JPH0917577A - 光出力発生装置 - Google Patents
光出力発生装置Info
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- JPH0917577A JPH0917577A JP8210942A JP21094296A JPH0917577A JP H0917577 A JPH0917577 A JP H0917577A JP 8210942 A JP8210942 A JP 8210942A JP 21094296 A JP21094296 A JP 21094296A JP H0917577 A JPH0917577 A JP H0917577A
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- Japan
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- output
- light source
- light
- control
- source
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02B—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO BUILDINGS, e.g. HOUSING, HOUSE APPLIANCES OR RELATED END-USER APPLICATIONS
- Y02B20/00—Energy efficient lighting technologies, e.g. halogen lamps or gas discharge lamps
- Y02B20/40—Control techniques providing energy savings, e.g. smart controller or presence detection
Landscapes
- Circuit Arrangements For Discharge Lamps (AREA)
- Circuit Arrangement For Electric Light Sources In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 光源の光出力が経時変化により低下しても加
工時に光源からの光出力を常に一定にする。 【解決手段】 光源からの光出力を光出力検出手段26
にて検出して光源の制御電源をフィードバック制御する
ことにより、又は光源の温度制御により光出力を制御す
ることにより、又は光源の光出力の経時変化を検出した
データに基づいて制御電源を制御することにより、さら
に検出した光出力を光出力表示手段39で表示してそれ
に基づいて制御電源を制御することによって光出力を一
定化し、被加工物の加工品質を一定に保つ。
工時に光源からの光出力を常に一定にする。 【解決手段】 光源からの光出力を光出力検出手段26
にて検出して光源の制御電源をフィードバック制御する
ことにより、又は光源の温度制御により光出力を制御す
ることにより、又は光源の光出力の経時変化を検出した
データに基づいて制御電源を制御することにより、さら
に検出した光出力を光出力表示手段39で表示してそれ
に基づいて制御電源を制御することによって光出力を一
定化し、被加工物の加工品質を一定に保つ。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光源の光を焦点に
集めてロウ付け、ハンダ付け、樹脂の剥離、樹脂の接着
・硬化等を行うための光出力発生装置に関するものであ
る。
集めてロウ付け、ハンダ付け、樹脂の剥離、樹脂の接着
・硬化等を行うための光出力発生装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】光源の光を利用して被加工物を加工する
方法として、アーク放電を利用したキセノン・ランプ、
水銀ランプを用いる方法があった。
方法として、アーク放電を利用したキセノン・ランプ、
水銀ランプを用いる方法があった。
【0003】キセノン・ランプは直流電源出力を陽極に
プラス、陰極にマイナスを印加して定電流アーク放電を
させ、発光させていた。
プラス、陰極にマイナスを印加して定電流アーク放電を
させ、発光させていた。
【0004】ところで、キセノン・ランプ等では一定の
電流を流していても、時間の経過とともに光出力が低下
し、さらに光出力のバラツキも大きくなり、同じ被加工
物の加工を最後まで同じ条件で加工できなかった。
電流を流していても、時間の経過とともに光出力が低下
し、さらに光出力のバラツキも大きくなり、同じ被加工
物の加工を最後まで同じ条件で加工できなかった。
【0005】図11は、光出力の経時変化を示した図で
ある。図11において、横軸に時間Tを、縦軸に光出力
Wを示している。WFは光源が新品時の光出力、WGは
Tn時間経過後の光出力であり、ワットの単位で示して
