JPH04232074A - イオンフロー記録用ヘッドとその製造方法 - Google Patents
イオンフロー記録用ヘッドとその製造方法Info
- Publication number
- JPH04232074A JPH04232074A JP40954790A JP40954790A JPH04232074A JP H04232074 A JPH04232074 A JP H04232074A JP 40954790 A JP40954790 A JP 40954790A JP 40954790 A JP40954790 A JP 40954790A JP H04232074 A JPH04232074 A JP H04232074A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- ion flow
- flow recording
- shape
- photomask
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Dot-Matrix Printers And Others (AREA)
- Printers Or Recording Devices Using Electromagnetic And Radiation Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、貫通孔列が形成され
た基板を複数個つないで1つのヘッドモジュールとする
イオンフロー記録用ヘッド及びその製造方法に関する。
た基板を複数個つないで1つのヘッドモジュールとする
イオンフロー記録用ヘッド及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】図9はイオンフローを用いて静電潜像を
形成する記録ヘッドの構成図であり、コロナ放電器51
に対向して、貫通孔52aの列が形成され、貫通孔列5
2aの上面及び下面に共通電極52b及び個別電極52
cが形成されたイオンフロー記録用ヘッド52が設けら
れている。共通電極52b及び個別電極52cの間には
各貫通孔毎に独立して所定の電圧を印加することができ
る構成となっている。この記録ヘッド52はドラム53
上の誘電体層53aと対向している。そしてコロナ放電
器51より発生したコロナイオンを、電圧印加により電
界が生じた貫通孔より飛び出させ、誘電体層53aに付
着させ、これにより静電潜像が形成されるようになって
いる。
形成する記録ヘッドの構成図であり、コロナ放電器51
に対向して、貫通孔52aの列が形成され、貫通孔列5
2aの上面及び下面に共通電極52b及び個別電極52
cが形成されたイオンフロー記録用ヘッド52が設けら
れている。共通電極52b及び個別電極52cの間には
各貫通孔毎に独立して所定の電圧を印加することができ
る構成となっている。この記録ヘッド52はドラム53
上の誘電体層53aと対向している。そしてコロナ放電
器51より発生したコロナイオンを、電圧印加により電
界が生じた貫通孔より飛び出させ、誘電体層53aに付
着させ、これにより静電潜像が形成されるようになって
いる。
【0003】ところで、イオンフロー記録用ヘッド52
は記録紙サイズ等から、20〜30cm等の長さが必要
であり、薄板のイオンフロー記録用ヘッド52を20〜
30cm等の長さで製造し、また取り扱うことは非常に
困難であるため、通常、貫通孔が形成された例えば長さ
10cm程度の矩形基板を複数個、組み立て工程等でつ
ないで、イオンフロー記録用ヘッド52を形成している
。このとき各基板の貫通孔列が高精度で一直線状につな
がるように各基板の接続が行われる。
は記録紙サイズ等から、20〜30cm等の長さが必要
であり、薄板のイオンフロー記録用ヘッド52を20〜
30cm等の長さで製造し、また取り扱うことは非常に
困難であるため、通常、貫通孔が形成された例えば長さ
10cm程度の矩形基板を複数個、組み立て工程等でつ
ないで、イオンフロー記録用ヘッド52を形成している
。このとき各基板の貫通孔列が高精度で一直線状につな
がるように各基板の接続が行われる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、各基板
