JPH04237583A - 光出力発生装置 - Google Patents
光出力発生装置Info
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- JPH04237583A JPH04237583A JP3005445A JP544591A JPH04237583A JP H04237583 A JPH04237583 A JP H04237583A JP 3005445 A JP3005445 A JP 3005445A JP 544591 A JP544591 A JP 544591A JP H04237583 A JPH04237583 A JP H04237583A
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Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
てロウ付け、ハンダ付け、樹脂の剥離、樹脂の接着・硬
化等を行うための光出力発生装置に関するものである。
方法は、アーク放電を利用したキセノン・ランプ、水銀
ランプ、またタングステン・フィラメントをジュール熱
を利用して発光させるハロゲン・ランプ等を用いる方法
がある。
プラス、陰極にマイナスを印加して定電流アーク放電を
させ、またハロゲン・ランプは交流又は直流のほぼ定電
圧出力をフィラメントに印加して発光させていた。
電流を流していても、時間の経過とともに光出力が低下
し、さらに光出力のバラツキも大きくなり、同じ被加工
物の加工を最後まで同じ条件で加工できなかった。
ある。図11において、横軸に時間Tを、縦軸に光出力
Wを示している。WFは光源が新品時の光出力、WGは
Tn時間経過後の光出力であり、ワットの単位で示して
いる。実験では700〜1200時間後にWGはWFの
8割程度に低下する。つまり、光源がWF出力を発生す
る時に、被加工物の加工条件を決めても、Tn 時間後
にはWGの出力となって2割も不足する。この原因は、
キセノン・ランプでは陰極が痩せ細り、かつ電子の陰極
からの放出が困難になるためである。逆に、ハロゲン・
ランプではフィラメントが痩せ細ると発光量が増大する
が、痩せ細った分だけ光源管内がタングステンで汚れる
ため光出力は減少する。いずれの場合にしても、光出力
は時間の経過とともに変化し、加工条件をそのつど変え
なければならなかった。
ように従来の光出力発生装置においては次のような問題
が存在している。
は、新品時の光出力の8割である。そのため、被加工物
の加工条件を時間とともに変化させねばならず、加工条
件の設定に時間と熟練を必要とする。
に変化するため、大量生産に不向きである。
不安定なため、点灯直後(約10分間)の光量変動が大
きく、さらに光源が古くなると光量の変動が大きくなり
、信頼性の高い加工を安定して行えないという問題があ
る。
の光源からの光出力を常に一定にすることができる光出
力発生装置を提供することを目的とする。
は、光源と、光源の点灯手段と、光源に電力を供給する
制御電源と、光源からの光を第1焦点に集光する反射鏡
とを備えた光出力発生装置において、点灯手段により光
源を点灯操作した後光源が点灯若しくは安定な光出力を
発生するまでの点灯期間と以降の期間を区別してシーケ
ンス制御を行う第1シーケンス制御手段を設け、点灯期
間内において予め設定された光源電流又は光源電圧にな
るように制御電源に指令する電気出力指令手段を設け、
点灯期間以降の期間の全部又は一部の期間において予め
設定された光出力が発生するように制御電源に指令する
光出力指令手段を設けたことを特徴とする。
タを制御して光源の温度を制御する光源温度制御手段を
設け、部分的に又は全体的に電力制御手段による制御に
代えて光源温度制御手段の制御値を補正して光出力を制
御するようにしてもよい。
力を検出する光出力検出手段と、既知の光源電流又は光
源電圧と光源からの光出力の関係を記憶する第1メモリ
手段と、光源が経時変化したときの光源電流又は光源電
圧と光源からの光出力の関係を記憶する第2メモリ手段
と、第1、第2メモリ手段のデータから経時変化した光
