JPH0422202B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0422202B2 JPH0422202B2 JP18903583A JP18903583A JPH0422202B2 JP H0422202 B2 JPH0422202 B2 JP H0422202B2 JP 18903583 A JP18903583 A JP 18903583A JP 18903583 A JP18903583 A JP 18903583A JP H0422202 B2 JPH0422202 B2 JP H0422202B2
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- JP
- Japan
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- light
- inclination angle
- line
- reflecting mirror
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 208000033361 autosomal recessive with axonal neuropathy 2 spinocerebellar ataxia Diseases 0.000 description 2
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
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- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C15/00—Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
- G01C15/02—Means for marking measuring points
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
発明の分野
この発明は、傾斜角度計測装置に関し、特にた
とえば観測物体から基準平面上における基準線を
見たとき該観測物体が基準平面に対してなす傾斜
角度を計測する装置に関する。
とえば観測物体から基準平面上における基準線を
見たとき該観測物体が基準平面に対してなす傾斜
角度を計測する装置に関する。
先行技術の説明
従来、土木機械や農業機械などのために種々の
傾斜角度計測装置が提案されまたは実現されてい
る。しかしながら、従来の傾斜角度計測装置は、
精度の低いものが多く、逆に精度の高いものは装
置が大形かつ高価であるという欠点があつた。
傾斜角度計測装置が提案されまたは実現されてい
る。しかしながら、従来の傾斜角度計測装置は、
精度の低いものが多く、逆に精度の高いものは装
置が大形かつ高価であるという欠点があつた。
発明の目的
それゆえに、この発明の主たる目的は、簡単な
構成で精度の高い計測が行なえる全く新規な傾斜
角度計測装置を提供することである。
構成で精度の高い計測が行なえる全く新規な傾斜
角度計測装置を提供することである。
発明の要約
この発明は、要約すれば、入射した光を同一方
向に反射するという特異な光学的性質を有する光
反射手段に向けて、観測物体から指向性の鋭い光
ビームを回動走査し、光反射手段からの反射光を
受光してこの反射光に含まれる情報に基づいて観
測物体が基準平面に対してなす傾斜角度を計測す
るようにしたものである。さらに詳細には、光反
射手段を構成する3つの光反射鏡面が交差するこ
とによつて形成される3本の交線のうち1本の交
線は基準平面上における基準線と一致するように
配置され、また交反射鏡面の1つには、傾斜角度
を示すためのコードマークが形成される。そし
て、観測物体では、光反射手段に向けて回動走査
した光ビームが光反射手段の光軸中心を通過する
ように光ビームの回動走査方向を制御し、またこ
の制御の後光ビームが前記光反射手段における1
本の交線をなぞるように光ビームの回動走査方向
を制御し、この制御の後受光手段からの受光出力
に含まれるコードマークの情報を読取つて上記傾
斜角度を検出するようにしている。
向に反射するという特異な光学的性質を有する光
反射手段に向けて、観測物体から指向性の鋭い光
ビームを回動走査し、光反射手段からの反射光を
受光してこの反射光に含まれる情報に基づいて観
測物体が基準平面に対してなす傾斜角度を計測す
るようにしたものである。さらに詳細には、光反
射手段を構成する3つの光反射鏡面が交差するこ
とによつて形成される3本の交線のうち1本の交
線は基準平面上における基準線と一致するように
配置され、また交反射鏡面の1つには、傾斜角度
を示すためのコードマークが形成される。そし
て、観測物体では、光反射手段に向けて回動走査
した光ビームが光反射手段の光軸中心を通過する
ように光ビームの回動走査方向を制御し、またこ
の制御の後光ビームが前記光反射手段における1
本の交線をなぞるように光ビームの回動走査方向
を制御し、この制御の後受光手段からの受光出力
に含まれるコードマークの情報を読取つて上記傾
斜角度を検出するようにしている。
この発明の上述の目的およびその他の目的と特
徴は、図面を参照しね行なう以下の詳細な説明か
ら一層明らかとなろう。
徴は、図面を参照しね行なう以下の詳細な説明か
ら一層明らかとなろう。
実施例の説明
第1図はこの発明に用いられる光反射手段の一
例のコーナキユーブを示す外観斜視図である。第
