JPH04212330A - 磁気共鳴映像装置 - Google Patents
磁気共鳴映像装置Info
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- JPH04212330A JPH04212330A JP3059513A JP5951391A JPH04212330A JP H04212330 A JPH04212330 A JP H04212330A JP 3059513 A JP3059513 A JP 3059513A JP 5951391 A JP5951391 A JP 5951391A JP H04212330 A JPH04212330 A JP H04212330A
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- magnetic resonance
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- coils
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は磁気共鳴映像装置に係り
、特に一様コイルとサーフェイスコイルを用いて高S/
N画像を取得する磁気共鳴映像装置に関する。
、特に一様コイルとサーフェイスコイルを用いて高S/
N画像を取得する磁気共鳴映像装置に関する。
【0002】
【従来の技術】磁気共鳴映像装置は、 1Hの画像化に
関しては撮像時間が数分かかるとしても、ほぼ完成され
ていると考えられる。臨床的にも静止または遅い動きを
伴う部位の撮像においては、実用上ほとんど問題ない程
度に良質の画像を提供している。
関しては撮像時間が数分かかるとしても、ほぼ完成され
ていると考えられる。臨床的にも静止または遅い動きを
伴う部位の撮像においては、実用上ほとんど問題ない程
度に良質の画像を提供している。
【0003】しかし、近年、動きの早い部位(心臓など
)の撮像を可能とする高速イメージング(映像化時間〜
50ms程度)や、 1H以外の31P,19F,13
C,23N等の核種のイメージングへの要求が大きくな
っている。これらの場合、技術的にはS/Nの向上が大
きな課題となる。例えば、高速イメージングにおいては
撮像時間が短くなることによるS/Nの劣化があり、3
1Pに関しては体内存在量が 1Hの10−4程度と極
めて微量であることによるS/N不足が挙げられる。
)の撮像を可能とする高速イメージング(映像化時間〜
50ms程度)や、 1H以外の31P,19F,13
C,23N等の核種のイメージングへの要求が大きくな
っている。これらの場合、技術的にはS/Nの向上が大
きな課題となる。例えば、高速イメージングにおいては
撮像時間が短くなることによるS/Nの劣化があり、3
1Pに関しては体内存在量が 1Hの10−4程度と極
めて微量であることによるS/N不足が挙げられる。
【0004】S/Nを良くするために、従来より磁気共
鳴信号の受信にサーフェイスコイルを用いることが行わ
れている。サーフェイスコイルは被検体の関心部位に密
着させて設置され、密着部位周辺の信号を高S/Nで検
出できるものであるが、密着部位周辺の画像しか得られ
ないという欠点があり、被検体の所定断面を全域にわた
って高S/Nで画像化することができない。
鳴信号の受信にサーフェイスコイルを用いることが行わ
れている。サーフェイスコイルは被検体の関心部位に密
着させて設置され、密着部位周辺の信号を高S/Nで検
出できるものであるが、密着部位周辺の画像しか得られ
ないという欠点があり、被検体の所定断面を全域にわた
って高S/Nで画像化することができない。
【0005】一方、被検体の所望領域において静磁場に
垂直な面内で略均一な高周波磁場を発生する、いわゆる
一様コイル(例えば鞍型コイル、Slotted tu
be resonator、鳥かご型コイル等)を磁気
共鳴信号の受信に用いると、被検体の所望断面全体の画
像が得られる。この一様コイルをクォードラチャ受信方
式で使用すれば、画像全体でS/Nを21/2 倍向上
させることができる。しかし、一様コイルを用いて得ら
れる磁気共鳴信号のS/Nは、サーフェイスコイルを用
いた場合の密着部位周辺ほどの高いS/Nを得ることは
できない。
垂直な面内で略均一な高周波磁場を発生する、いわゆる
一様コイル(例えば鞍型コイル、Slotted tu
be resonator、鳥かご型コイル等)を磁気
共鳴信号の受信に用いると、被検体の所望断面全体の画
像が得られる。この一様コイルをクォードラチャ受信方
式で使用すれば、画像全体でS/Nを21/2 倍向上
させることができる。しかし、一様コイルを用いて得ら
れる磁気共鳴信号のS/Nは、サーフェイスコイルを用
いた場合の密着部位周辺ほどの高いS/Nを得ることは
できない。
【0006】以上のような問題を解決するため、例えば
米国特許4,825,162号明細書には、被検体の画
像化すべき所望の領域に複数個のサーフェイスコイルを
配置し、これら複数個のサーフェイスコイルを介して被
検体からの磁気共鳴信号をそれぞれ検出し、検出された
磁気共鳴信号について各々画像化処理を行なって複数系
列の画像データを生成した後、同じ空間位置に対応する
画素データ(単一複素信号または一次元複素信号=スペ
クトル信号)どうしを、各々のサーフェイスコイルが発
生する高周波磁場の分布に基づいて予め決められた重み
関数を乗じて加算することによって各画素のデータを作
り、所望領域の一つの画像を合成することにより、高S
/N画像を得る技術が開示されている。
米国特許4,825,162号明細書には、被検体の画
像化すべき所望の領域に複数個のサーフェイスコイルを
配置し、これら複数個のサーフェイスコイルを介して被
検体からの磁気共鳴信号をそれぞれ検出し、検出された
磁気共鳴信号について各々画像化処理を行なって複数系
列の画像データを生成した後、同じ空間位置に対応する
画素データ(単一複素信号または一次元複素信号=スペ
クトル信号)どうしを、各々のサーフェイスコイルが発
生する高周波磁場の分布に基づいて予め決められた重み
関数を乗じて加算することによって各画素のデータを作
り、所望領域の一つの画像を合成することにより、高S
/N画像を得る技術が開示されている。
【0007】また、この公知技術では一枚の画像を得る
のに要する時間内に、複数個のサーフェイスコイルによ
って磁気共鳴信号を同時に観測するため、サーフェイス
コイルが定常的に互いに干渉しないように、すなわち一
つのサーフェイスコイルに所定の周波数の高周波電流を
流しても、他のサーフェイスコイルには高周波電流が流
れないように、コイルの相互結合を防止するデカップリ
ング手段が設けられている。
のに要する時間内に、複数個のサーフェイスコイルによ
って磁気共鳴信号を同時に観測するため、サーフェイス
コイルが定常的に互いに干渉しないように、すなわち一
つのサーフェイスコイルに所定の周波数の高周波電流を
流しても、他のサーフェイスコイルには高周波電流が流
れないように、コイルの相互結合を防止するデカップリ
ング手段が設けられている。
【0008】しかし、この公知技術では予め重み関数の
決定のために、各々のサーフェイスコイルが発生する高
周波磁場分布を求めておかなければならない。この高周
波磁場分布を計算機シミュレーションにより求めるとす
れば、被検体の構造、電気伝導率や誘電率を知る必要が
あり、実質的に不可能である。また、実験的に高周波磁
場分布を求めるには、予め例えば送信用として用いられ
る一様コイルを使って画像化すべき所望の領域全体につ
いての均一な画像を取得する必要があり、余分な時間を
必要とする。また、その時にはさらに各々のサーフェイ
スコイルをピンダイオードなどを用いたデカップリング
回路により能動的に所定の周波数について不感状態にし
ておく必要があり、回路が複雑になってしまう。
決定のために、各々のサーフェイスコイルが発生する高
周波磁場分布を求めておかなければならない。この高周
波磁場分布を計算機シミュレーションにより求めるとす
れば、被検体の構造、電気伝導率や誘電率を知る必要が
あり、実質的に不可能である。また、実験的に高周波磁
場分布を求めるには、予め例えば送信用として用いられ
る一様コイルを使って画像化すべき所望の領域全体につ
いての均一な画像を取得する必要があり、余分な時間を
必要とする。また、その時にはさらに各々のサーフェイ
スコイルをピンダイオードなどを用いたデカップリング
回路により能動的に所定の周波数について不感状態にし
ておく必要があり、回路が複雑になってしまう。
【0009】また、被検体の関心領域を覆うように複数
個のサーフェイスコイルを配置した場合、得られる磁気
共鳴信号のS/Nは、コイル近傍では一様コイルをクォ
ードラチャ受信方式で使用した場合に比較して良くなる
が、被検体の中心、すなわちどのサーフェイスコイルか
らも最も遠い点におけるS/Nは、一様コイルをクォド
ラチャ受信方式で用いた場合と同等あるいはそれを上回
るという理論的確証はまだ得られていない。
個のサーフェイスコイルを配置した場合、得られる磁気
共鳴信号のS/Nは、コイル近傍では一様コイルをクォ
ードラチャ受信方式で使用した場合に比較して良くなる
が、被検体の中心、すなわちどのサーフェイスコイルか
らも最も遠い点におけるS/Nは、一様コイルをクォド
ラチャ受信方式で用いた場合と同等あるいはそれを上回
るという理論的確証はまだ得られていない。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、複数
個のサーフェイスコイル用いて同時に磁気共鳴信号を収
集し、得られた画像データを重み付け加算することによ
り高S/N画像を得る従来の技術においては、予め各々
のサーフェイスコイルが発生する高周波磁場分布に基づ
いて重み関数を決定しておかなければならず、そのため
に余分な時間を必要としたり、複雑な回路を必要とする
という問題があった。
個のサーフェイスコイル用いて同時に磁気共鳴信号を収
集し、得られた画像データを重み付け加算することによ
り高S/N画像を得る従来の技術においては、予め各々
のサーフェイスコイルが発生する高周波磁場分布に基づ
いて重み関数を決定しておかなければならず、そのため
に余分な時間を必要としたり、複雑な回路を必要とする
という問題があった。
【0011】また、サーフェイスコイルを用いれば被検
体の密着部位周辺では高S/Nで画像化ができるが、密