を高精度に位置合わせすることは非常に繁雑で手間がか
かり、高度の熟練を要していた。
を高精度に位置合わせすることは非常に繁雑で手間がか
かり、高度の熟練を要していた。
【0005】そこで本発明の目的は、各基板の高精度な
位置合わせを容易に行うことが可能なイオンフロー記録
用ヘッド及びその製造方法を提供することにある。
位置合わせを容易に行うことが可能なイオンフロー記録
用ヘッド及びその製造方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、貫通孔列が形成された基板を複数個つな
いで1つのヘッドモジュールとするイオンフロー記録用
ヘッドにおいて、基板の端部が、隣りの基板の端部とイ
オンフロー記録用ヘッドの幅方向に噛み合う形状となっ
ている。
に、本発明は、貫通孔列が形成された基板を複数個つな
いで1つのヘッドモジュールとするイオンフロー記録用
ヘッドにおいて、基板の端部が、隣りの基板の端部とイ
オンフロー記録用ヘッドの幅方向に噛み合う形状となっ
ている。
【0007】上記噛み合う形状は、イオンフロー記録用
ヘッドの厚み方向にも形成されることがある。
ヘッドの厚み方向にも形成されることがある。
【0008】基板の両端の上記噛み合う形状は、一端が
雄型に他端が雌型に形成されることもある。
雄型に他端が雌型に形成されることもある。
【0009】また上記目的を達成するために、本発明の
イオンフロー記録用ヘッドの製造方法は、フォトマスク
を用いて基板に貫通孔列をパターニングする工程と、フ
ォトマスクを用いて基板に噛み合う形状をパターニング
する工程と、貫通孔列と噛み合う形状とがパターニング
された基板にエッチングを行い、貫通孔列と噛み合う形
状とを同時に形成する工程とを有する。
イオンフロー記録用ヘッドの製造方法は、フォトマスク
を用いて基板に貫通孔列をパターニングする工程と、フ
ォトマスクを用いて基板に噛み合う形状をパターニング
する工程と、貫通孔列と噛み合う形状とがパターニング
された基板にエッチングを行い、貫通孔列と噛み合う形
状とを同時に形成する工程とを有する。
【0010】貫通孔列のパターンと噛み合う形状のパタ
ーンとが同一のフォトマスクに形成してあり、このフォ
トマスクを用いて貫通孔列と噛み合う形状とが同一工程
でパターニングされるようにしてもよい。
ーンとが同一のフォトマスクに形成してあり、このフォ
トマスクを用いて貫通孔列と噛み合う形状とが同一工程
でパターニングされるようにしてもよい。
【0011】上記基板は、好ましくは感光性ガラスが使
用される。
用される。
【0012】
【作用】基板の端部が、隣りの基板の端部と噛み合う形
状となっているため、容易に、各基板の貫通孔列を高精
度に一直線状につなげることができる。
状となっているため、容易に、各基板の貫通孔列を高精
度に一直線状につなげることができる。
【0013】また、噛み合う形状をエッチングにより形
成することにより、噛み合う形状を高精度に作ることが
でき、またパターニングされた貫通孔列と噛み合う形状
とを同時にエッチングすることにより、噛み合う形状の
加工に要する時間を短くすることができる。
成することにより、噛み合う形状を高精度に作ることが
でき、またパターニングされた貫通孔列と噛み合う形状
とを同時にエッチングすることにより、噛み合う形状の
加工に要する時間を短くすることができる。
【0014】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。
に説明する。
【0015】まず図1〜図4を用いて第1実施例を説明
する。
する。
【0016】図1において、一方の基板1は中央に貫通
孔1aの列が形成され、基板1の両端には凹形状1bが
形成されている。他方の基板2は中央に貫通孔2aの列
が形成され、基板2の両端には凸形状2bが形成されて
いる。従って組み立てにおいて、基板1の凹形状1bに
基板2の凸形状2bを嵌合すると、基板1と基板2とは
イオンフロー記録用ヘッドの幅方向の位置決めが自ら行
われる。従って作業者は、イオンフロー記録用ヘッドの
長さ方向に基板1と基板2とを互いに密着させて、基板
を支持する支持部材等(図示省略)に接着剤やねじ等の
所定手段(図示省略)により、基板1と基板2とをそれ