2図はコーナキユーブの内部に収納される鏡の立
体斜視図である。図において、コーナキユーブ
CCの内部には、第2図に示すように、3枚の鏡
1,2および3を立体的に組合わしたものが収納
される。これら鏡1〜3は、それぞれ光反射鏡面
1a,2aおよび3aが互いに直交するように組
合わされる。このような構成によつて、コーナキ
ユーブCCは、以下に説明するような光学的性質
を有する。
例のコーナキユーブを示す外観斜視図である。第
2図はコーナキユーブの内部に収納される鏡の立
体斜視図である。図において、コーナキユーブ
CCの内部には、第2図に示すように、3枚の鏡
1,2および3を立体的に組合わしたものが収納
される。これら鏡1〜3は、それぞれ光反射鏡面
1a,2aおよび3aが互いに直交するように組
合わされる。このような構成によつて、コーナキ
ユーブCCは、以下に説明するような光学的性質
を有する。
すなわち、コーナキユーブCCは入射した光を
入射方向と同一方向に反射する。今、コーナキユ
ーブCCに入射角度θ1で入射した光L1を考え
てみる。この入射光L1は、光反射鏡面1a〜3
aで各1回ずつ反射され、コーナキユーブCCの
光軸Oに対して対称な位置から出射する。このと
き、反射光L1は入射光L1と平行であり、その
反射角度は入射光L1の入射角度と等しい。した
がつて、反射光L1は、入射光L1が入射してき
た方向と同一の方向に反射される。この関係は、
入射光の入射角度にかかわらず成立する。たとえ
ば、入射光L2と反射光L2とは互いに平行であ
り、かつ入射光L2の入射角度と反射光L2の反
射角度はともにθ2と等しい。
入射方向と同一方向に反射する。今、コーナキユ
ーブCCに入射角度θ1で入射した光L1を考え
てみる。この入射光L1は、光反射鏡面1a〜3
aで各1回ずつ反射され、コーナキユーブCCの
光軸Oに対して対称な位置から出射する。このと
き、反射光L1は入射光L1と平行であり、その
反射角度は入射光L1の入射角度と等しい。した
がつて、反射光L1は、入射光L1が入射してき
た方向と同一の方向に反射される。この関係は、
入射光の入射角度にかかわらず成立する。たとえ
ば、入射光L2と反射光L2とは互いに平行であ
り、かつ入射光L2の入射角度と反射光L2の反
射角度はともにθ2と等しい。
第3図はこの発明の一実施例に用いられるコー
ナキユーブCCの光反射鏡面の上面図である。第
2図でも説明したように、このコーナキユーブ
CCは光反射鏡面1a〜3aを互いに直交するよ
うに立体的に組合わせて構成される。したがつ
て、第3図では平面的に示されているが、実際に
は3つの光反射鏡面1a〜3aが交わる光軸中心
OOが最も凹んだ部分となるような立体的な構造
になつている。ここで、各光反射鏡面が交差する
部分には交線C1,C2およびC3が形成され
る。この3本の交線のうち交線C2は、基準線X
−Xと一致するようにコーナキユーブCCが位置
決めされる。すなわち、第2図に示されるよう
に、交線C2は基準線X−X上に位置することに
なる。一方、光反射鏡面1aには、コードマーク
CMが形成される。したがつて、交反射鏡面1a
上を光ビームが走査すると、反射光にはコードマ
ークCMによる符号情報が含まれることになる。
コードマークCMは、いわゆるアブソリユートタ
イプのロータリエンコーダに付されるコードマー
クと同様の原理であり、光反射鏡面1aの2等分
線1bからの中心角を2値符号で表わすものであ
る。また、光反射鏡面2aには、光軸中心OO付
近にマークMAが形成される。このマークMA
は、光反射鏡面上を通る光ビームが交線C2と一
致するように光ビームの回動走査方向を制御する
ときに用いられるものである。
ナキユーブCCの光反射鏡面の上面図である。第
2図でも説明したように、このコーナキユーブ
CCは光反射鏡面1a〜3aを互いに直交するよ
うに立体的に組合わせて構成される。したがつ
て、第3図では平面的に示されているが、実際に
は3つの光反射鏡面1a〜3aが交わる光軸中心
OOが最も凹んだ部分となるような立体的な構造
になつている。ここで、各光反射鏡面が交差する
部分には交線C1,C2およびC3が形成され
る。この3本の交線のうち交線C2は、基準線X
−Xと一致するようにコーナキユーブCCが位置
決めされる。すなわち、第2図に示されるよう
に、交線C2は基準線X−X上に位置することに
なる。一方、光反射鏡面1aには、コードマーク
CMが形成される。したがつて、交反射鏡面1a
上を光ビームが走査すると、反射光にはコードマ
ークCMによる符号情報が含まれることになる。
コードマークCMは、いわゆるアブソリユートタ
イプのロータリエンコーダに付されるコードマー
クと同様の原理であり、光反射鏡面1aの2等分
線1bからの中心角を2値符号で表わすものであ
る。また、光反射鏡面2aには、光軸中心OO付
近にマークMAが形成される。このマークMA
は、光反射鏡面上を通る光ビームが交線C2と一
致するように光ビームの回動走査方向を制御する
ときに用いられるものである。
第4図および第5図はこの発明の一実施例の使
用態様を説明するための図であり、特に、第4図
は静止物体100の傾斜角度を計測する場合を示
し、第5図は飛行機等の移動体200の傾斜角度
を計測する場合を示す。図において、静止物体1
00あるいは移動体200からは、指向性の鋭い
光ビームたとえばレーザビームLBがコーナキユ
ーブCCに向けて回動走査される。このレーザビ
ームLBがコーナキユーブCCに当たると、コーナ
キユーブCCはレーザビームLBを入射方向と同一