源に対応して指令値を補正演算する演算手段とを設ける
ことにより、光出力指令手段による制御を省略してもよ
い。
する光検出手段と、検出した光出力を表示する光出力表
示手段と、電気出力指令手段と、電気出力指令手段の出
力値と光源に流れる電流又は電圧を検出する電気出力検
出手段の出力値の差を増幅する誤差増幅器と、誤差増幅
器の出力により導通時間と非導通時間の幅が設定される
電力制御手段にて構成し、光出力表示手段にて表示され
た光出力に応じて電気出力指令手段による指令値を調整
するようにしてもよい。
る光源からの光を被加工物の加工に使用しても、光出力
を直接検出して光源の制御電源をフィードバック制御す
ることにより、又は光源の温度制御により光出力を制御
することにより、又は光源の光出力の経時変化を検出し
たデータに基づいて制御電源を制御することにより、さ
らに検出した光出力を表示してそれに基づいて制御電源
を制御することによって、光出力を一定化するようにし
ているため、被加工物の加工品質を一定に保つことがで
きる。
図1〜図6を参照しながら説明する。
より説明する。1はAC電源の整流器である。2は電力
制御手段であり、チョークコイル3、コンデンサ4、5
、インバータ用1次コイル6、トランジスタ7、8にて
構成されている。B1、B2はトランジスタ7、8のベ
ース端子、E1、E2は同エミッタ端子である。
整流器10、11にて整流される。
であり、2次出力側のリップルを除去する。14はシャ
ント、カレント・トランスフォーマ等の電流検出器であ
る。又、15は高周波カップリングコイル、16は点灯
手段、17は点灯用起動スイッチである。18はキセノ
ン・ランプ、水銀ランプ等の光源であり、−極性が印加
される陰極42と+極性が印加される陽極43を備えて
いる。
手段16の出力を示す。
体構成を図3により説明する。19は、光源18の冷却
ファン、19aはそのファンモータである。20は楕円
反射鏡であり、その一方の焦点F0に光源18の陰極4
2が配置され、この光源18から出た光Lは矢印の如く
光の経路(光伝送経路)を通って他方の焦点F1に集光
される。この焦点(第1焦点)F1の近傍に被加工物1
00が置かれるか、光ファイバ21の入口端101が配
置される。60は光ファイバ21の出口端であり、その
近傍に集光レンズ22が配設され、その焦点(第2焦点
)F2に被加工物100が置かれる。
P3はその出力を示す。この光検出器24としては、ホ
ト・トランジスタ、ホト・ダイオード等のPN接合型光
検出器(PN接合の両側に光で励起された電荷が発生し
、アノードとカソードに接続された外部負荷を通って電
流が流れる素子)、赤外線検出用の焦電センサ(タンタ
ル酸リチウム結晶)、また光導電型(光強度に応じて電
気抵抗が変わる光センサ)のCdセル、PbSセル、ま
た光電子放出型の光電管、及び熱電対(ペルチェ効果に
よる熱起電力発生器)等が用いられる。
うに、反射鏡20からの光を直接検出するか、光ファイ
バ21からの漏れ光(光ファイバの開口角又は開口数以
上で入射した光等)を検出するように配置すればよい。 又、光ファイバ21の出力端60や集光レンズ22より
の光を検出するように配置してもよい。また、熱電対を
用いる場合は被加工物100に接触させて配置し、赤外
線輻射温度計を用いる場合は破線で示すように被加工物
100に対向配置すればよい。さらに、金属体に熱電対
を取付けた検出器で光出力を検出するようにしてもよい
。
を移動手段110に搭載し、間歇的に光Lの伝送路、第
1焦点F1、第2焦点F2の近傍や、光ファイバ21の
出口端60と集光レンズ22の間に移動させるようにし
、その光検出器24の出力信号を増幅器25で増幅し、
メモリ手段111で記憶するようにし、その出力X4を
フィードバック端子に入力するようにすることもできる
。メモリ手段111に記憶後は、光検出器24は光Lの
伝送路を邪魔しない方向に移動し、次のサイクルに再度
光検出器24にて検出するまでメモリ値が記憶継続され
、次の光検出でメモリ値を更新する。この場合、光出力
の計測動作は図6の加工指示信号が入力されていない時
に行われる。又、メモリ手段111を多数設置すること
