JPH042105A - 粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサ - Google Patents
粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサInfo
- Publication number
- JPH042105A JPH042105A JP2103472A JP10347290A JPH042105A JP H042105 A JPH042105 A JP H042105A JP 2103472 A JP2103472 A JP 2103472A JP 10347290 A JP10347290 A JP 10347290A JP H042105 A JPH042105 A JP H042105A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grain boundary
- xca
- yba
- layer forming
- grain
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Ceramic Capacitors (AREA)
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサに関す
るものである。
るものである。
従来の技術
近年、この種のセラミック酸化物半導体の結晶粒界を絶
縁化することによって、これまでのセラミ、り誘電体と
比較して、実効誘電率の非常に大きなコンデンサ素体が
得られることが知られている。例えば5rTiO=を主
成分とし、これにNb2O5およびTrO□−Alz(
h−5tow系混合物を添加して成形し、焼結してなる
多結晶磁器半導体の粒界に、酸化銅(Cub)および酸
化ビスマス(Bias3)を拡散せしめ、前記結晶粒界
°に空乏層を形成し、粒界を絶縁化し電極を形成して得
た粒界絶縁型半導体コンデンサにおいては、昇圧破壊電
圧1200V/閣、絶縁抵抗的lX10’MΩ/CIの
絶縁特性を保持しながら、実効誘電率20 、000〜
100.000のごとく大きな値かえられている。なお
、ここで、拡散物質であるCub。
縁化することによって、これまでのセラミ、り誘電体と
比較して、実効誘電率の非常に大きなコンデンサ素体が
得られることが知られている。例えば5rTiO=を主
成分とし、これにNb2O5およびTrO□−Alz(
h−5tow系混合物を添加して成形し、焼結してなる
多結晶磁器半導体の粒界に、酸化銅(Cub)および酸
化ビスマス(Bias3)を拡散せしめ、前記結晶粒界
°に空乏層を形成し、粒界を絶縁化し電極を形成して得
た粒界絶縁型半導体コンデンサにおいては、昇圧破壊電
圧1200V/閣、絶縁抵抗的lX10’MΩ/CIの
絶縁特性を保持しながら、実効誘電率20 、000〜
100.000のごとく大きな値かえられている。なお
、ここで、拡散物質であるCub。
Biassの役割について記すとCuOは焼結体の結晶
粒界にあって電子トラップセンタを形成し、n型半導体
結晶の結晶粒中にあって、粒界に近い部分に存在する電
子をトラップし、粒界近傍に電子の存在しない空乏層を
形成する働きをする。粒界絶縁型半導体セラミックコン
デンサはかようにして形成された空乏層の両側に電荷を
蓄えてコンデンサを構成するのである。一方、Biz(
hはZrO□等とともに酸素の良導体として知られてお
り、粒界に存在して外部より焼結体内部まで酸素を拡散
で運搬し、粒界空乏層形成に必要な酸素を供給する働き
をするものである。
粒界にあって電子トラップセンタを形成し、n型半導体
結晶の結晶粒中にあって、粒界に近い部分に存在する電
子をトラップし、粒界近傍に電子の存在しない空乏層を
形成する働きをする。粒界絶縁型半導体セラミックコン
デンサはかようにして形成された空乏層の両側に電荷を
蓄えてコンデンサを構成するのである。一方、Biz(
hはZrO□等とともに酸素の良導体として知られてお
り、粒界に存在して外部より焼結体内部まで酸素を拡散
で運搬し、粒界空乏層形成に必要な酸素を供給する働き
をするものである。
発明が解決しようとする課題
しかしながら、このような従来の製造方法でえた粒界絶
縁型半導体セラミックコンデンサは、大きな静電容量を
得るため、焼結体中の結晶粒をできるだけ大きなものに
し、ペースト状にした酸化銅含有の酸化ビスマスなどを
、高温で焼成してえた焼結体の周囲に塗布し、しかる後
に熱処理を施すことによって旧zOs 、CuO等を焼
結体内部にまで拡散させるという方法で行なっているが
、積層型のセラミックスコンデンサの場合は電極間隔が
狭くなるため焼結体の結晶粒の粒径は抑制されねばなら
ず、また従来のこのような方法で作製した素子は、Cu
Oなとは拡散しに(くそのため特性にバラツキができや
すく、さらに厚みのあるものは内部迄七分(1こCuO
等を拡散させることが困難であるので、素子の大きさに
制限がある等の課題を有するものであった。
縁型半導体セラミックコンデンサは、大きな静電容量を
得るため、焼結体中の結晶粒をできるだけ大きなものに
し、ペースト状にした酸化銅含有の酸化ビスマスなどを
、高温で焼成してえた焼結体の周囲に塗布し、しかる後
に熱処理を施すことによって旧zOs 、CuO等を焼
結体内部にまで拡散させるという方法で行なっているが
、積層型のセラミックスコンデンサの場合は電極間隔が
狭くなるため焼結体の結晶粒の粒径は抑制されねばなら
ず、また従来のこのような方法で作製した素子は、Cu
Oなとは拡散しに(くそのため特性にバラツキができや
すく、さらに厚みのあるものは内部迄七分(1こCuO
等を拡散させることが困難であるので、素子の大きさに
制限がある等の課題を有するものであった。
課題を解決するための手段
この課題を解決するために本発明は、5rTi03を主
成分としたペロブスカイト型酸化物に、焼結促進添加剤
(0,1〜5.01%)、半導体化促進添加剤(0,0
5〜2. 0wt%)およびSr1−X−? Bax
Ca。
成分としたペロブスカイト型酸化物に、焼結促進添加剤
(0,1〜5.01%)、半導体化促進添加剤(0,0
5〜2. 0wt%)およびSr1−X−? Bax
Ca。
(Mr++zz Nb+/z)O*、(0,1〜6.0
wt%)、またはSr1−x−F Ba、 Ca、
(Cot/3 Nbz/5)Os、(O61〜5.0w
t%)、または5r1−x−y BaXCay CC
u+ys Nbz73)01、 (0,1〜10.0w
t%)、 (ただし、いずれも0≦x+y≦1)よりな
る粒界空乏層形成剤を添加し、混合、印刷・成形したの
ち高温で焼結し、半導体化した後、酸化雰囲気中850
〜1200’Cで酸化ビスマス等の拡散処理をほどこし
て粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサを得るもので
ある。
wt%)、またはSr1−x−F Ba、 Ca、
(Cot/3 Nbz/5)Os、(O61〜5.0w
t%)、または5r1−x−y BaXCay CC
u+ys Nbz73)01、 (0,1〜10.0w
t%)、 (ただし、いずれも0≦x+y≦1)よりな
る粒界空乏層形成剤を添加し、混合、印刷・成形したの
ち高温で焼結し、半導体化した後、酸化雰囲気中850
〜1200’Cで酸化ビスマス等の拡散処理をほどこし
て粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサを得るもので
ある。
作用
上記のように高温で、5rTi03を主成分としたペロ
ブスカイト型酸化物と粒界空乏層形成剤とじてSr+−
x−y Bax Cay (Mn+zz Nb+zz)
O:iまたは5rI−x−yBa、 Cay(CoIz
s Nbzzt)またはSr+−x−y Bah Ca
y(CIJ1/3 Nbz/3)のいずれかと半導体化
促進添加剤とを反応・固溶させておき、焼成時の冷却過
程で銅を含む酸化物を粒界に析出させ、また、粒界に拡
散した酸化ビスマス内を拡散して到達した酸素によって
更に銅等の粒界物質を酸化させることによって粒界に電
子のトラップセンタを形成し、還元によって形成された
低抵抗の半導体結晶内に粒界に沿って空乏層を形成する
。このようにして得た空乏層は絶縁性もよく、空乏層の
両側に電荷を蓄えて良質のコンデンサが得られるもので
ある。
ブスカイト型酸化物と粒界空乏層形成剤とじてSr+−
x−y Bax Cay (Mn+zz Nb+zz)
O:iまたは5rI−x−yBa、 Cay(CoIz
s Nbzzt)またはSr+−x−y Bah Ca
y(CIJ1/3 Nbz/3)のいずれかと半導体化
促進添加剤とを反応・固溶させておき、焼成時の冷却過
程で銅を含む酸化物を粒界に析出させ、また、粒界に拡
散した酸化ビスマス内を拡散して到達した酸素によって
更に銅等の粒界物質を酸化させることによって粒界に電
子のトラップセンタを形成し、還元によって形成された
低抵抗の半導体結晶内に粒界に沿って空乏層を形成する
。このようにして得た空乏層は絶縁性もよく、空乏層の
両側に電荷を蓄えて良質のコンデンサが得られるもので
ある。
すなわち、焼結体部の結晶粒の粒径は小さくしかもよく
揃い、粒界空乏層形成剤である酸化銅等の塗布・拡散を
必要とせず、単に、酸化ビスマス等の粒界拡散物質だけ
を塗布し空気中で熱処理を施して拡散するだけで特性の
よい、大きな粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサを
得られるものである。
揃い、粒界空乏層形成剤である酸化銅等の塗布・拡散を
必要とせず、単に、酸化ビスマス等の粒界拡散物質だけ
を塗布し空気中で熱処理を施して拡散するだけで特性の
よい、大きな粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサを
得られるものである。
実施例
本発明の一実施例の粒界絶縁型半導体セラミックコンデ
ンサについて、以下の各実施例に基づいて説明する。な
お、第1図は粒界絶縁型半導体コンデンサの斜視図であ
り、1■は粒界絶縁型半導体セラミンクス、12は電極
、13はリード線である。
ンサについて、以下の各実施例に基づいて説明する。な
お、第1図は粒界絶縁型半導体コンデンサの斜視図であ
り、1■は粒界絶縁型半導体セラミンクス、12は電極
、13はリード線である。
(実施例1)
蓚酸チタニルストロンチウム (SrTiO(CzOa
)・4H,0)を熱分解してえたチタン酸ストロンチウ
ム(SrTiO3)に焼結促進剤Ti0z−AhOs−
5i(h(20:35:45−を比)を0.05〜6.