いる。実験では700〜1200時間後にWGはWFの
8割程度に低下する。つまり、光源がWF出力を発生す
る時に、被加工物の加工条件を決めても、Tn 時間後に
はWGの出力となって2割も不足する。この原因は、キ
セノン・ランプでは陰極が痩せ細り、かつ電子の陰極か
らの放出が困難になるためである。
ある。図11において、横軸に時間Tを、縦軸に光出力
Wを示している。WFは光源が新品時の光出力、WGは
Tn時間経過後の光出力であり、ワットの単位で示して
いる。実験では700〜1200時間後にWGはWFの
8割程度に低下する。つまり、光源がWF出力を発生す
る時に、被加工物の加工条件を決めても、Tn 時間後に
はWGの出力となって2割も不足する。この原因は、キ
セノン・ランプでは陰極が痩せ細り、かつ電子の陰極か
らの放出が困難になるためである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記説明から明らかな
ように従来の光出力発生装置においては次のような問題
が存在している。
ように従来の光出力発生装置においては次のような問題
が存在している。
【0007】(1) 長時間使用した光源の光出力WGは、
新品時の光出力の8割である。そのため、被加工物の加
工条件を時間とともに変化させねばならず、加工条件の
設定に時間と熟練を必要とする。
新品時の光出力の8割である。そのため、被加工物の加
工条件を時間とともに変化させねばならず、加工条件の
設定に時間と熟練を必要とする。
【0008】(2) 被加工物の加工条件が時間とともに変
化するため、大量生産に不向きである。
化するため、大量生産に不向きである。
【0009】(3) 又、アーク放電では熱電子放出が不安
定なため、点灯直後(約10分間)の光量変動が大き
く、さらに光源が古くなると光量の変動が大きくなり、
信頼性の高い加工を安定して行えないという問題があ
る。
定なため、点灯直後(約10分間)の光量変動が大き
く、さらに光源が古くなると光量の変動が大きくなり、
信頼性の高い加工を安定して行えないという問題があ
る。
【0010】本発明は、上記従来の問題に鑑み、加工時
の光源からの光出力を常に一定にすることができる光出
力発生装置を提供することを目的とする。
の光源からの光出力を常に一定にすることができる光出
力発生装置を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の光出力発生装置は、アーク放電を用いた光源
と、前記光源の点灯手段と、前記光源に電力を供給する
制御電源と、前記光源からの光を第1焦点に集光する反
射鏡とを備えた光出力発生装置において、前記点灯手段
により前記光源を点灯操作した後前記光源が点灯若しく
は安定な光出力を発生するまでの点灯期間と以降の期間
を区別してシーケンス制御を行う第1シーケンス制御手
段を設け、前記点灯期間内において予め設定された光源
電流になるように制御電源に指令する電気出力指令手段
を設け、前記点灯期間以降の期間の全部又は一部の期間
において予め設定された光出力が発生するように制御電
源に指令する光出力指令手段を設けたものである。
に本発明の光出力発生装置は、アーク放電を用いた光源
と、前記光源の点灯手段と、前記光源に電力を供給する
制御電源と、前記光源からの光を第1焦点に集光する反
射鏡とを備えた光出力発生装置において、前記点灯手段
により前記光源を点灯操作した後前記光源が点灯若しく
は安定な光出力を発生するまでの点灯期間と以降の期間
を区別してシーケンス制御を行う第1シーケンス制御手
段を設け、前記点灯期間内において予め設定された光源
電流になるように制御電源に指令する電気出力指令手段
を設け、前記点灯期間以降の期間の全部又は一部の期間
において予め設定された光出力が発生するように制御電
源に指令する光出力指令手段を設けたものである。
【0012】また、本発明の第2の光出力発生装置は、
アーク放電を用いた光源と、前記光源の点灯手段と、前
記光源に電力を供給する制御電源と、前記光源からの光
を第1焦点に集光する反射鏡とを備えた光出力発生装置
において、前記制御電源は、電気出力指令手段の出力値
と前記光源に流れる電流を検出する電気出力検出手段の
出力値の差を増幅する誤差増幅器と、誤差増幅器の出力
により導通時間と非導通時間の幅が設定される電力制御
手段とを備え、前記電気出力指令手段に、前記光源から
の光出力を検出する光出力検出手段と、既知の光源電流
と前記光源からの光出力の関係を記憶する第1メモリ手
段と、前記光源が経時変化したときの光源電流と前記光
源からの光出力の関係を記憶する第2メモリ手段と、前
記第1、第2メモリ手段のデータから経時変化した前記
光源に対応して指令値を補正演算する演算手段とを設け
たものである。
アーク放電を用いた光源と、前記光源の点灯手段と、前
記光源に電力を供給する制御電源と、前記光源からの光
を第1焦点に集光する反射鏡とを備えた光出力発生装置
において、前記制御電源は、電気出力指令手段の出力値
と前記光源に流れる電流を検出する電気出力検出手段の