により、多数の加工時光出力を記憶できる。又、作業原
点に光検出器24を設置し、間歇的に光ファイバ21を
この光検出器24の近傍に移動し、メモリ手段111に
光出力を記憶することも可能である。
フ・ブリッジ式インバータ回路にて構成されており、ト
ランジスタ7、8の導通時間と非導通時間を周期的に決
め、出力を制御している。即ち、整流器1で交流を整流
し、チョークコイル3、コンデンサ4、5でリップルを
除去し、トランジスタ7、8を決まった周期で交互にオ
ン・オフし、インバータ用1次コイル6からインバータ
用2次コイル9に電力を伝える。これを整流器10、1
1で整流し、直流リアクトル12とコンデンサ13でリ
ップルを除去し、光源18に印加する。
極43間で放電させるトリガとして高周波カップリング
コイル15より3000〜20000Vの電圧を印加し
、光源18を点灯させる。陰極42、陽極43間に電流
が流れれば高周波カップリングコイル15からの高電圧
印加を停止する。即ち、トランジスタ7、8を駆動させ
るとともに点灯用起動スイッチ17をオンし、点灯手段
16により高電圧を発生させ、高周波カップリングコイ
ル15に出力することにより、電源18が点灯し、点灯
後点灯手段16の動作が停止する。この切換えは後述の
図1の第1シーケンス制御手段30にて行われる。
たが、ハロゲン・ランプ等のフィラメントを使う光源で
は高周波カップリングコイル15や点灯手段16は不必
要であり、電流検出器14の代わりに光源18の両端に
電圧検出器を設置する。即ち、アーク放電ランプでは電
流をフィードバック源とする制御、フィラメントを使う
ランプでは電圧をフィードバック源とする制御を行い、
それぞれ前者を定電流制御、後者を定電圧制御するのが
適当である。なお、厳密に定電流もしくは定電圧でなく
ともよい。
信号は、図1に示すように増幅器29で増幅して次段に
伝える。この電流検出器14と増幅器29にて電気出力
検出手段40を構成している。又、光検出器24で検出
した信号も、図1に示すように増幅器25で増幅して次
段に伝える。この光検出器24と増幅器25にて光出力
検出手段26を構成している。
示したが、サイリスタ制御方式、漏洩トランス方式(定
電流方式)、定電圧トランス方式、チッッパー方式の制
御方式を採用することもできる。
路について説明する。31は電気出力指令手段で、予め
指定した電流、電圧が出力されるように指令するもので
あり、ボリュームの両端に電圧を印加し、センター電圧
を出力するように構成され、アナログ式、デジタル式の
いずれでもよい。又、23は電気出力検出手段40によ
る検出値を表示する電気出力表示手段である。
33を中心にして構成されている。
印は反転入力端を示す。又、R1、R2、R3、R4、
R5は抵抗、55はプラス電源、Eはアース、X1は電
気出力検出手段40からの入力、X2は電気出力指令手
段31からの入力で、X1は+極性、X2は−極性であ
る。X3はオペアンプ33の出力端である。
2、VX3とし、A=R5/R3、B=R5/R2とす
れば、VX3=−A*VX2−B*VX1(*は積を示
す)となり、電気出力(電流、電圧)VX1が増大すれ
ばVX3は減少する。指令電圧VX2が増大すればVX
2がマイナス方向に増大するためVX3は増大する。
3で増幅されてX3に出力される。
オンのときはS2はオフ、又はその逆となるように連動
されている。X7はこの切換スイッチS1、S2からの
出力である。又、34は基準器、35は比較器であり、
これらによって出力幅制御手段36が構成されている。 X8は基準器34の出力、X9(X10)は出力幅制御
手段36の出力である。37はドライバであり、B1、
E1、B2、E2は図2のトランジスタ7、8への制御
入力である。
段36の動作を説明する制御信号図であり、第1誤差増
幅器32の出力X3又は第2誤差増幅器28の出力X6
からなる入力X7に応じた幅の出力X9、X10が出力
される。即ち、X8は基準器34から出力された周期一
定の三角波信号であり、X7は第1又は第2誤差増幅器
32、28の出力で、時間が進むとともに減少する場合
を表示してあり、それぞれ信号図45に示してある。X