0wt%、半導体化促進剤Nbzosを0.02〜3.
0wt%、粒界空乏層形成剤Sr (Mn + yz
Nb+7z)Oゴを0.05〜B、0wt%添加し、よ
く混合したのち、900”Cにて仮焼した。湿式粉砕の
後、乾燥、造粒、成型して、大気中1400℃にて焼結
し、再び湿式粉砕の後、樹脂及び有機溶剤をもちいてペ
ースト化し、電極用白金ペーストと交互に印刷し、13
00℃にて水素還元し、酸化ビスマスを塗布したあと大
気中950℃にて熱処理し、電極を調整して電気特性を
測定した。測定結果を第1表に示す。
)・4H,0)を熱分解してえたチタン酸ストロンチウ
ム(SrTiO3)に焼結促進剤Ti0z−AhOs−
5i(h(20:35:45−を比)を0.05〜6.
0wt%、半導体化促進剤Nbzosを0.02〜3.
0wt%、粒界空乏層形成剤Sr (Mn + yz
Nb+7z)Oゴを0.05〜B、0wt%添加し、よ
く混合したのち、900”Cにて仮焼した。湿式粉砕の
後、乾燥、造粒、成型して、大気中1400℃にて焼結
し、再び湿式粉砕の後、樹脂及び有機溶剤をもちいてペ
ースト化し、電極用白金ペーストと交互に印刷し、13
00℃にて水素還元し、酸化ビスマスを塗布したあと大
気中950℃にて熱処理し、電極を調整して電気特性を
測定した。測定結果を第1表に示す。
なお、焼結促進剤Ti02−AlzO)−3iO□(2
0: 35 : 45w を比)は、市販のTiCl2
、A1□O:+ 、SiO□の粉体を20:35 :
45の重量比で坪量・混合し、1200℃にて仮焼し、
粉砕して得た。更に粒界空乏層形成剤Sr(Mn+/z
Nb1yJO3は、市販の5rCO* 、MnO、N
btOsを混合し、900℃にて仮焼し、粉砕して得た
。
0: 35 : 45w を比)は、市販のTiCl2
、A1□O:+ 、SiO□の粉体を20:35 :
45の重量比で坪量・混合し、1200℃にて仮焼し、
粉砕して得た。更に粒界空乏層形成剤Sr(Mn+/z
Nb1yJO3は、市販の5rCO* 、MnO、N
btOsを混合し、900℃にて仮焼し、粉砕して得た
。
(以下余白)
第1表
第1表より明らかなごと(,5rTiO+に焼結促進剤
Ti0z−AIz03−5iO2が0.1〜5.0wt
%、半導体化促進剤NbzOsが0.05〜2.0wt
%、粒界空乏層形成剤Sr(Mn+zz Nb+y□)
Osが0.1〜6.0wt%添加され焼成されて得た本
材料は極めて優れたjan δ値が小さい誘電体特性を
示し、コンデンサとして使用できる。即ち顕微鏡観察の
結果、焼結体の微粒子は粒径がよくそろっていて2.0
〜4,0μ−で、誘電体損失は1.0%以下、見かけ誘
電率は2,000以上であった。その他静電容量の温度
係数、絶縁抵抗、昇圧破壊電圧、等個直列抵抗などの測
定を行ったが満足出来る値をえた。なお、焼結促進剤が
5%を越えると焼結体が互いに変形し、付着して実用的
でない。
Ti0z−AIz03−5iO2が0.1〜5.0wt
%、半導体化促進剤NbzOsが0.05〜2.0wt
%、粒界空乏層形成剤Sr(Mn+zz Nb+y□)
Osが0.1〜6.0wt%添加され焼成されて得た本
材料は極めて優れたjan δ値が小さい誘電体特性を
示し、コンデンサとして使用できる。即ち顕微鏡観察の
結果、焼結体の微粒子は粒径がよくそろっていて2.0
〜4,0μ−で、誘電体損失は1.0%以下、見かけ誘
電率は2,000以上であった。その他静電容量の温度
係数、絶縁抵抗、昇圧破壊電圧、等個直列抵抗などの測
定を行ったが満足出来る値をえた。なお、焼結促進剤が
5%を越えると焼結体が互いに変形し、付着して実用的
でない。
(実施例2)
市販の工業用チタン酸ストロンチウム(SrTiOi)
に5r04azOs系(例えば40:6ht比) 、T
iOz−MgO−3tCh系(例えば30:30:40
iit比) 、TiOz−MnO−SiO2系(例えば
10:50:40sit比) 、CaO−Mg0−Al
2O2−5iOt系(例えば30:10:15:45w
t比) 、TiO□−^hoz−3iO□系(例えば2
0:35:45wt%比) 、Zn0−NbzOs−S
iO2系(例えば50:45: 5 wt%比) 、Z
rJ−MnO−3iO2系(例えば10:55:35w
t%比)から選ばれた焼結促進剤を2.0wt%、半導
体化促進剤Ytosを0.4wt%、粒界空乏層形成剤
Sr(Mn+zz Nb+zz)Osを0.05〜8.
