JPH04217348A - セラミックパッケージ用キャップ - Google Patents
セラミックパッケージ用キャップInfo
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- JPH04217348A JPH04217348A JP41214690A JP41214690A JPH04217348A JP H04217348 A JPH04217348 A JP H04217348A JP 41214690 A JP41214690 A JP 41214690A JP 41214690 A JP41214690 A JP 41214690A JP H04217348 A JPH04217348 A JP H04217348A
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- solder glass
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- Pending
Links
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Landscapes
- Ceramic Products (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、セラミックパッケージ
に半導体素子や電気光学素子を封入するセラミックパッ
ケージのキャップに関し、特にEPROMを封入する薄
型のセラミックパッケージのキャップに関するものであ
る。
に半導体素子や電気光学素子を封入するセラミックパッ
ケージのキャップに関し、特にEPROMを封入する薄
型のセラミックパッケージのキャップに関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】従来より、紫外線でメモリを消去するE
PROM等の半導体素子や、イメージセンサ等の電気光
学素子を封入するセラミックパッケージとしては、図1
に示すような、光を透過するガラス窓11を備えたセラ
ミック製のキャップ10と、ワイヤー21及び金属フレ
ーム22を介して外部回路(図示せず)に電気的に接続
される素子23を搭載するセラミック製のベース30か
らなるものが広く用いられている。通常、このセラミッ
クパッケージは、キャップ10及びベース30の各々に
、ハンダガラス層12、31が形成されており、素子2
3を搭載した後、両ハンダガラス層12、31を融着す
ることによって封止している。なお、以下の各図面の同
一箇所には同一符号を使用する。
PROM等の半導体素子や、イメージセンサ等の電気光
学素子を封入するセラミックパッケージとしては、図1
に示すような、光を透過するガラス窓11を備えたセラ
ミック製のキャップ10と、ワイヤー21及び金属フレ
ーム22を介して外部回路(図示せず)に電気的に接続
される素子23を搭載するセラミック製のベース30か
らなるものが広く用いられている。通常、このセラミッ
クパッケージは、キャップ10及びベース30の各々に
、ハンダガラス層12、31が形成されており、素子2
3を搭載した後、両ハンダガラス層12、31を融着す
ることによって封止している。なお、以下の各図面の同
一箇所には同一符号を使用する。
【0003】ところで、パッケージを配線板に実装する
技術が高度化し、表面実装技術などを用いて高密度実装
されるにともなって、パッケージの小型化、薄型化が要
求されるようになってきている。しかしながら、先記し
たタイプのセラミックパッケージでは薄型化に限界があ
り、上記の要求に応えることが難しいという問題を有し
ている。そこで近年、図2に示すような、薄板ガラス4
1及び該薄板ガラス41に形成されたハンダガラス層4
2からなるキャップ40を用いた薄型のセラミックパッ
ケージが提案されている。
技術が高度化し、表面実装技術などを用いて高密度実装
されるにともなって、パッケージの小型化、薄型化が要
求されるようになってきている。しかしながら、先記し
たタイプのセラミックパッケージでは薄型化に限界があ
り、上記の要求に応えることが難しいという問題を有し
ている。そこで近年、図2に示すような、薄板ガラス4
1及び該薄板ガラス41に形成されたハンダガラス層4
2からなるキャップ40を用いた薄型のセラミックパッ
