JPH04234221A - 多重入力mos論理回路及びcmos論理回路 - Google Patents
多重入力mos論理回路及びcmos論理回路Info
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- JPH04234221A JPH04234221A JP3149829A JP14982991A JPH04234221A JP H04234221 A JPH04234221 A JP H04234221A JP 3149829 A JP3149829 A JP 3149829A JP 14982991 A JP14982991 A JP 14982991A JP H04234221 A JPH04234221 A JP H04234221A
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Classifications
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/08—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices
- H03K19/094—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors
- H03K19/0944—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET
- H03K19/0948—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using semiconductor devices using field-effect transistors using MOSFET or insulated gate field-effect transistors, i.e. IGFET using CMOS or complementary insulated gate field-effect transistors
-
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
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- H03K19/02—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components
- H03K19/173—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits using specified components using elementary logic circuits as components
- H03K19/1733—Controllable logic circuits
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、論理サーキットリー(
回路組み合わせ)分野での、特に多重入力CMOS論理
回路に関するものである。
回路組み合わせ)分野での、特に多重入力CMOS論理
回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】CMOS設計の際に、多重入力論理回路
は通常、基本論理回路を少数の入力でカスケードするこ
とによってアセンブルされる。例えば、図1では32個
の入力を備えた従来技術のANDゲートが11個の4入
力ANDゲートを用いて実施されている。従来のCMO
S論理回路は、わずかの数の入力、典型的には5又はそ
れ以下に限定される。それ以上の数が加えられるときは
、入力の変化に対する回路応答の遅延を犠牲にするにす
ぎない。結果として、トランジスタの総計数と多重入力
CMOS回路が占有する実領域が必要な入力数に従って
ほぼ幾何学的に増加する。
は通常、基本論理回路を少数の入力でカスケードするこ
とによってアセンブルされる。例えば、図1では32個
の入力を備えた従来技術のANDゲートが11個の4入
力ANDゲートを用いて実施されている。従来のCMO
S論理回路は、わずかの数の入力、典型的には5又はそ
れ以下に限定される。それ以上の数が加えられるときは
、入力の変化に対する回路応答の遅延を犠牲にするにす
ぎない。結果として、トランジスタの総計数と多重入力
CMOS回路が占有する実領域が必要な入力数に従って
ほぼ幾何学的に増加する。
【0003】CMOS論理を実行するためにわずかの数
の入力を備えた多重回路素子を使用することが必要なの
で、超大規模集積サーキットリー(VLSIC)の設計
と製造に技術的な限界が生じる結果となる。多重入力C
MOS論理が単一基本形状から構成される場合、CMO
S回路密度は十分に改良されることを明確にすべきであ
る。例えば、多重入力CMOS回路は図1の32個の入
力ANDゲートを単一基本回路素子で実施しており、そ
の結果は図2のANDゲートになる。明らかに、図2の
ANDゲートは、基本要素に必要なスイッチング及びイ
ンタフェースサーキットリーのセットを11から1に減
少することによって、回路密度を図1のそれよりも実質
的に高めるものである。
の入力を備えた多重回路素子を使用することが必要なの
で、超大規模集積サーキットリー(VLSIC)の設計
と製造に技術的な限界が生じる結果となる。多重入力C
MOS論理が単一基本形状から構成される場合、CMO
S回路密度は十分に改良されることを明確にすべきであ
る。例えば、多重入力CMOS回路は図1の32個の入
力ANDゲートを単一基本回路素子で実施しており、そ
の結果は図2のANDゲートになる。明らかに、図2の
ANDゲートは、基本要素に必要なスイッチング及びイ
ンタフェースサーキットリーのセットを11から1に減
少することによって、回路密度を図1のそれよりも実質
的に高めるものである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の主要
目的は単一セットの入出力サーキットリーで全て複数の
入力CMOS信号を受信し、論理関数を実行し、そして
論理関数出力を表わす出力CMOS信号を提供できる多
重入力CMOS論理回路を提供することである。
目的は単一セットの入出力サーキットリーで全て複数の
入力CMOS信号を受信し、論理関数を実行し、そして
