JPH04221440A - 光ディスク装置のレーザパワー測定用治具 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は光ディスク装置の光学ヘ
ッドより出射されるレーザのパワーを測定する治具に関
する。

【０００２】光ディスク装置において、光学ヘッドより
出射されるレーザのパワーは、光ディスクの記録再生の
Ｓ／Ｎ比等に影響を与えるものであり、光ディスク装置
の製造途中の工程において、又は光ディスク装置の完成
後の保守において、重要な管理項目の一つである。この
レーザパワーの測定結果に基づいて必要に応じて各種の
調整がなされる。

【０００３】レーザダイオードより出射したレーザが光
学ヘッドの対物レンズより出射するまでには、レーザは
複数の光学素子を通り、この間で種々の減衰を受ける。

【０００４】そこで、調整を適正に行うための測定結果
を得るためには、測定を光ディスク装置に装着された光
ディスクの面の位置で行ない、光学ヘッドの光学系にお
ける全ての誤差、減衰等を含んだレーザパワーを測定す
ることが必要である。

【０００５】また、実際に測定を行うことを考えると、
測定を作業能率良く行えることが望ましい。

【０００６】更に、測定の精度が良いことが必要である
。

【０００７】

【従来の技術】従来は、図８に示すように、市販のセン
サ１を使用して測定を行っていた。測定に際しては、ま
ず光ディスク装置２の外装カバー３を取り外し、更に上
側のプリント配線基板組立体４を取り外し、装置２の内
部を露出させる。

【０００８】この状態で、パワーメータ５に接続された
センサ１を手に持って図９に併せて示すように、光学ヘ
ッド６の対物レンズ７の上方に配して測定を行っている
。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】このように、測定を行
うまでの準備に手間がかかり、測定を作業能率良く行う
ことが困難である。

【００１０】また、センサ１は手に持って位置決めされ
るものであり、測定時の位置決めが不安定となり、測定
精度が良くなく、測定結果の信頼度は低かった。

【００１１】また、図９に示すように、レーザダイオー
ド８より上方に出射し、光学ヘッド６の対物レンズ７よ
り出射してセンサ１を照射したレーザ９の一部９１　は
、センサ１で反射され、光学ヘッド６に戻り、光学ヘッ
ド６内に入り、レーザダイオード８に戻り、更にはレー
ザダイオード８を透過してモニタ部１０に到る。

【００１２】このため、モニタ部１０には、レーザダイ
オード８より下方に出射したレーザ１１に加えて上記セ
ンサ１で反射したレーザ９−１が照射され、レーザダイ
オード８自体の動作を正しくモニタすることは出来なく
なる。

【００１３】モニタ部１０が正しくモニタしないことに
より、レーザダイオード８の動作状態は、実際の光ディ
スク記録再生時とは異なる状態となってしまい、上記の
センサ１及びパワーメータ５による測定結果は信頼性の
低いものとなっていた。

【００１４】本発明は、光学ヘッドより出射されるレー
ザのパワーの測定を作業能率良く且つ精度良く行うこと
を可能とした光ディスク装置のレーザパワー測定用治具
を提供することを目的とする。

【００１５】

【課題を解決するための手段】請求項１の発明は、治具
本体を光ディスクを収容したカートリッジと同一形状と
し、治具本体内に光電変換素子を設けると共に、光電変
換素子の表面にレーザに対する反射防止膜を設けて構成
する。

【００１６】請求項２の発明は、治具本体を光ディスク
を収容したカートリッジと同一形状とし、治具本体内に
光電変換素子及び光学部品を設けると共に、光電変換素
子の表面及び光学部品の表面にレーザに対する反射防止
膜を設けて構成する。

【００１７】

【作用】請求項１及び２の発明において、治具本体がカ
ートリッジと同一形状である構成は、治具をカートリッ
ジと同様に光ディスク装置内へ装着可能とする。

【００１８】請求項１及び２の発明において、反射防止
膜はレーザが反射して光学ヘッド内に戻るのを防止する
。

【００１９】

【実施例】図１乃至図３は本発明の第１実施例になるレ
ーザパワー測定用治具２０である。

【００２０】２１は治具本体であり、図１及び図６に示
す装置２に装着される光ディスクカートリッジと実質上
同一の形状及び寸法を有する。このため、測定用治具２
０は光ディスクカートリッジと同様に光ディスク装置２
に装着可能である。