7>X8なら信号図46にX9、X10の信号が発生す
る。X7が時間とともに減少する場合には、X9信号幅
>X10信号幅となる。つまり、この場合VX1が増大
したのに伴ってVX2に漸次接近するように出力幅制御
手段36の出力幅が減少して行く例を示している。その
後、ドライバ37により、X9信号はB1、E1信号に
、X10信号はB2、E2に交互に変換され、トランジ
スタ7、8が駆動される。
り、電気出力指令手段31と同様の構成である。また、
39は光出力検出手段26にて検出した光出力を表示す
る光出力表示手段である。28は第2誤差増幅器であり
、第1誤差増幅器32と同様の構成であり、共通で使用
するようにしてもよい。X4は光出力検出手段26から
の入力、X5は光出力指令手段27からの入力、X6は
第2誤差増幅器28の出力で切換スイッチS2を介して
X7として出力幅制御手段36に入力されている。
換スイッチS1、S2の切り換え制御を行う。41は第
2シーケンス制御手段であり、加工指示スイッチ44の
オンにより電気出力指令手段31又は光出力指令手段2
7の指令電圧を変えることにより被加工物を加工できる
光出力に変える。38は上限値設定手段であり、その設
定値よりも電気出力検出手段40の出力が大なら、比較
器35の出力を停止させる信号を出力する。
や光出力の関係を説明する。(a) は点灯信号で、点
灯用起動スイッチ17をオンしたときの点灯手段16内
におけるT0〜T7間の信号である。(b) は加工指
示信号で、加工指示スイッチ44をオンしたときのT3
〜T4間及びT5〜T6間の信号である。なお、T0〜
T7間における加工指示信号のある加工指示区間以外の
、加工指示信号がローレベルの区間を準備点灯区間と呼
ぶ。 (c) は光源18に流れる電流、即ち電気出力検出手
段40の出力である。(d) は電流が所定レベル以上
流れた区間を示す電流区間信号である。(e) は光出
力である。
T1〜T7、T8は任意時間を示す。IA、IB、IC
は電流、WA、WB、WC、WD、WEは光出力である
。図6においては、(b) の加工指示信号があるとき
のみ、光一定制御を行った例を示してあり、WB、WD
の光出力は光源18の経時変化等にかかわらず一定であ
る。一方、(e) に示すようにT0〜T2間の光出力
は不安定である。また、IB、ICはWB、WDに、I
AはWA、WC、WEに対応しており、IAはアイドリ
ング又はスタンバイ区間であり、光出力は一定でない。
電気出力検出手段40の出力信号により図6の(d)
の電流区間信号(T1〜T7間の信号)を作り、この電
流区間信号が有る時は切換スイッチS1をオフ、S2を
オンにして光出力検出手段26からの出力信号により光
出力のフィードバック制御を行い、この信号が無い時(
T0〜T1間)は切換スイッチS1をオン、S2をオフ
にして電気出力検出手段40からの出力信号により電気
出力のフィードバック制御を行う。
た時、第2シーケンス制御手段41から第1シーケンス
制御手段30に図6の(b) の加工指示信号が出力さ
れ、加工指示スイッチ44がオンの時のみ切換スイッチ
S2をオン、S1をオフにして光出力のフィードバック
制御を行う。
器28、切換スイッチS2、第2シーケンス制御手段4
1、加工指示スイッチ44を除いた回路で、作業者が光
出力表示手段39を見ながら電気出力指令手段31を設
定する制御も行える。
制御手段61を設け、第2誤差増幅器28の出力X6に
よりこのファン制御手段61を制御し、光出力が指令よ
り低下すればファン19を停止又は減速し、逆ならファ
ン19を回転又は増速させる。即ち、このような制御に
よって陰極42の熱電子放出を陰極42の温度制御で制
御し、光出力を制御する。
2のランプ管外側にヒータ62を取付けるとともにヒー
タ制御手段63を設け、第2誤差増幅器28の出力X6
によりこのヒータ制御手段63を制御し、(4) と同
様に光出力を制御する。なお、光出力は陰極温度が高い
程おおきい。その理由は陰極がさらに冷陰極から熱陰極
になり、陰極から電子が発生し易くなるためである。
実施例を説明する。
2は第2メモリ手段、C1は第1演算手段、C2は第2
演算手段、M3は第3メモリ手段、C3は第3演算手段