方向に反射する。したがつて、静止物体100あ
るいは移動体200でこの反射光を受光する。受
光した反射光の中には、第3図で示したコードマ
ークCMによる符号情報が含まれている。したが
つて、この符号情報を読取れば、静止物体100
あるいは移動体200の傾斜角度αが計測でき
る。なお、この傾斜角度αは、静止物体100あ
るいは移動体200などの観測物体から基準線X
−Xを見たときに、観測物体が基準平面300に
対してなす角度である。基準平面300は基準線
X−Xを含む平面であり、コーナキユーブCCの
交線C2と、光反射鏡面1aの2等分線1b(第
3図参照)が、この基準平面300上に位置する
ようにコーナキユーブCCが配置されている。
用態様を説明するための図であり、特に、第4図
は静止物体100の傾斜角度を計測する場合を示
し、第5図は飛行機等の移動体200の傾斜角度
を計測する場合を示す。図において、静止物体1
00あるいは移動体200からは、指向性の鋭い
光ビームたとえばレーザビームLBがコーナキユ
ーブCCに向けて回動走査される。このレーザビ
ームLBがコーナキユーブCCに当たると、コーナ
キユーブCCはレーザビームLBを入射方向と同一
方向に反射する。したがつて、静止物体100あ
るいは移動体200でこの反射光を受光する。受
光した反射光の中には、第3図で示したコードマ
ークCMによる符号情報が含まれている。したが
つて、この符号情報を読取れば、静止物体100
あるいは移動体200の傾斜角度αが計測でき
る。なお、この傾斜角度αは、静止物体100あ
るいは移動体200などの観測物体から基準線X
−Xを見たときに、観測物体が基準平面300に
対してなす角度である。基準平面300は基準線
X−Xを含む平面であり、コーナキユーブCCの
交線C2と、光反射鏡面1aの2等分線1b(第
3図参照)が、この基準平面300上に位置する
ようにコーナキユーブCCが配置されている。
第6A図および第6B図は静止物体100や移
動体200などの観測物体に設けられるビームス
キヤナBSを示す外観図であり、特に、第6A図
はその側面図を示し、第6B図はその上面図を示
す。図において、ビームスキヤナBSは、レーザ
光源や受光素子が収納された円筒4と、この円筒
4に連結されたモータM1とを含む。モータM1
は円筒4を回動することによつて、レーザビーム
LBを回動走査させる。円筒4およびモータM1
は保持部材8によつて保持される。この保持部材
8の側面中央部には、モータM2が連結される。
モータM2は、保持部材8を回動することによつ
て、レーザビームLBで形成される光走査面を回
動させる。モータM2の外周側面には、モータM
3が連結される。モータM3はモータM2を回動
することにより、レーザビームLBで形成される
光走査面を第6A図の上下方向に回動させる。モ
ータM2およびM3は保持部材9によつて保持さ
れる。この保持部材9は観測物体100あるいは
200に固定される。
動体200などの観測物体に設けられるビームス
キヤナBSを示す外観図であり、特に、第6A図
はその側面図を示し、第6B図はその上面図を示
す。図において、ビームスキヤナBSは、レーザ
光源や受光素子が収納された円筒4と、この円筒
4に連結されたモータM1とを含む。モータM1
は円筒4を回動することによつて、レーザビーム
LBを回動走査させる。円筒4およびモータM1
は保持部材8によつて保持される。この保持部材
8の側面中央部には、モータM2が連結される。
モータM2は、保持部材8を回動することによつ
て、レーザビームLBで形成される光走査面を回
動させる。モータM2の外周側面には、モータM
3が連結される。モータM3はモータM2を回動
することにより、レーザビームLBで形成される
光走査面を第6A図の上下方向に回動させる。モ
ータM2およびM3は保持部材9によつて保持さ
れる。この保持部材9は観測物体100あるいは
200に固定される。
第7図は第6A図に示す円筒4の縦断面図であ
る。図において、円筒4の内周壁には、たとえば
半導体レーザなどのレーザ光源5が設けられる。
このレーザ光源5から発射されたレーザビーム
LBは、円筒4の側面に形成された孔6から外部
へ出射される。また、円筒4の内部には、レーザ
ビームLBの光路上に、ハーフミラー7がほぼ45
度の角度で配置される。このハーフミラー7は、
レーザ光源5からのレーザビームLBを通過させ
るとともに、コーナキユーブCCに反射されて戻
つてきた光を円筒4の底面41の方向に反射す
る。円筒4の底面41には、ハーフミラー7によ
つて反射された光を受光するための受光素子BD
が配置される。この受光素子BDは、第8図に示
すように、半円形の受光素子BD1およびBD2
と、中心部に配置される小円形の受光素子BD0
からなる。
る。図において、円筒4の内周壁には、たとえば
半導体レーザなどのレーザ光源5が設けられる。
このレーザ光源5から発射されたレーザビーム
LBは、円筒4の側面に形成された孔6から外部
へ出射される。また、円筒4の内部には、レーザ
ビームLBの光路上に、ハーフミラー7がほぼ45
度の角度で配置される。このハーフミラー7は、
レーザ光源5からのレーザビームLBを通過させ
るとともに、コーナキユーブCCに反射されて戻
つてきた光を円筒4の底面41の方向に反射す
る。円筒4の底面41には、ハーフミラー7によ
つて反射された光を受光するための受光素子BD
が配置される。この受光素子BDは、第8図に示
すように、半円形の受光素子BD1およびBD2
と、中心部に配置される小円形の受光素子BD0
からなる。
第9図は第6図に示すビームスキヤナBSを駆