0iit%添加し、よく混合したのち、900″Cにて
仮焼した。湿式粉砕の後、乾燥、造粒、成型して、窒素
95%−水素5%よりなる還元雰囲気中1380”Cに
て焼成し、酸化ビスマスを塗布したあと大気中950℃
にて熱処理し、電極を形成して電気特性を測定した。測
定結果を第2表に示す、なお、焼結促進剤は、例えばT
iO,−MgO−3iOz(30:30:40wt比)
は、市販(D T i Ot、MgO,5iOz(7)
粉体を30:30:40の重量比で坪量・混合し、12
00℃にて仮焼し、粉砕して得た。更に粒界空乏層形成
剤は、市販のSrCO3゜MnO、Nb105を混合し
、900℃にて仮焼し、粉砕して得た。
に5r04azOs系(例えば40:6ht比) 、T
iOz−MgO−3tCh系(例えば30:30:40
iit比) 、TiOz−MnO−SiO2系(例えば
10:50:40sit比) 、CaO−Mg0−Al
2O2−5iOt系(例えば30:10:15:45w
t比) 、TiO□−^hoz−3iO□系(例えば2
0:35:45wt%比) 、Zn0−NbzOs−S
iO2系(例えば50:45: 5 wt%比) 、Z
rJ−MnO−3iO2系(例えば10:55:35w
t%比)から選ばれた焼結促進剤を2.0wt%、半導
体化促進剤Ytosを0.4wt%、粒界空乏層形成剤
Sr(Mn+zz Nb+zz)Osを0.05〜8.
0iit%添加し、よく混合したのち、900″Cにて
仮焼した。湿式粉砕の後、乾燥、造粒、成型して、窒素
95%−水素5%よりなる還元雰囲気中1380”Cに
て焼成し、酸化ビスマスを塗布したあと大気中950℃
にて熱処理し、電極を形成して電気特性を測定した。測
定結果を第2表に示す、なお、焼結促進剤は、例えばT
iO,−MgO−3iOz(30:30:40wt比)
は、市販(D T i Ot、MgO,5iOz(7)
粉体を30:30:40の重量比で坪量・混合し、12
00℃にて仮焼し、粉砕して得た。更に粒界空乏層形成
剤は、市販のSrCO3゜MnO、Nb105を混合し
、900℃にて仮焼し、粉砕して得た。
(以下余白ン
第2表より明らかなごとく、5rTi03にTiOz2
−MgO−5inなどの焼結促進剤が2.0wt%、半
導体化促進剤Y2O3が0.4wt%、粒界空乏層形成
剤が0.1〜6.0wt%添加され焼成されて得た本材
料は極めて優れた誘電体特性を示し、コンデンサとして
使用できる。即ち顕微鏡観察の結果、焼結体の微粒子は
それぞれの組成で粒径がよくそろっていて2.0〜4.
0μmで、誘電体損失は1.0%以下、見かけ誘電率は
2.000以上であった。その他静電容量の温度係数、
絶縁抵抗、昇圧破壊電圧、等価直列抵抗などの測定を行
ったが満足出来る値をえた。なお、焼結促進剤が5%以
上になると焼結体が互い第3表 に変形し、付着して実用的でない。
−MgO−5inなどの焼結促進剤が2.0wt%、半
導体化促進剤Y2O3が0.4wt%、粒界空乏層形成
剤が0.1〜6.0wt%添加され焼成されて得た本材
料は極めて優れた誘電体特性を示し、コンデンサとして
使用できる。即ち顕微鏡観察の結果、焼結体の微粒子は
それぞれの組成で粒径がよくそろっていて2.0〜4.
0μmで、誘電体損失は1.0%以下、見かけ誘電率は
2.000以上であった。その他静電容量の温度係数、
絶縁抵抗、昇圧破壊電圧、等価直列抵抗などの測定を行
ったが満足出来る値をえた。なお、焼結促進剤が5%以
上になると焼結体が互い第3表 に変形し、付着して実用的でない。
(実施例3)
市販の工業用チタン酸ストロンチウム(SrTiO3)
にTi(h−MgO−5iOz系(例えば30:30:
4(:ht比)の焼結促進剤を4.0wt%、半導体促
進剤間、 、Nb、O,、Ta2’s 、La2O2、
Y2O3を1.Qwt%、粒界空乏層形成剤Sr6.
* Baa、 + Cao、 + (Mn+zz Nb
+yz)Oz、Sro、 aBa6.x Cao、s(
Mn+/z Nb+zz)Osを2.0wt%添加し、
よく混合したのち、900℃にて仮焼した。湿式粉砕の
後、乾燥、造粒、成型して、窒素95%−水素5%より
なる還元雰囲気中1380℃にて焼成し、酸化ビスマス
を塗布したあと大気中950℃にて熱処理し、電極を形
成して電気特性を測定した。測定結果を第3表に示す。
にTi(h−MgO−5iOz系(例えば30:30:
4(:ht比)の焼結促進剤を4.0wt%、半導体促
進剤間、 、Nb、O,、Ta2’s 、La2O2、
Y2O3を1.Qwt%、粒界空乏層形成剤Sr6.
* Baa、 + Cao、 + (Mn+zz Nb
+yz)Oz、Sro、 aBa6.x Cao、s(
Mn+/z Nb+zz)Osを2.0wt%添加し、
よく混合したのち、900℃にて仮焼した。湿式粉砕の
後、乾燥、造粒、成型して、窒素95%−水素5%より
なる還元雰囲気中1380℃にて焼成し、酸化ビスマス
を塗布したあと大気中950℃にて熱処理し、電極を形
成して電気特性を測定した。測定結果を第3表に示す。
なお、焼結促進剤は、例えばTiOz−MgO−5iC
h系(30:30 : 40w を比)は、市販のTi
O2,MgO,5iO1の粉体を30:30:40の重
量比で坪量・混合し、1200℃にて仮焼し、粉砕して
得た。
h系(30:30 : 40w を比)は、市販のTi
O2,MgO,5iO1の粉体を30:30:40の重
量比で坪量・混合し、1200℃にて仮焼し、粉砕して
得た。
更に粒界空乏層形成剤は、市販のSrCO2、BaC0
,、MnO、NbJsを混合し、900℃にて仮焼し、
粉砕して得た。
,、MnO、NbJsを混合し、900℃にて仮焼し、
粉砕して得た。
第3表より明らかなご(!: < 、SrTiO3ニT
iO,−MgO5iO2などの焼結促進剤が4.0wt
%、半導体化促進剤Y20.が1.0wt%、粒界空乏
層形成剤が2.0wt%添加され焼成されて得た本材料
は優れた誘電体特性を示し、コンデンサとして使用でき
る。即ち顕微鏡観察の結果、焼結体の微粒子はそれぞれ
の組成で粒径がよくそろっていて2〜3μ−で、誘電体
損失は1.0%以下、見かけ誘電率は2,000以上で
あった。その他静電容量の温度係数、絶縁抵抗、昇圧破