着部位から離れるに従って急激にS/Nが低下する。
体の密着部位周辺では高S/Nで画像化ができるが、密
着部位から離れるに従って急激にS/Nが低下する。
【0012】一方、クォードラチャ受信方式を用いた一
様コイルを用いると、所望断面全体の画像が得られるが
、サーフェイスコイルを用いた場合の密着部位周辺のS
/Nには及ばない。
様コイルを用いると、所望断面全体の画像が得られるが
、サーフェイスコイルを用いた場合の密着部位周辺のS
/Nには及ばない。
【0013】本発明の目的は、複数個のサーフェイスコ
イルを介して同時に磁気共鳴信号を検出し、得られた画
像データを重み付け加算することにより高S/N画像を
得る場合に、重み関数を求めるためのデータをサーフェ
イスコイルを介して磁気共鳴信号を検出する時間内に取
得することができる磁気共鳴映像装置を提供することに
ある。
イルを介して同時に磁気共鳴信号を検出し、得られた画
像データを重み付け加算することにより高S/N画像を
得る場合に、重み関数を求めるためのデータをサーフェ
イスコイルを介して磁気共鳴信号を検出する時間内に取
得することができる磁気共鳴映像装置を提供することに
ある。
【0014】本発明の他の目的は、被検体の表面近傍で
はサーフェイスコイルを用いた場合と同等の高いS/N
が得られ、また被検体の深部でも少なくとも一様コイル
にクォードラチャ受信方式を適用した場合に実現される
のと同等のS/Nを達成できる磁気共鳴映像装置を提供
することにある。
はサーフェイスコイルを用いた場合と同等の高いS/N
が得られ、また被検体の深部でも少なくとも一様コイル
にクォードラチャ受信方式を適用した場合に実現される
のと同等のS/Nを達成できる磁気共鳴映像装置を提供
することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明は、複数個のサー
フェイスコイルを介して磁気共鳴信号を検出するのと同
じ時間内に、従来では専ら送信用として用いられていた
一様コイルを介して磁気共鳴信号を検出し、これらサー
フェイスコイルおよび一様コイルを介して得られた磁気
共鳴信号に対してフーリエ変換を含む画像化処理を施し
て得られた複数チャネルの画像データを用いて、画像生
成に用いる重み関数を決定するのに必要なデータ、例え
ばサーフェイスコイルの高周波磁場分布を求めるように
したものである。
フェイスコイルを介して磁気共鳴信号を検出するのと同
じ時間内に、従来では専ら送信用として用いられていた
一様コイルを介して磁気共鳴信号を検出し、これらサー
フェイスコイルおよび一様コイルを介して得られた磁気
共鳴信号に対してフーリエ変換を含む画像化処理を施し
て得られた複数チャネルの画像データを用いて、画像生
成に用いる重み関数を決定するのに必要なデータ、例え
ばサーフェイスコイルの高周波磁場分布を求めるように
したものである。
【0016】また、本発明はインダクタンス素子および
キャパシタンス素子を梯子状に配設して一様コイルを構
成するとともに、これらインダクタンス素子およびキャ
パシタンス素子で囲まれた空間内に複数個のサーフェイ
スコイルを配置し、これら一様コイルとサーフェイスコ
イルとの相互結合を防止する手段と、一様コイルおよび
複数個のサーフェイスコイルをそれぞれ介して被検体か
らの複数チャネルの磁気共鳴信号を検出する信号検出手
段を備えたものである。
キャパシタンス素子を梯子状に配設して一様コイルを構
成するとともに、これらインダクタンス素子およびキャ
パシタンス素子で囲まれた空間内に複数個のサーフェイ
スコイルを配置し、これら一様コイルとサーフェイスコ
イルとの相互結合を防止する手段と、一様コイルおよび
複数個のサーフェイスコイルをそれぞれ介して被検体か
らの複数チャネルの磁気共鳴信号を検出する信号検出手
段を備えたものである。
【0017】
【作用】このように複数個のサーフェイスコイルを介し
て磁気共鳴信号を検出するのと同じ時間内に、一様コイ
ルを介しても磁気共鳴信号を受信することにより、サー
フェイスコイルによる高S/N画像と共に、被検体の画
像化すべき所望の領域全体の均一な画像データが得られ
、これらの画像データを用いて各サーフェイスコイルの
高周波磁場分布が求まる。
て磁気共鳴信号を検出するのと同じ時間内に、一様コイ
ルを介しても磁気共鳴信号を受信することにより、サー
フェイスコイルによる高S/N画像と共に、被検体の画
像化すべき所望の領域全体の均一な画像データが得られ
、これらの画像データを用いて各サーフェイスコイルの
高周波磁場分布が求まる。
【0018】従って、各チャネルの磁気共鳴信号に高周
波磁場分布に応じた重み関数を乗じた後、各画素毎にデ
ータを加算するか、または複数チャネルの磁気共鳴信号
と重み関数の逆フーリエ変換結果との複数チャネルの畳
み込み積分結果の加算合成結果をフーリエ変換すること
により、所望領域の高S/N画像が得られる。
波磁場分布に応じた重み関数を乗じた後、各画素毎にデ
ータを加算するか、または複数チャネルの磁気共鳴信号
と重み関数の逆フーリエ変換結果との複数チャネルの畳
み込み積分結果の加算合成結果をフーリエ変換すること
により、所望領域の高S/N画像が得られる。
【0019】また、一様コイルを構成するインダクタン
ス素子およびキャパシタンス素子で囲まれた空間内に複
数個のサーフェイスコイルを一様コイルとの相互結合を
防止した状態で配置し、これら両コイルを用いて磁気共
鳴信号を検出することによって、被検体の表面近傍では
サーフェイスコイルを使用したときと同等の高S/Nが
達成され、また被検体の深部でも少なくともクォードラ
チャ受信方式を適用した一様コイルで実現されるのと同
等のS/Nが得られる。
ス素子およびキャパシタンス素子で囲まれた空間内に複
数個のサーフェイスコイルを一様コイルとの相互結合を
防止した状態で配置し、これら両コイルを用いて磁気共
鳴信号を検出することによって、被検体の表面近傍では
サーフェイスコイルを使用したときと同等の高S/Nが
達成され、また被検体の深部でも少なくともクォードラ
チャ受信方式を適用した一様コイルで実現されるのと同
等のS/Nが得られる。
【0020】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。図1は、本発明の一実施例に係る磁気共鳴映像装
置の構成を示すブロック図である。
する。図1は、本発明の一実施例に係る磁気共鳴映像装
置の構成を示すブロック図である。
【0021】図1において、静磁場磁石1は励磁用電源
2により励磁され、被検体5に一様な静磁場を印加する
。勾配磁場コイル3はシステムコントローラ16によっ
て制御される駆動回路(駆動アンプ)4によって駆動さ
れ、寝台6上の被検体5(例えば人体)に対して、注目
する所望の断層面内の直交するX,Y方向及びこれらに
垂直なZ方向に磁場強度が直線的に変化する勾配磁場G
x,Gy,Gzを印加する。被検体5にはさらにシステ
ムコントローラ16による制御下で、送信部7からの高
周波信号がデュプレクサ8を介して送受信兼用コイルで
ある一様コイル9に印加されることによって発生される
高周波磁場が印加される。
2により励磁され、被検体5に一様な静磁場を印加する
。勾配磁場コイル3はシステムコントローラ16によっ
て制御される駆動回路(駆動アンプ)4によって駆動さ
れ、寝台6上の被検体5(例えば人体)に対して、注目
する所望の断層面内の直交するX,Y方向及びこれらに
垂直なZ方向に磁場強度が直線的に変化する勾配磁場G
x,Gy,Gzを印加する。被検体5にはさらにシステ
ムコントローラ16による制御下で、送信部7からの高
周波信号がデュプレクサ8を介して送受信兼用コイルで
ある一様コイル9に印加されることによって発生される
高周波磁場が印加される。
【0022】一様コイル9の内側に、被検体5に近接し
て信号検出用コイルであるマルチサーフェイスコイル1
0が配置されている。そして、一様コイル9とマルチサ
ーフェイスコイル10で、被検体5からの磁気共鳴信号
が受信される。一様コイル9で受信された磁気共鳴信号
はデュプレクサ8を介して受信部11に導かれ、マルチ
サーフェイスコイル10で受信された磁気共鳴信号は直
接、受信部11に導かれる。デュプレクサ8は、一様コ
イル9を送信と受信とに切り替えて使用するためのもの
であり、送信時には送信部7からの高周波信号を一様コ
イル9に伝達し、受信時には一様コイル9からの受信信
号を受信部11に導く働きをする。
て信号検出用コイルであるマルチサーフェイスコイル1
0が配置されている。そして、一様コイル9とマルチサ
ーフェイスコイル10で、被検体5からの磁気共鳴信号
が受信される。一様コイル9で受信された磁気共鳴信号
はデュプレクサ8を介して受信部11に導かれ、マルチ
サーフェイスコイル10で受信された磁気共鳴信号は直
接、受信部11に導かれる。デュプレクサ8は、一様コ
イル9を送信と受信とに切り替えて使用するためのもの
であり、送信時には送信部7からの高周波信号を一様コ
イル9に伝達し、受信時には一様コイル9からの受信信
号を受信部11に導く働きをする。
【0023】受信部11に入力された磁気共鳴信号は増
幅および検波された後、システムコントローラ16によ
る制御下で、データ収集部12に送られる。データ収集
部12では、受信部11を介して入力された磁気共鳴信
号をシステムコントローラ16の制御下で収集し、それ
をA/D変換した後、電子計算機13に画像再構成用デ
ータとして送る。
幅および検波された後、システムコントローラ16によ
る制御下で、データ収集部12に送られる。データ収集
部12では、受信部11を介して入力された磁気共鳴信
号をシステムコントローラ16の制御下で収集し、それ
をA/D変換した後、電子計算機13に画像再構成用デ
ータとして送る。
【0024】電子計算機13はコンソール14により制
御され、データ収集部12から入力された画像再構成用
データについて2次元フーリエ変換を含む画像再構成処
理を行う。この画像再構成によって、マルチサーフェイ
スコイル10のコイル数に等しいチャネル数の画像デー
タを得た後、これらの画像データを重み付け加算して一
枚の画像に対応した画像データを合成する。また、電子
計算機13はシステムコントローラ16の制御をも行う
。電子計算機13により得られた画像データは画像ディ
スプレイ15に供給され、画像が表示される。
御され、データ収集部12から入力された画像再構成用
データについて2次元フーリエ変換を含む画像再構成処