ぞれ固定すれば、各基板の貫通孔列を容易に一直線状に
つなぐことができる。基板を3個以上接続する場合は、
同様にして凹形状を有する基板1と凸形状を有する基板
2とを交互につないで接続する。
孔1aの列が形成され、基板1の両端には凹形状1bが
形成されている。他方の基板2は中央に貫通孔2aの列
が形成され、基板2の両端には凸形状2bが形成されて
いる。従って組み立てにおいて、基板1の凹形状1bに
基板2の凸形状2bを嵌合すると、基板1と基板2とは
イオンフロー記録用ヘッドの幅方向の位置決めが自ら行
われる。従って作業者は、イオンフロー記録用ヘッドの
長さ方向に基板1と基板2とを互いに密着させて、基板
を支持する支持部材等(図示省略)に接着剤やねじ等の
所定手段(図示省略)により、基板1と基板2とをそれ
ぞれ固定すれば、各基板の貫通孔列を容易に一直線状に
つなぐことができる。基板を3個以上接続する場合は、
同様にして凹形状を有する基板1と凸形状を有する基板
2とを交互につないで接続する。
【0017】次にこの基板の製造方法を説明する。
【0018】図2のように、貫通孔列及び凹形状を含む
基板1に対応するフォトマスク3を用意し、フォトマス
ク3よりやや大きい感光性ガラスの板5を用意し、フォ
トマスク3を感光性ガラス板5の上に載せる。
基板1に対応するフォトマスク3を用意し、フォトマス
ク3よりやや大きい感光性ガラスの板5を用意し、フォ
トマスク3を感光性ガラス板5の上に載せる。
【0019】そして、図4のように、UVライト6で、
所定の手段により平行光線にして、光を照射しながら、
上述のフォトマスク3が載置された感光性ガラス板5を
移動させる。すると、フォトマスク3の凹形状3bを含
む輪郭線の外側及び孔列3aの内部には光が基板に垂直
に当たり、露光する。
所定の手段により平行光線にして、光を照射しながら、
上述のフォトマスク3が載置された感光性ガラス板5を
移動させる。すると、フォトマスク3の凹形状3bを含
む輪郭線の外側及び孔列3aの内部には光が基板に垂直
に当たり、露光する。
【0020】次にこの露光された基板5を熱現像し、露
光された部分を結晶化する。
光された部分を結晶化する。
【0021】そしてこの基板5にフッ酸水溶液等のエッ
チング液をシャワー状に吹き付けると、結晶化した部分
が溶けてエッチングされ、凹形状を含む基板の外輪郭及
び貫通孔が同時に形成される。
チング液をシャワー状に吹き付けると、結晶化した部分
が溶けてエッチングされ、凹形状を含む基板の外輪郭及
び貫通孔が同時に形成される。
【0022】エッチングにより形成されるため、極めて
正確な形状の凹形状が得られる。また感光性ガラス板を
用いたため、高精度のエッチングが得られる。さらに貫
通孔列,及び凹形状を含む基板1の輪郭形状を有する1
つのフォトマスク3で貫通孔列及び凹形状を同時にパタ
ーニングするため、貫通孔列及び凹形状の互いの位置関
係が極めて高精度に保たれる。
正確な形状の凹形状が得られる。また感光性ガラス板を
用いたため、高精度のエッチングが得られる。さらに貫
通孔列,及び凹形状を含む基板1の輪郭形状を有する1
つのフォトマスク3で貫通孔列及び凹形状を同時にパタ
ーニングするため、貫通孔列及び凹形状の互いの位置関
係が極めて高精度に保たれる。
【0023】図3のように基板2も同様に、貫通孔列及
び凸形状を含む基板2に対応するフォトマスク8を用意
し、これを感光性ガラス板(図示せず。)の上にのせて
、露光,熱現像し、エッチングを行う。
び凸形状を含む基板2に対応するフォトマスク8を用意
し、これを感光性ガラス板(図示せず。)の上にのせて
、露光,熱現像し、エッチングを行う。
【0024】なお、図示はしないが基板の両端の噛み合
い形状を、噛み合い部の基板幅方向中心に関して点対称
となるように形成すれば、隣り合った基板を、一方の基
板に対し他方の基板を180度回転させて長手方向に接
合し、次々につないでイオンフロー記録用ヘッドを作る
ことができる。この構成によれば、基板を1種類作れば
よく、基板の製造がより容易となり、またメンテナンス
において、複数個つなげられた基板の1つを取り換える
ときに都合がよい。
い形状を、噛み合い部の基板幅方向中心に関して点対称
となるように形成すれば、隣り合った基板を、一方の基