論理関数出力を表わす出力CMOS信号を提供できる多
重入力CMOS論理回路を提供することである。
【0006】この目的の達成に付随する利益は、単一基
本的論理デバイス構成を備えた多重入力CMOS論理関
数の実現である。
本的論理デバイス構成を備えた多重入力CMOS論理関
数の実現である。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明では、ノード間に
存在する第1の導電状態に応答して不等の信号が実質的
に供給される第1と第2の多重接点ノードを有する不平
衡双安定CMOS入力回路が利用されている。第2の導
電状態に応答して、この入力回路は2つの多重接点ノー
ドで実質的に等しい信号を供給する。相補型MOS出力
バッファは、第1の多重接点ノードに接続された第1の
入力部と、第2の多重接点ノードに接続された第2の入
力部とを有する。この出力バッファは、多重接点ノード
信号が不等の場合の第1の状態と多重接点ノード信号が
実質的に等しい場合の第2の状態とを有するCMOS論
理信号が与えられる出力部を備える。複数の入力CMO
Sトランジスタ回路は第1と第2の多重接点ノード間に
わたって並列式に接続される。各入力CMOSトランジ
スタ回路は、第1の多重接点ノードに接続された第1の
電流導電端子と、第2の多重接点ノードに接続された第
2の電流導電端子と、さらに本発明の論理回路への複数
のCMOS信号入力の一つの状態に応答して第1と第2
の多重接点ノード間に第1又は第2の導電状態を確立す
るための少なくとも一個のゲート端子とを有する。
存在する第1の導電状態に応答して不等の信号が実質的
に供給される第1と第2の多重接点ノードを有する不平
衡双安定CMOS入力回路が利用されている。第2の導
電状態に応答して、この入力回路は2つの多重接点ノー
ドで実質的に等しい信号を供給する。相補型MOS出力
バッファは、第1の多重接点ノードに接続された第1の
入力部と、第2の多重接点ノードに接続された第2の入
力部とを有する。この出力バッファは、多重接点ノード
信号が不等の場合の第1の状態と多重接点ノード信号が
実質的に等しい場合の第2の状態とを有するCMOS論
理信号が与えられる出力部を備える。複数の入力CMO
Sトランジスタ回路は第1と第2の多重接点ノード間に
わたって並列式に接続される。各入力CMOSトランジ
スタ回路は、第1の多重接点ノードに接続された第1の
電流導電端子と、第2の多重接点ノードに接続された第
2の電流導電端子と、さらに本発明の論理回路への複数
のCMOS信号入力の一つの状態に応答して第1と第2
の多重接点ノード間に第1又は第2の導電状態を確立す
るための少なくとも一個のゲート端子とを有する。
【0008】本発明のこれらのならびに他の目的と利益
とは、後述される図面を参照した以下の詳細な説明によ
って、理解されるであろう。
とは、後述される図面を参照した以下の詳細な説明によ
って、理解されるであろう。
【実施例】ここで使用される場合、「論理デバイス」と
いう用語は論理関数を具体化する回路構造を示している
。「回路デバイス」という用語を使用することは、論理
デバイスを具体化する回路の基本要素の一つを意味する
。「CMOS」技術用語はよく理解されており、本質的
には集積回路技術に関するもので、その基本構成要素は
相補一対の金属−酸化物−半導体(MOS)トランジス
タである。本発明の説明において、回路素子はエンハン
スメントモード(拡張モード)のPMOS及びNMOS
トランジスタを含むものであるが、しかしながら、本発
明の原理がディプレッションモード(空乏モード)のC
MOS技術及び他の同種の物を使用してさらに実行でき
る。
いう用語は論理関数を具体化する回路構造を示している
。「回路デバイス」という用語を使用することは、論理
デバイスを具体化する回路の基本要素の一つを意味する
。「CMOS」技術用語はよく理解されており、本質的
には集積回路技術に関するもので、その基本構成要素は
相補一対の金属−酸化物−半導体(MOS)トランジス
タである。本発明の説明において、回路素子はエンハン
スメントモード(拡張モード)のPMOS及びNMOS
トランジスタを含むものであるが、しかしながら、本発
明の原理がディプレッションモード(空乏モード)のC
MOS技術及び他の同種の物を使用してさらに実行でき
る。
【0009】本発明は図3(A)のNORゲートの実施
例において示されている。図3(A)において、不平衡
双安定CMOS入力回路はPMOSトランジスタT1、
T2及びNMOSトランジスタT3、T4、T5とを含
む。トランジスタT1、T2のドレインは、ドレイン電
圧電位VDDに接続され、一方、それらのソースは、そ
れぞれNMOSトランジスタT3、T4のドレインに接
続される。トランジスタT3、T4のソースはトランジ
スタT5のドレインに共に接続され、トランジスタT5
のソースは接地される。PMOSトランジスタT1、T
2のゲートは交差接続、即ち、各々は他方のPMOSト
ランジスタのソースに共に接続される。同様に、NMO
SトランジスタT3、T4のゲートは他方のNMOSト
ランジスタのドレインに交差接続され、一方、トランジ
スタT5のゲートは、トランジスタT4のゲートと共に
トランジスタT3のドレインに共に接続される。
例において示されている。図3(A)において、不平衡
双安定CMOS入力回路はPMOSトランジスタT1、
T2及びNMOSトランジスタT3、T4、T5とを含
む。トランジスタT1、T2のドレインは、ドレイン電
圧電位VDDに接続され、一方、それらのソースは、そ
れぞれNMOSトランジスタT3、T4のドレインに接
続される。トランジスタT3、T4のソースはトランジ
スタT5のドレインに共に接続され、トランジスタT5
のソースは接地される。PMOSトランジスタT1、T
2のゲートは交差接続、即ち、各々は他方のPMOSト
ランジスタのソースに共に接続される。同様に、NMO
SトランジスタT3、T4のゲートは他方のNMOSト
ランジスタのドレインに交差接続され、一方、トランジ
スタT5のゲートは、トランジスタT4のゲートと共に
トランジスタT3のドレインに共に接続される。
【0010】トランジスタT3のドレインとトランジス
タT1のソースへのトランジスタT2、T4、T5のゲ
ートの共接続部によって第1の多重接点ノードN1が形
成される。第2の多重接点ノードN2は、トランジスタ
T2のソース及びトランジスタT4のドレインとトラン
ジスタT1、T3のゲートとの共接続部に存在する。
