JPH0423317Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0423317Y2 JPH0423317Y2 JP1983104847U JP10484783U JPH0423317Y2 JP H0423317 Y2 JPH0423317 Y2 JP H0423317Y2 JP 1983104847 U JP1983104847 U JP 1983104847U JP 10484783 U JP10484783 U JP 10484783U JP H0423317 Y2 JPH0423317 Y2 JP H0423317Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- cassette
- clamper
- reference protrusion
- notch
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Electron Beam Exposure (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔考案の技術分野〕
本考案は試料ウエハをたとえば電子ビーム露光
装置のテーブル上に搬送し、セツトするためのウ
エハカセツトに関する。[Detailed Description of the Invention] [Technical Field of the Invention] The present invention relates to a wafer cassette for transporting and setting sample wafers onto, for example, a table of an electron beam exposure apparatus.
電子ビーム露光装置によりウエハに直接複数層
のパターンを描画する場合、第1層のパターンと
それ以後の層のパターンを目的通りに重ね合せて
描画しなければ所望するパターンを得ることがで
きない。このため、試料ウエハは第1層描画時と
それ以後の層の描画のときと同じ姿勢で露光装置
の試料テーブル上にローデイングされる必要があ
る。そして、電子線によるマークサーチ機能によ
り若干の誤差は補正されて理想状態に等しい状態
での描画が実行されるが、この時許される試料の
姿勢はおおむね回転精度で1〜2×10-4rad程度
という小さな値である。
When drawing multiple layer patterns directly on a wafer using an electron beam exposure device, the desired pattern cannot be obtained unless the first layer pattern and the subsequent layer patterns are overlapped and drawn as desired. Therefore, the sample wafer needs to be loaded onto the sample table of the exposure apparatus in the same posture as when drawing the first layer and when drawing the subsequent layers. Then, a mark search function using an electron beam corrects some errors and performs drawing in a state equivalent to the ideal state, but the permissible specimen posture at this time is approximately 1 to 2 × 10 -4 rad with rotational accuracy. This is a small value.
従来、ウエハの一端部に設けた切欠部をクラン
パーによりウエハカセツトの基準用突起に押圧す
ることにより、所定の姿勢でウエハカセツトに取
付け、これを試料テーブルにセツトするようにし
ていたが、従来のウエハカセツトのクランパー
は、単に押圧する方向にのみ移動可能であつたた
め、クランパーとウエハならびにウエハと基準用
突起との間の摩擦力によつてウエハの回転を阻止
してしまうことがあり、このためウエハカセツト
へのセツト毎に姿勢が変化してしまう。そこで、
従来においては試料テーブル上でウエハを回転さ
せてその回転方向のずれを調整していた。 Conventionally, a notch provided at one end of the wafer was pressed against a reference protrusion of the wafer cassette by a clamper, so that the wafer was attached to the wafer cassette in a predetermined posture, and this was then set on the sample table. Since the clamper of the wafer cassette could only be moved in the pressing direction, the friction between the clamper and the wafer, as well as between the wafer and the reference protrusion, could prevent the wafer from rotating. The posture of the wafer changes each time it is loaded into the cassette. Therefore,
Conventionally, the wafer was rotated on a sample table to adjust the deviation in the rotation direction.
しかしながら、試料テーブル上でウエハを回転
させるには回転機構が特別に必要となり、装置の
構造が複雑化するとともにウエハの芯出時間に無
駄を生じるといつた不都合があつた。 However, a special rotation mechanism is required to rotate the wafer on the sample table, which has the disadvantage of complicating the structure of the apparatus and wasting the time for centering the wafer.
なお、ウエハのX,Y方向のずれは試料テーブ
ルの移動により、所定の誤差範囲内に納められる
ようになつている。 Note that the displacement of the wafer in the X and Y directions is kept within a predetermined error range by moving the sample table.
本考案は上記事情に着目してなされたもので、
その目的とするところは、簡単な構成でウエハの
回転方向のセツトを容易にかつ的確に行なうこと
ができるようにしたウエハカセツトを提供しよう
とするものである。
This invention was made with attention to the above circumstances,
The object of the present invention is to provide a wafer cassette which has a simple structure and allows the rotational direction of the wafer to be set easily and accurately.