理を行う。この画像再構成によって、マルチサーフェイ
スコイル10のコイル数に等しいチャネル数の画像デー
タを得た後、これらの画像データを重み付け加算して一
枚の画像に対応した画像データを合成する。また、電子
計算機13はシステムコントローラ16の制御をも行う
。電子計算機13により得られた画像データは画像ディ
スプレイ15に供給され、画像が表示される。
【0025】図2は、一様コイル9およびマルチサーフ
ェイスコイル10の構成・配置を示す概略断面図である
。一様コイル9は被検体5の画像化すべき領域全体に対
して高周波磁場を印加し、さらに被検体5からの磁気共
鳴信号を受信検出するためのもので、被検体5を覆うよ
うに配置されている。一様コイル9は被検体5の画像化
すべき領域に均一な高周波磁場を印加することができる
コイルであり、具体的には例えば鞍型コイルや分布定数
型コイル、あるいはこれらのコイルを用いて構成される
クォードラチャ送受信コイルが使用される。マルチサー
フェイスコイル10は一様コイル9の内側に設けられ、
被検体5の画像化すべき所望の領域を取囲むように被検
体5に近接して配置された複数個(この例では6個)の
サーフェイスコイル10a〜10fからなる。
ェイスコイル10の構成・配置を示す概略断面図である
。一様コイル9は被検体5の画像化すべき領域全体に対
して高周波磁場を印加し、さらに被検体5からの磁気共
鳴信号を受信検出するためのもので、被検体5を覆うよ
うに配置されている。一様コイル9は被検体5の画像化
すべき領域に均一な高周波磁場を印加することができる
コイルであり、具体的には例えば鞍型コイルや分布定数
型コイル、あるいはこれらのコイルを用いて構成される
クォードラチャ送受信コイルが使用される。マルチサー
フェイスコイル10は一様コイル9の内側に設けられ、
被検体5の画像化すべき所望の領域を取囲むように被検
体5に近接して配置された複数個(この例では6個)の
サーフェイスコイル10a〜10fからなる。
【0026】図3に図1における受信部11の詳細を示
す。一様コイル9に対応してプリアンプ21、検波回路
(DET)22およびローパスフィルタ(LPF)から
なる第1の信号検出手段が設けられ、また各サーフェイ
スコイル10a〜10fに対応して、プリアンプ31a
〜31f、検波回路32a〜32fおよびローパスフィ
ルタ33a〜33fからなる第2の信号検出手段がそれ
ぞれ設けられている。すなわち、一様コイル9およびサ
ーフェイスコイル10a〜10fでそれぞれ受信された
磁気共鳴信号は、プリアンプ21および31a〜31f
で増幅され、さらに検波回路22および32a〜32f
により検波された後、ローパスフィルタ23および33
a〜33fで不要成分が除去されてから、データ収集部
12に入力される。
す。一様コイル9に対応してプリアンプ21、検波回路
(DET)22およびローパスフィルタ(LPF)から
なる第1の信号検出手段が設けられ、また各サーフェイ
スコイル10a〜10fに対応して、プリアンプ31a
〜31f、検波回路32a〜32fおよびローパスフィ
ルタ33a〜33fからなる第2の信号検出手段がそれ
ぞれ設けられている。すなわち、一様コイル9およびサ
ーフェイスコイル10a〜10fでそれぞれ受信された
磁気共鳴信号は、プリアンプ21および31a〜31f
で増幅され、さらに検波回路22および32a〜32f
により検波された後、ローパスフィルタ23および33
a〜33fで不要成分が除去されてから、データ収集部
12に入力される。
【0027】データ収集部12では、受信部11から入
力された磁気共鳴信号の検波出力をサンプルホールドし
てA/D変換器によりディジタル化することによって、
画像再構成用データの収集を行う。このディジタル化さ
れた画像再構成用データが図1の電子計算機13に取込
まれる。データ収集部12におけるデータ収集方式とし
ては、取得すべき画像の帯域で決まるサンプリング時間
(Δtとする)毎に受信部11内の全てのローパスフィ
ルタ出力をサンプルホールドし、Δtの間に各サンプル
ホールド出力を走査してディジタル化する方式と、Δt
の間に各ローパスフィルタ出力を順次サンプルホールド
してディジタル化する方式とがあり、これらのいずれを
用いてもよい。
力された磁気共鳴信号の検波出力をサンプルホールドし
てA/D変換器によりディジタル化することによって、
画像再構成用データの収集を行う。このディジタル化さ
れた画像再構成用データが図1の電子計算機13に取込
まれる。データ収集部12におけるデータ収集方式とし
ては、取得すべき画像の帯域で決まるサンプリング時間
(Δtとする)毎に受信部11内の全てのローパスフィ
ルタ出力をサンプルホールドし、Δtの間に各サンプル
ホールド出力を走査してディジタル化する方式と、Δt
の間に各ローパスフィルタ出力を順次サンプルホールド
してディジタル化する方式とがあり、これらのいずれを
用いてもよい。
【0028】一様コイル9とサーフェイスコイル10a
〜10fとは近接して配置される関係上、両コイル間の
デカップリングが必要となる。このデカップリングのた
め、例えばサーフェイスコイルとして図4に示す微分型
コイル40が用いられる。これは図5にその原理を示す
ように、2つの同形のリング状コイル41,42を同軸
かつ平行に配置し、互いに空間的に逆向きの電流が流れ
るように結線したものであり、従来よりスクイッド磁束
計で微分型コイルとして用いられているものと同様であ
る。この微分型コイル40と、その両端に接続されたキ
ャパシタンス素子43〜45からなる同調・整合回路と
により一つのサーフェイスコイルが構成される。同調・
整合回路は受信部11内のプリアンプに接続される。
〜10fとは近接して配置される関係上、両コイル間の
デカップリングが必要となる。このデカップリングのた
め、例えばサーフェイスコイルとして図4に示す微分型
コイル40が用いられる。これは図5にその原理を示す
ように、2つの同形のリング状コイル41,42を同軸
かつ平行に配置し、互いに空間的に逆向きの電流が流れ
るように結線したものであり、従来よりスクイッド磁束
計で微分型コイルとして用いられているものと同様であ
る。この微分型コイル40と、その両端に接続されたキ
ャパシタンス素子43〜45からなる同調・整合回路と
により一つのサーフェイスコイルが構成される。同調・
整合回路は受信部11内のプリアンプに接続される。
【0029】このように構成された微分型コイルからな
るサーフェイスコイルでは、一様コイル9より発生され
る空間的に均一の高周波磁場B1 が鎖交したとき、両
コイル41,42に等しい誘導起電力が生じようとする
が、コイル41,42が上記のように結線されているた
め、両コイル41,42に誘導される起電力が打ち消し
合って、高周波電流は流れない。従って、このサーフェ
イスコイルは外側に配置される一様コイル9に対して常
時デカップリングされていることになる。但し、この場
合には一様コイル9の性質として微分型コイルからなる
サーフェイスコイルが配置された領域において空間的に
十分均一な高周波磁場を発生する必要がある。
るサーフェイスコイルでは、一様コイル9より発生され
る空間的に均一の高周波磁場B1 が鎖交したとき、両
コイル41,42に等しい誘導起電力が生じようとする
が、コイル41,42が上記のように結線されているた
め、両コイル41,42に誘導される起電力が打ち消し
合って、高周波電流は流れない。従って、このサーフェ
イスコイルは外側に配置される一様コイル9に対して常
時デカップリングされていることになる。但し、この場
合には一様コイル9の性質として微分型コイルからなる
サーフェイスコイルが配置された領域において空間的に
十分均一な高周波磁場を発生する必要がある。
【0030】微分型コイルをサーフェイスコイルとして
用いた場合のS/Nについては、文献:Magn.Re
son.Med.3,590−603(1986)で検
討されている。すなわち、この微分型コイルからなるサ
ーフェイスコイルのS/Nは被検体からのノイズ成分が
支配的であれば、1ターンコイルからなる通常のサーフ
ェイスコイルの場合のS/Nと同等であるが、コイル自
身の高周波ロスが無視できない状況では、通常のサーフ
ェイスコイルのS/Nに対して劣るため、実際のコイル
の製作・配置には、サーフェイスコイルと被検体との距
離や、2つのコイル41,42の間隔を十分に検討する
必要がある。
用いた場合のS/Nについては、文献:Magn.Re
son.Med.3,590−603(1986)で検
討されている。すなわち、この微分型コイルからなるサ
ーフェイスコイルのS/Nは被検体からのノイズ成分が
支配的であれば、1ターンコイルからなる通常のサーフ
ェイスコイルの場合のS/Nと同等であるが、コイル自
身の高周波ロスが無視できない状況では、通常のサーフ
ェイスコイルのS/Nに対して劣るため、実際のコイル
の製作・配置には、サーフェイスコイルと被検体との距
離や、2つのコイル41,42の間隔を十分に検討する
必要がある。
【0031】次に、サーフェイスコイル10a〜10f
として微分型コイルを用いた場合の隣接するサーフェイ
スコイル間のデカップリング法について、図6〜図9を
用いて説明する。図6および図7は、隣接する微分型コ
イルからなるサーフェイスコイル(図では10a,10
b)が平面的に配置された場合のデカップリング法を示
し、図8および図9はサーフェイスコイル10a,10
bが円周上に配置された場合のデカップリング法を示し
ている。
として微分型コイルを用いた場合の隣接するサーフェイ
スコイル間のデカップリング法について、図6〜図9を
用いて説明する。図6および図7は、隣接する微分型コ
イルからなるサーフェイスコイル(図では10a,10
b)が平面的に配置された場合のデカップリング法を示
し、図8および図9はサーフェイスコイル10a,10
bが円周上に配置された場合のデカップリング法を示し
ている。
【0032】図6の場合は、2つの微分型サーフェイス
コイル10a,10bをコイルの囲む面積で決まる面積
Sだけ面内で重ねることにより、デカップリングを行っ
ている。1ターンのコイルについての同様なデカップリ
ング法は、例えば米国特許第4,825,162号明細
書に記載されている。図7ではコイル10a,10bを
軸方向(コイルで囲まれた面に垂直の方向)にずらせる
ことにより、デカップリングを行っている。図8は、図
6の方法を変形したものである。すなわち、微分コイル
型サーフェイスコイル10a,10bを湾曲させた上で