タT1のソースへのトランジスタT2、T4、T5のゲ
ートの共接続部によって第1の多重接点ノードN1が形
成される。第2の多重接点ノードN2は、トランジスタ
T2のソース及びトランジスタT4のドレインとトラン
ジスタT1、T3のゲートとの共接続部に存在する。
【0011】ここに述べられた入力回路はロードトラン
ジスタT1、T2とドライバトランジスタT3、T4の
ゲート寸法の選択的変動によって不平衡にされ、その変
動寸法は、CMOSトランジスタの上面部の平面概略図
である図4に示される。この平面図はソース拡散7、ド
レイン拡散8及びこのソース拡散並びにドレイン拡散上
に配設されるゲート層9とを示す。周知のように、エン
ハンスメントモードのMOSトランジスタではゲート電
極Gでのゲート電圧の印加によって、キャリアが収集さ
れ、且つソースディフュージョンとドレインディフュー
ジョンとの間の半導体基板にゲート9の下側にチャネル
が形成されることになる。チャネルの長さは図4ではL
で表わされ、一方ゲート幅はWで示される。図4のエン
ハンスメントモードのトランジスタ内に流れるソース電
流に対するドレインの比はW/Lの割合に比例する。こ
れは1987年発行のMillmanとGrabelに
よって著わされた「MICROELECTRONICS
(マイクロエレクトロニクス)」の145頁に明確に示
されている。
ジスタT1、T2とドライバトランジスタT3、T4の
ゲート寸法の選択的変動によって不平衡にされ、その変
動寸法は、CMOSトランジスタの上面部の平面概略図
である図4に示される。この平面図はソース拡散7、ド
レイン拡散8及びこのソース拡散並びにドレイン拡散上
に配設されるゲート層9とを示す。周知のように、エン
ハンスメントモードのMOSトランジスタではゲート電
極Gでのゲート電圧の印加によって、キャリアが収集さ
れ、且つソースディフュージョンとドレインディフュー
ジョンとの間の半導体基板にゲート9の下側にチャネル
が形成されることになる。チャネルの長さは図4ではL
で表わされ、一方ゲート幅はWで示される。図4のエン
ハンスメントモードのトランジスタ内に流れるソース電
流に対するドレインの比はW/Lの割合に比例する。こ
れは1987年発行のMillmanとGrabelに
よって著わされた「MICROELECTRONICS
(マイクロエレクトロニクス)」の145頁に明確に示
されている。
【0012】図3(A)と図4とを参照すると、本発明
のプラクティスによって、図3(A)の入力回路は、ト
ランジスタT1、T2とトランジスタT3、T4との間
のW寸法を変化させると共に、ドレイン電流を決定する
他のパラメータ間を等しく維持することによって、不平
衡にされることが要求される。詳細には、トランジスタ
T1のゲート幅はトランジスタT2の対応する寸法より
も大きく、一方トランジスタT4のゲート幅はトランジ
スタT3のそれよりも大きい。このようなインバランス
(不平衡)は、第1のノードN1で電位を引き上げ、一
方ノードN2では電位を引き下げる遷移電流を設定する
ことになる。従って、その静止状態又は休止状態では、
図3(A)の不平衡双安定入力回路のNORゲートは、
ノードN1がCMOS論理値「1」を有し、一方ノード
N2が論理値「0」を有する好ましい状態を示している
。
のプラクティスによって、図3(A)の入力回路は、ト
ランジスタT1、T2とトランジスタT3、T4との間
のW寸法を変化させると共に、ドレイン電流を決定する
他のパラメータ間を等しく維持することによって、不平
衡にされることが要求される。詳細には、トランジスタ
T1のゲート幅はトランジスタT2の対応する寸法より
も大きく、一方トランジスタT4のゲート幅はトランジ
スタT3のそれよりも大きい。このようなインバランス
(不平衡)は、第1のノードN1で電位を引き上げ、一
方ノードN2では電位を引き下げる遷移電流を設定する
ことになる。従って、その静止状態又は休止状態では、
図3(A)の不平衡双安定入力回路のNORゲートは、
ノードN1がCMOS論理値「1」を有し、一方ノード
N2が論理値「0」を有する好ましい状態を示している
。
【0013】図3(A)の不平衡入力回路の静止状態又
は安定状態からの状態変化は複数の入力NMOSトラン
ジスタの一つがオンになると生じる。入力トランジスタ
IT1乃至IT32の各々は、第1の多重接点ノードN
1に接続されたドレインと第2の多重接点ノードN2に
接続されたソースとを有する。各入力トランジスタのゲ
ートは、標準CMOS論理信号を入力として受信するよ
うに接続されており、図3(A)において32個の論理
入力IN1乃至IN32が示される。
は安定状態からの状態変化は複数の入力NMOSトラン
ジスタの一つがオンになると生じる。入力トランジスタ
IT1乃至IT32の各々は、第1の多重接点ノードN
1に接続されたドレインと第2の多重接点ノードN2に
接続されたソースとを有する。各入力トランジスタのゲ
ートは、標準CMOS論理信号を入力として受信するよ
うに接続されており、図3(A)において32個の論理
入力IN1乃至IN32が示される。
【0014】論理入力IN1乃至IN32のすべての入
力信号が論理値「0」を含む一方、入力トランジスタI
T1乃至IT32のすべては非導電性且つオフ状態であ
る。入力論理信号の任意の一つが論理値「1」に遷移さ
れると、信号を受信する入力トランジスタのゲート電圧
はポジティブトランジション(正遷移)となり、トラン
ジスタはオン状態になる。入力トランジスタがオンにさ
れると、導電し、接地電位とドレイン電位VDDとの間
の一地点において実質的に等しくなり、且つ安定される
まで、ノードN1での電圧を下げると共に、ノードN2
での電圧を上昇させる。この地点でトランジスタは導電
を停止する。
力信号が論理値「0」を含む一方、入力トランジスタI
T1乃至IT32のすべては非導電性且つオフ状態であ
る。入力論理信号の任意の一つが論理値「1」に遷移さ
れると、信号を受信する入力トランジスタのゲート電圧
はポジティブトランジション(正遷移)となり、トラン
ジスタはオン状態になる。入力トランジスタがオンにさ
れると、導電し、接地電位とドレイン電位VDDとの間
の一地点において実質的に等しくなり、且つ安定される
まで、ノードN1での電圧を下げると共に、ノードN2
での電圧を上昇させる。この地点でトランジスタは導電
を停止する。
【0015】NMOSトランジスタT6、T8、T11
及びPMOSトランジスタT7、T9、T10とを含む