板に対し他方の基板を180度回転させて長手方向に接
合し、次々につないでイオンフロー記録用ヘッドを作る
ことができる。この構成によれば、基板を1種類作れば
よく、基板の製造がより容易となり、またメンテナンス
において、複数個つなげられた基板の1つを取り換える
ときに都合がよい。
【0025】図5は本発明の第2実施例であり、基板1
1の両端の噛み合い形状は、一方の噛み合い形状が凹形
状(雌型)11aとなっており、他方の噛み合い形状が
凸形状11b(雄型)となっている。
1の両端の噛み合い形状は、一方の噛み合い形状が凹形
状(雌型)11aとなっており、他方の噛み合い形状が
凸形状11b(雄型)となっている。
【0026】したがって基板11同士を次々につないで
イオンフロー記録用ヘッドを作ることができるようにな
っている。
イオンフロー記録用ヘッドを作ることができるようにな
っている。
【0027】この構成によれば、基板11を1種類作れ
ばよく、基板の製造がより容易となり、またメンテナン
スにおいて、複数個つなげられた基板の1つを取り換え
るときに都合がよい。
ばよく、基板の製造がより容易となり、またメンテナン
スにおいて、複数個つなげられた基板の1つを取り換え
るときに都合がよい。
【0028】次に本発明の第3実施例を図6〜図8に基
づいて説明する。
づいて説明する。
【0029】図7に示すように、基板の長さを有し、中
央部に孔列12aを有し、幅方向一方端側には、両端に
おいて、一方に切欠部12b,他方に切欠部12bと同
じ幅の突起部12cを有する形状のフォトマスク12を
用意する。
央部に孔列12aを有し、幅方向一方端側には、両端に
おいて、一方に切欠部12b,他方に切欠部12bと同
じ幅の突起部12cを有する形状のフォトマスク12を
用意する。
【0030】図6の露光装置は、所定の手段により平行
光線を出すようにされたUVライト13を中央部に置き
、このライト13の下方に遮光部材14が置かれている
。このライト13により、フォトマスク12の切欠部1
2b及び突起部12cの内端より貫通孔列を含んで所定
幅のみを照らす。また所定の手段により平行光線を出す
ようにされたUVライト15を左方部に延直下方向より
所定角度右方に向けて置き、このライト15の前方に遮
光部材16を置き、このライト15により、切欠部12
b及び突起部12cの内端より幅方向外側を照らす。 また所定の手段により平行光線を出すようにされたUV
ライト17を右方部に延直下方向より所定角度左方に向
けて置き、このライト17の前方に遮光部材18を置き
、このライト17により、中央部のライト13の照らす
端部位置より幅方向外側(紙面垂直下方向部分)を照ら
す。
光線を出すようにされたUVライト13を中央部に置き
、このライト13の下方に遮光部材14が置かれている
。このライト13により、フォトマスク12の切欠部1
2b及び突起部12cの内端より貫通孔列を含んで所定
幅のみを照らす。また所定の手段により平行光線を出す
ようにされたUVライト15を左方部に延直下方向より
所定角度右方に向けて置き、このライト15の前方に遮
光部材16を置き、このライト15により、切欠部12
b及び突起部12cの内端より幅方向外側を照らす。 また所定の手段により平行光線を出すようにされたUV
ライト17を右方部に延直下方向より所定角度左方に向
けて置き、このライト17の前方に遮光部材18を置き
、このライト17により、中央部のライト13の照らす
端部位置より幅方向外側(紙面垂直下方向部分)を照ら
す。
【0031】そしてライト13,15,17を照射しな
がら、フォトマスク12を載置した、フォトマスク12
よりやや大きい感光性ガラス板19を移動させると、ラ
イト13により、孔列12a内を基板19に垂直に露光
し、フォトマスク12の両端では基板19を中央部で基
板に垂直に露光する。またライト15により、切欠部1
2bを斜め方向に露光し、突起部12cの位置では突起
部12cの下側が斜め方向に露光される。またライト1
7により、フォトマスク12の右端部ではフォトマスク
12の下側を斜め方向に露光し、フォトマスク12の左
端部ではフォトマスク12の端縁より先を斜め方向に露
光し、端縁の先に露光されない部分が残る。