ケージが提案されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】薄板ガラス41上に形
成されるハンダガラス層42には、パッケージの封着時
に素子23に対して悪影響を及ぼさないように低融点ガ
ラスが使用される。それゆえハンダガラス層42を形成
する際には、低融点ガラスの変質を防止するために低温
で焼成される。
成されるハンダガラス層42には、パッケージの封着時
に素子23に対して悪影響を及ぼさないように低融点ガ
ラスが使用される。それゆえハンダガラス層42を形成
する際には、低融点ガラスの変質を防止するために低温
で焼成される。
【0005】ところで、薄板ガラス41とハンダガラス
とは軟化点が全く異なるため、両者が十分に密着するた
めには焼成温度を高くする必要がある。しかしながら、
上記したように薄板ガラス41にハンダガラス層42を
形成する際の焼成温度を高くすることができないため、
ハンダガラス層42と薄板ガラス41の密着性が不十分
となる。それゆえ、このようなキャップ40を用いてパ
ッケージを作製すると、その組み立て工程、運搬、又は
使用の際の外因的な機械的応力により、ハンダガラス層
42と薄板ガラス41の界面でハガレが生じるいう問題
が起こりやすい。
とは軟化点が全く異なるため、両者が十分に密着するた
めには焼成温度を高くする必要がある。しかしながら、
上記したように薄板ガラス41にハンダガラス層42を
形成する際の焼成温度を高くすることができないため、
ハンダガラス層42と薄板ガラス41の密着性が不十分
となる。それゆえ、このようなキャップ40を用いてパ
ッケージを作製すると、その組み立て工程、運搬、又は
使用の際の外因的な機械的応力により、ハンダガラス層
42と薄板ガラス41の界面でハガレが生じるいう問題
が起こりやすい。
【0006】即ち、外因的な機械的応力に対するセラミ
ックパッケージの信頼性試験として、定位置から厚さ2
cm以上の樫の木あるいは鉄板上にパッケージを自由落
下させて、各パッケージが破壊、割れ、カケ、ハガレ等
の不良をおこさないかどうか調べる落下試験があるが、
上記のタイプのパッケージの場合、薄板ガラス41とハ
ンダガラス層42の界面でハガレが発生しやすい。
ックパッケージの信頼性試験として、定位置から厚さ2
cm以上の樫の木あるいは鉄板上にパッケージを自由落
下させて、各パッケージが破壊、割れ、カケ、ハガレ等
の不良をおこさないかどうか調べる落下試験があるが、
上記のタイプのパッケージの場合、薄板ガラス41とハ
ンダガラス層42の界面でハガレが発生しやすい。
【0007】本発明の目的は、パッケージの組立後に、
外因的な機械的応力をうけてもハガレの問題を生じるこ
とのないセラミックパッケージ用キャップを提供するこ
とである。
外因的な機械的応力をうけてもハガレの問題を生じるこ
とのないセラミックパッケージ用キャップを提供するこ
とである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明者等は種々の研究
を行った結果、ハンダガラス層を多層構造にすることに
より、上記目的を達成できることを見いだし、本発明と
して提案するものである。
を行った結果、ハンダガラス層を多層構造にすることに
より、上記目的を達成できることを見いだし、本発明と
して提案するものである。
【0009】即ち、本発明のセラミックパッケージ用キ
ャップは、薄板ガラスと、該薄板ガラスの一方の面に形
成された2層又は3層以上のハンダガラス層からなるこ
とを特徴とする。
ャップは、薄板ガラスと、該薄板ガラスの一方の面に形
成された2層又は3層以上のハンダガラス層からなるこ
とを特徴とする。
【0010】
【作用】本発明のセラミックパッケージ用キャップは、
2層又は3層以上のハンダガラス層を有するために、薄
板ガラスに接するハンダガラス層として、高温焼き付け
が可能なハンダガラスを適宜選択することが可能である
。特に、結晶性のハンダガラスを使用すると、高い密着
性を得ることができる。また、最外に形成されるハンダ
ガラス層として、低融点のハンダガラスを使用すること
ができる。
2層又は3層以上のハンダガラス層を有するために、薄
板ガラスに接するハンダガラス層として、高温焼き付け
が可能なハンダガラスを適宜選択することが可能である
。特に、結晶性のハンダガラスを使用すると、高い密着
性を得ることができる。また、最外に形成されるハンダ