【００２１】治具本体２１は、光ディスクカートリッジ
に付いているシャッタと同じシャッタ２３を有する。

【００２２】なお、図４に示すシャッタ２３が開いた状
態で、光ディスクカートリッジの場合には、二点鎖線で
示す略長方形状の開口１４が露出するのに対し、治具本
体２１においては、ターンテーブル用の開口２５とレー
ザビーム導入用の開口２６とが形成してある。

【００２３】このレーザビーム導入用開口２６は、治具
２０が装着されたときに、待機位置に位置する光学ヘッ
ドの対物レンズに対向する部位Ｐ１　、具体的には治具
本体１１の前縁近傍の部位に形成してあり、ａ（＝１０
ｍｍ）×ｂ（＝２０ｍｍ）の小さいサイズである。

【００２４】治具本体２１の内部は、図１に示す構造と
なっている。図１中、３０は円板状の光電変換素子であ
り、治具本体２１の天板３１の下面のうち上記レーザビ
ーム導入開閉口２６に対向する部位に固着してある。

【００２５】光電変換素子３０よりのワイヤ３２は、治
具本体２１の外部にまで引き出され、パワーメータ３３
に接続してある。

【００２６】３５は多層膜構造の反射防止膜であり、光
電変換素子３０の表面に形成してある。

【００２７】光ディスク装置２に組込まれるレーザダイ
オード８が出射するレーザの中心波長は７８０ｎｍ又は
８３０ｎｍである。

【００２８】そこで、上記反射防止膜３５は、図５の線
Ｉで示すように、８００ｎｍ近傍の波長に対する反射率
が零である反射率特性を有する構成のものとしてある。

【００２９】次に、上記構成のレーザパワー測定用治具
２０を使用して、光ディスク装置２の光学ヘッド６より
出射されるレーザパワーを測定する方法について説明す
る。測定は、光ディスク装置２を分解することはせず、
図６に示すように、治具２０を、光ディスクカートリッ
ジと同様に、矢印４０で示すように、フロントベゼル４
１の挿入口４２を通して挿入し、図１に示すように安定
に装着した状態で行われる。

【００３０】これにより、光学ヘッド６から出射される
レーザのパワーの測定は、作業性良く行われる。

【００３１】治具２０は、図１に示すように、開口２６
が光学ヘッド６の対物レンズ７に対向して装着され、光
電変換素子３０は対物レンズ７と光学的に対向する。

【００３２】光学ヘッド６内のレーザダイオード８より
出射されたレーザ４４は、複数の光学素子（図示せず）
を経た後に、対物レンズ７を通して光学ヘッド６より集
束光線束のレーザ９として出射する。光学ヘッド６より
出射したレーザ９は、開口２６を通して治具２０内に入
る。レーザ９は、一旦集束し、その後発散光線束となっ
て光電変換素子３０をスポット４５として照射する。

【００３３】光電変換素子３０は照射されると、電流を
出力する。この電流は、ワイヤ３２を介して、光ディス
ク装置２の外部に設置したパワーメータ３３に供給され
る。

【００３４】パワーメータ３３の表示している値から光
学ヘッド６より出射されるレーザパワーを測定すること
ができる。

【００３５】測定終了後は、イジェクト操作をする。こ
れにより、治具２０は、光ディスク装置２外に離脱され
る。

【００３６】上記より分かるように、治具２０を普通の
光ディスクケースと同様に取り扱うだけでよく、光ディ
スク装置２を一部分解したりする必要はないため、光学
ヘッドより出射されるレーザのパワーの測定は、作業性
良く行われる。

【００３７】光電変換素子３０の表面には上記の反射防
止膜３５が形成してあるため、上記レーザ９の光電変換
素子３０の表面での反射は起きない。

【００３８】このため、モニタ部１０はレーザダイオー
ド８より出射されたレーザ１１だけを受光しており、レ
ーザダイオード８の動作を正しくモニタする。これによ
り、レーザダイオード８は実際の光ディスク記録再生時
と同様に正常に動作する。

【００３９】これにより、光学ヘッド６より出射される
レーザのパワーは、光ディスク記録再生時と同じとなり
、光学ヘッド６より出射されるレーザパワーが正確に測
定される。

【００４０】図７は本発明の第２実施例になる光ディス
ク装置のレーザパワー測定用治具５０を示す。

【００４１】この治具５０は、治具本体２１の内部に、
光電変換素子３０に加えて光学部品である台形断面のプ
リズム５１を設けた構成である。

【００４２】光電変換素子３０は治具本体２１の底板３
４上に固着してあり、プリズム５１はホルダ５２により
天板３１に固着してある。

【００４３】光電変換素子３０の表面に反射防止膜３５
が形成してあり、更には、プリズム５１の表面のうち開
口２６と対向する部分に上記反射防止膜３５と同一の反
射防止膜５３が形成してある。