がら、フォトマスク12を載置した、フォトマスク12
よりやや大きい感光性ガラス板19を移動させると、ラ
イト13により、孔列12a内を基板19に垂直に露光
し、フォトマスク12の両端では基板19を中央部で基
板に垂直に露光する。またライト15により、切欠部1
2bを斜め方向に露光し、突起部12cの位置では突起
部12cの下側が斜め方向に露光される。またライト1
7により、フォトマスク12の右端部ではフォトマスク
12の下側を斜め方向に露光し、フォトマスク12の左
端部ではフォトマスク12の端縁より先を斜め方向に露
光し、端縁の先に露光されない部分が残る。
【0032】次にこの露光された基板19を熱現像し、
露光された部分を結晶化する。
露光された部分を結晶化する。
【0033】そしてこの基板19の、結晶化した部分を
エッチングして、幅方向及び厚み方向に噛み合い形状を
有する、図8に示した基板20が得られる。感光性ガラ
スはエッチング性能が優れているため、厚み方向斜め方
向のエッチングも極めて高精度に行うことができる。
エッチングして、幅方向及び厚み方向に噛み合い形状を
有する、図8に示した基板20が得られる。感光性ガラ
スはエッチング性能が優れているため、厚み方向斜め方
向のエッチングも極めて高精度に行うことができる。
【0034】基板20は、噛み合わせたとき、噛み合い
形状の中央部20aで長さ方向の位置決めが行われ、噛
み合い形状の図8の幅方向前方部20b同士と、噛み合
い形状の図8の幅方向後方部20c同士とが噛み合うこ
とにより、これらは中央部20aを残して一方の基板側
にくいこむ形となっているので、幅方向の位置決めが行
われ、さらに幅方向前方部20b同士の噛み合いは右側
の基板を左側の基板の上に乗上げさせる力を作用し、幅
方向後方部20c同士の噛み合いは右側の基板を左側の
基板の下に押し下げる力を作用するため、幅方向前方部
20b同士の噛み合い及び幅方向後方部20c同士の噛
み合いにより、これらの双方の力が働き、厚み方向の位
置決めが行われる。
形状の中央部20aで長さ方向の位置決めが行われ、噛
み合い形状の図8の幅方向前方部20b同士と、噛み合
い形状の図8の幅方向後方部20c同士とが噛み合うこ
とにより、これらは中央部20aを残して一方の基板側
にくいこむ形となっているので、幅方向の位置決めが行
われ、さらに幅方向前方部20b同士の噛み合いは右側
の基板を左側の基板の上に乗上げさせる力を作用し、幅
方向後方部20c同士の噛み合いは右側の基板を左側の
基板の下に押し下げる力を作用するため、幅方向前方部
20b同士の噛み合い及び幅方向後方部20c同士の噛
み合いにより、これらの双方の力が働き、厚み方向の位
置決めが行われる。
【0035】したがってイオンフロー記録用ヘッドの幅
方向及び厚み方向に、高精度の位置決めを行うことが可
能である。
方向及び厚み方向に、高精度の位置決めを行うことが可
能である。
【0036】また基板20は、一端の噛み合い形状が他
端の噛み合い形状に噛み合うため、基板20を複数個作
り、これらの基板20を互いにつないで1つのヘッドモ
ジュールとすることができる。
端の噛み合い形状に噛み合うため、基板20を複数個作
り、これらの基板20を互いにつないで1つのヘッドモ
ジュールとすることができる。
【0037】上記第1実施例等において、用意した感光
性ガラス板5は幅方向にもフォトマスク3の幅より長い
としたが、感光性ガラス板5の幅はフォトマスク3の幅
に等しく、又はフォトマスク3の幅より短くてもよい。 基板の幅方向端部位置の精度は重要でないため、幅方向
端部の輪郭線を高精度に形成する必要がないためである
。
性ガラス板5は幅方向にもフォトマスク3の幅より長い
としたが、感光性ガラス板5の幅はフォトマスク3の幅
に等しく、又はフォトマスク3の幅より短くてもよい。 基板の幅方向端部位置の精度は重要でないため、幅方向
端部の輪郭線を高精度に形成する必要がないためである
。
【0038】なお、噛み合う形状は上述の実施例に限ら
れない。
れない。
【0039】
【発明の効果】本発明はこのような構成であるため、容
易に、各基板を高精度につなぐことが可能となる。
易に、各基板を高精度につなぐことが可能となる。
【0040】また、噛み合う形状をエッチングにより形