出力バッファは、入力ノードN1、N2での電圧揺れ(
スウィング)を出力ノードOUTでの標準CMOS論理
レベルに変換する。このOUTノードは、直列補数形式
で接続されたトランジスタT10、T11によって駆動
され、そこにおいてOUTノードはトランジスタT10
のソースとトランジスタT11のドレインに共に接続さ
れている。トランジスタT10のゲートは変換ノードN
3に接続され、トランジスタT11のゲートは変換ノー
ドN4に接続される。ノードN3及びN4はトランジス
タT6、T7、T8、T9のトランスレータ(変換)回
路によって並列式に駆動される。
及びPMOSトランジスタT7、T9、T10とを含む
出力バッファは、入力ノードN1、N2での電圧揺れ(
スウィング)を出力ノードOUTでの標準CMOS論理
レベルに変換する。このOUTノードは、直列補数形式
で接続されたトランジスタT10、T11によって駆動
され、そこにおいてOUTノードはトランジスタT10
のソースとトランジスタT11のドレインに共に接続さ
れている。トランジスタT10のゲートは変換ノードN
3に接続され、トランジスタT11のゲートは変換ノー
ドN4に接続される。ノードN3及びN4はトランジス
タT6、T7、T8、T9のトランスレータ(変換)回
路によって並列式に駆動される。
【0016】トランスレータ回路はトランジスタT6を
含む上側セクションから成り、トランジスタT6は入力
ノードN2に接続されたソースと、入力ノードN1に接
続されたゲートと、入力ノードN3に接続されたドレイ
ンとを有する。さらに上側セクションは、変換ノードN
3に接続されたソースと、ドレイン電圧ソースに接続さ
れたドレインと、トランジスタT6のゲートと共に入力
ノードN1に接続されたゲートと、を有するPMOSト
ランジスタT7を含む。トランスレータの下側セクショ
ンは、入力ノードN2、入力ノードN1、変換ノードN
4にそれぞれ接続されたソース、ゲート、ドレインを有
するトランジスタT8を含む。さらに下側セクションは
、変換ノードN4、入力ノードN1、ドレインソースV
DDにそれぞれ接続されたソース、ゲート、ドレインを
備えたPMOSトランジスタT9を含む。
含む上側セクションから成り、トランジスタT6は入力
ノードN2に接続されたソースと、入力ノードN1に接
続されたゲートと、入力ノードN3に接続されたドレイ
ンとを有する。さらに上側セクションは、変換ノードN
3に接続されたソースと、ドレイン電圧ソースに接続さ
れたドレインと、トランジスタT6のゲートと共に入力
ノードN1に接続されたゲートと、を有するPMOSト
ランジスタT7を含む。トランスレータの下側セクショ
ンは、入力ノードN2、入力ノードN1、変換ノードN
4にそれぞれ接続されたソース、ゲート、ドレインを有
するトランジスタT8を含む。さらに下側セクションは
、変換ノードN4、入力ノードN1、ドレインソースV
DDにそれぞれ接続されたソース、ゲート、ドレインを
備えたPMOSトランジスタT9を含む。
【0017】トランスレータの上側及び下側セクション
は並列式に動作し、トランジスタT10、T11の作動
によってOUTノードで出力信号を供給するように変換
ノードN3、N4を駆動する。
は並列式に動作し、トランジスタT10、T11の作動
によってOUTノードで出力信号を供給するように変換
ノードN3、N4を駆動する。
【0018】NOR回路の動作は図3(B)の表に要約
されている。その休止状態又は静止状態において、図3
(A)の不平衡入力回路はT1がオン、T2がオフ、一
方、T3がオフ、T4がオンであるように構成される。 これによって入力ノードN1はVDDまで引き上げられ
、入力ノードN2は接地電位まで引き下げられる。さら
にトランジスタT5は、入力ノードN1から自己のゲー
トにもたらされたポジティブ(正)電位によって非導電
状態にある。休止状態では、NMOSトランジスタT6
は自己のソースの接地電位と自己のドレインのポジティ
ブ電位とによってオン状態になる。こうして変換ノード
N3は接地電位へ下降され、トランジスタT10はオン
になる。さらに変換ノードN4が接地電位にされるのは
、NMOSトランジスタT8が非導電状態にあるためで
ある。変換ノードN4の接地電位によってNMOSトラ
ンジスタT11はオフになり、これによって出力ノード
はVDDまで引き上げられ、ノードでの出力信号は論理
「1」に条件付けられる。このように休止状態では、図
3(A)の回路は、すべてが「0」の論理レベルにある
入力の論理和をインバートするという点においてNOR
関数を実行する。
されている。その休止状態又は静止状態において、図3
(A)の不平衡入力回路はT1がオン、T2がオフ、一
方、T3がオフ、T4がオンであるように構成される。 これによって入力ノードN1はVDDまで引き上げられ
、入力ノードN2は接地電位まで引き下げられる。さら
にトランジスタT5は、入力ノードN1から自己のゲー
トにもたらされたポジティブ(正)電位によって非導電
状態にある。休止状態では、NMOSトランジスタT6
は自己のソースの接地電位と自己のドレインのポジティ
ブ電位とによってオン状態になる。こうして変換ノード
N3は接地電位へ下降され、トランジスタT10はオン
になる。さらに変換ノードN4が接地電位にされるのは
、NMOSトランジスタT8が非導電状態にあるためで
ある。変換ノードN4の接地電位によってNMOSトラ
ンジスタT11はオフになり、これによって出力ノード
はVDDまで引き上げられ、ノードでの出力信号は論理
「1」に条件付けられる。このように休止状態では、図
3(A)の回路は、すべてが「0」の論理レベルにある
入力の論理和をインバートするという点においてNOR
関数を実行する。
【0019】次に、入力論理信号の任意の一つを論理「
1」のレベルに立ち上がることを想定する。その信号が
立ち上がる場合、それに対応付けられた入力トランジス
タはオンになり、入力ノードN1の電圧はドレイン電位
VDDと接地との間の点まで引き下げられて、入力ノー
ドN2の電位はN1のレベルと実質的に等しいレベルに
まで引き上げられる。N1とN2の電圧の等化によって
NMOSトランジスタT6、T8はオフになる。しかし
ながら、入力ノードN1での電圧レベルの降下によって
PMOSトランジスタT7、T9はオンになり、変換ノ
ードN3、N4の電位をVDDまで引上げる。その結果
、トランジスタT10はオフとなり、トランジスタT1
1はオンとなるので、それにより、出力ノードでの信号
電圧はCMOS論理レベル「0」に下降される。図3(