動しかつ観測物体100あるいは200の傾斜角
度αを検出する回路の概略ブロツク図である。こ
の回路は、観測物体100あるいは200に設け
られる。図において、CPU10には、ROM11
およびRAM12が接続される。ROM11は、
たとえば第10図に示すような動作プログラムを
記憶し、CPU10はこの動作プログラムに従つ
て動作を行なう。CPU10には、さらにインタ
ーフエイス13が接続される。このインターフエ
イス13には、受光素子BD0,BD1およびBD
2からの受光出力が与えられる。また、これら受
光素子BD0,BD1およびBD2の出力は、OR
ゲート14を介してインターフエイス13に与え
られる。さらに、インターフエイス13には、駆
動回路15,16および17が接続される。各駆
動回路15〜17は、それぞれ、インターフエイ
ス13を介してCPU10から与えられる制御信
号に基づいて、モータM1〜M3を駆動する。
動しかつ観測物体100あるいは200の傾斜角
度αを検出する回路の概略ブロツク図である。こ
の回路は、観測物体100あるいは200に設け
られる。図において、CPU10には、ROM11
およびRAM12が接続される。ROM11は、
たとえば第10図に示すような動作プログラムを
記憶し、CPU10はこの動作プログラムに従つ
て動作を行なう。CPU10には、さらにインタ
ーフエイス13が接続される。このインターフエ
イス13には、受光素子BD0,BD1およびBD
2からの受光出力が与えられる。また、これら受
光素子BD0,BD1およびBD2の出力は、OR
ゲート14を介してインターフエイス13に与え
られる。さらに、インターフエイス13には、駆
動回路15,16および17が接続される。各駆
動回路15〜17は、それぞれ、インターフエイ
ス13を介してCPU10から与えられる制御信
号に基づいて、モータM1〜M3を駆動する。
第10図は第9図に示すCPU10の動作を説
明するためのフローチヤートである。以下、第3
図ないし第10図を参照してこの発明の一実施例
の動作について説明する。
明するためのフローチヤートである。以下、第3
図ないし第10図を参照してこの発明の一実施例
の動作について説明する。
まず、第10図に示すステツプS1において、
駆動回路15が能動化され、モータM1によるレ
ーザビームLBの回動走査が開始される。続いて、
ステツプS2において、受光素子BDの受光出力の
パターンが読取られる。すなわち、ORゲート1
4の出力は、サンプリングされてRAM12に記
憶されており、CPU10は、モータM1による
レーザビームLBの1回の回動走査が終了するご
とに、そのとき記憶された受光出力のパターンを
RAM12から読取る。続いて、ステツプS3に進
み、コーナキユーブCC上の走査線(レーザビー
ムLBがコーナキユーブCCの光反射鏡面を走査す
る線)がコーナキユーブCCの光軸中心OOを通つ
たか否かが判断される。ここで、コーナキユーブ
CCの光軸中心OO(第3図参照)付近に入射した
光は、入射光と全く同一の光路を辿つてビームス
キヤナBSに戻つてくる。このようにして戻つて
きたレーザ光は、ハーフミラー7によつて反射さ
れ、受光素子BDの中心部に位置する受光素子
BD0に当たる。したがつて、レーザビームLBの
1回の回動走査の間に受光素子BD0から受光出
力が導出されれば、コーナキユーブCC上の走査
線が光軸中心OO上を通過していることになる。
駆動回路15が能動化され、モータM1によるレ
ーザビームLBの回動走査が開始される。続いて、
ステツプS2において、受光素子BDの受光出力の
パターンが読取られる。すなわち、ORゲート1
4の出力は、サンプリングされてRAM12に記
憶されており、CPU10は、モータM1による
レーザビームLBの1回の回動走査が終了するご
とに、そのとき記憶された受光出力のパターンを
RAM12から読取る。続いて、ステツプS3に進
み、コーナキユーブCC上の走査線(レーザビー
ムLBがコーナキユーブCCの光反射鏡面を走査す
る線)がコーナキユーブCCの光軸中心OOを通つ
たか否かが判断される。ここで、コーナキユーブ
CCの光軸中心OO(第3図参照)付近に入射した
光は、入射光と全く同一の光路を辿つてビームス
キヤナBSに戻つてくる。このようにして戻つて
きたレーザ光は、ハーフミラー7によつて反射さ
れ、受光素子BDの中心部に位置する受光素子
BD0に当たる。したがつて、レーザビームLBの
1回の回動走査の間に受光素子BD0から受光出
力が導出されれば、コーナキユーブCC上の走査
線が光軸中心OO上を通過していることになる。
上述のステツプS3において、コーナキユーブ
CC上の走査線が光軸中心OO上を通過していない
と判断された場合は、ステツプS4に進む。この
ステツプS4では、走査線が光軸中心OOよりも上
側(第3図において)にずれているか否かが判断
される。もし、走査線が光軸中心OOよりも上側
にずれていると判断すれば、ステツプS5に進み、
モータM2を第6A図において時計方向(矢印R
の方向)に回動させる。これによつて、コーナキ
ユーブCC上の走査線が徐々に下がる。一方、ス
テツプS4において、走査線が光軸中心OOよりも
下側にずれていると判断されれば、ステツプS6
に進む。このステツプS6では、ステツプS5とは
逆に、モータM3を第6A図において反時計方向
(矢印Lの方向)に回動させる。これによつて、
走査線が徐々に上がる。上述のステツプS5およ
びS6の後は、再びステツプS2以下の動作が繰返
される。ここで、走査線が上側にずれているか否
