ja) | 1996-09-11 |
Family
ID=18324522
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2339129A Expired - Lifetime JP2533409B2 (ja) | 1990-11-30 | 1990-11-30 | 検出コイルの出力信号処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2533409B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5889406A (en) * | 1997-04-18 | 1999-03-30 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Inductance-change detection apparatus |
| JP2006317194A (ja) * | 2005-05-10 | 2006-11-24 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | マルチセンサ信号異常検知装置および方法 |
| JP2007199060A (ja) * | 2006-01-19 | 2007-08-09 | General Electric Co <Ge> | インダクタの温度安定性を制御するための近接プローブ及びシステム |
| JP2008157907A (ja) * | 2006-11-27 | 2008-07-10 | Toyota Motor Corp | 焼入パターン検査方法及び検査装置 |
| JP2011202978A (ja) * | 2010-03-24 | 2011-10-13 | Ihi Corp | センサ検出信号の温度ドリフト補正方法及びその装置 |
| JP2016075484A (ja) * | 2014-10-02 | 2016-05-12 | アンリツインフィビス株式会社 | 金属検出機 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6454281A (en) * | 1987-08-25 | 1989-03-01 | Anritsu Corp | Metal detecting apparatus |
-
1990
- 1990-11-30 JP JP2339129A patent/JP2533409B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6454281A (en) * | 1987-08-25 | 1989-03-01 | Anritsu Corp | Metal detecting apparatus |
Cited By (6)
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| JP2016075484A (ja) * | 2014-10-02 | 2016-05-12 | アンリツインフィビス株式会社 | 金属検出機 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2533409B2 (ja) | 1996-09-11 |
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