A)の回路検査によって、出力論理レベルは、入力論理
レベルの任意の一つが1にあるのと同じ位の期間ゼロの
状態のままであることが示される。このように、図3(
A)の回路はNOR動作のための条件のすべてを満足す
る。
1」のレベルに立ち上がることを想定する。その信号が
立ち上がる場合、それに対応付けられた入力トランジス
タはオンになり、入力ノードN1の電圧はドレイン電位
VDDと接地との間の点まで引き下げられて、入力ノー
ドN2の電位はN1のレベルと実質的に等しいレベルに
まで引き上げられる。N1とN2の電圧の等化によって
NMOSトランジスタT6、T8はオフになる。しかし
ながら、入力ノードN1での電圧レベルの降下によって
PMOSトランジスタT7、T9はオンになり、変換ノ
ードN3、N4の電位をVDDまで引上げる。その結果
、トランジスタT10はオフとなり、トランジスタT1
1はオンとなるので、それにより、出力ノードでの信号
電圧はCMOS論理レベル「0」に下降される。図3(
A)の回路検査によって、出力論理レベルは、入力論理
レベルの任意の一つが1にあるのと同じ位の期間ゼロの
状態のままであることが示される。このように、図3(
A)の回路はNOR動作のための条件のすべてを満足す
る。
【0020】入力がポジティブCMOS論理レベルに遷
移する場合の回路構成要素の動作を理解するために図3
(A)及び(B)とを同時に参照する。ポジティブ(正
)になる入力信号に応答して、入力トランジスタIT1
乃至IT32の一つがオンになり導電して、入力ノード
N1とN2との間に電流が流れる。最初に、トランジス
タT1乃至T5はアクティブ(活動)状態になって、入
力ノードでの電圧が実質的に等しくなるまで電流を伝導
する。入力ノード電圧が変化されると、変換トランジス
タT6とT8はオフになり、一方変換トランジスタT7
とT9はオンになる。上述したように、これにより変換
ノードN3とN4は引上げられて、出力トランジスタT
11はオンとなり、出力トランジスタT10はオフとな
る。結果的に、出力レベルはトランジスタT11によっ
て接地電位へ引下げられる。
移する場合の回路構成要素の動作を理解するために図3
(A)及び(B)とを同時に参照する。ポジティブ(正
)になる入力信号に応答して、入力トランジスタIT1
乃至IT32の一つがオンになり導電して、入力ノード
N1とN2との間に電流が流れる。最初に、トランジス
タT1乃至T5はアクティブ(活動)状態になって、入
力ノードでの電圧が実質的に等しくなるまで電流を伝導
する。入力ノード電圧が変化されると、変換トランジス
タT6とT8はオフになり、一方変換トランジスタT7
とT9はオンになる。上述したように、これにより変換
ノードN3とN4は引上げられて、出力トランジスタT
11はオンとなり、出力トランジスタT10はオフとな
る。結果的に、出力レベルはトランジスタT11によっ
て接地電位へ引下げられる。
【0021】図3(A)の検査によって、活動状態から
休止状態への遷移によって、入力ノードN1がドレイン
電位に引き上げられ且つ入力ノードN2が接地電位に引
き下げられるまでトランジスタT1乃至T5内に瞬時電
流が流れる結果となることが確認される。この点におい
て、図3(A)の回路素子は図3(B)のインアクティ
ブ(休止)に分類された欄に示された状態を有する。
休止状態への遷移によって、入力ノードN1がドレイン
電位に引き上げられ且つ入力ノードN2が接地電位に引
き下げられるまでトランジスタT1乃至T5内に瞬時電
流が流れる結果となることが確認される。この点におい
て、図3(A)の回路素子は図3(B)のインアクティ
ブ(休止)に分類された欄に示された状態を有する。
【0022】さらに、図3(A)の回路動作は図7の波
形によって示される。図7では、最初に入力信号のすべ
てが「0」のCMOS論理レベルにあると想定される。 これは波形INi で示される。この場合、ノードN1
での電圧はVDDに引上げられる一方、ノードN2での
電圧は接地電位である。NOR関数は出力信号OUTの
論理「1」の状態によって表示される。入力信号iは7
0で論理レベル「1」に遷移する場合、入力トランジス
タITiは、ノードN1とN2での電圧がVDDと接地
との間に位置されたレベルVI で実質的に等化される
まで、ノードN1での電圧を引下げ、且つノードN2で
の電圧を引上げるよう導電する。図7ではノードN1と
N2のアクティブ電圧レベル間での分離が示される。こ
うした差異によって、その設計が導電状態のままである
場合、入力トランジスタITiでの電圧の下降が示され
ることは当業者によって理解されよう。入力トランジス
タが非導電状態に維持される場合、ノードN1とN2の
アクティブ(活動)状態電圧レベルは共にVI に等し
い。ノード電圧の活動状態レベルへの遷移に応答して、
OUTの波形は「0」の論理レベルに遷移される。入力
INiのみが活動していると仮定すると、この入力IN
iが75で論理レベル「0」に遷移する場合、ノード電
圧と出力信号は図示のように応答して遷移する。
形によって示される。図7では、最初に入力信号のすべ
てが「0」のCMOS論理レベルにあると想定される。 これは波形INi で示される。この場合、ノードN1
での電圧はVDDに引上げられる一方、ノードN2での
電圧は接地電位である。NOR関数は出力信号OUTの
論理「1」の状態によって表示される。入力信号iは7
0で論理レベル「1」に遷移する場合、入力トランジス
タITiは、ノードN1とN2での電圧がVDDと接地
との間に位置されたレベルVI で実質的に等化される
まで、ノードN1での電圧を引下げ、且つノードN2で
の電圧を引上げるよう導電する。図7ではノードN1と
N2のアクティブ電圧レベル間での分離が示される。こ
うした差異によって、その設計が導電状態のままである
場合、入力トランジスタITiでの電圧の下降が示され
ることは当業者によって理解されよう。入力トランジス
タが非導電状態に維持される場合、ノードN1とN2の
アクティブ(活動)状態電圧レベルは共にVI に等し
い。ノード電圧の活動状態レベルへの遷移に応答して、
OUTの波形は「0」の論理レベルに遷移される。入力
INiのみが活動していると仮定すると、この入力IN
iが75で論理レベル「0」に遷移する場合、ノード電
圧と出力信号は図示のように応答して遷移する。
【0023】図5では、入力PMOSトランジスタ10
乃至42とトランジスタT26乃至T31から成る出力