壊電圧、等価直列抵抗などの測定を行ったが満足出来る
値をえた。なお、焼結促進剤が5%以上になると焼結体
が互いに変形し、付着して実用的でない。
iO,−MgO5iO2などの焼結促進剤が4.0wt
%、半導体化促進剤Y20.が1.0wt%、粒界空乏
層形成剤が2.0wt%添加され焼成されて得た本材料
は優れた誘電体特性を示し、コンデンサとして使用でき
る。即ち顕微鏡観察の結果、焼結体の微粒子はそれぞれ
の組成で粒径がよくそろっていて2〜3μ−で、誘電体
損失は1.0%以下、見かけ誘電率は2,000以上で
あった。その他静電容量の温度係数、絶縁抵抗、昇圧破
壊電圧、等価直列抵抗などの測定を行ったが満足出来る
値をえた。なお、焼結促進剤が5%以上になると焼結体
が互いに変形し、付着して実用的でない。
(実施例4)
蓚酸チタニルストロンチウム(SrTiO(CaO4)
・4H,O)を熱分解してえたチタン酸ストロンチウム
(Sr丁jOz) Lこ焼結促進剤子jog−AhOs
−3iOz(20:35:45−を比)を0.05〜6
.0wt%、半導体化促進剤Nb、o。
・4H,O)を熱分解してえたチタン酸ストロンチウム
(Sr丁jOz) Lこ焼結促進剤子jog−AhOs
−3iOz(20:35:45−を比)を0.05〜6
.0wt%、半導体化促進剤Nb、o。
を0.02〜3.0 iet%、粒界空乏層形成剤5r
(Culz3Nb*z3)Oxを0.05〜6. 0w
t%t%し、よく混合したのち、900℃にて仮焼した
。湿式粉砕の後、乾燥、造粒、成型して、大気中140
0”Cにて焼結し、再び湿式粉砕の後、樹脂及び有機溶
剤をもちいてベースト化し、電極用白金ペーストと交互
に印刷し、1300℃にて水素還元し、酸化ビスマスを
塗布したあと大気中950″Cにて熱処理し、電極を調
整して電気特性を測定した。測定結果を第4表に示す。
(Culz3Nb*z3)Oxを0.05〜6. 0w
t%t%し、よく混合したのち、900℃にて仮焼した
。湿式粉砕の後、乾燥、造粒、成型して、大気中140
0”Cにて焼結し、再び湿式粉砕の後、樹脂及び有機溶
剤をもちいてベースト化し、電極用白金ペーストと交互
に印刷し、1300℃にて水素還元し、酸化ビスマスを
塗布したあと大気中950″Cにて熱処理し、電極を調
整して電気特性を測定した。測定結果を第4表に示す。
なお、焼結促進剤TiO□−AIz03−5iO□(2
0:35:45wt比)は、市販のTi0z、Alt(
h 、5iOzの粉体を20:35:45の重量比で坪
量・混合し、1200℃にて仮焼し、粉砕して得た。更
に粒界空乏層形成剤5r(Cu+7s Nt+zz*)
0+ は、市販の5rCO,、CuO、Nb2O5を混
合し、900’Cにて仮焼し、粉砕して得た。
0:35:45wt比)は、市販のTi0z、Alt(
h 、5iOzの粉体を20:35:45の重量比で坪
量・混合し、1200℃にて仮焼し、粉砕して得た。更
に粒界空乏層形成剤5r(Cu+7s Nt+zz*)
0+ は、市販の5rCO,、CuO、Nb2O5を混
合し、900’Cにて仮焼し、粉砕して得た。
第4表より明らかなごとく、5rTi(hに焼結促進剤
Ti0z−Alz03−5i(hが0.1〜5.0wt
%、半導体化促進剤NbzOsが0.05〜2.Qwt
%、粒界空乏層形成剤5rCCu+/s Nbzy3)
Oxが0.1〜5.0wt%添加され焼成されて得た本
材料は掻めて優れた誘電体特性を示し、コンデンサとし
て使用できる。即ち顕微鏡観察の結果、焼結体の微粒子
は粒径がよくそろっていて2.0〜4.0μ■で、誘電
体損失は1.0%以下、見かけ誘電率は2,500以上
であった。その低静電容量の温度係数、絶縁抵抗、昇圧
破壊電圧、等個直列抵抗などの測定を行ったが満足出来
る値をえた。なお、焼結促進剤が5%以上になると焼結
体が互いに変形し、付着して実用的でない。
Ti0z−Alz03−5i(hが0.1〜5.0wt
%、半導体化促進剤NbzOsが0.05〜2.Qwt
%、粒界空乏層形成剤5rCCu+/s Nbzy3)
Oxが0.1〜5.0wt%添加され焼成されて得た本
材料は掻めて優れた誘電体特性を示し、コンデンサとし
て使用できる。即ち顕微鏡観察の結果、焼結体の微粒子
は粒径がよくそろっていて2.0〜4.0μ■で、誘電
体損失は1.0%以下、見かけ誘電率は2,500以上
であった。その低静電容量の温度係数、絶縁抵抗、昇圧
破壊電圧、等個直列抵抗などの測定を行ったが満足出来
る値をえた。なお、焼結促進剤が5%以上になると焼結
体が互いに変形し、付着して実用的でない。
(実施例5)
市販の工業用チタン酸ストロンチウム(SrTi(h)
にTiO,−MgO−5iOz系(例えば30 : 3
0 : 40w を比)、TiO□−MnO−5iOz
系(例えば10:50:40wt比) 、CaO−Mg
0A1z03−5iO1系(例えば30:10:15:
45wt比) 、Ti0l−AIzol−5iO1系(
例えば20:35:45st%比) 、Zn0−Nb*
03−5iOz系(例えば50:45: 5 wt%比
)、ZrOzMnO−5iO2系(例えば10 :55
: 35w t%比)から選ばれた焼結促進剤を2.
0wt%、半導体化促進剤Y2O3を04−t%、粒界
空乏層形成剤5r(Cu+z:+ Nbzz3)03を
0.05〜6.0wt%添加し、よく混合したのち、9
00℃にて仮焼した。湿式粉砕の後、乾燥、造粒、成型
して、窒素95%−水素5%よりなる還元雰囲気中13
80℃にて焼成し、酸化ビスマスを塗布したあと大気中
950’Cにて熱処理し、電極を形成して電気特性を測
定した。測定結果を第5表に示す。
にTiO,−MgO−5iOz系(例えば30 : 3
0 : 40w を比)、TiO□−MnO−5iOz
系(例えば10:50:40wt比) 、CaO−Mg
0A1z03−5iO1系(例えば30:10:15:
45wt比) 、Ti0l−AIzol−5iO1系(
例えば20:35:45st%比) 、Zn0−Nb*
03−5iOz系(例えば50:45: 5 wt%比
)、ZrOzMnO−5iO2系(例えば10 :55
: 35w t%比)から選ばれた焼結促進剤を2.