、M4は第4メモリ手段である。56は比較手段である
。電気出力指令手段31、電気出力検出手段40、光出
力検出手段26、第1誤差増幅器32、出力幅制御手段
36、ドライバ37は上記実施例と同一である。また、
A/Dはアナログ−デジタル変換器、D/Aはデジタル
−アナログ変換器を示す。
力Wを示す。aは光源18の初期特性の関数a:W=N
*(I−IP)を示し、bは光源18が経時変化したと
きの特性の関数b:W=J*(I−IP)を示す。N、
Jは関数a、bの比例定数、IPはWが0のときの電流
値である。W0はI0時のa上の光出力、W01はI0
時のb上の光出力、又b上ではI01の時W0の光出力
を発生する。この時、N=W0/(I0−IP)、J=
W01/(I0−IP)である。W0、I0、IPは既
知であり、W01は未知である。
Pは同一としたが、必ずしも同一ではなく、その場合に
は増加した未知数だけ光検出と演算回数を増やせばよい
。IMは許容上限電流(又は電圧値)、ILは光源発光
下限電流値である。
関数bは第2メモリ手段M2に記憶される。
I0で光出力を測定するとW01であったとする。ここ
で、第2メモリ手段M2の未知数を持つ関数bを第1演
算手段C1に入力し、かつ光出力検出手段26で検出さ
れた光出力W01を第1演算手段C1に入力し、さらに
電気出力指令手段31で指令されたI0を第1演算手段
C1に入力し、I0、W01を関数bに代入演算すれば
、Jが既知の値となり、関数bは既知関数となる。
に入力し、かつ第1メモリ手段M1より電流I0の時の
出力W0を入力し、既知関数b上のW0出力時の電流I
01を求める。このI01は、I01=(W0/W01
)*(I0−IP)+IPとなる。そして、K=I01
/I0を演算し、第3メモリ手段M3に入力する。この
Kは、K=(1/I0)*((W0/W01)*(I0
−IP)+IP)で与えられる。このKを第3メモリ手
段M3にメモリしておく。
指令電流(電圧)がIXであったと仮定し、経時変化し
た光源18(既知関数b)で標準出力を得るための実指
令電流を求めるため、第3演算手段C3にIXとKを入
力し、IX*Kを演算する。
品時の光源と同一の光出力W0を経時変化した光源でも
発生する。
し、予め決められた最大電流IMをメモリした第4メモ
リ手段M4からの入力と比較し、IX*K>IMならI
Mを、それ以外はIX*Kを出力し、D/A変換器を介
して第1誤差増幅器32に指令入力端子に入力する。第
1誤差増幅器32のフィードバック端子には電気出力検
出手段40からの出力が入力され、図1と同様に制御さ
れる。
にマイクロコンピュータによりソフト的に実施してもよ
い。又、第4メモリ手段M4や比較手段56は削除して
もよい。
図9により説明する。図9においてLは光であり、実線
で示す光Lは光ファイバ21の入口端101にファイバ
の開口角g以内の角度で入射する光であり、他の光57
は破線で示してある。47は光減衰用のフィルタ、48
はフォトダイオード等の光検出器であり、光検出器48
は他の光57をフィルタ47を介して検出するように配
置される。
52はコア材で、クラッド材51の屈折率(例、1.4
2)はコア材52の屈折率(例、1.46)より小であ
る。
1で全反射しながら伝播する光、53は開口角gより大
きい角度hで入射してコア材52から漏れる光である。
の側部に配置して漏れ光を検出するようにしたフォトダ
イオード等の光検出器、50は漏れ光を増加するためク
ラッド材51に設けた開口に臨むように配置した光検出
器である。
で固めたバンドルファイバを用いた場合の光出力検出2
6の構成例を図10により説明する。図9の場合と同様
に入口端101の近傍側部に光検出器71を配置するか
、任意の1本の光ファイバを出口端60の近傍で側方に
屈曲させ、その先端に対向して光検出器72を配置する
か、出口端60から出射した光を集光レンズ22で第2
焦点F2に焦点を結んで被加工物100を加工したした
時の反射光を検出するように光検出器73を配置しても
よい。
72、73のいずれかの配置構成が選択して実施される
。尚、フォトダイオード用増幅器はFET(電界効果ト
ランジスタ)入力のオペアンプを用いるとよい。フォト