円周上に配置した場合、外周側のコイル41の重なり部
分の面積S′と、内周側のコイル42の重なり部分の面
積S″とが異なってしまうが、S″>S>S′の条件を
満たす特定の位置にコイル10a,10bを配置するこ
とにより、デカップリングが可能となる。図9は図7を
変形したもので、コイル41とコイル42が角度θで配
置されている場合である。この場合は、図のx,y方向
に一方の微分型サーフェイスコイル10bを調整するこ
とにより、デカップリングを実現できる。
コイル10a,10bをコイルの囲む面積で決まる面積
Sだけ面内で重ねることにより、デカップリングを行っ
ている。1ターンのコイルについての同様なデカップリ
ング法は、例えば米国特許第4,825,162号明細
書に記載されている。図7ではコイル10a,10bを
軸方向(コイルで囲まれた面に垂直の方向)にずらせる
ことにより、デカップリングを行っている。図8は、図
6の方法を変形したものである。すなわち、微分コイル
型サーフェイスコイル10a,10bを湾曲させた上で
円周上に配置した場合、外周側のコイル41の重なり部
分の面積S′と、内周側のコイル42の重なり部分の面
積S″とが異なってしまうが、S″>S>S′の条件を
満たす特定の位置にコイル10a,10bを配置するこ
とにより、デカップリングが可能となる。図9は図7を
変形したもので、コイル41とコイル42が角度θで配
置されている場合である。この場合は、図のx,y方向
に一方の微分型サーフェイスコイル10bを調整するこ
とにより、デカップリングを実現できる。
【0033】これらのデカップリング法は、全て一方の
微分型コイルに電流が流れた時に発生する磁場のうち、
他方の微分型コイルに鎖交する磁場の総和が0になって
いる状態である。このように、種々の配置においてデカ
ップリングが可能であることが、微分型コイルを用いた
サーフェイスコイルのもう一つの特徴である。
微分型コイルに電流が流れた時に発生する磁場のうち、
他方の微分型コイルに鎖交する磁場の総和が0になって
いる状態である。このように、種々の配置においてデカ
ップリングが可能であることが、微分型コイルを用いた
サーフェイスコイルのもう一つの特徴である。
【0034】次に、隣接していないサーフェイスコイル
間のデカップリング法について説明する。隣接していな
いサーフェイスコイル間のカップリングは、隣接したサ
ーフェイスコイル間のカップリングに比べて少ない。そ
こで、隣接していないサーフェイスコイル間には精密な
デカップリング法を用いず、見掛けのQを低くすること
によりカップリングの影響を抑えられることに着目して
、デカップリングを行えば十分である。具体的には、微
分型サーフェイスコイルの各々にQダンプ回路を付加す
ればよい。
間のデカップリング法について説明する。隣接していな
いサーフェイスコイル間のカップリングは、隣接したサ
ーフェイスコイル間のカップリングに比べて少ない。そ
こで、隣接していないサーフェイスコイル間には精密な
デカップリング法を用いず、見掛けのQを低くすること
によりカップリングの影響を抑えられることに着目して
、デカップリングを行えば十分である。具体的には、微
分型サーフェイスコイルの各々にQダンプ回路を付加す
ればよい。
【0035】図10はQダンプ回路の具体例であり、コ
イル50はインダクタンスLとキャパシタンス素子ンス
Cで特定の周波数fo に共振しているとする。並列抵
抗Rp は共振状態におけるコイル50のインピーダン
スを示し、Q値を用いてRp =2πfo LQと表わ
される。
イル50はインダクタンスLとキャパシタンス素子ンス
Cで特定の周波数fo に共振しているとする。並列抵
抗Rp は共振状態におけるコイル50のインピーダン
スを示し、Q値を用いてRp =2πfo LQと表わ
される。
【0036】このコイル50の両端にゲインK倍のアン
プ51の反転入力端子および非反転入力端子を接続し、
さらにアンプ51の出力端子と反転入力端子との間に帰
還抵抗52(抵抗値Rf とする)を接続して、アンプ
51の出力端子と非反転入力端子を外部接続端子とする
。 アンプ51は実際には、図3におけるプリアンプ31a
〜31fが用いられる。
プ51の反転入力端子および非反転入力端子を接続し、
さらにアンプ51の出力端子と反転入力端子との間に帰
還抵抗52(抵抗値Rf とする)を接続して、アンプ
51の出力端子と非反転入力端子を外部接続端子とする
。 アンプ51は実際には、図3におけるプリアンプ31a
〜31fが用いられる。
【0037】図10のコイル50とアンプ51および帰
還抵抗52からなるQダンプ回路は図1に示す等価回路
で表わされる。図11の抵抗Rd は、Rd =Rf
/(K+1)で与えられる。
還抵抗52からなるQダンプ回路は図1に示す等価回路
で表わされる。図11の抵抗Rd は、Rd =Rf
/(K+1)で与えられる。
【0038】従って、アンプ51のゲインKを十分に大
きくすれば、Rp >>Rd となり、両端のインピー
ダンスが低くなることによって、見掛けのQが低下する
ことになる。
きくすれば、Rp >>Rd となり、両端のインピー
ダンスが低くなることによって、見掛けのQが低下する
ことになる。
【0039】実際の微分型サーフェイスコイルの配置状
態によっては、隣接していないサーフェイスコイル間の
カップリングが十分小さいこともあり、その場合にはこ
の様なQダンプ回路は不要である。
態によっては、隣接していないサーフェイスコイル間の
カップリングが十分小さいこともあり、その場合にはこ
の様なQダンプ回路は不要である。
【0040】一様コイル9と各々のサーフェイスコイル
10a〜10fとの間、または隣接するサーフェイスコ
イル間のデカップリングがコイル形状や配置によって十
分にできない場合には、サーフェイスコイル10a〜1
0fの方にQダンプ回路を用いた方がよい。
10a〜10fとの間、または隣接するサーフェイスコ
イル間のデカップリングがコイル形状や配置によって十
分にできない場合には、サーフェイスコイル10a〜1
0fの方にQダンプ回路を用いた方がよい。
【0041】次に、本実施例における高S/N画像化の
手順を具体的に説明する。一例として二次元画像を得る
場合の画像化シーケンスを図12に示す。この画像化シ
ーケンスは、高周波磁場(高周波パルス)として90°
パルス−180°パルスを用いた公知のスピンエコー法
により二次元画像を得るためのパルスシーケンスであり
、Gsはスライス方向の勾配磁場、Grはリード方向の
勾配磁場、Geはエンコード方向の勾配磁場の印加タイ
ミングをそれぞれ示す。
手順を具体的に説明する。一例として二次元画像を得る
場合の画像化シーケンスを図12に示す。この画像化シ
ーケンスは、高周波磁場(高周波パルス)として90°
パルス−180°パルスを用いた公知のスピンエコー法
により二次元画像を得るためのパルスシーケンスであり
、Gsはスライス方向の勾配磁場、Grはリード方向の
勾配磁場、Geはエンコード方向の勾配磁場の印加タイ
ミングをそれぞれ示す。
【0042】図12のようにエンコード用勾配磁場Ge
の振幅を変えながら磁気共鳴信号を収集する。高周波パ
ルスの印加は一様コイル9を用いて行い、磁気共鳴信号
の受信は一様コイル9および全てのサーフェイスコイル
10a〜10f(マルチサーフェイスコイル10)を用
いて行う。各コイル9,10a〜10fを介して受信部
11で検出された磁気共鳴信号は、データ収集部12を
介して画像再構成用データとして電子計算機13に取り
込まれ、電子計算機13内で2次元フーリエ変換される
ことにより、画像再構成がなされる。この画像再構成に
よって、一様コイル9を介して得られた1チャネルの画
像データと各サーフェイスコイル10a〜10fを介し
て得られた複数チャネル(この例では6チャネル)の画
像データが得られる。そして、サーフェイスコイル10
a〜10を介して得られた6チャネルの画像データ、さ
らには一様コイル9を介して得られた1チャネルを加え
た合計7チャネルの画像データが、S/Nが最大となる
ように所定の重み関数により重み付け加算されることに
よって、一枚の画像の画像データが合成される。
の振幅を変えながら磁気共鳴信号を収集する。高周波パ
ルスの印加は一様コイル9を用いて行い、磁気共鳴信号
の受信は一様コイル9および全てのサーフェイスコイル
10a〜10f(マルチサーフェイスコイル10)を用
いて行う。各コイル9,10a〜10fを介して受信部
11で検出された磁気共鳴信号は、データ収集部12を
介して画像再構成用データとして電子計算機13に取り
込まれ、電子計算機13内で2次元フーリエ変換される
ことにより、画像再構成がなされる。この画像再構成に
よって、一様コイル9を介して得られた1チャネルの画
像データと各サーフェイスコイル10a〜10fを介し
て得られた複数チャネル(この例では6チャネル)の画
像データが得られる。そして、サーフェイスコイル10
a〜10を介して得られた6チャネルの画像データ、さ
らには一様コイル9を介して得られた1チャネルを加え
た合計7チャネルの画像データが、S/Nが最大となる
ように所定の重み関数により重み付け加算されることに
よって、一枚の画像の画像データが合成される。
【0043】一般に、コイルで検出されるノイズは、ほ
とんど被検体5からの誘導的ノイズであると考えると、
上記の重み関数は[数1]〜[数3]で与えられる。
とんど被検体5からの誘導的ノイズであると考えると、
上記の重み関数は[数1]〜[数3]で与えられる。
【0044】但し、Rは画像上の位置(画素位置)を示
す位置ベクトル、rは被検体のある空間の位置を示すベ
クトル、ki (R)はi番目のサーフェイスコイルで
得られた画像データに対する重み関数、hi (R)は
i番目のサーフェイスコイルが発生する高周波磁場分布
、λ(R)はサーフェイスコイルの高周波磁場分布に起
因する、重み付け加算後の画像データの感度むらを補正
する補正関数、Ei (r)はi番目のサーフェイスコ
イルに単位高周波電流を流した時に発生する電場である
。なお、Hijの積分は被検体の全体について行われる
。
す位置ベクトル、rは被検体のある空間の位置を示すベ
クトル、ki (R)はi番目のサーフェイスコイルで
得られた画像データに対する重み関数、hi (R)は
i番目のサーフェイスコイルが発生する高周波磁場分布
、λ(R)はサーフェイスコイルの高周波磁場分布に起
因する、重み付け加算後の画像データの感度むらを補正