バッファと共に作動される、図3(A)の回路と同一の
不平衡双安定CMOS入力回路の使用が示される。図5
は本質的にNAND論理回路として動作する。この点に
ついて、入力論理レベルがすべて「1」である間にわた
って入力トランジスタ10乃至42はオフ状態である。 この状態では、不平衡入力回路は第1の入力ノードを引
き上げて、第2の入力ノードを引き下げる。これによっ
て、変換トランジスタT26とT28はオンとなり、従
って出力トランジスタT30はオフに、出力トランジス
タT31はオンになる。こうしたことにより、出力ノー
ドは引き下げられて、入力論理「1」の論理積がインバ
ートされる。入力論理レベルのどれか一つが下降される
と、それに対応付けられた入力トランジスタはオンにな
って導電し、入力ノードをドレイン電位と接地との間で
実質的に等しい電位スイッチする。これによって、変換
トランジスタT26、T28はオフになり、トランジス
タT27とT29はオンになるので、トランジスタT3
0のオン及びトランジスタT31のオフによって出力ノ
ードは引き上げられる結果となる。
乃至42とトランジスタT26乃至T31から成る出力
バッファと共に作動される、図3(A)の回路と同一の
不平衡双安定CMOS入力回路の使用が示される。図5
は本質的にNAND論理回路として動作する。この点に
ついて、入力論理レベルがすべて「1」である間にわた
って入力トランジスタ10乃至42はオフ状態である。 この状態では、不平衡入力回路は第1の入力ノードを引
き上げて、第2の入力ノードを引き下げる。これによっ
て、変換トランジスタT26とT28はオンとなり、従
って出力トランジスタT30はオフに、出力トランジス
タT31はオンになる。こうしたことにより、出力ノー
ドは引き下げられて、入力論理「1」の論理積がインバ
ートされる。入力論理レベルのどれか一つが下降される
と、それに対応付けられた入力トランジスタはオンにな
って導電し、入力ノードをドレイン電位と接地との間で
実質的に等しい電位スイッチする。これによって、変換
トランジスタT26、T28はオフになり、トランジス
タT27とT29はオンになるので、トランジスタT3
0のオン及びトランジスタT31のオフによって出力ノ
ードは引き上げられる結果となる。
【0024】図3(A)及び図5の不平衡双安定CMO
S入力回路を含む組み合わせ論理回路が図6に示されて
いる。不平衡入力回路は、図3(A)のNOR論理回路
と図5のNAND論理回路について上述のように接続さ
れたトランジスタT41乃至T45から成る。図6の組
み合わせ論理回路は本質的に、例えば入力信号IN1と
IN2の論理積又は入力信号IN3とIN4の論理積な
どの複数の入力信号組み合わせのうちの任意の一つを予
期している。上述のように信号変換を提供する適切な出
力バッファがあるので、図6では、AND−OR−イン
バート(AOI)回路の基礎が形成される。
S入力回路を含む組み合わせ論理回路が図6に示されて
いる。不平衡入力回路は、図3(A)のNOR論理回路
と図5のNAND論理回路について上述のように接続さ
れたトランジスタT41乃至T45から成る。図6の組
み合わせ論理回路は本質的に、例えば入力信号IN1と
IN2の論理積又は入力信号IN3とIN4の論理積な
どの複数の入力信号組み合わせのうちの任意の一つを予
期している。上述のように信号変換を提供する適切な出
力バッファがあるので、図6では、AND−OR−イン
バート(AOI)回路の基礎が形成される。
【0025】図3(A)、図5、図6に示されたCMO
S論理回路を考慮すると、不平衡双安定CMOS論理回
路は、適切な出力バッファと組み合わせた場合、複数の
入力論理信号を受信し、単一回路フレームワークでのC
MOS論理関数に従ってこれらの信号を組み合わせるこ
とができるという結論に達するものである。従って、本
発明では、非常に多数の入力について論理回路によって
占有される実領域内の回路素子の計数を大幅に減少する
ことのできるCMOS技術において単一要素の多重入力
回路の構成が可能である。
S論理回路を考慮すると、不平衡双安定CMOS論理回
路は、適切な出力バッファと組み合わせた場合、複数の
入力論理信号を受信し、単一回路フレームワークでのC
MOS論理関数に従ってこれらの信号を組み合わせるこ
とができるという結論に達するものである。従って、本
発明では、非常に多数の入力について論理回路によって
占有される実領域内の回路素子の計数を大幅に減少する
ことのできるCMOS技術において単一要素の多重入力
回路の構成が可能である。
【0026】このような利益は回路動作の速度を犠牲に
することなく享受される。実際、本発明のCMOS論理
回路設計によって出力信号特性の選択的調整が可能であ
る。回路のクリティカルパス(限界経路)が上述した本
発明の回路の一つの出力のリーディングエッジ(立ち上
がり)を含む場合、入力トランジスタのサイズの増大に
よって入力ノード間の電圧の等化が加速され、リーディ
ングエッジの立ち上がり時間又は下降時間の増加を伴う
ものである。出力信号のトレーリングエッジ(立ち下が
り)が重要な場合、入力トランジスタのサイズは縮小し
なければならない。さらに、本発明では異なるサイズの
入力トランジスタの使用が意図されている。それと関連
して、出力トレーリングエッジの応答時間が入力ノード
の総容量によって決まるので、入力トランジスタの一個
だけのサイズが減少されても、トレーリングエッジの応
答時間は改良されない。他方、入力トランジスタすべて
のサイズが増大されると、出力信号によって、リーディ
ングエッジ応答の改良とトレーリングエッジの減速が証
明される。リーディングエッジ及びトレーリングエッジ
の応答時間はともに、入力回路トランジスタ、即ち図3
AのトランジスタT1乃至T5、のサイズを増大するこ
とによって改良される。しかし、パワー(電力)の増加
に対し、応答時間の増加で補われよう。
することなく享受される。実際、本発明のCMOS論理
回路設計によって出力信号特性の選択的調整が可能であ
る。回路のクリティカルパス(限界経路)が上述した本
発明の回路の一つの出力のリーディングエッジ(立ち上
がり)を含む場合、入力トランジスタのサイズの増大に
よって入力ノード間の電圧の等化が加速され、リーディ
ングエッジの立ち上がり時間又は下降時間の増加を伴う
ものである。出力信号のトレーリングエッジ(立ち下が
り)が重要な場合、入力トランジスタのサイズは縮小し
なければならない。さらに、本発明では異なるサイズの