ガラス層として、低融点のハンダガラスを使用すること
ができる。
【0011】なおハンダガラス層の機械的強度を高めた
り、熱膨張係数を調整する目的で、各種のフィラーを混
合したハンダガラスを使用することも可能である。
り、熱膨張係数を調整する目的で、各種のフィラーを混
合したハンダガラスを使用することも可能である。
【0012】また、本発明のセラミックパッケージ用キ
ャップに使用する薄板ガラスは、表面に200kgf
/cm2 以上の圧縮応力層が形成されたものであるこ
とが望ましい。これは圧縮応力が200kgf /cm
2 より小さいとガラスの強度が不足するため、落下試
験の際にカケや割れが生じやすくなることによる。
ャップに使用する薄板ガラスは、表面に200kgf
/cm2 以上の圧縮応力層が形成されたものであるこ
とが望ましい。これは圧縮応力が200kgf /cm
2 より小さいとガラスの強度が不足するため、落下試
験の際にカケや割れが生じやすくなることによる。
【0013】
【実施例】以下、本発明を実施例及び比較例に基づいて
説明する。
説明する。
【0014】(実施例1)
ホウケイ酸ガラスを20×10×0.35mmの大きさ
に成形し、イオン交換処理を施すことにより、その表面
に7000kgf /cm2 の圧縮応力層を形成した
。この薄板ガラス上に、非晶性ハンダガラス(日本電気
硝子株式会社製 GA−8)を塗付し、500℃で焼
成した後、低融点の非晶性ハンダガラス(日本電気硝子
株式会社製 LS−3001)を塗付し、380℃で
焼成することによって、図3に示すような、2層のハン
ダガラス層42a、42bを有するキャップ40を作製
した。
に成形し、イオン交換処理を施すことにより、その表面
に7000kgf /cm2 の圧縮応力層を形成した
。この薄板ガラス上に、非晶性ハンダガラス(日本電気
硝子株式会社製 GA−8)を塗付し、500℃で焼
成した後、低融点の非晶性ハンダガラス(日本電気硝子
株式会社製 LS−3001)を塗付し、380℃で
焼成することによって、図3に示すような、2層のハン
ダガラス層42a、42bを有するキャップ40を作製
した。
【0015】(実施例2)
実施例1と同様にして作製した薄板ガラス上に、結晶性
ハンダガラス(OI社製CV−111)を塗付し、これ
を470℃で焼成した後、低融点の非晶性ハンダガラス
(日本電気硝子株式会社製 LS−3001)を塗付
し、380℃で焼成することによって、図3に示すよう
な、2層のハンダガラス層42a、42bを有するキャ
ップ40を作製した。
ハンダガラス(OI社製CV−111)を塗付し、これ
を470℃で焼成した後、低融点の非晶性ハンダガラス
(日本電気硝子株式会社製 LS−3001)を塗付
し、380℃で焼成することによって、図3に示すよう
な、2層のハンダガラス層42a、42bを有するキャ
ップ40を作製した。
【0016】(比較例)
実施例1と同様にして作製した薄板ガラス上に、低融点
の非晶性ハンダガラス(日本電気硝子株式会社製 L
S−3001)を塗布し、380℃で焼成することによ
って1層のハンダガラス層を有するキャップを作製した
。
の非晶性ハンダガラス(日本電気硝子株式会社製 L
S−3001)を塗布し、380℃で焼成することによ
って1層のハンダガラス層を有するキャップを作製した
。
【0017】このようにして作製した実施例及び比較例
のキャップを各々20個ずつ用意し、各キャップについ
て、素子が搭載され、金属フレーム及びワイヤーが取り
付けられたアルミナ製のベースに380℃で焼き付ける
ことにより、図4または図2に示すような試料を得た。
のキャップを各々20個ずつ用意し、各キャップについ
て、素子が搭載され、金属フレーム及びワイヤーが取り
付けられたアルミナ製のベースに380℃で焼き付ける
ことにより、図4または図2に示すような試料を得た。
【0018】次いで、各試料を75cm、80cm、8
5cmの各高さから、5回ずつ、厚さ3cmの樫の木上
へ自由落下させ、薄板ガラスとハンダガラスの界面に異
常が認められないか観察した。結果を表1に示す。なお
各試料は、まず75cmの高さから落下させ、その合格
品のみを80cmの高さから落下させ、さらにその合格
品のみを85cmの高さから落下させた。
5cmの各高さから、5回ずつ、厚さ3cmの樫の木上
へ自由落下させ、薄板ガラスとハンダガラスの界面に異
常が認められないか観察した。結果を表1に示す。なお