ダイオードの接合容量を減じ、高速応答させるため、逆
バイアス制御するとよい。
。
期間は電気出力指令手段にて電気出力が一定になるよう
に制御し、それ以降の必要時に光出力指令手段にて光出
力が一定になるように制御するので、経時変化する光源
からの光を被加工物の加工に使用しても、光出力を一定
にして品質の高い加工ができる。
ことによって過大な電流を流すことなく光出力を制御で
き、光源の長寿命化を図れる。
ィードバック制御することにより、光出力検出手段の長
寿命化を図ることができる。
化を検出してメモリしておき、所定の光出力が得られる
ように演算した電気出力を光源に印加することによって
、光出力指令手段による制御構成を省略しながら光出力
を一定にでき、また光出力の検出回数を少なくでき、光
出力検出手段の寿命を長くできる。
定してそれを超える電流が流れないようにすることによ
り、光源の長寿命化を図ることができる。
てそれに基づいて電気出力指令手段を調整するようにす
ることにより、簡単な制御電源の構成で一定の光出力で
加工できる。
伝送路から退避させるようにしたり、光ファイバのクラ
ッドの切欠に臨ませることにより、確実に光出力を検出
しながらその寿命を長くすることができる。
力制御手段の制御部の構成図である。
ある。
御部の構成図である。
を説明するための電流と光出力の関係を示すグラフであ
る。
。
Claims (12)
- 【請求項1】 光源と、光源の点灯手段と、光源に電
力を供給する制御電源と、光源からの光を第1焦点に集
光する反射鏡とを備えた光出力発生装置において、点灯
手段により光源を点灯操作した後光源が点灯若しくは安
定な光出力を発生するまでの点灯期間と以降の期間を区
別してシーケンス制御を行う第1シーケンス制御手段を
設け、点灯期間内において予め設定された光源電流又は
光源電圧になるように制御電源に指令する電気出力指令
手段を設け、点灯期間以降の期間の全部又は一部の期間
において予め設定された光出力が発生するように制御電
源に指令する光出力指令手段を設けたことを特徴とする
光出力発生装置。 - 【請求項2】 制御電源は、電気出力指令手段の出力
値と光源に流れる電流又は電圧を検出する電気出力検出
手段の出力値の差を増幅する第1誤差増幅器と、光出力
指令手段の出力値と光源の光出力を検出する光出力検出
手段の出力値の差を増幅する第2誤差増幅器と、第1又
は第2誤差増幅器の出力により導通時間と非導通時間の
幅が設定される電力制御手段とを備えていることを特徴
とする請求項1記載の光出力発生装置。 - 【請求項3】 第1誤差増幅器と第2誤差増幅器が共
通の誤差増幅器にて構成されていることを特徴とする請
求項2記載の光出力発生装置。 - 【請求項4】 請求項2記載の光出力発生装置におい
て、冷却ファン又はヒータを制御して光源の温度を制御
する光源温度制御手段を設け、部分的に又は全体的に電
力制御手段による制御に代えて第2誤差増幅器の出力に
応じて光源温度制御手段の制御値を補正するようにした
ことを特徴とする光出力発生装置。 - 【請求項5】 被加工物を加工する加工指示信号を受
けて加工用の光源出力を発生する加工期間と、それ以外
の準備点灯期間を区別してシーケンス制御を行う第2シ
ーケンス制御手段を設け、加工期間には光出力指令手段
の指令値に基づいて制御電源を制御するようにしたこと
を特徴とする請求項1、2、3又は4記載の光出力発生
装置。 - 【請求項6】 準備点灯期間には電気出力指令手段の
指令値に基づいて制御電源を制御するようにしたことを
特徴とする請求項5記載の光出力発生装置。 - 【請求項7】 光源と、光源の点灯手段と、光源に電
力を供給する制御電源と、光源からの光を第1焦点に集
光する反射鏡とを備えた光出力発生装置において、制御
電源は、電気出力指令手段の出力値と光源に流れる電流
又は電圧を検出する電気出力検出手段の出力値の差を増
幅する誤差増幅器と、誤差増幅器の出力により導通時間
と非導通時間の幅が設定される電力制御手段とを備え、
電気出力指令手段に、光源からの光出力を検出する光出
力検出手段と、既知の光源電流又は光源電圧と光源から
の光出力の関係を記憶する第1メモリ手段と、光源が経