かは、レーザビームLBの1回の回動走査におい
て受光素子BD1とBD2とのどちらがより長く
受光出力を導出したかによつて判断される。その
理由を以下に説明する。
CC上の走査線が光軸中心OO上を通過していない
と判断された場合は、ステツプS4に進む。この
ステツプS4では、走査線が光軸中心OOよりも上
側(第3図において)にずれているか否かが判断
される。もし、走査線が光軸中心OOよりも上側
にずれていると判断すれば、ステツプS5に進み、
モータM2を第6A図において時計方向(矢印R
の方向)に回動させる。これによつて、コーナキ
ユーブCC上の走査線が徐々に下がる。一方、ス
テツプS4において、走査線が光軸中心OOよりも
下側にずれていると判断されれば、ステツプS6
に進む。このステツプS6では、ステツプS5とは
逆に、モータM3を第6A図において反時計方向
(矢印Lの方向)に回動させる。これによつて、
走査線が徐々に上がる。上述のステツプS5およ
びS6の後は、再びステツプS2以下の動作が繰返
される。ここで、走査線が上側にずれているか否
かは、レーザビームLBの1回の回動走査におい
て受光素子BD1とBD2とのどちらがより長く
受光出力を導出したかによつて判断される。その
理由を以下に説明する。
第1図で説明したように、コーナキユーブCC
に入射した光は、同一の部分からは出射せず、光
軸Oを中心として点対称の位置から出射する。し
たがつて、たとえば第3図のコーナキユーブCC
において、基準線X−Xよりも上側の光反射鏡面
に入射した光は、内部で複数回反射された後、最
終的には基準線X−Xよりも下側の光反射鏡面で
反射されて出射する。逆に、基準線X−Xよりも
下側の光反射鏡面に入射した光は、内部で複数回
反射された後、最終的には基準線X−Xよりも上
側の光反射鏡面で反射されて出射する。これに対
して、受光素子BD1は基準線X−Xよりも下側
の光反射鏡面から出射した光を受光するように配
置されている。また、受光素子BD2は基準線X
−Xよりも上側の光反射鏡面から出射した光を受
光するように配置されている。今、第3図に示す
走査線SCAN1(なお、光反射鏡面1a〜3aは
立体的に組合されているので、走査線は途中で折
れ曲がつたように見えている)のように、光軸中
心OOに対して上側にずれている走査線を考える
と、この走査線は基準線X−Xよりも上側の領域
を通る部分が下側の領域を通る部分よりも長くな
る。したがつて、コーナキユーブCCから出射す
る反射光は、基準線X−Xを境として下側の光反
射鏡面から出る時間の方が上側の光反射鏡面から
出る時間よりも長くなる。これに応じて、受光素
子BDでは、受光素子BD1の受光時間が受光素
子BD2の受光時間よりも長くなる。そこで、受
光素子BD1からの受光出力の導出時間が受光素
子BD2からの受光出力の導出時間よりも長いと
きは、走査線が光軸中心OOに対して上側にずれ
ていると判断できる。上述とは逆に、受光素子
DB2からの受光出力の導出時間が受光素子BD
1からの受光出力の導出時間よりも長いときは、
走査線が光軸中心OOに対して下側にずれている
と判断できる。
に入射した光は、同一の部分からは出射せず、光
軸Oを中心として点対称の位置から出射する。し
たがつて、たとえば第3図のコーナキユーブCC
において、基準線X−Xよりも上側の光反射鏡面
に入射した光は、内部で複数回反射された後、最
終的には基準線X−Xよりも下側の光反射鏡面で
反射されて出射する。逆に、基準線X−Xよりも
下側の光反射鏡面に入射した光は、内部で複数回
反射された後、最終的には基準線X−Xよりも上
側の光反射鏡面で反射されて出射する。これに対
して、受光素子BD1は基準線X−Xよりも下側
の光反射鏡面から出射した光を受光するように配
置されている。また、受光素子BD2は基準線X
−Xよりも上側の光反射鏡面から出射した光を受
光するように配置されている。今、第3図に示す
走査線SCAN1(なお、光反射鏡面1a〜3aは
立体的に組合されているので、走査線は途中で折
れ曲がつたように見えている)のように、光軸中
心OOに対して上側にずれている走査線を考える
と、この走査線は基準線X−Xよりも上側の領域
を通る部分が下側の領域を通る部分よりも長くな
る。したがつて、コーナキユーブCCから出射す
る反射光は、基準線X−Xを境として下側の光反
射鏡面から出る時間の方が上側の光反射鏡面から
出る時間よりも長くなる。これに応じて、受光素
子BDでは、受光素子BD1の受光時間が受光素
子BD2の受光時間よりも長くなる。そこで、受
光素子BD1からの受光出力の導出時間が受光素
子BD2からの受光出力の導出時間よりも長いと
きは、走査線が光軸中心OOに対して上側にずれ
ていると判断できる。上述とは逆に、受光素子
DB2からの受光出力の導出時間が受光素子BD
1からの受光出力の導出時間よりも長いときは、
走査線が光軸中心OOに対して下側にずれている
と判断できる。
ステツプS2〜S6の動作の繰返しによつて、走
査線SCAN1は走査線SCAN2のように光軸中心
OO上を通過するようになる。したがつて、ステ
ツプS3でそのことが判断され、ステツプS7に進
む。ステツプS7では、再び受光素子BDの受光出
力のパターンが読取られる。そして、ステツプ
S8に進み、走査線が基準線X−Xに対して右上
がりになつているか右下がりになつているかが判
別される。この判別は、上述のステツプS7にお
いて読取られた受光パターンに基づいて行なわれ
る。すなわち、受光素子BD2から得られる受光
出力にマークMA(第3図参照)に相当する符号