本考案は上記目的を達成するため、ウエハの一
端部に設けた切欠部をカセツト本体のウエハ載置
面に設けた基準用突起に押圧するクランパーを、
押圧方向のみならず前記ウエハ載置面内で前記押
圧方向と直交する方向へも所定量移動自在にし、
ウエハの前記切欠部を基準用突起に確実に当接さ
せて保持できるようにしたものである。
In order to achieve the above object, the present invention includes a clamper that presses a notch provided at one end of the wafer against a reference protrusion provided on the wafer placement surface of the cassette body.
movable by a predetermined amount not only in the pressing direction but also in a direction perpendicular to the pressing direction within the wafer mounting surface;
The notch portion of the wafer can be held in secure contact with the reference protrusion.
以下、本考案を図面に示す一実施例を参照して
説明する。図中1はカセツト本体で、このカセツ
ト本体1の上面部はウエハ載置面1aとなつてい
る。前記ウエハ載置面1aの一側には基準用突起
2が突設され、他側には透孔3が穿設されてい
る。また、上記カセツト本体1内にはクランパー
4が設けられこのクランパー4は付勢部材として
のスプリング5によつて付勢され、第1図および
第2図において左方へ引張られるようになつてい
る。上記クランパー4の先端部はL字状に折曲さ
れ上記透孔3を介して上記ウエハ載置面1aに突
出されている。このクランパー4はスプリング5
による付勢方向だけでなく、第1図に矢印で示す
ように、ウエハ載置面1aに沿つて透孔3内で前
記付勢方向と直交する方向へも自由に移動できる
ようになつている。
Hereinafter, the present invention will be described with reference to an embodiment shown in the drawings. In the figure, reference numeral 1 denotes a cassette body, and the upper surface of this cassette body 1 serves as a wafer mounting surface 1a. A reference protrusion 2 is provided protruding from one side of the wafer placement surface 1a, and a through hole 3 is provided on the other side. Further, a clamper 4 is provided within the cassette body 1, and this clamper 4 is biased by a spring 5 as a biasing member, and is pulled to the left in FIGS. 1 and 2. . The tip of the clamper 4 is bent into an L-shape and projects through the through hole 3 onto the wafer mounting surface 1a. This clamper 4 has a spring 5
It is possible to move freely not only in the biasing direction by the biasing direction, but also in a direction perpendicular to the biasing direction within the through hole 3 along the wafer mounting surface 1a, as shown by the arrow in FIG. .
しかして、ウエハ6はカセツト本体1のウエハ
載置面1a上にその切欠部6aを基準用突起2に
対向させて載置されその他端側にクランパー4の
先端部が係止されることにより弾性的に押圧され
るが、このときクランパー4は第1図に示す矢印
方向へ自由に動き得るため、ウエハ6に対するク
ランパー4の接触位置が中心から若干ずれていて
もウエハ6の回転に対して従動的に移動し、この
ためウエハ6の切欠部6aが基準用突起2に無理
なく確実に当接されて保持される。 Thus, the wafer 6 is placed on the wafer placement surface 1a of the cassette body 1 with its notch 6a facing the reference protrusion 2, and the tip of the clamper 4 is locked to the other end so that the wafer 6 is elastic. At this time, the clamper 4 can move freely in the direction of the arrow shown in FIG. As a result, the notch 6a of the wafer 6 is easily and reliably brought into contact with the reference protrusion 2 and held.
このように、カセツト本体1に保持されたウエ
ハ6は図示しない電子ビーム露光装置の試料テー
ブル上に搬送され、所望するパターンが順次形成
される。 In this manner, the wafer 6 held in the cassette body 1 is transferred onto the sample table of an electron beam exposure apparatus (not shown), and desired patterns are sequentially formed.
上述したように、カセツト本体の基準用突起2
にウエハ6の切欠部6aを確実に合せて固定した
状態で試料テーブル上に搬送するため、カセツト
本体1を試料テーブルの基準マークに合せること
により自動的にウエハ6を所定の姿勢で試料テー
ブル上にセツトすることができる。したがつて、
試料テーブル上でウエハ6の回転方向のずれを調
整する必要がなく、その回転方向の位置調整の作
業に手間取ることがないとともにウエハ6の回転
機構を特別に必要とすることがなく、構造的にも
簡略化できることになる。 As mentioned above, the reference protrusion 2 on the cassette body
In order to transport the wafer 6 onto the sample table with the notch 6a of the wafer 6 securely aligned and fixed, the wafer 6 is automatically placed on the sample table in a predetermined position by aligning the cassette body 1 with the reference mark on the sample table. can be set to Therefore,
There is no need to adjust the deviation in the rotational direction of the wafer 6 on the sample table, there is no need to take time to adjust the position in the rotational direction, there is no need for a special rotation mechanism for the wafer 6, and the structure is improved. It can also be simplified.