0wt%、半導体化促進剤Y2O3を04−t%、粒界
空乏層形成剤5r(Cu+z:+ Nbzz3)03を
0.05〜6.0wt%添加し、よく混合したのち、9
00℃にて仮焼した。湿式粉砕の後、乾燥、造粒、成型
して、窒素95%−水素5%よりなる還元雰囲気中13
80℃にて焼成し、酸化ビスマスを塗布したあと大気中
950’Cにて熱処理し、電極を形成して電気特性を測
定した。測定結果を第5表に示す。
なお、焼結促進剤は、例えばTiO□−Mgo−sio
、系(30:30:40wt比)は、市販のTie、、
MgO、5i02の粉体を30:30:40の重量比で
坪量・混合し、1200’Cにて仮焼し、粉砕して得た
。更に粒界空乏層形成剤は、市販の5rCOz 、Cu
O、NbzOsを混合し、900℃にて仮焼し、粉砕し
て得た。
、系(30:30:40wt比)は、市販のTie、、
MgO、5i02の粉体を30:30:40の重量比で
坪量・混合し、1200’Cにて仮焼し、粉砕して得た
。更に粒界空乏層形成剤は、市販の5rCOz 、Cu
O、NbzOsを混合し、900℃にて仮焼し、粉砕し
て得た。
似下余白)
第5表
第5表より明らかなごと(,5rTiOsにTiO□−
MgO3iO□などの焼結促進剤が2.0wt%、半導
体化促進A’l] y z O3が0.4wt%、粒界
空乏層形成剤が0.1〜5、Qwt%添加され焼成され
て得た本材料は極めて優れた誘電体特性を示し、コンデ
ンサとして使用できる。即ち顕微鏡観察の結果、焼結体
の微粒子はそれぞれの組成で粒径がよくそろっていて2
.0〜4.0μmで、誘電体損失は1.0%以下、見か
け誘電率は2,500以上であった。その他静電容量の
温度係数、絶縁抵抗、昇圧破壊電圧、等価直列抵抗など
の測定を行ったが満足出来る値をえた。なお、焼結促進
剤が5%以上になると焼結体が互いに変形し、付着して
実用的でない。
MgO3iO□などの焼結促進剤が2.0wt%、半導
体化促進A’l] y z O3が0.4wt%、粒界
空乏層形成剤が0.1〜5、Qwt%添加され焼成され
て得た本材料は極めて優れた誘電体特性を示し、コンデ
ンサとして使用できる。即ち顕微鏡観察の結果、焼結体
の微粒子はそれぞれの組成で粒径がよくそろっていて2
.0〜4.0μmで、誘電体損失は1.0%以下、見か
け誘電率は2,500以上であった。その他静電容量の
温度係数、絶縁抵抗、昇圧破壊電圧、等価直列抵抗など
の測定を行ったが満足出来る値をえた。なお、焼結促進
剤が5%以上になると焼結体が互いに変形し、付着して
実用的でない。
3実施べ5)
プ+−り
市販の工業用チタン酸ストロンチウム(SrTiOa)
にTi02−MgO−3iO□系(例えば30:30:
40wt比)の焼結促進剤を4.0wt%、半導体促進
剤−0ff、Nb2O5、Ta2es 、LazOz
、YzO3を1.Qwt%、粒界空乏層形成剤Sro、
s Ba0. Cao、1(Cu+yz Nb+zz)
03、Sr6.。
にTi02−MgO−3iO□系(例えば30:30:
40wt比)の焼結促進剤を4.0wt%、半導体促進
剤−0ff、Nb2O5、Ta2es 、LazOz
、YzO3を1.Qwt%、粒界空乏層形成剤Sro、
s Ba0. Cao、1(Cu+yz Nb+zz)
03、Sr6.。
Bao、3Cao、3CCu+/z Nb+zz)Oz
を2.Qwt%添加し、よく混合したのち、900℃に
て仮焼した。湿式粉砕の後、乾燥、造粒、成型して、窒
素95%−水素5%よりなる還元雰囲気中1380℃に
て焼成し、酸化ビスマスを塗布したあと大気中950℃
にて熱処理し、電極を形成して電気特性を測定した。測
定結果を第6表に示す。なお、焼結促進剤は、例えばT
iOz−MgO−5i(h (30:30:40wt比
)は、市販のTi(h、MgO、SiO2の粉体を30
:30:40の重量比で坪量・混合し、1200℃にて
仮焼し、粉砕して得た。更に粒界空乏層形成剤は、市販
の5rCO,、BaCO3、CaCO3、CuO、Nb
、Osを混合し、900℃にて仮焼し、粉砕して得た。
を2.Qwt%添加し、よく混合したのち、900℃に
て仮焼した。湿式粉砕の後、乾燥、造粒、成型して、窒
素95%−水素5%よりなる還元雰囲気中1380℃に
て焼成し、酸化ビスマスを塗布したあと大気中950℃
にて熱処理し、電極を形成して電気特性を測定した。測
定結果を第6表に示す。なお、焼結促進剤は、例えばT
iOz−MgO−5i(h (30:30:40wt比
)は、市販のTi(h、MgO、SiO2の粉体を30
:30:40の重量比で坪量・混合し、1200℃にて
仮焼し、粉砕して得た。更に粒界空乏層形成剤は、市販
の5rCO,、BaCO3、CaCO3、CuO、Nb
、Osを混合し、900℃にて仮焼し、粉砕して得た。
(以下余白ン
第6表
第6表より明らかなごとく、5rTi03にTi02−
MgO−5iO□などの焼結促進剤が4.Qwt%、半
導体化促進剤Y!03が1.0wt%、粒界空乏層形成
剤が2.Qwt%添加され焼成されて得た本材料は優れ
た誘電体特性を示し、コンデンサとして使用できる。即
ち顕微鏡観察の結果、焼結体の微粒子はそれぞれの組成
で粒径がよくそろっていて2〜3μ請で、誘電体損失は
1.0%以下、見かけ誘電率は2,000以上であった
。その他静電容量の温度係数、絶縁抵抗、昇圧破壊電圧
、等個直列抵抗などの測定を行ったが満足出来る値をえ
た。なお、焼結促進剤が5%以上になると焼結体が互い
に変形し、付着して実用的でない。
MgO−5iO□などの焼結促進剤が4.Qwt%、半
導体化促進剤Y!03が1.0wt%、粒界空乏層形成
剤が2.Qwt%添加され焼成されて得た本材料は優れ
た誘電体特性を示し、コンデンサとして使用できる。即
ち顕微鏡観察の結果、焼結体の微粒子はそれぞれの組成
で粒径がよくそろっていて2〜3μ請で、誘電体損失は
1.0%以下、見かけ誘電率は2,000以上であった
。その他静電容量の温度係数、絶縁抵抗、昇圧破壊電圧
、等個直列抵抗などの測定を行ったが満足出来る値をえ
た。なお、焼結促進剤が5%以上になると焼結体が互い
に変形し、付着して実用的でない。
(実施例7)
蓚酸チタニルストロンチウム (SrTiO(CzO4
)・4820)を熱分解してえたチタン酸ストロンチウ
ム(SrTiOi)に焼結促進剤Ti0z−Alz03
−SiOz(20:35:45−を比)を0.05〜6
.0wt%、半導体化促進剤Nb2O5を0.02〜3
. 0wt%、粒界空乏層形成剤5r(CoI2.JN
tlz7x)03を0.05〜12.0wt%添加し、
よく混合したのち、900℃にて仮焼した。湿式粉砕の
後、乾燥、造粒、成型して、大気中1400℃にて焼結
し、再び湿式粉砕の後、樹脂及び有機溶剤をもちいてペ
ースト化し、電極用白金ペーストと交互に印刷し、13
00℃にて水素還元し、酸化ビスマスを塗布したあと大
気中1150℃にて熱処理し、電極を調整して電気特性
を測定した。測定結果を第7表に示す。
)・4820)を熱分解してえたチタン酸ストロンチウ
ム(SrTiOi)に焼結促進剤Ti0z−Alz03
−SiOz(20:35:45−を比)を0.05〜6
.0wt%、半導体化促進剤Nb2O5を0.02〜3
. 0wt%、粒界空乏層形成剤5r(CoI2.JN
tlz7x)03を0.05〜12.0wt%添加し、
よく混合したのち、900℃にて仮焼した。湿式粉砕の
後、乾燥、造粒、成型して、大気中1400℃にて焼結
し、再び湿式粉砕の後、樹脂及び有機溶剤をもちいてペ