する補正関数、Ei (r)はi番目のサーフェイスコ
イルに単位高周波電流を流した時に発生する電場である
。なお、Hijの積分は被検体の全体について行われる
。
【0045】コイルのノイズとしては、コイル自身に起
因する高周波抵抗のノイズ、被検体に起因する誘電的ま
たは誘導的ノイズがあるが、コイルを被検体に装着した
状態では、被検体からのノイズが大部分を占めると考え
られる。コイル自身に起因するノイズが無視できない場
合には、この影響を行列[Hij]の対角要素を変更す
ることにより考慮すればよい。但し、実際上は[Hij
]の対角要素は非対角要素に比べ小さくなるため、簡単
のために[Hij]の非対角要素を0と置いた重み関数
を用いてもよい。
因する高周波抵抗のノイズ、被検体に起因する誘電的ま
たは誘導的ノイズがあるが、コイルを被検体に装着した
状態では、被検体からのノイズが大部分を占めると考え
られる。コイル自身に起因するノイズが無視できない場
合には、この影響を行列[Hij]の対角要素を変更す
ることにより考慮すればよい。但し、実際上は[Hij
]の対角要素は非対角要素に比べ小さくなるため、簡単
のために[Hij]の非対角要素を0と置いた重み関数
を用いてもよい。
【0046】重み関数k(R)を決定するには、各サー
フェイスコイル10a〜10fの高周波磁場分布h(R
)を求める必要がある。以下、これについて説明する。 h(r)には近似的にh(R)を代用することができる
。まず、一様コイル9およびサーフェイスコイル10a
〜10fを介してそれぞれ得られた画像データの位相補
正を行う。ここで、一様コイル9を用いて図13に示す
ような画像が得られたとする。図13で太線は一様コイ
ル9の位置、破線はサーフェイスコイル10aの位置を
それぞれ示す。
フェイスコイル10a〜10fの高周波磁場分布h(R
)を求める必要がある。以下、これについて説明する。 h(r)には近似的にh(R)を代用することができる
。まず、一様コイル9およびサーフェイスコイル10a
〜10fを介してそれぞれ得られた画像データの位相補
正を行う。ここで、一様コイル9を用いて図13に示す
ような画像が得られたとする。図13で太線は一様コイ
ル9の位置、破線はサーフェイスコイル10aの位置を
それぞれ示す。
【0047】図13の一点鎖線A上における画像のヒス
トグラムを図14(a)に示し、またサーフェイスコイ
ル10aによって得られた画像の同じ位置に相当するヒ
ストグラムを図14(b)に示す。図14(a)(b)
において、横軸は位置を表わし、縦軸はそれぞれの画像
における信号強度ST ,SS を表わす。図14(b
)によれば、サーフェイスコイル10aによって得られ
た画像は、サーフェイスコイル10aの位置から離れる
に従って感度が落ちていることが分かる。なお、画像の
S/Nが悪い場合には、移動平均などの平滑化処理を適
宜行うことが望ましい。
トグラムを図14(a)に示し、またサーフェイスコイ
ル10aによって得られた画像の同じ位置に相当するヒ
ストグラムを図14(b)に示す。図14(a)(b)
において、横軸は位置を表わし、縦軸はそれぞれの画像
における信号強度ST ,SS を表わす。図14(b
)によれば、サーフェイスコイル10aによって得られ
た画像は、サーフェイスコイル10aの位置から離れる
に従って感度が落ちていることが分かる。なお、画像の
S/Nが悪い場合には、移動平均などの平滑化処理を適
宜行うことが望ましい。
【0048】次に、被検体5の各部位の信号強度比ha
(=SS /ST )を求める。図14(a)(b)に
示した一点鎖線A上における画像のヒストグラムから、
この信号強度比ha を計算した結果を図14(c)に
示す。 元々信号源のない点や、緩和時間などの影響で信号が出
てこなかった点は、画像データが抜けてしまうので、補
間等の処理を行う。サーフェイスコイルが発生する高周
波磁場分布は直交関数で展開できるので、得られている
画像データを使って最小二乗法等により直交関数系の各
項の係数を決定するという方法を用いてもよい。これら
の方法により、サーフェイスコイル10aの画像化領域
全体にわたる、図14(d)にヒストグラムを示すよう
な高周波磁場分布ha(R)を求めることができる。
(=SS /ST )を求める。図14(a)(b)に
示した一点鎖線A上における画像のヒストグラムから、
この信号強度比ha を計算した結果を図14(c)に
示す。 元々信号源のない点や、緩和時間などの影響で信号が出
てこなかった点は、画像データが抜けてしまうので、補
間等の処理を行う。サーフェイスコイルが発生する高周
波磁場分布は直交関数で展開できるので、得られている
画像データを使って最小二乗法等により直交関数系の各
項の係数を決定するという方法を用いてもよい。これら
の方法により、サーフェイスコイル10aの画像化領域
全体にわたる、図14(d)にヒストグラムを示すよう
な高周波磁場分布ha(R)を求めることができる。
【0049】なお、高周波磁場分布ha(R)として、
単純に図14(c)のヒストグラムのように被検体5の
部位の信号強度比ha(=SS /ST )をとったも
のを用いても構わない。
単純に図14(c)のヒストグラムのように被検体5の
部位の信号強度比ha(=SS /ST )をとったも
のを用いても構わない。
【0050】一方、一様コイル9を介して得られた画像
において、被検体5等の影響で一様コイル9の高周波磁
場分布が不均一になる場合には、前もって一様コイル9
の高周波磁場分布を求めておくことが必要である。
において、被検体5等の影響で一様コイル9の高周波磁
場分布が不均一になる場合には、前もって一様コイル9
の高周波磁場分布を求めておくことが必要である。
【0051】以上の説明では、各サーフェイスコイルか
ら得られた磁気共鳴信号の生データを画像再構成用デー
タとし、これをフーリエ変換した画像データを重み付け
加算することにより、所望領域の高S/Nの画像を得る
ようにしたが、次のような方法を用いることもできる。 すなわち、フーリエ変換前の各サーフェイスコイルから
の磁気共鳴信号の生データと、これらにそれぞれ対応す
る重み関数の逆フーリエ変換結果との畳み込み積分を行
い、得られた複数チャネルの畳み込み積分結果を加算合
成した後、フーリエ変換することによっても、同様に所
望領域の高S/N画像を得ることができる。
ら得られた磁気共鳴信号の生データを画像再構成用デー
タとし、これをフーリエ変換した画像データを重み付け
加算することにより、所望領域の高S/Nの画像を得る
ようにしたが、次のような方法を用いることもできる。 すなわち、フーリエ変換前の各サーフェイスコイルから
の磁気共鳴信号の生データと、これらにそれぞれ対応す
る重み関数の逆フーリエ変換結果との畳み込み積分を行
い、得られた複数チャネルの畳み込み積分結果を加算合
成した後、フーリエ変換することによっても、同様に所
望領域の高S/N画像を得ることができる。
【0052】例えば2次元画像の場合についてi番目の
サーフェイスコイルによって得られる磁気共鳴信号の生
データをIfi(Kx,Ky)、フーリエ変換後の画像
データをIi (X,Y)、i番目の画像の重み関数を
ki (X,Y)、この重み関数ki (X,Y)の逆
フーリエ変換をkfi(Kx,Ky)とし、最終的に得
られる高S/N画像をI(X,Y)とすると、[数4]
に示すような関係が成り立つ。
サーフェイスコイルによって得られる磁気共鳴信号の生
データをIfi(Kx,Ky)、フーリエ変換後の画像
データをIi (X,Y)、i番目の画像の重み関数を
ki (X,Y)、この重み関数ki (X,Y)の逆
フーリエ変換をkfi(Kx,Ky)とし、最終的に得
られる高S/N画像をI(X,Y)とすると、[数4]
に示すような関係が成り立つ。
【0053】この[数4]に示されるように、磁気共鳴
信号の生データIfi(Kx,Ky)と、重み関数ki
(X,Y)の逆フーリエ変換kfi(Kx,Ky)と
の畳み込み積分結果を各サーフェイスコイルについて加
算したものが、最終的に得られる画像I(X,Y)の逆
フーリエ変換に相当することが分かる。従って、これを
フーリエ変換すれば、画像I(X,Y)が求まることに
なる。
信号の生データIfi(Kx,Ky)と、重み関数ki
(X,Y)の逆フーリエ変換kfi(Kx,Ky)と
の畳み込み積分結果を各サーフェイスコイルについて加
算したものが、最終的に得られる画像I(X,Y)の逆
フーリエ変換に相当することが分かる。従って、これを
フーリエ変換すれば、画像I(X,Y)が求まることに
なる。
【0054】以上の実施例では、サーフェイスコイルと
して微分型コイルを用い、かつその配置を工夫すること
により、各サーフェイスコイル10a〜10f間のデカ
ップリングを行ったが、デカップリング法は他に種々考
えられる。例えば、図15〜図17に示すようなデカッ
プリング回路を用いてもよい。図15(a)は2種類の
値のリアクタンス素子Z1 ,Z2 によるブリッジ回
路からなるデカップリング回路であり、その等価回路を
図15(b)に示す。端子a,b及び端子c,dは、そ
れぞれデカップリングすべき2つのサーフェイスコイル
10a,10bの両端に接続される。リアクタンス素子
Z1 ,Z2として、図16に示すようにキャパシタン
ス素子C1 ,C2 を用いるか、または図17に示す
ようにインダクタンス素子L1 ,L2 を用い、それ
らの値を調整することにより、カップリングの効果を打
ち消すことができる。
して微分型コイルを用い、かつその配置を工夫すること
により、各サーフェイスコイル10a〜10f間のデカ
ップリングを行ったが、デカップリング法は他に種々考
えられる。例えば、図15〜図17に示すようなデカッ
プリング回路を用いてもよい。図15(a)は2種類の
値のリアクタンス素子Z1 ,Z2 によるブリッジ回
路からなるデカップリング回路であり、その等価回路を
図15(b)に示す。端子a,b及び端子c,dは、そ
れぞれデカップリングすべき2つのサーフェイスコイル
10a,10bの両端に接続される。リアクタンス素子
Z1 ,Z2として、図16に示すようにキャパシタン
ス素子C1 ,C2 を用いるか、または図17に示す
ようにインダクタンス素子L1 ,L2 を用い、それ
らの値を調整することにより、カップリングの効果を打
ち消すことができる。
【0055】図18は、このようなブリッジ回路による
デカップリング回路を1ターンコイルからなるサーフェ
イスコイル10a,10b間のデカップリングに適用し