成するので、噛み合う形状を極めて高精度に作ることが
でき、またパターニングされた貫通孔列と噛み合う形状
とを同時にエッチングすることにより、噛み合う形状の
加工に要する時間を極めて短くすることが可能となる。
成するので、噛み合う形状を極めて高精度に作ることが
でき、またパターニングされた貫通孔列と噛み合う形状
とを同時にエッチングすることにより、噛み合う形状の
加工に要する時間を極めて短くすることが可能となる。
【図1】本発明の第1実施例の基板同士をつないだ状態
を示す斜視図である。
を示す斜視図である。
【図2】第1実施例に用いられるフォトマスクの1つを
感光性ガラス板の上に置いた状態を示す平面図である。
感光性ガラス板の上に置いた状態を示す平面図である。
【図3】第1実施例に用いられる他方のフォトマスクを
示す平面図である。
示す平面図である。
【図4】基板をパターニングしている状態を示す立面図
である。
である。
【図5】本発明の第2実施例の基板同士をつないだ状態
を示す平面図である。
を示す平面図である。
【図6】本発明の第3実施例にかかる、基板をパターニ
ングしている状態を示す立面図である。
ングしている状態を示す立面図である。
【図7】第3実施例のフォトマスクの斜視図である。
【図8】第3実施例のエッチングされた基板の斜視図で
ある。
ある。
【図9】イオンフローを用いて静電潜像を形成する記録
ヘッドの構成図である。
ヘッドの構成図である。
1,2,11,20 基板
1a,2a, 貫通孔
1b,2b,11a,11b,20a,20b,20c
噛み合う形状 3,8,12, フォトマスク 5,19 感光性ガラス板
噛み合う形状 3,8,12, フォトマスク 5,19 感光性ガラス板
Claims (6)
- 【請求項1】 貫通孔列が形成された基板を複数個つ
ないで1つのヘッドモジュールとするイオンフロー記録
用ヘッドにおいて、上記基板の端部が、隣りの上記基板
の端部と上記イオンフロー記録用ヘッドの幅方向に噛み
合う形状となっていることを特徴とするイオンフロー記
録用ヘッド。 - 【請求項2】 請求項1において、上記噛み合う形状
は、上記イオンフロー記録用ヘッドの厚み方向にも形成
してあることを特徴とするイオンフロー記録用ヘッド。 - 【請求項3】 請求項1又は2において、上記基板の
両端の上記噛み合う形状は、一端の上記噛み合う形状が
他端の上記噛み合う形状に噛み合うように構成してある
ことを特徴とするイオンフロー記録用ヘッド。 - 【請求項4】 フォトマスクを用いて上記基板に上記
貫通孔列をパターニングする工程と、フォトマスクを用
いて上記基板に上記噛み合う形状をパターニングする工
程と、上記貫通孔列と上記噛み合う形状とがパターニン
グされた上記基板にエッチングを行い、上記貫通孔列と
上記噛み合う形状とを同時に形成する工程とを有するこ
とを特徴とする請求項1乃至3のいずれかに記載のイオ
ンフロー記録用ヘッドの製造方法。 - 【請求項5】 請求項4において、上記貫通孔列のパ
ターンと上記噛み合う形状のパターンとが同一のフォト
マスクに形成してあり、このフォトマスクを用いて上記
貫通孔列と上記噛み合う形状とが同一工程でパターニン
グされることを特徴とするイオンフロー記録用ヘッドの
製造方法。 - 【請求項6】 請求項4又は5において、上記基板に
は感光性ガラスが用いられることを特徴とするイオンフ
ロー記録用ヘッドの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP40954790A JPH04232074A (ja) | 1990-12-28 | 1990-12-28 | イオンフロー記録用ヘッドとその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP40954790A JPH04232074A (ja) | 1990-12-28 | 1990-12-28 | イオンフロー記録用ヘッドとその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04232074A true JPH04232074A (ja) | 1992-08-20 |
Family
ID=18518875