ースト化し、電極用白金ペーストと交互に印刷し、13
00℃にて水素還元し、酸化ビスマスを塗布したあと大
気中1150℃にて熱処理し、電極を調整して電気特性
を測定した。測定結果を第7表に示す。
なお、焼結促進剤Ti(h−AI 、(h−5iO□(
20: 35 : 45w を比)は、市販のTiO2
、A1.O,、SiO□の粉体を20=35:45の重
量比で坪量・混合し、1200℃にて仮焼し、粉砕して
得た。更に粒界空乏層形成剤5r(Co+zi Nbz
zi)Oxは、市販のSrCO3、Coo 、 Nbz
Osを混合し、900℃にて仮焼し、粉砕して得た。
20: 35 : 45w を比)は、市販のTiO2
、A1.O,、SiO□の粉体を20=35:45の重
量比で坪量・混合し、1200℃にて仮焼し、粉砕して
得た。更に粒界空乏層形成剤5r(Co+zi Nbz
zi)Oxは、市販のSrCO3、Coo 、 Nbz
Osを混合し、900℃にて仮焼し、粉砕して得た。
(以下余白)
第7表より明らかなごと(,5rTi(hに焼結促進剤
Ti01− AIzOs−5iO2が0.1〜5.0w
t%、半導体化促進剤Nb、O5が0.05〜2.Qw
t%、粒界空乏層形成剤5r(Co+z+ Nbzz+
)Oxが0.1−10.0wt%添加され焼成されて得
た本材料は極めて優れた誘電体特性ヲ示し、コンデンサ
として使用できる。即ち顕微鏡観察の結果、焼結体の微
粒子は粒径がよくそろっていて2.0〜4.0μmで、
誘電体損失は1.0%以下、見かけ誘電率は2.500
以上であった。その他静電容量の温度係数、絶縁抵抗、
昇圧破壊電圧、等価直列抵抗などの測定を行ったが満足
出来る値をえた。なお、焼結促進剤が5%以上になると
焼結体が互いに変形し、付着して実用的でない。
Ti01− AIzOs−5iO2が0.1〜5.0w
t%、半導体化促進剤Nb、O5が0.05〜2.Qw
t%、粒界空乏層形成剤5r(Co+z+ Nbzz+
)Oxが0.1−10.0wt%添加され焼成されて得
た本材料は極めて優れた誘電体特性ヲ示し、コンデンサ
として使用できる。即ち顕微鏡観察の結果、焼結体の微
粒子は粒径がよくそろっていて2.0〜4.0μmで、
誘電体損失は1.0%以下、見かけ誘電率は2.500
以上であった。その他静電容量の温度係数、絶縁抵抗、
昇圧破壊電圧、等価直列抵抗などの測定を行ったが満足
出来る値をえた。なお、焼結促進剤が5%以上になると
焼結体が互いに変形し、付着して実用的でない。
(実施例8)
市販の工業用チタン酸ストロンチウム (SrTi03
)にSrO−BaO系(例えば75:25iit比)
、TiO02−Mg03iO系(例えば30:30:4
0wt比) 、TiOz−MnO−5iOz系(例えば
10:50:40wt比) 、CaO−Mg0−Alz
O3−SiO2系(例えば30:10:15:45wt
比) 、TiO□−AIz03−5iO□系(例えば2
0:35:45wt%比) 、ZnO−Nb20s−5
iOz系(例えば50:45: 5 wt%比) 、Z
rO2−Mn0−5iO2系(例えば10:55:35
iyt%比)から選ばれた焼結促進剤を2.9wt%、
半導体化促進剤Y20.をQ、4wt%、粒界空乏層形
成剤5r(Co+7z Nbzz:+)03を0.05
〜12.0wt%添加し、よく混合したのち、900℃
にて仮焼した。湿式粉砕の後、乾燥、造粒、成型して、
窒素95%−水素5%よりなる還元雰囲気中1380℃
にて焼成し、酸化ビスマスを塗布したあと大気中115
0℃にて熱処理し、電極を形成して電気特性を測定した
。測定結果を第8表に示す。なお、焼結促進剤は、例え
ばTiO□−MgO−5iO□系(30:30 : 4
0w を比)は、市販のTie、、MgO、5in2の
粉体を30:30:40の重量比で坪量・混合し、12
00℃にて仮焼し、粉砕して得た。更に粒界空乏層形成
剤は、市販のSrCO3、Coo 、Nbz05を混合
し、900℃にて仮焼し、粉砕して得た。
)にSrO−BaO系(例えば75:25iit比)
、TiO02−Mg03iO系(例えば30:30:4
0wt比) 、TiOz−MnO−5iOz系(例えば
10:50:40wt比) 、CaO−Mg0−Alz
O3−SiO2系(例えば30:10:15:45wt
比) 、TiO□−AIz03−5iO□系(例えば2
0:35:45wt%比) 、ZnO−Nb20s−5
iOz系(例えば50:45: 5 wt%比) 、Z
rO2−Mn0−5iO2系(例えば10:55:35
iyt%比)から選ばれた焼結促進剤を2.9wt%、
半導体化促進剤Y20.をQ、4wt%、粒界空乏層形
成剤5r(Co+7z Nbzz:+)03を0.05
〜12.0wt%添加し、よく混合したのち、900℃
にて仮焼した。湿式粉砕の後、乾燥、造粒、成型して、
窒素95%−水素5%よりなる還元雰囲気中1380℃
にて焼成し、酸化ビスマスを塗布したあと大気中115
0℃にて熱処理し、電極を形成して電気特性を測定した
。測定結果を第8表に示す。なお、焼結促進剤は、例え
ばTiO□−MgO−5iO□系(30:30 : 4
0w を比)は、市販のTie、、MgO、5in2の
粉体を30:30:40の重量比で坪量・混合し、12
00℃にて仮焼し、粉砕して得た。更に粒界空乏層形成
剤は、市販のSrCO3、Coo 、Nbz05を混合
し、900℃にて仮焼し、粉砕して得た。
(以下余白)
第8表
第8表より明らかなごとく、5rTi03にTiO2−
MgO3iO□などの焼結促進剤が2.9wt%、半導
体化促進剤Y!03が0.4wt%、粒界空乏層形成剤
が0.1〜10.0iet%添加され焼成されて得た本
材料は極めて優れた誘電体特性を示し、コンデンサとし
て使用できる。即ち顕微鏡観察の結果、焼結体の微粒子
はそれぞれの組成で粒径がよくそろっていて2.0〜4
.0μ謡で、誘電体損失は1.0%以下、見かけ誘電率
は2.500以上であった。その他静電容量の温度係数
、絶縁抵抗、昇圧破壊電圧、等価直列抵抗などの測定を
行ったが満足出来る値をえた。なお、焼結促進剤が5%
以上になると焼結体が互いに変形し、付着して実用的で
ない。
MgO3iO□などの焼結促進剤が2.9wt%、半導
体化促進剤Y!03が0.4wt%、粒界空乏層形成剤
が0.1〜10.0iet%添加され焼成されて得た本
材料は極めて優れた誘電体特性を示し、コンデンサとし
て使用できる。即ち顕微鏡観察の結果、焼結体の微粒子
はそれぞれの組成で粒径がよくそろっていて2.0〜4
.0μ謡で、誘電体損失は1.0%以下、見かけ誘電率
は2.500以上であった。その他静電容量の温度係数
、絶縁抵抗、昇圧破壊電圧、等価直列抵抗などの測定を
行ったが満足出来る値をえた。なお、焼結促進剤が5%
以上になると焼結体が互いに変形し、付着して実用的で
ない。
(実施例9)
市販の工業用チタン酸ストロンチウム (SrTiOz
)にTiOz−MgO−5iO□系(例えば30 :
30 : 40w を比)の焼結促進剤を4.011t
%、半導体促進剤−03、Nb2O3、Taz05 、
LazOz 、YzO+を1.3wt%、粒界空乏層形
成剤Sro、a Bao、+ Cao、+(CoIz3
Nbzy3)Os、Sra、 aBao、 3 Cao
、 z(CCxys Nbty3)Chを2.0wt%
添加し、よく混合したのち、900℃にて仮焼した。湿
式粉砕の後、乾燥、造粒、成型して、窒素95%−水素
5%よりなる還元雰囲気中1380℃にて焼成し、酸化
ビスマスを塗布したあと大気中1150’Cにて熱処理