た例を示し、図19は図4に示したような微分型コイル
を用いたサーフェイスコイル10a,10b間のデカッ
プリングに適用した例を示している。
デカップリング回路を1ターンコイルからなるサーフェ
イスコイル10a,10b間のデカップリングに適用し
た例を示し、図19は図4に示したような微分型コイル
を用いたサーフェイスコイル10a,10b間のデカッ
プリングに適用した例を示している。
【0056】また、図20〜図22には8の字型または
ループ状コイルからなるデカップリングコイル43〜4
5を用いた例を示す。図20は1ターンコイルからなる
サーフェイスコイル10a,10bにデカップリングコ
イル43がカップリングしている。これによりコイル1
0a,10bの一方に鎖交する磁束が0になるようにで
き、デカップリングが可能となる。図21および図22
は微分型コイルからなるサーフェイスコイル10a,1
0bにデカップリングコイル44,45をカップリング
させており、同様にしてデカップリングがなされる。
ループ状コイルからなるデカップリングコイル43〜4
5を用いた例を示す。図20は1ターンコイルからなる
サーフェイスコイル10a,10bにデカップリングコ
イル43がカップリングしている。これによりコイル1
0a,10bの一方に鎖交する磁束が0になるようにで
き、デカップリングが可能となる。図21および図22
は微分型コイルからなるサーフェイスコイル10a,1
0bにデカップリングコイル44,45をカップリング
させており、同様にしてデカップリングがなされる。
【0057】ここに示したデカップリングコイル43,
44はバタフライ型コイルであり、それ自身が一様コイ
ル9とはデカップリング状態を実現できる。但し、図2
2の例では一様コイル9の発生する高周波磁場の向きに
よってはデカップリングコイル45が一様コイル9とカ
ップリングするため、適用に当たっては配置を考慮する
か、被検体から離すことが望まれる。
44はバタフライ型コイルであり、それ自身が一様コイ
ル9とはデカップリング状態を実現できる。但し、図2
2の例では一様コイル9の発生する高周波磁場の向きに
よってはデカップリングコイル45が一様コイル9とカ
ップリングするため、適用に当たっては配置を考慮する
か、被検体から離すことが望まれる。
【0058】先の実施例では、一様コイル9とサーフェ
イスコイル10a〜10f間のデカップリングを行うた
めに、微分型コイルをサーフェイスコイルとして用いた
が、通常のコイルを用いた場合、一様コイル9とのデカ
ップリングに図15〜図17に示したようなデカップリ
ング回路を用いても構わない。
イスコイル10a〜10f間のデカップリングを行うた
めに、微分型コイルをサーフェイスコイルとして用いた
が、通常のコイルを用いた場合、一様コイル9とのデカ
ップリングに図15〜図17に示したようなデカップリ
ング回路を用いても構わない。
【0059】次に、一様コイルおよびサーフェイスコイ
ルからなる高周波コイル部の他の実施例を説明する。図
23は一様コイルとして鳥かご型コイル61、サーフェ
イスコイルとして微分型コイル64をそれぞれ用いた例
を示している。ここで示した鳥かご型コイル61はハイ
パス型と呼ばれるもので、軸方向に平行で円周方向に所
定間隔で配列されたインダクタンス素子63と、隣接す
るインダクタンス素子ンス素子63間を接続するキャパ
シタンス素子62とから構成されている。すなわち、イ
ンダクタンス素子63とキャプスタン素子62が梯子状
に配設されることにより、鳥かご型コイル61が構成さ
れる。
ルからなる高周波コイル部の他の実施例を説明する。図
23は一様コイルとして鳥かご型コイル61、サーフェ
イスコイルとして微分型コイル64をそれぞれ用いた例
を示している。ここで示した鳥かご型コイル61はハイ
パス型と呼ばれるもので、軸方向に平行で円周方向に所
定間隔で配列されたインダクタンス素子63と、隣接す
るインダクタンス素子ンス素子63間を接続するキャパ
シタンス素子62とから構成されている。すなわち、イ
ンダクタンス素子63とキャプスタン素子62が梯子状
に配設されることにより、鳥かご型コイル61が構成さ
れる。
【0060】一方、微分型コイル64は鳥かご型コイル
61を構成するインダクタンス素子63とキャパシタン
ス素子62とで囲まれた空間内に、鳥かご型コイル61
の半径方向に並べて配置された2つの導体ループからな
り、これら上下の導体ループを互いに逆向きに電流が流
れるようにキャパシタンス素子65で接続して構成され
る。このようにすると、二つの導体ループに鎖交する各
々の磁束が等しければその磁束変化に対して誘導起電力
を生じない。従って、鳥かご型コイル61と微分型コイ
ル64とのデカップリングが可能である。
61を構成するインダクタンス素子63とキャパシタン
ス素子62とで囲まれた空間内に、鳥かご型コイル61
の半径方向に並べて配置された2つの導体ループからな
り、これら上下の導体ループを互いに逆向きに電流が流
れるようにキャパシタンス素子65で接続して構成され
る。このようにすると、二つの導体ループに鎖交する各
々の磁束が等しければその磁束変化に対して誘導起電力
を生じない。従って、鳥かご型コイル61と微分型コイ
ル64とのデカップリングが可能である。
【0061】微分型コイル64の相互間についても、デ
カップリングを考慮することが望まれる。微分型コイル
64については、図24および図25に示されるように
隣接するコイル間に導電性板66を配置することによっ
て、カップリングする磁束を遮断することができる。こ
の導電性板66は導電性板66を挟んで両側のコイルが
対称となるような位置に配置されることが望ましく、ま
た面積が大きいほどデカップリング効果は大きい。
カップリングを考慮することが望まれる。微分型コイル
64については、図24および図25に示されるように
隣接するコイル間に導電性板66を配置することによっ
て、カップリングする磁束を遮断することができる。こ
の導電性板66は導電性板66を挟んで両側のコイルが
対称となるような位置に配置されることが望ましく、ま
た面積が大きいほどデカップリング効果は大きい。
【0062】次に、図24および図25で説明したデカ
ップリング法を実際に適用した例を図26〜図28に示
す。図26ではハイパス型の鳥かご型コイル61におけ
る軸方向に平行なインダクタンス素子(図23のインダ
クタンス素子63に相当する)を導電性板67で構成す
ることにより、導電性板67に微分型コイル64間のデ
カップリングの役割を兼ねさせている。
ップリング法を実際に適用した例を図26〜図28に示
す。図26ではハイパス型の鳥かご型コイル61におけ
る軸方向に平行なインダクタンス素子(図23のインダ
クタンス素子63に相当する)を導電性板67で構成す
ることにより、導電性板67に微分型コイル64間のデ
カップリングの役割を兼ねさせている。
【0063】図27および図28は、いずれもローパス
型の鳥かご型コイル71を用いた場合の例である。図2
7では、軸方向に平行なインダクタンス素子を導電性板
72で構成すると共に、これらの導電性板72の途中に
電極板73と誘電体板74とで構成されるキャパシタン
ス素子をそれぞれ挿入している。この場合、誘電体板7
4の厚みに相当する僅かな部分からでも磁束が漏れない
ように、電極板73の端部を誘電体板74の一部を覆う
ように折り曲げておくことが望ましい。図28は、軸に
平行なインダクタンス素子をそれぞれ2枚の導電性板7
5,76で構成し、各先端部が誘電体板74を挟んで対
向するようにしたものである。
型の鳥かご型コイル71を用いた場合の例である。図2
7では、軸方向に平行なインダクタンス素子を導電性板
72で構成すると共に、これらの導電性板72の途中に
電極板73と誘電体板74とで構成されるキャパシタン
ス素子をそれぞれ挿入している。この場合、誘電体板7
4の厚みに相当する僅かな部分からでも磁束が漏れない
ように、電極板73の端部を誘電体板74の一部を覆う
ように折り曲げておくことが望ましい。図28は、軸に
平行なインダクタンス素子をそれぞれ2枚の導電性板7
5,76で構成し、各先端部が誘電体板74を挟んで対
向するようにしたものである。
【0064】図29は、図16で説明したデカップリン
グ回路を図23における隣り合う微分型コイル64間の
デカップリングに適用した例を示している。
グ回路を図23における隣り合う微分型コイル64間の
デカップリングに適用した例を示している。
【0065】なお、上述の方法で隣り合う微分型コイル
間のデカップリングが不十分な場合(例えば図26にお
ける導電性板66の幅をあまり大きくとれない場合)や
、隣り合っていない微分型コイル間のカップリングがあ
る場合、それらを抑えるために図10に示したようなQ
ダンプ回路を併用して、見掛けのQを低くすることが望
ましい。
間のデカップリングが不十分な場合(例えば図26にお
ける導電性板66の幅をあまり大きくとれない場合)や
、隣り合っていない微分型コイル間のカップリングがあ
る場合、それらを抑えるために図10に示したようなQ
ダンプ回路を併用して、見掛けのQを低くすることが望
ましい。
【0066】図30〜図33に、鳥かご型コイルと微分
型コイルとからなる高周波コイル部の他の構成例を示す
。図30は、ハイパス型の鳥かご型コイル61において
軸方向に平行なインダクタンス素子を導電性板67で構
成するとともに、隣接する導電性板67の中央部間を円
周方向に沿った導電性板68により接続して、鳥かご型
コイル61のインダクタンス素子(導電性板67)とキ
ャパシタンス素子62とで囲まれた各空間を軸方向に二
つの空間に分割し、これらの各分割空間に微分型コイル
64をそれぞれ配置したものである。この場合、導電性
板67,68によって隣接する微分型コイル64間のデ
カップリングが行われることになる。
型コイルとからなる高周波コイル部の他の構成例を示す
。図30は、ハイパス型の鳥かご型コイル61において
軸方向に平行なインダクタンス素子を導電性板67で構
成するとともに、隣接する導電性板67の中央部間を円
周方向に沿った導電性板68により接続して、鳥かご型
コイル61のインダクタンス素子(導電性板67)とキ
ャパシタンス素子62とで囲まれた各空間を軸方向に二
つの空間に分割し、これらの各分割空間に微分型コイル
64をそれぞれ配置したものである。この場合、導電性
板67,68によって隣接する微分型コイル64間のデ
カップリングが行われることになる。