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP40954790A Pending JPH04232074A (ja) | 1990-12-28 | 1990-12-28 | イオンフロー記録用ヘッドとその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04232074A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013535362A (ja) * | 2010-08-04 | 2013-09-12 | トリアコン エンフェー | プリント・ヘッド・エレメント、プリント・ヘッドおよびイオノグラフィー印刷装置 |
-
1990
- 1990-12-28 JP JP40954790A patent/JPH04232074A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013535362A (ja) * | 2010-08-04 | 2013-09-12 | トリアコン エンフェー | プリント・ヘッド・エレメント、プリント・ヘッドおよびイオノグラフィー印刷装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH10213895A (ja) | レチクルの合わせ測定用マーク | |
| US5946138A (en) | Illumination optical system, exposure device and device manufacturing method | |
| US4397543A (en) | Mask for imaging a pattern of a photoresist layer, method of making said mask, and use thereof in a photolithographic process | |
| JPH04232074A (ja) | イオンフロー記録用ヘッドとその製造方法 | |
| JPH09129546A (ja) | 両面露光装置及び両面露光方法 | |
| JPH0845823A (ja) | 露光装置およびその方法 | |
| JP4791630B2 (ja) | 露光装置 | |
| EP1280009A2 (en) | Photolithographic structuring method | |
| JPH022106A (ja) | 不透明スライスの2つの対向面上に互に位置合せされたパターンを得る方法 | |
| US20030039928A1 (en) | Multiple purpose reticle layout for selective printing of test circuits | |
| JPH0943860A (ja) | 両面パターニング法 | |
| JPS60229001A (ja) | 集積化回折格子の製造方法 | |
| JPH0787174B2 (ja) | パタ−ン形成方法 | |
| JPS59104623A (ja) | セラミツク素子及びその製造方法 | |
| JPH0864520A (ja) | レチクルの回転誤差測定用のレチクルおよび方法 | |
| KR900004051B1 (ko) | 투영노광법 및 그 장치 | |
| JPS6258139B2 (ja) | ||
| JP2004045933A (ja) | 両面レジストパターン形成方法 | |
| JPS62254423A (ja) | 半導体焼付装置 | |
| CA1164713A (en) | Method and apparatus for transferring patterns | |
| JP2005007400A (ja) | レーザ加工用マスク及び該レーザ加工用マスクの製造方法 | |
| JP2007035706A (ja) | 搬送装置、露光装置及びマイクロデバイスの製造方法 | |
| JPS5841535Y2 (ja) | 露光用フォトマスク | |
| JPS63205255A (ja) | プラズマ発光素子 | |
| JPH01117322A (ja) | 縮小投影露光装置 |