時変化したときの光源電流又は光源電圧と光源からの光
出力の関係を記憶する第2メモリ手段と、第1、第2メ
モリ手段のデータから経時変化した光源に対応して指令
値を補正演算する演算手段とを設けたことを特徴とする
光出力発生装置。 - 【請求項8】 許容上限電流値又は電圧値を記憶する
上限値記憶手段と、上限値記憶手段の出力と補正指令値
を比較する比較手段とを設け、補正指令値が許容上限値
を超えるときには許容上限値を指令値として出力し、又
は電力供給を停止するようにしたことを特徴とする請求
項1、2、3、4、5、6又は7記載の光出力発生装置
。 - 【請求項9】 光源と、光源の点灯手段と、光源に電
力を供給する制御電源と、光源からの光を第1焦点に集
光する反射鏡とを備えた光出力発生装置において、制御
電源は、光源からの光出力を検出する光出力検出手段と
、検出した光出力を表示する光出力表示手段と、電気出
力指令手段と、電気出力指令手段の出力値と光源に流れ
る電流又は電圧を検出する電気検出手段の出力値の差を
増幅する誤差増幅器と、誤差増幅器の出力により導通時
間と非導通時間の幅が設定される電力制御手段とを備え
ていることを特徴とする光出力発生装置。 - 【請求項10】 光出力検出手段を光伝送経路に侵入
した位置と退避した位置との間で往復移動させる移動手
段と、検出した光出力を記憶する記憶手段を設けたこと
を特徴とする請求項2、4、7又は9記載の光出力発生
装置。 - 【請求項11】 第1焦点近傍に光ファイバ入力端を
配置し、光ファイバ出力端近傍に集光レンズを配置して
第2焦点に光を集光するようにした請求項1、2、3、
4、5、6、7、8、9又は10記載の光出力発生装置
。 - 【請求項12】 コア材とその周囲のクラッド材から
なる光ファイバのクラッド材の一部に切欠を設け、この
切欠部に臨ませて光出力検出手段を配置したことを特徴
する請求項11記載の光出力発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3005445A JP2745827B2 (ja) | 1991-01-22 | 1991-01-22 | 光出力発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP3005445A JP2745827B2 (ja) | 1991-01-22 | 1991-01-22 | 光出力発生装置 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8210942A Division JPH0917577A (ja) | 1996-08-09 | 1996-08-09 | 光出力発生装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04237583A true JPH04237583A (ja) | 1992-08-26 |
| JP2745827B2 JP2745827B2 (ja) | 1998-04-28 |
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3005445A Expired - Lifetime JP2745827B2 (ja) | 1991-01-22 | 1991-01-22 | 光出力発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2745827B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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1991
- 1991-01-22 JP JP3005445A patent/JP2745827B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2745827B2 (ja) | 1998-04-28 |
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