本考案は以上説明したように、カセツト本体に
基準用突起を突設するとともにクランパーを備
え、カセツト本体上に載置したウエハを前記クラ
ンパーによつて押圧してウエハの切欠部を上記基
準用突起に当接させて保持するようにしたウエハ
カセツトにおいて、ウエハをウエハカセツトに対
して所定の姿勢で保持できるようにしたため、従
来のようにテーブル上においてウエハの回転方向
のずれを調整するといつた必要がなく、装置の構
造を簡略化できるとともにウエハの位置決め時間
も短縮化できる。また、クランパーとウエハとの
接点ですべりを発生することがなく、すべりによ
る塵埃の発生を防止しウエハを良好に処理でき
る。
As explained above, the present invention has a cassette body protruding from a reference protrusion and is also provided with a clamper, which presses the wafers placed on the cassette body so that the notch of the wafer is pressed against the reference protrusion. In a wafer cassette that is held in contact with the wafer cassette, the wafer can be held in a predetermined posture relative to the wafer cassette, so it is no longer necessary to adjust the deviation in the rotational direction of the wafer on the table as in the past. This eliminates the need for wafer positioning, which simplifies the structure of the device and shortens the time required to position the wafer. In addition, no slipping occurs at the contact point between the clamper and the wafer, and the generation of dust due to slipping is prevented, so that the wafer can be processed satisfactorily.
さらに、クランパーはウエハの動きに伴つて従
動的に移動するから、特別な駆動源を必要とする
ことがなく構造的に簡略化しコストを低減できる
という効果を奏するものである。 Furthermore, since the clamper moves passively in accordance with the movement of the wafer, no special driving source is required, resulting in a simplified structure and cost reduction.
図面は本考案の一実施例を示すもので、第1図
はウエハカセツトを示す平面図、第2図はその側
断面図である。
1……カセツト本体、1a……ウエハ載置面、
2……基準用突起、4……クランパー、6……ウ
エハ、6a……切欠部。
The drawings show one embodiment of the present invention; FIG. 1 is a plan view showing a wafer cassette, and FIG. 2 is a side sectional view thereof. 1...Cassette body, 1a...Wafer placement surface,
2... Reference protrusion, 4... Clamper, 6... Wafer, 6a... Notch.
Claims (1)
ツト本体と、このカセツト本体のウエハ載置面に
突設された基準用突起と、前記カセツト本体に設
けられ前記ウエハの他端部に係止してこれを弾性
的に押圧しその切欠部を前記基準用突起に当接さ
せてこれを保持するクランパーとからなるウエハ
カセツトにおいて、前記クランパーは前記ウエハ
載置面内で押圧方向と直行する方向へ所定量移動
自在に設けられ、前記基準用突起に対する前記ウ
エハの当接時に該ウエハの動きに伴つて従動的に
移動することを特徴とするウエハカセツト。 A cassette body having a notch at one end on which a wafer is placed; a reference protrusion protruding from the wafer placement surface of the cassette body; and a clamper that elastically presses the wafer and holds the wafer by bringing its notch into contact with the reference protrusion, the clamper moving in a direction perpendicular to the pressing direction within the wafer placement surface. 1. A wafer cassette, wherein the wafer cassette is provided to be movable by a predetermined amount, and is driven to move in accordance with the movement of the wafer when the wafer comes into contact with the reference protrusion.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10484783U JPS6013738U (en) | 1983-07-06 | 1983-07-06 | wafer cassette |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10484783U JPS6013738U (en) | 1983-07-06 | 1983-07-06 | wafer cassette |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6013738U JPS6013738U (en) | 1985-01-30 |
| JPH0423317Y2 true JPH0423317Y2 (en) | 1992-05-29 |
Family
ID=30246015
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10484783U Granted JPS6013738U (en) | 1983-07-06 | 1983-07-06 | wafer cassette |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6013738U (en) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1399371A (en) * | 1972-03-15 | 1975-07-02 | Int Computers Ltd | Image display apparatus |
| JPS5472477U (en) * | 1977-10-31 | 1979-05-23 |
-
1983
- 1983-07-06 JP JP10484783U patent/JPS6013738U/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6013738U (en) | 1985-01-30 |
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