各試料は、まず75cmの高さから落下させ、その合格
品のみを80cmの高さから落下させ、さらにその合格
品のみを85cmの高さから落下させた。
【0019】
【表1】
【0020】表1から明らかなように、各実施例のキャ
ップを用いて作製した試料は、キャップのハンダガラス
層が2層であり、薄板ガラスと接する1層目のハンダガ
ラス層の密着力を高めることができ、その結果、ハガレ
が全く発生しなかったことがわかる。
ップを用いて作製した試料は、キャップのハンダガラス
層が2層であり、薄板ガラスと接する1層目のハンダガ
ラス層の密着力を高めることができ、その結果、ハガレ
が全く発生しなかったことがわかる。
【0021】なお本実施例では、2層のハンダガラス層
を有するセラミックパッケージ用キャップについて説明
したが、必要に応じて3層以上にすることも可能である
。
を有するセラミックパッケージ用キャップについて説明
したが、必要に応じて3層以上にすることも可能である
。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のセラミッ
クパッケージ用キャップは、各種の外因的な機械的応力
が加わっても、薄板ガラスとハンダガラス層の界面でハ
ガレが生じないため、半導体素子や電気光学素子を封入
する薄型のセラミックパッケージのキャップに好適であ
る。
クパッケージ用キャップは、各種の外因的な機械的応力
が加わっても、薄板ガラスとハンダガラス層の界面でハ
ガレが生じないため、半導体素子や電気光学素子を封入
する薄型のセラミックパッケージのキャップに好適であ
る。
【図1】ガラス窓付セラミックキャップを用いて作製し
たセラミックパッケージの概略断面図である。
たセラミックパッケージの概略断面図である。
【図2】薄板ガラス及びハンダガラス層からなるキャッ
プを用いて作製したセラミックパッケージの概略断面図
である。
プを用いて作製したセラミックパッケージの概略断面図
である。
【図3】本発明のセラミックパッケージ用キャップの断
面図である。
面図である。
【図4】本発明のセラミックパッケージ用キャップを用
いて作製したセラミックパッケージの概略断面図である
。
いて作製したセラミックパッケージの概略断面図である
。
40 セラミックパッケージ用キャップ41 薄板
ガラス 42 ハンダガラス層 42a ハンダガラス層 42b ハンダガラス層
ガラス 42 ハンダガラス層 42a ハンダガラス層 42b ハンダガラス層
Claims (2)
- 【請求項1】 薄板ガラスと、該薄板ガラスの一方の
面に形成された2層又は3層以上のハンダガラス層から
なることを特徴とするセラミックパッケージ用キャップ
。 - 【請求項2】 薄板ガラスに接するハンダガラス層は
、結晶性ハンダガラスからなることを特徴とする請求項
1のセラミックパッケージ用キャップ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP41214690A JPH04217348A (ja) | 1990-12-18 | 1990-12-18 | セラミックパッケージ用キャップ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP41214690A JPH04217348A (ja) | 1990-12-18 | 1990-12-18 | セラミックパッケージ用キャップ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04217348A true JPH04217348A (ja) | 1992-08-07 |
Family
ID=18521023
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP41214690A Pending JPH04217348A (ja) | 1990-12-18 | 1990-12-18 | セラミックパッケージ用キャップ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04217348A (ja) |
-
1990
- 1990-12-18 JP JP41214690A patent/JPH04217348A/ja active Pending
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