入力トランジスタの使用が意図されている。それと関連
して、出力トレーリングエッジの応答時間が入力ノード
の総容量によって決まるので、入力トランジスタの一個
だけのサイズが減少されても、トレーリングエッジの応
答時間は改良されない。他方、入力トランジスタすべて
のサイズが増大されると、出力信号によって、リーディ
ングエッジ応答の改良とトレーリングエッジの減速が証
明される。リーディングエッジ及びトレーリングエッジ
の応答時間はともに、入力回路トランジスタ、即ち図3
AのトランジスタT1乃至T5、のサイズを増大するこ
とによって改良される。しかし、パワー(電力)の増加
に対し、応答時間の増加で補われよう。
【0027】本発明の幾つかの好ましい実施例について
説明してきたが、その変更態様及び応用については、当
業者に明らかになるであろう。従って、本発明をもたら
す保護範囲は上記請求項の範囲に従って限定されるにす
ぎないものとする。
説明してきたが、その変更態様及び応用については、当
業者に明らかになるであろう。従って、本発明をもたら
す保護範囲は上記請求項の範囲に従って限定されるにす
ぎないものとする。
【0028】
【発明の効果】本発明の多重入力CMOS論理回路は上
記のように構成されているので、複数の入力信号を受信
することができる。
記のように構成されているので、複数の入力信号を受信
することができる。
【図1】32入力ANDゲートが11個の4入力AND
ゲートを用いて実行される従来技術のCMOS技術構造
を示す図である。
ゲートを用いて実行される従来技術のCMOS技術構造
を示す図である。
【図2】単一の32入力ANDゲートを提供するために
本発明を利用したCMOS論理ANDゲートを示す図で
ある。
本発明を利用したCMOS論理ANDゲートを示す図で
ある。
【図3】(A)は本発明による32入力NORゲートを
示す図であり、(B)は(A)のNORゲートの動作中
の状態を示す図である。
示す図であり、(B)は(A)のNORゲートの動作中
の状態を示す図である。
【図4】チャネルの長さとゲート幅のサイズを示すCM
OSトランジスタの上面図である。
OSトランジスタの上面図である。
【図5】本発明による32入力NANDゲートを示す図
である。
である。
【図6】本発明による多重入力組み合わせ論理回路を示
す図である。
す図である。
【図7】図3(A)の回路動作を示す波形図である。
Claims (7)
- 【請求項1】 第1の変換接続部と第2の変換接続部
と出力接続部とを有し、前記第1と第2の変換接続部で
それぞれ第1と第2のレベル信号に応答して、前記第1
と第2のレベル信号が実質的に等しくない時の第1の状
態と前記第1と第2のレベル信号が実質的に等しい時の
第2の状態とを有するMOS論理信号を前記出力接続部
で供給する相補型MOS出力バッファと、前記第1の変
換接続部に接続された第1の多重接点接続点と、前記第
2の変換接続部に接続された第2の多重接点接続点とを
有し、前記第1と第2の多重接点接続点間の第1の導電
状態に応答して前記第1と第2の多重接点接続点で実質
的に等しくないレベル信号を供給し、さらに前記第1と
第2の多重接点接続点間の第2の導電状態に応答して前
記第1と第2の多重接点接続点で実質的に等しいレベル
信号を供給する双安定CMOS入力回路と、前記第1の
多重接点接続点に接続された第1の電流導電端子と、前
記第2の多重接点接続点に接続された第2の電流導電端
子と、前記回路に対する複数のCMOS信号入力の一つ
の状態に応答して第1と第2の電流導電端子間の前記第
1の導電状態又は前記第2の導電状態を設定するための
少なくとも一つのゲート端子と、を各々が有する複数の
入力CMOSトランジスタ回路と、を含む多重入力MO
S論理回路。 - 【請求項2】 双安定CMOS入力回路は、ドレイン
電位に接続するためのドレインと、前記第1の多重接点
ノードに接続されたソースと、前記第2の多重接点ノー
ドに接続されたゲートと、を備えた第1のCMOSロー
ドトランジスタと、前記第1の多重接点ノードに接続さ
れたドレインと、ソース電位に接続するためのソースと
、前記第2の多重接点ノードに接続されたゲートとを備
えた第1のCMOSドライバトランジスタと、前記ドレ
イン電位に接続するためのドレインと、前記第2の多重
接点ノードに接続されたソースと、前記第1の多重接点
ノードに接続されたゲートと、を備えた第2のCMOS
ロードトランジスタと、前記第2の多重接点ノードに接
続されたドレインと、ソース電位に接続するためのソー
スと、第1の多重接点ノードに接続されたゲートと、を
備えた第2のCMOSドライバトランジスタと、を含み
、さらに、前記第1のCMOSロードトランジスタのゲ
ートは前記第2のCMOSロードトランジスタのゲート
よりも幅が広く、前記第2のCMOSドライバトランジ
スタのゲートは前記第1のCMOSドライバトランジス
タのゲートよりも幅が広い請求項1記載の多重入力MO
S論理回路。 - 【請求項3】 前記第1の導電状態がオフ状態のすべ
ての入力CMOSトランジスタによって設定される請求
項1記載の多重入力MOS論理回路。 - 【請求項4】 前記第2の導電状態がオン状態の入力
CMOSトランジスタのどれか一つによって設定される
請求項3記載の多重入力MOS論理回路。 - 【請求項5】 第1と第2の多重接点ノードと、所定
のCMOS論理信号レベルに応答した状態にスイッチす
るためのゲートを各々が有し、前記第1と第2の多重接
点ノード間で並列接続された複数のCMOS入力トラン
ジスタと、前記第1と第2のノードに接続され、CMO
S論理ハイレベルに実質的に等しいレベルで第1の多重
接点ノードの電圧とCMOS論理ローレベルに実質的に
等しいレベルで第2の多重接点ノードの電圧とを供給す
る静止状態を有し、さらに、活動状態にスイッチしてC
MOS論理ハイレベルとローレベルとの間の実質的に等
しいレベルに電圧を変化させることによって一つの前記
CMOS入力トランジスタの状態に応答する不平衡双安
定CMOS入力回路と、前記第1と第2のノードの電圧
によって所定のCMOS論理レベルに条件付けられた出
力信号を供給するために前記第1と第2のノードに接続
された出力バッファと、を含むCMOS論理回路。 - 【請求項6】 前記不平衡双安定CMOS入力回路は
、ドレイン電位に接続されるためのドレインと、前記第
1の多重接点ノードに接続されたソースと、前記第2の
多重接点ノードに接続されたゲートと、を備えた第1の
CMOSロードトランジスタと、前記第1の多重接点ノ