【0067】図31は、ローパス型の鳥かご型コイル7
1について図30と同様の構成を適用した例であり、軸
方向に中央に配置されたキャパシタンス素子78の中心
に円環状導体板77を通すことによって、鳥かご型コイ
ル71のインダクタンス素子(導電性板72)とキャパ
シタンス素子78とで囲まれた各空間を軸方向に二つの
空間に分割し、各分割空間に微分型コイル64を配置し
ている。
1について図30と同様の構成を適用した例であり、軸
方向に中央に配置されたキャパシタンス素子78の中心
に円環状導体板77を通すことによって、鳥かご型コイ
ル71のインダクタンス素子(導電性板72)とキャパ
シタンス素子78とで囲まれた各空間を軸方向に二つの
空間に分割し、各分割空間に微分型コイル64を配置し
ている。
【0068】図32は、軸方向に3つ以上の微分型コイ
ル64を配置するために、軸方向において隣り合う微分
型コイル64間のデカップリングを各コイルの一部を重
ねることにより、互いに鎖交する磁束を零にすることで
行っている。なお、図15および図16で説明したよう
なデカップリング法を用いても、3つ以上の微分型コイ
ルを軸方向に配置することができる。
ル64を配置するために、軸方向において隣り合う微分
型コイル64間のデカップリングを各コイルの一部を重
ねることにより、互いに鎖交する磁束を零にすることで
行っている。なお、図15および図16で説明したよう
なデカップリング法を用いても、3つ以上の微分型コイ
ルを軸方向に配置することができる。
【0069】図33は、サーフェイスコイルとして微分
型コイル64と8の字型コイル69を併用した例を示す
。微分型コイル64および8の字型コイル69のいずれ
も、鳥かご型コイル61とデカップリングが可能である
。また、両コイル64,69の間も互いに鎖交する磁束
の総和が零となるように配置できるので、図33に示す
ように両コイル64,69を円周方向に交互に配置する
ことにより、隣接するサーフェイスコイル間のデカップ
リングを容易に達成でき、鳥かご型コイル61の軸方向
に平行なインダクタンス素子63をデカップリングを兼
ねる板状のような形状とする必要もなくなる。
型コイル64と8の字型コイル69を併用した例を示す
。微分型コイル64および8の字型コイル69のいずれ
も、鳥かご型コイル61とデカップリングが可能である
。また、両コイル64,69の間も互いに鎖交する磁束
の総和が零となるように配置できるので、図33に示す
ように両コイル64,69を円周方向に交互に配置する
ことにより、隣接するサーフェイスコイル間のデカップ
リングを容易に達成でき、鳥かご型コイル61の軸方向
に平行なインダクタンス素子63をデカップリングを兼
ねる板状のような形状とする必要もなくなる。
【0070】以上の実施例では、一様コイルとして鳥か
ご型コイルを用いたが、スロッテド・チューブ・リゾネ
ータも4つの間隙を持つので、この間隙を利用して微分
型コイル等からなるサーフェイスコイルを一様コイルと
近接して配置することが可能である。
ご型コイルを用いたが、スロッテド・チューブ・リゾネ
ータも4つの間隙を持つので、この間隙を利用して微分
型コイル等からなるサーフェイスコイルを一様コイルと
近接して配置することが可能である。
【0071】図34は、図23〜図29を用いて説明し
たように、一様コイル9として鳥かご型コイルを用い、
サーフェイスコイル10a〜19hとして微分型コイル
を用いた高周波コイル部の配置を示す図であり、一様コ
イル9を構成する鳥かご型コイルにおけるインダクタン
ス素子とキャパシタンス素子とで囲まれた空間内にサン
プリングコイル10a〜10hが配置されている。この
ようにすると、一様コイル9およびサンプリングコイル
10a〜10hの両者を被検体5に近接して配置でき、
被検体5の表面部でも深部でも高いS/Nの画像が得ら
れる。
たように、一様コイル9として鳥かご型コイルを用い、
サーフェイスコイル10a〜19hとして微分型コイル
を用いた高周波コイル部の配置を示す図であり、一様コ
イル9を構成する鳥かご型コイルにおけるインダクタン
ス素子とキャパシタンス素子とで囲まれた空間内にサン
プリングコイル10a〜10hが配置されている。この
ようにすると、一様コイル9およびサンプリングコイル
10a〜10hの両者を被検体5に近接して配置でき、
被検体5の表面部でも深部でも高いS/Nの画像が得ら
れる。
【0072】
【発明の効果】本発明によれば、複数のサーフェイスコ
イルで磁気共鳴信号を同時に検出し画像化のためのデー
タ収集をするのと同じ時間内に、従来は高周波磁場の送
信用のみに用いられていた一様コイルでも磁気共鳴信号
を検出して画像化のためのデータ収集を行うことにより
、各サーフェイスコイルによる高S/N画像データと共
に、被検体の画像化すべき所望の領域全体の均一な画像
データが得られ、これらの画像データを用いて各サーフ
ェイスコイルの高周波磁場分布を求めることが可能とな
る。
イルで磁気共鳴信号を同時に検出し画像化のためのデー
タ収集をするのと同じ時間内に、従来は高周波磁場の送
信用のみに用いられていた一様コイルでも磁気共鳴信号
を検出して画像化のためのデータ収集を行うことにより
、各サーフェイスコイルによる高S/N画像データと共
に、被検体の画像化すべき所望の領域全体の均一な画像
データが得られ、これらの画像データを用いて各サーフ
ェイスコイルの高周波磁場分布を求めることが可能とな
る。
【0073】そして、この高周波磁場分布に基づいて決
められた重み関数を用いて各サーフェイスコイルから得
られた高S/N画像を重み付け加算するか、またはフー
リエ変換前の各サーフェイスコイルからの磁気共鳴信号
の生データと、これらにそれぞれ対応する重み関数の逆
フーリエ変換結果との畳み込み積分を行い、得られた複
数チャネルの畳み込み積分結果を加算合成した後、フー
リエ変換することによって、一枚の高S/画像を合成す
ることができる。
められた重み関数を用いて各サーフェイスコイルから得
られた高S/N画像を重み付け加算するか、またはフー
リエ変換前の各サーフェイスコイルからの磁気共鳴信号
の生データと、これらにそれぞれ対応する重み関数の逆
フーリエ変換結果との畳み込み積分を行い、得られた複
数チャネルの畳み込み積分結果を加算合成した後、フー
リエ変換することによって、一枚の高S/画像を合成す
ることができる。
【0074】また、単に重み付け加算して得られた画像
データが不均一な場合、各サーフェイスコイルにより得
られた高周波磁場分布により感度補正をすることによっ
て均一化することもできる。
データが不均一な場合、各サーフェイスコイルにより得
られた高周波磁場分布により感度補正をすることによっ
て均一化することもできる。
【0075】さらに、本発明によれば一様コイルを構成
するインダクタンス素子およびキャパシタンス素子で囲
まれた空間内に小型化された複数個のサーフェイスコイ
ルを配置するとともに、両コイル間あるいはサーフェイ
スコイル間のデカップリングを行い、これら両コイルを
用いて磁気共鳴信号を検出することができる。これによ
り、被検体の表面近傍おいてはサーフェイスコイルを使
用したときと同等の高いS/Nを達成でき、被検体の深
部においても少なくともクォードラチャ受信方式を適用
した一様コイルで実現されるのと同等のS/Nを実現す
ることが可能となる。
するインダクタンス素子およびキャパシタンス素子で囲
まれた空間内に小型化された複数個のサーフェイスコイ
ルを配置するとともに、両コイル間あるいはサーフェイ
スコイル間のデカップリングを行い、これら両コイルを
用いて磁気共鳴信号を検出することができる。これによ
り、被検体の表面近傍おいてはサーフェイスコイルを使
用したときと同等の高いS/Nを達成でき、被検体の深
部においても少なくともクォードラチャ受信方式を適用
した一様コイルで実現されるのと同等のS/Nを実現す
ることが可能となる。
【0076】
【数1】
【0077】
【数2】
【0078】
【数3】
【0079】
【数4】
【図1】 本発明の一実施例に係る磁気共鳴映像装置
のブロック図
のブロック図
【図2】 図1における被検体に対する一様コイルお
よびマルチサーフェイスコイルの配置例を示す概略断面
図
よびマルチサーフェイスコイルの配置例を示す概略断面
図
【図3】 図1における受信部の詳細を示すブロッ
ク図
ク図
【図4】 図3におけるサーフェイスコイルの具
体例を示す図
体例を示す図
【図5】 図4のサーフェイスコイルに用いられる微
分型コイルの原理を説明するための図
分型コイルの原理を説明するための図
【図6】 図4のサーフェイスコイルを用いた場合の
各サーフェイスコイル間のデカップリング法を示す図
各サーフェイスコイル間のデカップリング法を示す図
【
図7】 図4のサーフェイスコイルを用いた場合の各
サーフェイスコイル間のデカップリング法の例を示す図
図7】 図4のサーフェイスコイルを用いた場合の各
サーフェイスコイル間のデカップリング法の例を示す図
【図8】 図4のサーフェイスコイルを用いた場合の
各サーフェイスコイル間のデカップリング法の例を示す
図
各サーフェイスコイル間のデカップリング法の例を示す
図
【図9】 図4のサーフェイスコイルを用いた場合
の各サーフェイスコイル間のデカップリング法の例を示
す図
の各サーフェイスコイル間のデカップリング法の例を示
す図
【図10】 デカップリングのためのQダンプ回
路の一例を示す図
路の一例を示す図
【図11】 図10の回路の等価回路を示す図
【図1
2】 同実施例における画像化のためのパルスシーケ
ンスを示す図
2】 同実施例における画像化のためのパルスシーケ
ンスを示す図
【図13】 同実施例における一様コイルを介して得
られた画像を示す図
られた画像を示す図
【図14】 同実施例におけるサーフェイスコイルが
発生する高周波磁場分布の求め方を説明するための図
発生する高周波磁場分布の求め方を説明するための図
【
図15】 キャパシタンス素子およびインダクタンス
素子を用いたサーフェイスコイル間のデカップリング法
の例を示す図
図15】 キャパシタンス素子およびインダクタンス
素子を用いたサーフェイスコイル間のデカップリング法
の例を示す図
【図16】 キャパシタンス素子およびインダクタン
ス素子を用いたサーフェイスコイル間のデカップリング
法の例を示す図
ス素子を用いたサーフェイスコイル間のデカップリング
法の例を示す図
【図17】 キャパシタンス素子およびインダクタン