し、電極を形成して電気特性を測定した。測定結果を第
9表に示す。なお、焼結促進剤は、例えばTi07−M
gO−5iO□系(30:30:40wt比)は、市販
のTiO□、MgO、SiO□の粉体を30:30:4
0の重量比で坪量・混合し、1200℃にて仮焼し、粉
砕して得た。
)にTiOz−MgO−5iO□系(例えば30 :
30 : 40w を比)の焼結促進剤を4.011t
%、半導体促進剤−03、Nb2O3、Taz05 、
LazOz 、YzO+を1.3wt%、粒界空乏層形
成剤Sro、a Bao、+ Cao、+(CoIz3
Nbzy3)Os、Sra、 aBao、 3 Cao
、 z(CCxys Nbty3)Chを2.0wt%
添加し、よく混合したのち、900℃にて仮焼した。湿
式粉砕の後、乾燥、造粒、成型して、窒素95%−水素
5%よりなる還元雰囲気中1380℃にて焼成し、酸化
ビスマスを塗布したあと大気中1150’Cにて熱処理
し、電極を形成して電気特性を測定した。測定結果を第
9表に示す。なお、焼結促進剤は、例えばTi07−M
gO−5iO□系(30:30:40wt比)は、市販
のTiO□、MgO、SiO□の粉体を30:30:4
0の重量比で坪量・混合し、1200℃にて仮焼し、粉
砕して得た。
更に粒界空乏層形成剤は、市販の5rCOs 、 Ba
CO3、CaCO5、Coo 、 Nb2O2を混合し
、900’Cにて仮焼し、粉砕して得た。
CO3、CaCO5、Coo 、 Nb2O2を混合し
、900’Cにて仮焼し、粉砕して得た。
ったが満足出来る値をえた。なお、焼結促進剤が5%以
上になると焼結体が互いに変形し、付着し第9表より明
らかなごと(,5rTiOsにTiOz−MgO3iO
□などの焼結促進剤が4.0wt%、半導体化促進側Y
2O3が1.0i1t%、粒界空乏層形成剤が2.Qi
it%添加され焼成されて得た本材料は優れた誘電体特
性を示し、コンデンサとして使用できる。即ち顕微鏡観
察の結果、焼結体の微粒子はそれぞれの組成で粒径がよ
くそろっていて2〜3μ鄭で、誘電体損失は1.0%以
下、見かけ誘電率は2,500以上であった。その他静
電容量の温度係数、絶縁抵抗、昇圧破壊電圧、等個直列
抵抗などの測定を行ロンチウム(SrTi03)を主成
分とするペロブスカイト型酸化物に、焼結促進添加剤(
0,1〜5.3wt%)、半導体化促進添加剤(0,0
5〜2.0賀t%)、およびS’1−X−y Bay
Ca、 (Mn1zz Nb+7z)Os、 (ただ
し、0≦χ+y≦1)よりなる粒界空乏層形成剤(0,
1〜6.0wt%)を添加し、混合・加圧成型したのち
、水素を含む還元雰囲気中1250〜1500℃にて焼
成し、その焼成物の表面に酸化ビスマス(BizOi)
を含む粒界拡散物質を塗布し、酸化雰囲気中850〜1
200℃にて熱処理を施し電極を形成することにより、
或は、実施例は示さなかったが、5rTiO:+を主成
分とするペロブスカイト型酸化物に、予めSr1−x−
F Bag Cay (Mn+zz Nb+zz)Oz
、 (ただし、0≦z+y≦1)よりなる粒界空乏層形
成剤(0,1〜6.0wt%)を反応・固溶させておき
、しかる後に焼結促進添加剤(0,1〜5.0wt%)
、半導体化促進添加剤(0,05〜2.Qwt%)を添
加じ、混合・加圧成型したのち、水素を含む還元雰囲気
中1250〜1500℃にて焼成し、その焼成物の表面
にBizO:+を含む粒界拡散物質を塗布し、酸化雰囲
気中850〜1200℃にて熱処理を施し電極を形成す
ることにより、或は、さらに5rTiO1を主成分とす
るペロブスカイト型酸化物に、焼結促進添加剤(0,1
〜5.0wt%)、半導体化促進添加剤(0,05〜2
.0wt%)、およびSr1−x−y Ba、 Ca、
(Mn+zzNb+zz)Os、 (ただし、0≦x
+y≦1)よりなる粒界空乏層形成剤(0,1〜6.0
wt%)を添加し、混合・加圧成型したのち、予め大気
中1250〜1500℃にて焼成し、次に水素を含む還
元雰囲気中800〜1400℃にて還元したあと焼結体
の表面にB+zO1を含む粒界拡散物質を塗布し、酸化
雰囲気中850〜1200℃にて熱処理を施し電極を形
成することにより、長詩性の粒界絶縁型半導体セラミッ
クコンデンサを得ることができるという効果が得られる
。
上になると焼結体が互いに変形し、付着し第9表より明
らかなごと(,5rTiOsにTiOz−MgO3iO
□などの焼結促進剤が4.0wt%、半導体化促進側Y
2O3が1.0i1t%、粒界空乏層形成剤が2.Qi
it%添加され焼成されて得た本材料は優れた誘電体特
性を示し、コンデンサとして使用できる。即ち顕微鏡観
察の結果、焼結体の微粒子はそれぞれの組成で粒径がよ
くそろっていて2〜3μ鄭で、誘電体損失は1.0%以
下、見かけ誘電率は2,500以上であった。その他静
電容量の温度係数、絶縁抵抗、昇圧破壊電圧、等個直列
抵抗などの測定を行ロンチウム(SrTi03)を主成
分とするペロブスカイト型酸化物に、焼結促進添加剤(
0,1〜5.3wt%)、半導体化促進添加剤(0,0
5〜2.0賀t%)、およびS’1−X−y Bay
Ca、 (Mn1zz Nb+7z)Os、 (ただ
し、0≦χ+y≦1)よりなる粒界空乏層形成剤(0,
1〜6.0wt%)を添加し、混合・加圧成型したのち
、水素を含む還元雰囲気中1250〜1500℃にて焼
成し、その焼成物の表面に酸化ビスマス(BizOi)
を含む粒界拡散物質を塗布し、酸化雰囲気中850〜1
200℃にて熱処理を施し電極を形成することにより、
或は、実施例は示さなかったが、5rTiO:+を主成
分とするペロブスカイト型酸化物に、予めSr1−x−
F Bag Cay (Mn+zz Nb+zz)Oz
、 (ただし、0≦z+y≦1)よりなる粒界空乏層形
成剤(0,1〜6.0wt%)を反応・固溶させておき
、しかる後に焼結促進添加剤(0,1〜5.0wt%)
、半導体化促進添加剤(0,05〜2.Qwt%)を添
加じ、混合・加圧成型したのち、水素を含む還元雰囲気
中1250〜1500℃にて焼成し、その焼成物の表面
にBizO:+を含む粒界拡散物質を塗布し、酸化雰囲
気中850〜1200℃にて熱処理を施し電極を形成す
ることにより、或は、さらに5rTiO1を主成分とす
るペロブスカイト型酸化物に、焼結促進添加剤(0,1
〜5.0wt%)、半導体化促進添加剤(0,05〜2
.0wt%)、およびSr1−x−y Ba、 Ca、
(Mn+zzNb+zz)Os、 (ただし、0≦x
+y≦1)よりなる粒界空乏層形成剤(0,1〜6.0
wt%)を添加し、混合・加圧成型したのち、予め大気
中1250〜1500℃にて焼成し、次に水素を含む還
元雰囲気中800〜1400℃にて還元したあと焼結体
の表面にB+zO1を含む粒界拡散物質を塗布し、酸化
雰囲気中850〜1200℃にて熱処理を施し電極を形
成することにより、長詩性の粒界絶縁型半導体セラミッ
クコンデンサを得ることができるという効果が得られる
。
第1図は、本発明の一実施例による粒界絶縁型半導体セ
ラミックコンデンサを示す概略図である。 11・・・・・・粒界絶縁型半導体セラミックス、12
・・・・・・電極、13・・・・・・リード線。
ラミックコンデンサを示す概略図である。 11・・・・・・粒界絶縁型半導体セラミックス、12
・・・・・・電極、13・・・・・・リード線。
Claims (5)
- (1)チタン酸ストロンチウム(SrTiO_3)を主
成分とするペロブスカイト型酸化物に、焼結促進剤(0
.1〜5.0wt%)、半導体促進剤(0.05〜2.