【００４４】治具５０が光ディスク装置２に装着された
状態で、光学ヘッド６より出射したレーザ９は、開口２
６を通って治具５０内に入り、プリズム５１内に入り、
ここで最初に横方向に反射され、次いで下方向に反射さ
れて、光電変換素子３０をスポット５４として照射する
。

【００４５】ここで、レーザ９がプリズム５１に入射す
る部位についてみると、反射防止膜５３が存在すること
によってレーザ９は全てプリズム５１内に入り込み、反
射は起きない。

【００４６】また光学変換素子２０の表面においても、
反射防止膜３５が存在することにより、レーザ９の反射
は起きない。

【００４７】このため、上記実施例の場合と同様に、光
学ヘッド６は、光ディスク記録再生時と同様に動作し、
光学ヘッド６より出射されるレーザのパワーが信頼性良
く測定される。

【００４８】

【発明の効果】以上説明した様に、請求項１の発明によ
れば、光ディスク装置の光学ヘッドのレーザパワーを簡
易に測定することが出来ると共に、光ディスク装置が実
際に光ディスクを記録再生しているときの光学ヘッドの
レーザパワーを信頼性良く測定することが出来る。

【００４９】請求項２の発明によれば、治具本体内に光
電変換素子の他に別の光学部品が組込まれた構成の治具
においても、光ディスク装置の光学ヘッドのレーザパワ
ーを簡易に測定することが出来ると共に、光ディスク装
置が実際に光ディスクを記録再生しているときの光学ヘ
ッドのレーザパワーを信頼性良く測定することが出来る
という特長を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の光ディスク装置のレーザパワー測定用
治具の第１実施例の使用状態を示す図（治具の内部構造
については図２中Ｉ−Ｉ線に沿う断面である）である。

【図２】図２の治具の平面図である。

【図３】図１の治具の底面図である。

【図４】図３中、シャッタが開いた状態を示す底面図で
ある。

【図５】図１中の反射防止膜の特性を示す図である。

【図６】図１乃至図３の治具の使用の仕方を説明する図
である。

【図７】本発明の第２実施例の治具を示す図である。

【図８】従来の測定治具及びその使用方法を示す図であ
る。

【図９】従来の測定治具の問題点を説明するための図で
ある。

【符号の説明】

２　　光ディスク装置 ６　　光学ヘッド ７　　対物レンズ ８　　レーザダイオード ９　　レーザ １０　　モニタ部 ２０，５０　　レーザパワー測定用治具２１　　治具本
体 ２６　　レーザビーム導入用開口 ３０　　光電変換素子 ３３　　パワーメータ ３５，５３　　反射防止膜 ４１　　フロントベゼル ５１　　プリズム

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　光ディスクが収容されるカートリッジ
   と実質上同一形状を有し、上記カートリッジと同様に光
   ディスク装置内に装着される治具本体と、該治具本体の
   うち、該治具本体が上記光ディスク装置内に装着された
   ときに上記光ディスク装置内の光学ヘッドの対物レンズ
   と光学的に対向する部位に設けた光電変換素子とよりな
   る光ディスク装置のレーザパワー測定用治具であって、
   上記光電変換素子の表面にレーザの反射を防止するレー
   ザ反射防止膜を設けた構成としたことを特徴とする光デ
   ィスク装置のレーザパワー測定用治具。
2. 【請求項２】　　光ディスクが収容されるカートリッジ
   と実質上同一形状を有し、上記カートリッジと同様に光
   ディスク装置内に装着される治具本体と、該治具本体の
   うち、該治具本体が上記光ディスク装置内に装着された
   ときに上記光ディスク装置内の光学ヘッドの対物レンズ
   と光学的に対向する部位に設けた光電変換素子と、上記
   光学ヘッドより出射したレーザの光路上、当該レーザが
   上記治具本体内に入る上記治具本体の開口と、上記光電
   変換素子との間に設けた光学部品とよりなる光ディスク
   装置のレーザパワー測定用治具であって、上記光電変換
   素子の表面にレーザの反射を防止するレーザ反射防止膜
   を設けると共に、上記光学部品の表面にレーザの反射を
   防止するレーザ反射防止膜を設けた構成としたことを特
   徴とする光ディスク装置のレーザパワー測定用治具。