ードに接続されたドレインと、ソース電位に接続される
ためのソースと、前記第2の多重接点ノードに接続され
たゲートと、を備えた第1のCMOSドライバトランジ
スタと、前記ドレイン電位に接続されるためのドレイン
と、前記第2の多重接点ノードに接続されたソースと、
前記第1の多重接点ノードに接続されたゲートと、を備
えた第2のCMOSロードトランジスタと、第2の多重
接点ノードに接続されたドレインと、ソース電位に接続
されるためのソースと、前記第1の多重接点ノードに接
続されたゲートと、を備えた第2のCMOSドライバト
ランジスタとを含み、さらに、前記第1のCMOSロー
ドトランジスタのゲートは前記第2のCMOSロードト
ランジスタのゲートよりも幅が広く、前記第2のCMO
Sドライバトランジスタのゲートは前記第1のCMOS
ドライバトランジスタのゲートよりも幅が広い請求項5
記載のCMOS論理回路。 - 【請求項7】 ドレイン接続部とソース接続部と複数
の入力論理信号のうちそれぞれ一つを受信するためのゲ
ート接続部とを各々が含む複数の実質的に同一な入力C
MOSトランジスタと、各前記入力CMOSトランジス
タのドレインに接続された第1のノードと、各前記入力
CMOSトランジスタのソースに接続された第2のノー
ドと、ドレイン電位に接続するためのドレインと前記第
1のノードに接続されたソースと前記第2のノードに接
続されたゲートとを備えた第1のCMOSロードトラン
ジスタと、前記第1のノードに接続されたドレインとソ
ース電位に接続されるためのソースと前記第2のノード
に接続されたゲートとを備えた第1のCMOSドライブ
トランジスタと、ドレイン電位に接続されるためのドレ
インと前記第2のノードに接続されたソースと前記第1
のノードに接続されたゲートとを備えた第2のCMOS
ロードトランジスタと、前記第2のノードに接続された
ドレインとソース電位に接続されるためのソースと、前
記第1のノードに接続されたゲートとを備えた第2のC
MOSドライバトランジスタとを含み、さらに前記第1
のCMOSロードトランジスタのゲートは第2のCMO
Sロードトランジスタのゲートよりも幅が広く、第2の
CMOSドライバトランジスタのゲートは第1のCMO
Sドライバトランジスタのゲートよりも幅が広いCMO
S論理回路と、前記第1のノードに接続された第1の変
換接続部と第2のノードに接続された第2の変換接続部
と出力接続部とを備え、前記出力接続部において前記第
1と第2のノードでの第1と第2のレベル信号にそれぞ
れ応答してMOS論理信号を供給し、さらに前記論理信
号は前記第1と第2のレベル信号が実質的に等しくない
場合の第1の状態と第1と第2のレベル信号が実質的に
等しい場合の第2の状態とを有する相補型MOS出力バ
ッファと、を含むCMOS論理回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/560,381 US5045723A (en) | 1990-07-31 | 1990-07-31 | Multiple input CMOS logic circuits |
| US560381 | 1990-07-31 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04234221A true JPH04234221A (ja) | 1992-08-21 |
| JP2557147B2 JP2557147B2 (ja) | 1996-11-27 |
Family
ID=24237562
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3149829A Expired - Lifetime JP2557147B2 (ja) | 1990-07-31 | 1991-05-24 | 多重入力mos論理回路及びcmos論理回路 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5045723A (ja) |
| EP (1) | EP0469787A1 (ja) |
| JP (1) | JP2557147B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3095229B2 (ja) * | 1990-08-31 | 2000-10-03 | 株式会社日立製作所 | マイクロプロセッサ及び複合論理回路 |
| US5878269A (en) * | 1992-03-27 | 1999-03-02 | National Semiconductor Corporation | High speed processor for operation at reduced operating voltage |
| US5508640A (en) * | 1993-09-14 | 1996-04-16 | Intergraph Corporation | Dynamic CMOS logic circuit with precharge |
| US5455528A (en) * | 1993-11-15 | 1995-10-03 | Intergraph Corporation | CMOS circuit for implementing Boolean functions |
| US20040268003A1 (en) * | 2003-06-24 | 2004-12-30 | Ken Nicholas | Method and apparatus for providing signal functionality |
| US10447270B2 (en) | 2017-12-08 | 2019-10-15 | Rambus Inc. | Low power logic circuitry |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4896059A (en) * | 1988-07-26 | 1990-01-23 | Microelectronics Center Of North Carolina | Circuit to perform variable threshold logic |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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