JPH0421106Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】

この考案は多数のリレー接点がマトリツクス状
に接続されて構成されたリレーマトリツクス回路
の試験装置に関し、特に不良を検出すると共に不
良個所を特定することができるリレーマトリツク
ス回路試験装置を提供しようとするものである。 ＜考案の背景＞ 例えばICテスタにおいて試験を行なうICの種
類等が変わると被試験ICに与える各種の信号の
その被試験ICの規格に合致するように変化させ
なくてはならない。信号源から発生している各種
の信号を選択して取出す装置としてリレーマトリ
ツクス回路が用いられている。 リレーマトリツクス回路は一枚のプリント基板
に多数のリレーが装着され、この多数のリレーの
接点がマトリツクス状に接続されて構成される。
このようなリレーマトリツクス回路においてリレ
ー接点の数が多いことから組立配線作業が終了し
た時点で動作試験を行なつている。 ＜従来の試験装置＞ 第１図に従来のリレーマトリツクス回路の試験
装置を示す。図中１はリレーマトリツクス回路を
示す。リレーマトリツクス回路１は複数の行線２
ａ，２ｂ，２ｃと、列線３ａ，３ｂ，３ｃを有
し、これら行線２ａ，２ｂ，２ｃと、列線３ａ，
３ｂ，３ｃとの各交点にリレー接点K₁₁，K₁₂，
K₁₃，K₂₁，K₂₂，，K₂₃，K₃₁，K₃₂，K₃₃を接続し
て構成される。尚図には各リレー接点K₁₁〜K₃₃
の駆動コイルは示していない。 リレーマトリツクス回路１の外部に第１切換回
路４と、第２切換回路５が接続される。第１切換
回路４は列線２ａ〜２ｃの各一本に選択的に直流
電圧を与えるための切換回路である。第２切換回
路５は列線３ａ，３ｂ，３ｃを選択して各列線３
ａ，３ｂ，３ｃを電圧測定手段６に接続する切換
回路である。 この試験装置によれば例えばリレー接点K_C1及
びK_S1をオンにし、リレーマトリツクス回路１内
のリレー接点K₁₁，K₁₂，K₁₃を順次オンに操作す
る。このときリレー接点K₁₁がオンのとき電圧測
定手段６に直流電源７の電圧が得られ、K₁₂，
K₁₃がオンのとき電圧がゼロ、更にスイツチK_C1
をオフに、スイツチK_C2をオンにし、このときリ
レー接点K₁₂をオンにしたときだけ電圧が発生
し、更にスイツチK_C3をオンにしたとき、リレー
接点K₁₃をオンにしたとき電圧が発生すればリレ
ー接点K₁₁，K₁₂，K₁₃の配線が正しく行なわれて
いることが解る。 ここで例えばリレー接点K_C1が付勢されている
状態においてK₁₁をオンにしたとき電圧が発生し
ない場合には不良と判定する。この不良は例えば
リレー接点K₁₂又はK₁₃がオンのままになつてい
る不良が考えられる。然し乍らその不良個所を特
定するにはこの試験装置の外にテスタ或は目視等
により不良個所をさがさなければならない。 第２図に従来技術の他の例を示す。この例では
行線２ａ，２ｂ，２ｃをドライバ群８に接続し、
各行線２ａ，２ｂ，２ｃをドライバ８ａ，８ｂ，
８ｃによつて駆動するように構成する。各列線３
ａ，３ｂ，３ｃにはコンパレータ群９を接続し、
コンパレータ群９の各電圧コンパレータ９ａ，９
ｂ，９ｃによつて各列線３ａ，３ｂ，３ｃに出力
される論理レベルを検出する。 更にこの例ではコンパレータ９ａ，９ｂ，９ｃ
の各出力をコンピユータ１１に取込むと共にコン
ピユータ１１から駆動信号をレジスタ１２に与
え、レジスタ１２を介して各ドライバ８ａ，８
ｂ，８ｃに駆動信号を与えるように構成した場合
を示す。 この構成において行線２ａにＨ論理を与え行線
２ｂ，２ｃをＬ論理になるようにレジスタ１２に
データを書込む。 ここでリレー接点K₁₁をオンにするとコンピユ
ータ１１はコンパレータ９ａから出力される論理
信号を取込む。コンパレータ９ａの出力がＬであ
れば正常と判定する。 このときコンパレータ９ａからＨ論理が出力さ
れると異常である。この異常はリレー接点K₁₂又
はK₁₃の何れか一方又は双方がオンになつている
影響によるものと考えることができる。 ＜従来技術の欠点＞ このように従来のリレーマトリツクス回路試験