出力値の差を増幅する誤差増幅器と、誤差増幅器の出力
により導通時間と非導通時間の幅が設定される電力制御
手段とを備え、前記電気出力指令手段に、前記光源から
の光出力を検出する光出力検出手段と、既知の光源電流
と前記光源からの光出力の関係を記憶する第1メモリ手
段と、前記光源が経時変化したときの光源電流と前記光
源からの光出力の関係を記憶する第2メモリ手段と、前
記第1、第2メモリ手段のデータから経時変化した前記
光源に対応して指令値を補正演算する演算手段とを設け
たものである。
【0013】また、本発明の第3の光出力発生装置は、
アーク放電を用いた光源と、前記光源の点灯手段と、前
記光源に電力を供給する制御電源と、前記光源からの光
を第1焦点に集光する反射鏡とを備えた光出力発生装置
において、前記制御電源は、前記光源からの光出力を検
出する光出力検出手段と、検出した光出力を表示する光
出力表示手段と、電気出力指令手段と、電気出力指令手
段の出力値と前記光源に流れる電流を検出する電気検出
手段の出力値の差を増幅する誤差増幅器と、前記誤差増
幅器の出力により導通時間と非導通時間の幅が設定され
る電力制御手段とを備えたものである。
アーク放電を用いた光源と、前記光源の点灯手段と、前
記光源に電力を供給する制御電源と、前記光源からの光
を第1焦点に集光する反射鏡とを備えた光出力発生装置
において、前記制御電源は、前記光源からの光出力を検
出する光出力検出手段と、検出した光出力を表示する光
出力表示手段と、電気出力指令手段と、電気出力指令手
段の出力値と前記光源に流れる電流を検出する電気検出
手段の出力値の差を増幅する誤差増幅器と、前記誤差増
幅器の出力により導通時間と非導通時間の幅が設定され
る電力制御手段とを備えたものである。
【0014】
【発明の実施の形態】これらの本発明の光出力発生装置
によれば、経時変化する光源からの光を被加工物の加工
に使用しても、光出力を一定化するようにしているた
め、被加工物の加工品質を一定に保つことができる。
によれば、経時変化する光源からの光を被加工物の加工
に使用しても、光出力を一定化するようにしているた
め、被加工物の加工品質を一定に保つことができる。
【0015】以下、本発明の一実施の形態の光出力発生
装置を図1〜図6を参照しながら説明する。
装置を図1〜図6を参照しながら説明する。
【0016】まず、光源の制御電源の全体構成を図2に
より説明する。1はAC電源の整流器である。2は電力
制御手段であり、チョークコイル3、コンデンサ4、
5、インバータ用1次コイル6、トランジスタ7、8に
て構成されている。B1、B2はトランジスタ7、8の
ベース端子、E1、E2は同エミッタ端子である。
より説明する。1はAC電源の整流器である。2は電力
制御手段であり、チョークコイル3、コンデンサ4、
5、インバータ用1次コイル6、トランジスタ7、8に
て構成されている。B1、B2はトランジスタ7、8の
ベース端子、E1、E2は同エミッタ端子である。
【0017】9はインバータ用2次コイル、その出力は
整流器10、11にて整流される。12は直流リアクト
ル、13はコンデンサであり、2次出力側のリップルを
除去する。14はシャント、カレント・トランスフォー
マ等の電流検出器である。又、15は高周波カップリン
グコイル、16は点灯手段、17は点灯用起動スイッチ
である。18はキセノン・ランプ、水銀ランプ等の光源
であり、−極性が印加される陰極42と+極性が印加さ
れる陽極43を備えている。
整流器10、11にて整流される。12は直流リアクト
ル、13はコンデンサであり、2次出力側のリップルを
除去する。14はシャント、カレント・トランスフォー
マ等の電流検出器である。又、15は高周波カップリン
グコイル、16は点灯手段、17は点灯用起動スイッチ
である。18はキセノン・ランプ、水銀ランプ等の光源
であり、−極性が印加される陰極42と+極性が印加さ
れる陽極43を備えている。
【0018】P1は電流検出器14の出力、P2は点灯
手段16の出力を示す。次に、光出力発生装置の制御電
源以外の全体構成を図3により説明する。19は、光源
18の冷却ファン、19aはそのファンモータである。
20は楕円反射鏡であり、その一方の焦点F0に光源1
8の陰極42が配置され、この光源18から出た光Lは
矢印の如く光の経路(光伝送経路)を通って他方の焦点
F1に集光される。この焦点(第1焦点)F1の近傍に
被加工物100が置かれるか、光ファイバ21の入口端
101が配置される。60は光ファイバ21の出口端で
あり、その近傍に集光レンズ22が配設され、その焦点
(第2焦点)F2に被加工物100が置かれる。
手段16の出力を示す。次に、光出力発生装置の制御電
源以外の全体構成を図3により説明する。19は、光源
18の冷却ファン、19aはそのファンモータである。
20は楕円反射鏡であり、その一方の焦点F0に光源1
8の陰極42が配置され、この光源18から出た光Lは
矢印の如く光の経路(光伝送経路)を通って他方の焦点
F1に集光される。この焦点(第1焦点)F1の近傍に