が含まれていない場合は走査線が右上がりである
と判断され、逆に受光素子BD2から得られる受
光出力にマークMAに相当する符号が含まれてい
る場合は走査線が右下がりであると判断される。
たとえば、第3図に示す走査線SCAN2の場合
は、走査線がマークMA上を通らないため、受光
素子BD2からはマークMAに相当する符号が得
られない。したがつて、走査線が右上がりである
と判断される。続いて、ステツプS9に進み、走
査線が交線C2と一致したか否かが判断される。
もし、一致していないと判断されれば、ステツプ
S10に進み、走査線が右上がりか否かが判断され
る。この判断は、前述のステツプS8の判別結果
に基づいて行なわれる。もし、走査線が右上がり
であると判断されれば、ステツプS11に進み、走
査線が右下がりとなる方向にモータM2が回動さ
れる。一方、走査線が右下がりと判断されれば、
ステツプS12に進み、走査線が右上がりとなる方
向にモータM2が回動される。これらステツプ
S11およびS13の後は、再びステツプS7以下の動
作が繰返される。ステツプS7〜S12の動作の繰返
しによつて、走査線は徐々に交線C2に近付き、
最終的には交線C2の近傍で右上がりの状態と右
下がりの状態とを交互にい繰返すことになる。こ
の実施例では、このように走査線が右上がりの状
態と右下がりの状態とを交互に繰返すようになつ
たとき、走査線が交線C2に一致したと見なして
いる。そのことがステツプS9で判断されると、
ステツプS13に進み、再び受光パーンが読取られ
る。このとき、走査線は第3図で示す走査線の
SCAN3のようになつている。すなわち、光軸中
心OOから右側半分の走査線は交線C2と一致
し、交軸中心OOから左側半分の走査線は基準線
X−Xに対して角度αを有する線となつている。
この角度αは、第4図あるいは第5図で示した観
測物体の傾斜角度αと等しい。したがつて、この
とき受光パターンに含まれるコード情報(コード
マークCMに基づく情報)を読取れば、観測物体
100あるいは200の傾斜角度αを求めること
ができる。その動作が、ステツプS14で行なわれ
る。その後、再びステツプS2の動作に戻る。
査線SCAN1は走査線SCAN2のように光軸中心
OO上を通過するようになる。したがつて、ステ
ツプS3でそのことが判断され、ステツプS7に進
む。ステツプS7では、再び受光素子BDの受光出
力のパターンが読取られる。そして、ステツプ
S8に進み、走査線が基準線X−Xに対して右上
がりになつているか右下がりになつているかが判
別される。この判別は、上述のステツプS7にお
いて読取られた受光パターンに基づいて行なわれ
る。すなわち、受光素子BD2から得られる受光
出力にマークMA(第3図参照)に相当する符号
が含まれていない場合は走査線が右上がりである
と判断され、逆に受光素子BD2から得られる受
光出力にマークMAに相当する符号が含まれてい
る場合は走査線が右下がりであると判断される。
たとえば、第3図に示す走査線SCAN2の場合
は、走査線がマークMA上を通らないため、受光
素子BD2からはマークMAに相当する符号が得
られない。したがつて、走査線が右上がりである
と判断される。続いて、ステツプS9に進み、走
査線が交線C2と一致したか否かが判断される。
もし、一致していないと判断されれば、ステツプ
S10に進み、走査線が右上がりか否かが判断され
る。この判断は、前述のステツプS8の判別結果
に基づいて行なわれる。もし、走査線が右上がり
であると判断されれば、ステツプS11に進み、走
査線が右下がりとなる方向にモータM2が回動さ
れる。一方、走査線が右下がりと判断されれば、
ステツプS12に進み、走査線が右上がりとなる方
向にモータM2が回動される。これらステツプ
S11およびS13の後は、再びステツプS7以下の動
作が繰返される。ステツプS7〜S12の動作の繰返
しによつて、走査線は徐々に交線C2に近付き、
最終的には交線C2の近傍で右上がりの状態と右
下がりの状態とを交互にい繰返すことになる。こ
の実施例では、このように走査線が右上がりの状
態と右下がりの状態とを交互に繰返すようになつ
たとき、走査線が交線C2に一致したと見なして
いる。そのことがステツプS9で判断されると、
ステツプS13に進み、再び受光パーンが読取られ
る。このとき、走査線は第3図で示す走査線の
SCAN3のようになつている。すなわち、光軸中
心OOから右側半分の走査線は交線C2と一致
し、交軸中心OOから左側半分の走査線は基準線
X−Xに対して角度αを有する線となつている。
この角度αは、第4図あるいは第5図で示した観
測物体の傾斜角度αと等しい。したがつて、この
とき受光パターンに含まれるコード情報(コード
マークCMに基づく情報)を読取れば、観測物体
100あるいは200の傾斜角度αを求めること
ができる。その動作が、ステツプS14で行なわれ
る。その後、再びステツプS2の動作に戻る。
なお、上述の実施例では、基準面300(第5
図参照)に対して上側にある観測物体の傾斜角度
を検出する場合を説明したが、基準面300に対
して下側にある観測物体の傾斜角度を検出できる
ことももちろんである。
図参照)に対して上側にある観測物体の傾斜角度
を検出する場合を説明したが、基準面300に対
して下側にある観測物体の傾斜角度を検出できる
ことももちろんである。
また、上述の実施例では、コードマークCMの
基準角度(0°)を光反射鏡面1aの2等分線1b
に選んだため、この2等分線1bを中心として±
45°の範囲で傾斜角度αを測定することができる
が、コードマークCMの基準角度は光反射鏡面1