装置はリレーマトリツクス回路の異常を検出する
ことができるが、その異常個所を特定することが
できない欠点がある。 ＜考案の目的＞ この考案はリレーマトリツクス回路の不良個所
を特定することができる試験装置を提供しようと
するものである。 ＜考案の概要＞ この考案では列線に重み付けされた抵抗値を持
つ抵抗器を接続し、この抵抗器と一本の分圧用抵
抗器とにより分圧回路を構成し、リレー接点がオ
ンに切換られる毎に分圧回路の分圧比を変化さ
せ、各リレー接点がオンに操作される毎に異なる
電圧を発生させるようにし、分圧電圧の違いによ
り不良個所を特定することができるように構成し
たものである。 ＜考案の実施例＞ 第３図にこの考案の一実施例を示す。この考案
においては行線２ａ，２ｂ，２ｃに重み付けされ
た抵抗値を持つ抵抗器１３ａ，１３ｂ，１３ｃを
接続する。これら抵抗器１３ａ，１３ｂ，１３ｃ
の各他端は共通接続して直流電源１４の一方の電
位極１５に接続する。 列線３ａ，３ｂ，３ｃは選択スイツチK_P1，
K_P2，K_P3を通じて共通接続し、その共通接続点
と直流電源１４の一方の電位極１５との間に電圧
測定手段１６を接続する。直流電源１４の他方の
電位極１７と選択スイツチK_P1，K_P2，K_P3の共通
接続点との間に分圧用抵抗器１８を接続する。 この構成において分圧用抵抗器１８の抵抗値を
Ｒとしたとき抵抗器１３ａ〜１３ｃはその抵抗値
を例えば1/9Ｒ，1/4Ｒ，3/7Ｒに選定する。 ＜考案の動作＞ 上記したこの考案の構成によれば選択スイツチ
K_P1をオンにし、リレー接点K₁₁をオンにすると
電圧測定手段１６は抵抗器１３ａに発生する電圧
を測定する。抵抗器１３ａの抵抗値と分圧用抵抗
器１８の抵抗値は1/9：１であるから抵抗器１３
ａに発生する電圧E_aはE_a＝E/10となる。（Ｅは直
流電源１４の電圧）直流電源１４の電圧Ｅをここ
では１０ボルトとすればE_a＝１ボルトとなる。 次にリレー接点K₁₁をオフに戻し、リレー接点
K₁₂をオンにする。このとき直流電圧測定手段１
６には抵抗器１３ｂに発生する電圧E_bが印加さ
れる。E_b＝1/5Ｅとなり、E_b＝２ボルトとなる。 リレー接点K₁₁，K₁₂をオフに戻し、K₁₃をオン
にする。この状態では直流電圧測定手段１６は抵
抗器１３ｃに発生する電圧E_cを測定する。抵抗器
１３ｃは3/7Ｒに選定しているからE_C＝3/10Ｅと
なる。つまりE_C＝３ボルトとなる。 このように各リレー接点K₁₁，K₁₂，K₁₃を順次
オンにすることによつて電圧測定手段１６は１ボ
ルト、２ボルト、３ボルトをそれぞれ指示する。
ここでリレー接点K₁₁をオンにしたとき電圧測定
手段１６が１ボルトを指示しない場合は異常であ
る。この異常はその指示値によつて不良個所を特
定できる。つまりリレー接点K₁₁，K₁₂，K₁₃がオ
ンになつている組合せにより電圧測定手段１６に
与えられる電圧が次の表のように変化する。尚表
中０はオフ、１はオン、E_ioは電圧測定手段１６
に印加される電圧を示す。

【表】 このようにリレー接点K₁₁，K₁₂，K₁₃がオンに
なる全ての組合せにおいて電圧測定手段に与えら
れる電圧E_ioが異なる値になるから、電圧測定手
段１６によつて測定した電圧により正常及び異常
を判定できる。然も異常の場合測定した電圧値に
よつてどのリレー接点がオンのままになつている
か、或はオフのままであるか何れの不良であるか
を特定することができる。またリレー接点自体に
限らずプリント配線間に半田が落下して短絡状態
になつていることも検出することができる。一本
の列線３ａに接続されたリレー接点K₁₁，K₁₂，
K₁₃を検査した後、切換スイツチK_P1をオフにし、
K_P2をオンにしてリレー接点K₂₁，K₂₂，K₂₃の順
にオンに操作する。この場合も電圧測定手段１６
が１，２，３ボルトを順次表示すればリレー接点
K₂₁，K₂₂，K₂₃は正常であると判定することがで
きる。このようにして全てのリレー接点を検査す
ることができる。 尚上述では行線を２ａ，２ｂ，２ｃの３本の場
合を説明したが行線の数に限定はない。例えば行