ス素子を用いたサーフェイスコイル間のデカップリング
法の例を示す図
ス素子を用いたサーフェイスコイル間のデカップリング
法の例を示す図
【図18】 キャパシタンス素子およびインダクタン
ス素子を用いたサーフェイスコイル間のデカップリング
法の例を示す図
ス素子を用いたサーフェイスコイル間のデカップリング
法の例を示す図
【図19】 キャパシタンス素子およびインダクタン
ス素子を用いたサーフェイスコイル間のデカップリング
法の例を示す図
ス素子を用いたサーフェイスコイル間のデカップリング
法の例を示す図
【図20】 デカップリング用コイルを用いたサーフ
ェイスコイル間のデカップリング法の例を示す図
ェイスコイル間のデカップリング法の例を示す図
【図2
1】 デカップリング用コイルを用いたサーフェイス
コイル間のデカップリング法の例を示す図
1】 デカップリング用コイルを用いたサーフェイス
コイル間のデカップリング法の例を示す図
【図22】デ
カップリング用コイルを用いたサーフェイスコイル間の
デカップリング法の例を示す図
カップリング用コイルを用いたサーフェイスコイル間の
デカップリング法の例を示す図
【図23】 ハイパス
型の鳥かご型コイルと微分型コイルを用いた高周波コイ
ル部の斜視図
型の鳥かご型コイルと微分型コイルを用いた高周波コイ
ル部の斜視図
【図24】 図23における隣接する微分型コイル間
のデカップリング法を説明するための図
のデカップリング法を説明するための図
【図25】 図24のデカップリング原理を説明する
ための図
ための図
【図26】 図23のデカップリング法を適用した高
周波コイル部の斜視図
周波コイル部の斜視図
【図27】 ローパス型の鳥かご型コイルの一部を示
す図
す図
【図28】 ローパス型の鳥かご型コイルの一部を示
す図
す図
【図29】 図16のデカップリング回路を図23に
おける微分型コイル間のデカップリングに適用した例を
示す図
おける微分型コイル間のデカップリングに適用した例を
示す図
【図30】 鳥かご型コイルと微分型コイルとからな
る高周波コイル部の他の構成例を示す図
る高周波コイル部の他の構成例を示す図
【図31】 鳥かご型コイルと微分型コイルとからな
る高周波コイル部の他の構成例を示す図
る高周波コイル部の他の構成例を示す図
【図32】 鳥かご型コイルと微分型コイルとからな
る高周波コイル部の他の構成例を示す図
る高周波コイル部の他の構成例を示す図
【図33】 鳥かご型コイルと微分型コイルとからな
る高周波コイル部の他の構成例を示す図
る高周波コイル部の他の構成例を示す図
【図34】 一様コイルとして鳥かご型コイルを用い
、マルチサーフェイスコイルして微分型コイルを用いた
高周波コイル部の配置を示す図。
、マルチサーフェイスコイルして微分型コイルを用いた
高周波コイル部の配置を示す図。
1…静磁場磁石
3…勾配磁場生成コイル 5…被検体
7…送信部8…デュプレクサ
9…一様コイル10a〜
10f…サーフェイスコイル 11…受信部12…デ
ータ収集部 13
…電子計算機 40…微分型コイル
43〜45…デカップリングコイル 51…Qダンプ用アンプ
61,71…鳥かご型コイル 62…キャパシタンス素子 6
3…インダクタンス素子 64…微分型コイル
65,78…キャパシタンス素子 66〜68,72,77…導電性板 69…8の
字コイル
3…勾配磁場生成コイル 5…被検体
7…送信部8…デュプレクサ
9…一様コイル10a〜
10f…サーフェイスコイル 11…受信部12…デ
ータ収集部 13
…電子計算機 40…微分型コイル
43〜45…デカップリングコイル 51…Qダンプ用アンプ
61,71…鳥かご型コイル 62…キャパシタンス素子 6
3…インダクタンス素子 64…微分型コイル
65,78…キャパシタンス素子 66〜68,72,77…導電性板 69…8の
字コイル
Claims (8)
- 【請求項1】被検体に静磁場を印加すると共に、勾配磁
場パルスを印加する手段と、被検体の画像化すべき所望
領域において前記静磁場に垂直な面内でほぼ均一な高周
波磁場を発生するための一様コイルと、前記被検体に近
接して配置された複数個のサーフェイスコイルと、前記
一様コイルおよび複数個のサーフェイス用コイルをそれ
ぞれ介して被検体からの複数チャネルの磁気共鳴信号を
検出する信号検出手段と、前記複数チャネルの磁気共鳴
信号についてそれぞれフーリエ変換を含む画像化処理を
行ない、複数チャネルの画像データを生成する画像デー
タ生成手段と、前記複数チャネルの画像データを用いて
、少なくとも前記複数個のサーフェイスコイルの各々に
ついて画素位置の関数として定義される重み関数を決定
する重み関数決定手段と、前記重み関数を用いて、少な
くとも前記複数のサーフェイスコイルを介して得られた
画像データの同一空間位置に対応する画素データどうし
を重み付け加算することにより、前記所望領域の画像を
得る画像生成手段とを具備することを特徴とする磁気共
鳴映像装置。 - 【請求項2】被検体に静磁場を印加すると共に、勾配磁
場パルスを印加する手段と、被検体の画像化すべき所望
領域において前記静磁場に垂直な面内でほぼ均一な高周
波磁場を発生するための一様コイルと、前記被検体に近
接して配置された複数個のサーフェイスコイルと、前記
一様コイルおよび複数個のサーフェイス用コイルをそれ
ぞれ介して被検体からの複数チャネルの磁気共鳴信号を
検出する信号検出手段と、前記複数チャネルの磁気共鳴
信号についてそれぞれフーリエ変換を含む画像化処理を
行ない、複数チャネルの画像データを生成する画像デー
タ生成手段と、前記複数チャネルの画像データを用いて
、少なくとも前記複数個のサーフェイスコイルの各々に
ついて画素位置の関数として定義される重み関数を決定
する重み関数決定手段と、前記複数チャネルの磁気共鳴
信号と前記重み関数の逆フーリエ変換結果との複数チャ
ネルの畳み込み積分を行い複数チャネル分の畳み込み積
分結果を得る畳み込み積分手段と、前記複数チャネル分
の畳み込み積分結果を加算合成する加算合成手段と、こ
の加算合成手段によって得られた加算合成結果をフーリ
エ変換することにより、前記所望領域の画像を生成する
画像生成手段とを具備することを特徴とする磁気共鳴映
像装置。 - 【請求項3】前記重み関数決定手段は、前記複数チャネ
ルの画像データを用いて少なくとも前記複数個のサーフ
ェイスコイルの高周波磁場分布を求め、この高周波磁場
分布に依存して前記重み関数を決定することを特徴とす
る請求項1または2記載の磁気共鳴映像装置。 - 【請求項4】前記複数個のサーフェイスコイルのうち少
なくとも隣接したコイル間の相互結合および前記複数個
のサーフェイスコイルの少なくとも一部と前記一様コイ
ルとの間の相互結合の少なくとも一つを防止する手段を
更に備えたことを特徴とする請求項1または2記載の磁
気共鳴映像装置。 - 【請求項5】前記複数個のサーフェイスコイルの少なく
とも一部は、同一形状の一対のコイルを略同軸かつ略平
行に配置すると共に、これら一対のコイルを互いに逆向
きに電流が流れるように結線してなるものであることを
特徴とする請求項1、2、3または4記載の磁気共鳴映
像装置。 - 【請求項6】被検体に静磁場を印加する手段と、被検体
の所望領域に配置された複数個のサーフェイスコイルを
含み、これらのサーフェイスコイルを介して被検体から
の磁気共鳴信号を検出する信号検出手段と、前記複数個
のサーフェイスコイルのうち少なくとも隣接したコイル
間の相互結合を防止する結合防止手段とを具備し、前記
結合防止手段は、8の字形コイルまたはループ状コイル
が隣接したコイルに重ねて配置されていることを特徴と
する磁気共鳴映像装置。 - 【請求項7】被検体に静磁場を印加するとともに高周波
磁場を印加する手段と、被検体の所望領域に配置された
複数個のサーフェイスコイルを含み、これらのサーフェ
イスコイルを介して被検体からの磁気共鳴信号を検出す
る信号検出手段と、前記複数個のサーフェイスコイルの
うち少なくとも隣接したコイル間の相互結合を防止する
結合防止手段とを具備し、前記サーフェイスコイルは同
軸上に配置された同形のコイルを逆向きに電流が流れる
ように接続した構造であり、前記結合防止手段は、隣接
するサーフェイスコイル各々の発生する高周波磁場のう
ち互いに鎖交する磁場の総和が0となるように構成され
ていることを特徴とする磁気共鳴映像装置。 - 【請求項8】被検体に静磁場を印加すると共に、勾配磁
場パルスを印加する手段と、被検体の画像化すべき所望
領域において前記静磁場に垂直な面内でほぼ均一な高周
波磁場を発生するための、インダクタンス素子およびキ
ャパシタンス素子からなる一様コイルと、前記被検体に
近接して前記一様コイルの前記インダクタンス素子およ
びキャパシタンス素子で囲まれた空間内に配置された複
数個のサーフェイスコイルと、前記一様コイルと前記サ
ーフェイスコイルとの相互結合を防止する結合防止手段
と、前記一様コイルおよび複数個のサーフェイスコイル
をそれぞれ介して被検体からの磁気共鳴信号を検出する
信号検出手段とを具備することを特徴とする磁気共鳴映
像装置。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP03059513A JP3135592B2 (ja) | 1990-02-28 | 1991-02-28 | 磁気共鳴映像装置 |
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|---|---|---|---|
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| JP2-47814 | 1990-02-28 | ||
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPH05115455A (ja) * | 1990-08-20 | 1993-05-14 | General Electric Co <Ge> | Nmr位相調整アレー作像用時間領域フイルタ方式 |
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1991
- 1991-02-28 JP JP03059513A patent/JP3135592B2/ja not_active Expired - Fee Related
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