aの開き角度90°の範囲内でどのように選んでも
よい。この場合、コードマークCMの基準角度と
光線C2とが基準平面300上に位置するように
設定されることは勿論である。
基準角度(0°)を光反射鏡面1aの2等分線1b
に選んだため、この2等分線1bを中心として±
45°の範囲で傾斜角度αを測定することができる
が、コードマークCMの基準角度は光反射鏡面1
aの開き角度90°の範囲内でどのように選んでも
よい。この場合、コードマークCMの基準角度と
光線C2とが基準平面300上に位置するように
設定されることは勿論である。
また、コードマークCMは基準角度から角度情
報を2進符号で表わすものであればどのような形
態であつてもよい。そして、第3図の実施例では
コードマークCMを直線的に配置しているが、い
わゆるロータリエンコーダと全く同様に同心円状
に配置してもよい。
報を2進符号で表わすものであればどのような形
態であつてもよい。そして、第3図の実施例では
コードマークCMを直線的に配置しているが、い
わゆるロータリエンコーダと全く同様に同心円状
に配置してもよい。
また、上述の説明ではコーナキユーブの一例と
して3枚の鏡を立体的に組合わせてなるものを説
明したが、周知のように、コーナキユーブにはそ
の他の構成のものも提案されている。たとえば、
第2図で示す光反射鏡面1a〜3aで囲まれる空
間形状を有するガラスの透明体を準備し、光反射
鏡面1a〜3aに相当する端面に銀蒸着などによ
つて光反射鏡面を外部から形成し、残りの一端を
平面にしてこの平面から光を入射させるようなコ
ーナキユーブもある。この発明はこのようなソリ
ツドステートタイプのコーナキユーブももちろん
用いることができる。
して3枚の鏡を立体的に組合わせてなるものを説
明したが、周知のように、コーナキユーブにはそ
の他の構成のものも提案されている。たとえば、
第2図で示す光反射鏡面1a〜3aで囲まれる空
間形状を有するガラスの透明体を準備し、光反射
鏡面1a〜3aに相当する端面に銀蒸着などによ
つて光反射鏡面を外部から形成し、残りの一端を
平面にしてこの平面から光を入射させるようなコ
ーナキユーブもある。この発明はこのようなソリ
ツドステートタイプのコーナキユーブももちろん
用いることができる。
また、上述の実施例では、光反射鏡面にマーク
MAを形成するようにしたが、これに代えて、受
光素子BD1およびBD2をさらに2等分して中
心角が90度の4つの受光素子を設け、受光出力が
これら4つの受光素子のいずれから得られたかに
よつて走査線の右上がりと右下がりとを判別する
ことができる。
MAを形成するようにしたが、これに代えて、受
光素子BD1およびBD2をさらに2等分して中
心角が90度の4つの受光素子を設け、受光出力が
これら4つの受光素子のいずれから得られたかに
よつて走査線の右上がりと右下がりとを判別する
ことができる。
また、この発明はロボツトやマニピユレータ等
の移動部の傾斜角度を観測することもできる。
の移動部の傾斜角度を観測することもできる。
発明の効果
以上のように、この発明によれば、簡単かつ安
価な構成でしかも極めて正確に傾斜角の測定が行
なえる全く新規な傾斜角測定装置を得ることがで
きる。
価な構成でしかも極めて正確に傾斜角の測定が行
なえる全く新規な傾斜角測定装置を得ることがで
きる。
第1図はこの発明に用いられる光反射手段の一
例のコーナキユーブを示す外観斜視図である。第
2図はコーナキユーブの内部に収納される鏡の立
体斜視図である。第3図はこの発明の一実施例に
用いられるコーナキユーブの光反射鏡面の上面図
である。第4図および第5図はこの発明の一実施
例の使用態様を説明するための図解図であり、特
に、第4図は静止物体100の傾斜角度を測定す
る場合を示し、第5図は移動体200の傾斜角度
を測定する場合を示す。第6A図および第6B図
はこの発明の一実施例に用いられるビームスキヤ
ナBSを示す外観図であり、特に、第6A図はそ
の側面図を示し、第6B図はその上面図を示す。
第7図は第6A図に示す円筒4の縦断面図であ
る。第8図は第7図に示す受光素子BDの平面図
である。第9図は第6図に示すビームスキヤナ
BSを駆動し、かつ観測物体の傾斜角度を演算す
る電気回路の概略ブロツク図である。第10図は
第9図に示すCPU10の動作を説明するための
フローチヤートである。 図において、CCはコーナキユーブ、1a〜3
aは光反射鏡面、CMはコードマーク、MAはマ
ーク、C1〜C3は交線、100は静止物体、2
00は移動体、BSはビームスキヤナ、M1〜M
3はモータ、5はレーザ光源、BDは受交素子、
10はCPU、11はROM、12はRAMを示す。
例のコーナキユーブを示す外観斜視図である。第
2図はコーナキユーブの内部に収納される鏡の立
体斜視図である。第3図はこの発明の一実施例に
用いられるコーナキユーブの光反射鏡面の上面図
である。第4図および第5図はこの発明の一実施
例の使用態様を説明するための図解図であり、特
に、第4図は静止物体100の傾斜角度を測定す
る場合を示し、第5図は移動体200の傾斜角度
を測定する場合を示す。第6A図および第6B図
はこの発明の一実施例に用いられるビームスキヤ
ナBSを示す外観図であり、特に、第6A図はそ
の側面図を示し、第6B図はその上面図を示す。
第7図は第6A図に示す円筒4の縦断面図であ
る。第8図は第7図に示す受光素子BDの平面図
である。第9図は第6図に示すビームスキヤナ
BSを駆動し、かつ観測物体の傾斜角度を演算す
る電気回路の概略ブロツク図である。第10図は
第9図に示すCPU10の動作を説明するための