線を８本とした場合には重み付けした抵抗器R_a，
R_b，R_c……の各抵抗値を1/9Ｒ，1/4Ｒ，3/7Ｒ，
２／３Ｒ，Ｒ，3/2Ｒ，7/3Ｒ，4Rのように選定し、
直流電源１４の電圧を１０ボルトとすれば電圧測
定手段１６に与えられる電圧は１，２，３，４，
５，６，７，８の各１ボルトステツプの分圧電圧
を得ることができる。従つて一本の列線に接続さ
れた８個のリレー接点を順次オンに操作したとき
１ボルトステツプで８ボルトまで分圧電圧が変化
すればその列線に接続されたリレー接点は全て正
常であると判定することができる。 ＜考案の効果＞ 以上説明したようにこの考案によればリレーマ
トリツクス回路１の各リレー接点の配線状態を検
査することができる。特に異常を検出した状態に
おいてその異常個所を特定することができるため
短時間に不良個所を判定できる。よつてその効果
は実用に供して頗る大である。 ＜考案の他の実施例＞ 第４図にこの考案の他の実施例を示す。この例
ではマイクロコンピユータ４１によつて各部の制
御と良否判定を行なわせるように構成した場合を
示す。つまり切換スイツチ群５によつて取出した
分圧電圧をＡ−Ｄ変換器４２によつてデイジタル
信号に変換し、そのデイジタル信号をマイクロコ
ンピユータ４１に取込む。 マイクロコンピユータ４１はリレーマトリツク
ス回路１のリレー接点駆動回路にどのリレー接点
をオンに操作するかを指令する。従つてマイクロ
コンピユータ４１はその指令によつてリレー接点
を通じて発生する分圧電圧を予め予測することが
できるからＡ−Ｄ変換器４２から入力される測定
値と基準値とを比較し、一致していれば表示器４
３に良を表示する。表示器４３には各リレー接点
に対応した例えば発光素子を配列して設け、不良
のリレー接点に対応した発光素子を発光させるこ
とにより不良を表示するように構成することがで
きる。 尚上述では直流電源１４と分圧用抵抗器１８を
直列接続し、その直列回路を共通電位点と選択切
換スイツチ５の間に接続したが、直流電源１４を
共通電位点と抵抗器１３ａ，１３ｂ，１３ｃの共
通接続点間に接続し、分圧用抵抗器１８を選択切
換スイツチ５と共通電位との間に接続しても同様
の作用効果を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図及び第２図は従来のリレーマトリツクス
回路試験装置を説明するための接続図、第３図は
この考案の一実施例を説明するための接続図、第
４図はこの考案の他の実施例を説明するためのブ
ロツク図である。 １……リレーマトリツクス回路、２ａ，２ｂ，
２ｃ……行線、３ａ，３ｂ，３ｃ……列線、５…
…選択切換スイツチ、６……電圧測定手段、１３
ａ，１３ｂ，１３ｃ……重み付けされた抵抗値を
持つ抵抗器、１４……直流電源、１８……分圧用
抵抗器。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 Ａ 複数本の行線と、複数本の列線が交叉して配
   置され、各行線と列線との各交叉点にリレーの
   接点が接続された複数のリレーから成るリレー
   マトリツクス回路と、 Ｂ このリレーマトリツクス回路の行線に一端が
   接続され、他端が共通接続されて共通電位点に
   接続され互いに重み付けされた抵抗値を持つ複
   数の抵抗器と、 Ｃ 一端が上記リレーマトリツクス回路の列線に
   接続され他端が共通接続された複数の選択スイ
   ツチと、 Ｄ 一端が上記選択スイツチの共通接続点に接続
   され上記リレーマトリツクス回路の各リレー接
   点と選択スイツチを介して上記複数の各抵抗器
   と直列接続されて分圧回路を構成する分圧用抵
   抗器と、 Ｅ 一方の電位極が共通電位に接続され、他方の
   電位極が上記分圧用抵抗器の他端に接続され上
   記分圧用抵抗器と上記複数の抵抗器との直列回
   路に直流電圧を与える直流電源と、 Ｆ 上記選択スイツチの共通接続点と共通電位点
   との間に接続され、上記複数の抵抗器の各個に
   発生する電圧を測定する電圧測定手段と、 から成るリレーマトリツクス回路試験装置。