0wt%)、および少なくともSr_1_−_x_−_
yBa_xCa_y(Mn_1_/_2Nb_1_/_
2)O_3、(0.1〜6.0wt%)Sr_1_−_
x_−_yBa_xCa_y(Co_1_/_3Nb_
2_/_3)O_3、(0.1〜10.0wt%)、S
r_1_−_x_−_yBa_xCa_y(Cu_1_
/_3Nb_2_/_3)O_3、(0.1〜5.0w
t%)、ただし、いずれも0≦x+y≦1のいづれかよ
り選択された粒界空乏層形成剤を添加し、混合・加圧成
型したのち、水素を含む還元雰囲気中1250〜150
0℃にて焼成し、その焼成物の表面に酸化ビスマス(B
i_2O_3)を含む粒界拡散物質を塗布し、酸化雰囲
気中850〜1200℃にて熱処理を施し電極を形成し
てなる粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサ。 - (2)焼結促進剤として少なくともSrO−Ga_2O
_3系、TiO_2−MgO−SiO_2系、TiO_
2−MnO−SiO_2系、CaO−MgO−Al_2
O_3−SiO_2系、TiO_2−Al_2O_3−
SiO_2系、ZnO−Nb_2O_5−SiO_2系
、ZrO_2−MnO−SiO_2系の中から選択され
た混合物(0.1〜5.0wt%)、半導体促進剤とし
て少なくともWO_3、Nb_2O_5、Ta_2_O
_5、La_2O_3、Y_2O_3の中から選択され
た一種または二種以上の酸化物(0.05〜2.0wt
%)を添加することを特長とする請求項1記載の粒界絶
縁型半導体セラミックコンデンサ。 - (3)SrTiO_3を主成分とするペロブスカイト型
酸化物に、予め少なくともSr_1_−_x_−_yB
a_xCa_y(Mn_1_/_2Nb_1_/_2)
O_3、(0.1〜6.0wt%)、Sr_1_−_x
_−_yBa_xCa_y(Cu_1_/_3Nb_2
_/_3)O_3、(0.1〜5.0wt%)、Sr_
1_−_x_−_yBa_xCa_y(Co_1_/_
3Nb_2_/_3)O_3、(0.1〜10.0wt
%)、(ただし、いずれも0≦x+y≦1)内の中から
選択された粒界空乏層形成剤を反応・固溶させておき、
しかる後に焼結促進添加剤(0.1〜5.0wt%)、
半導体化促進添加剤(0.05〜2.0wt%)を添加
し、混合・加圧成型したのち、水素を含む還元雰囲気中
1250〜1500℃にて焼成し、その焼成物の表面に
Bi_2O_3を含む粒界拡散物質を塗布し、酸化雰囲
気中850〜1200℃にて熱処理を施し電極を形成し
てなる粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサ。 - (4)SrTiO_3を主成分とするペロブスカイト型
酸化物に、焼結促進添加剤(0.1〜5.0wt%)、
半導体化促進添加剤(0.05〜2.0wt%)および
少なくともSr_1_−_x_−_yBa_xCa_y
(Mn_1_/_2Nb_1_/_2)O_3、(0.
1〜6.0wt%)、Sr_1_−_x_−_yBa_
xCa_y(Cu_1_/_3Nb_2_/_3)O_
3、(0.1〜5.0wt%)、Sr_1_−_x_−
_yBa_xCa_y(Co_1_/_3Nb_2_/
_3)O_3、(0.1〜10.0wt%)、(ただし
、いずれも0≦x+y≦1)内の中から選択された粒界
空乏層形成剤を添加し、混合・加圧成型したのち、予め
大気中1250〜1500℃にて焼成し、次に水素を含
む還元雰囲気中800〜1400℃にて還元したあと焼
結体の表面にBi_2O_3を含む粒界拡散物質を塗布
し、酸化雰囲気中850〜1200℃にて熱処理を施し
電極を形成してなる粒界絶縁型半導体セラミックコンデ
ンサ。 - (5)SrTiO_3を主成分とするペロブスカイト型
酸化物に、焼結促進添加剤(0.1〜5.0wt%)、
半導体化促進添加剤(0.05〜2.0wt%)および
少なくともSr_1_−_x_−_yBa_xCa_y
(Mn_1_/_2Nb_1_/_2)O_3、(0.
1〜6.0wt%)、Sr_1_−_x_−_yBa_
xCa_y(Cu_1_/_3Nb_2_/_3)O_
3、(0.1〜5.0wt%)、Sr_1_−_x_−
_yBa_xCa_y(Co_1_/_3Nb_2_/
_3)O_3、(0.1〜10.0wt%)、(ただし
、いずれも0≦x+y≦1)内の中から選択された粒界
空乏層形成剤を添加し、混合・ペースト化し、電極用ペ
ーストと交互に印刷・成型したのち、予め大気中125
0〜1500℃にて焼成し、次に水素を含む還元雰囲気
中800〜1400℃にて還元したあと焼結体の表面に
Bi_2O_3を含む粒界拡散物質を塗布し、酸化雰囲
気中850〜1200℃にて熱処理を施してなる粒界絶
縁型半導体セラミックコンデンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2103472A JPH042105A (ja) | 1990-04-19 | 1990-04-19 | 粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2103472A JPH042105A (ja) | 1990-04-19 | 1990-04-19 | 粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH042105A true JPH042105A (ja) | 1992-01-07 |
Family
ID=14354953
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2103472A Pending JPH042105A (ja) | 1990-04-19 | 1990-04-19 | 粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH042105A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109928746A (zh) * | 2017-12-19 | 2019-06-25 | 三星电子株式会社 | 陶瓷电介质、其制造方法、陶瓷电子组件和电子设备 |
-
1990
- 1990-04-19 JP JP2103472A patent/JPH042105A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109928746A (zh) * | 2017-12-19 | 2019-06-25 | 三星电子株式会社 | 陶瓷电介质、其制造方法、陶瓷电子组件和电子设备 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3474043A (en) | Method of manufacturing ceramic dielectrics and resistances from the same composition ceramic material | |
| JPH042105A (ja) | 粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサ | |
| KR910001347B1 (ko) | 초저온에서 소결되는 세라믹 조성물 및 그 제조방법 | |
| JP2934387B2 (ja) | 半導体磁器の製造方法 | |
| JPH04112516A (ja) | 粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサ | |
| JPH04112515A (ja) | 粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサ | |
| JPH04112513A (ja) | 粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサ | |
| JPH04112514A (ja) | 粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサ | |
| JPH04112518A (ja) | 粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサ | |
| JPH04112512A (ja) | 粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサ | |
| JPH04112517A (ja) | 粒界絶縁型半導体セラミックコンデンサ | |
| JP3124896B2 (ja) | 半導体磁器の製造方法 | |
| JPH02213101A (ja) | 粒界バリア型高静電容量セラミックバリスタの製造方法 | |
| JPH03165018A (ja) | バリスタ特性を有するセラミックコンデンサの製造方法 | |
| JP2972052B2 (ja) | 半導体磁器及びその製造方法 | |
| JPS633442B2 (ja) | ||
| KR910001344B1 (ko) | 다층 세라믹 캐패시터 및 그 제조방법 | |
| JPH03211703A (ja) | 粒界バリア型高静電容量セラミックバリスタの製造方法 | |
| JPH05283278A (ja) | 積層型セラミックチップコンデンサの製造方法 | |
| JPH0332009A (ja) | コンデンサとその製造方法 | |
| JPH02263418A (ja) | バリスタ特性を有するセラミックコンデンサの製造方法 | |
| JPH02222515A (ja) | バリスタ特性を有するセラミックコンデンサの製造方法 | |
| JPS59127826A (ja) | 粒界絶縁形半導体磁器コンデンサ | |
| JPH03238708A (ja) | 誘電体磁器組成物およびコンデンサ | |
| JPH02215103A (ja) | 粒界バリア型高静電容量セラミックバリスタの製造方法 |