フローチヤートである。 図において、CCはコーナキユーブ、1a〜3
aは光反射鏡面、CMはコードマーク、MAはマ
ーク、C1〜C3は交線、100は静止物体、2
00は移動体、BSはビームスキヤナ、M1〜M
3はモータ、5はレーザ光源、BDは受交素子、
10はCPU、11はROM、12はRAMを示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 観測物体から基準平面上における基準線を見
たとき、該観測物体が基準平面に対してなす傾斜
角度を計測する装置であつて、 平面状の3つの光反射鏡面を互いに直交するよ
うに立体的に組合わせた構造からなり、入射した
光を同一方向に反射する光反射手段を備え、 前記光反射鏡面が交差することによつて形成さ
れる3本の交線のうち1本の交線は前記基準線と
一致するように配置され、かつ 前記1本の交線を含まない光反射鏡面には、前
記傾斜角度を示すためのコードマークが形成さ
れ、 前記観測物体は、 前記光反射手段に向けて指向性の鋭い光ビーム
を回動走査する手段と、 前記光反射手段からの反射光を受光する手段
と、 前記回動走査された光ビームがたどる走査線が
前記光反射手段の光軸中心を通過するように前記
回動走査手段を制御する第1の制御手段と、 前記第1の制御手段による制御の後、前記回動
走査された光ビームがたどる走査線が前記光反射
手段における前記1本の交線と一致するように前
記回動走査手段を制御する第2の制御手段と、 前記第1の制御手段と前記第2の制御手段とに
よる制御の後、前記受光手段の受光出力に含まれ
る前記コードマークの情報を読取つて前記傾斜角
度を検出する手段とを含む、傾斜角度計測装置。 2 前記観測物体は移動物体である、特許請求の
範囲第1項記載の傾斜角度計測装置。 3 前記移動物体は、ロボツトやマニビユレータ
等の移動部である、特許請求の範囲第2項記載の
傾斜角度計測装置。 4 前記観測物体は静止物体である、特許請求の
範囲第1項記載の傾斜角度計測装置。 5 前記光反射鏡面には、さらに第2のマークが
形成され、 前記第2の制御手段は、前記受光手段の出力に
含まれる前記第2のマークによる情報に基づいて
前記制御を行なうことを特徴とする、特許請求の
範囲第1項ないし第4項のいずれかに記載の傾斜
角度計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18903583A JPS6080707A (ja) | 1983-10-07 | 1983-10-07 | 傾斜角度計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18903583A JPS6080707A (ja) | 1983-10-07 | 1983-10-07 | 傾斜角度計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6080707A JPS6080707A (ja) | 1985-05-08 |
| JPH0422202B2 true JPH0422202B2 (ja) | 1992-04-16 |
Family
ID=16234202
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18903583A Granted JPS6080707A (ja) | 1983-10-07 | 1983-10-07 | 傾斜角度計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6080707A (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2579234Y2 (ja) * | 1990-05-21 | 1998-08-20 | 株式会社ソキア | 反射鏡装置 |
| FR2707000A1 (en) * | 1993-06-21 | 1994-12-30 | Bertin & Cie | Method and device for measuring angles by reflectometry |
| JP2006288613A (ja) * | 2005-04-08 | 2006-10-26 | Hoyu Co Ltd | 脱染剤用塗布具及びかかる脱染剤用塗布具を用いた脱染方法 |
| CN108489479A (zh) * | 2017-12-29 | 2018-09-04 | 合肥中导机器人科技有限公司 | 激光导航精确定位方法、机器人导航方法及激光导航系统 |
| JP7161298B2 (ja) * | 2018-03-26 | 2022-10-26 | 株式会社トプコン | ターゲット装置、測量システム |
| JP7080129B2 (ja) * | 2018-08-01 | 2022-06-03 | 株式会社トプコン | 角度検出システムおよび角度検出方法 |
| JP7078486B2 (ja) * | 2018-08-01 | 2022-05-31 | 株式会社トプコン | 角度検出システムおよび角度検出方法 |
-
1983
- 1983-10-07 JP JP18903583A patent/JPS6080707A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6080707A (ja) | 1985-05-08 |
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