被加工物100が置かれるか、光ファイバ21の入口端
101が配置される。60は光ファイバ21の出口端で
あり、その近傍に集光レンズ22が配設され、その焦点
(第2焦点)F2に被加工物100が置かれる。
【0019】24は光出力を検出する光検出器であり、
P3はその出力を示す。この光検出器24としては、ホ
ト・トランジスタ、ホト・ダイオード等のPN接合型光
検出器(PN接合の両側に光で励起された電荷が発生
し、アノードとカソードに接続された外部負荷を通って
電流が流れる素子)、赤外線検出用の焦電センサ(タン
タル酸リチウム結晶)、また光導電型(光強度に応じて
電気抵抗が変わる光センサ)のCdセル、PbSセル、
また光電子放出型の光電管、及び熱電対(ペルチェ効果
による熱起電力発生器)等が用いられる。
P3はその出力を示す。この光検出器24としては、ホ
ト・トランジスタ、ホト・ダイオード等のPN接合型光
検出器(PN接合の両側に光で励起された電荷が発生
し、アノードとカソードに接続された外部負荷を通って
電流が流れる素子)、赤外線検出用の焦電センサ(タン
タル酸リチウム結晶)、また光導電型(光強度に応じて
電気抵抗が変わる光センサ)のCdセル、PbSセル、
また光電子放出型の光電管、及び熱電対(ペルチェ効果
による熱起電力発生器)等が用いられる。
【0020】この光検出器24は、図3に実線で示すよ
うに、反射鏡20からの光を直接検出するか、光ファイ
バ21からの漏れ光(光ファイバの開口角又は開口数以
上で入射した光等)を検出するように配置すればよい。
又、光ファイバ21の出力端60や集光レンズ22より
の光を検出するように配置してもよい。また、熱電対を
用いる場合は被加工物100に接触させて配置し、赤外
線輻射温度計を用いる場合は破線で示すように被加工物
100に対向配置すればよい。さらに、金属体に熱電対
を取付けた検出器で光出力を検出するようにしてもよ
い。
うに、反射鏡20からの光を直接検出するか、光ファイ
バ21からの漏れ光(光ファイバの開口角又は開口数以
上で入射した光等)を検出するように配置すればよい。
又、光ファイバ21の出力端60や集光レンズ22より
の光を検出するように配置してもよい。また、熱電対を
用いる場合は被加工物100に接触させて配置し、赤外
線輻射温度計を用いる場合は破線で示すように被加工物
100に対向配置すればよい。さらに、金属体に熱電対
を取付けた検出器で光出力を検出するようにしてもよ
い。
【0021】さらに、図5に示すように、光検出器24
を移動手段110に搭載し、間歇的に光Lの伝送路、第
1焦点F1、第2焦点F2の近傍や、光ファイバ21の
出口端60と集光レンズ22の間に移動させるように
し、その光検出器24の出力信号を増幅器25で増幅
し、メモリ手段111で記憶するようにし、その出力X
4をフィードバック端子に入力するようにすることもで
きる。メモリ手段111に記憶後は、光検出器24は光
Lの伝送路を邪魔しない方向に移動し、次のサイクルに
再度光検出器24にて検出するまでメモリ値が記憶継続
され、次の光検出でメモリ値を更新する。この場合、光
出力の計測動作は図6の加工指示信号が入力されていな
い時に行われる。又、メモリ手段111を多数設置する
ことにより、多数の加工時光出力を記憶できる。又、作
業原点に光検出器24を設置し、間歇的に光ファイバ2
1をこの光検出器24の近傍に移動し、メモリ手段11
1に光出力を記憶することも可能である。
を移動手段110に搭載し、間歇的に光Lの伝送路、第
1焦点F1、第2焦点F2の近傍や、光ファイバ21の
出口端60と集光レンズ22の間に移動させるように
し、その光検出器24の出力信号を増幅器25で増幅
し、メモリ手段111で記憶するようにし、その出力X
4をフィードバック端子に入力するようにすることもで
きる。メモリ手段111に記憶後は、光検出器24は光
Lの伝送路を邪魔しない方向に移動し、次のサイクルに
再度光検出器24にて検出するまでメモリ値が記憶継続
され、次の光検出でメモリ値を更新する。この場合、光
出力の計測動作は図6の加工指示信号が入力されていな
い時に行われる。又、メモリ手段111を多数設置する
ことにより、多数の加工時光出力を記憶できる。又、作
業原点に光検出器24を設置し、間歇的に光ファイバ2
1をこの光検出器24の近傍に移動し、メモリ手段11
1に光出力を記憶することも可能である。
【0022】図2の構成において、電力制御手段2はハ
ーフ・ブリッジ式インバータ回路にて構成されており、
トランジスタ7、8の導通時間と非導通時間を周期的に
決め、出力を制御している。即ち、整流器1で交流を整
流し、チョークコイル3、コンデンサ4、5でリップル
を除去し、トランジスタ7、8を決まった周期で交互に
オン・オフし、インバータ用1次コイル6からインバー
タ用2次コイル9に電力を伝える。これを整流器10、
11で整流し、直流リアクトル12とコンデンサ13で
リップルを除去し、光源18に印加する。
ーフ・ブリッジ式インバータ回路にて構成されており、
トランジスタ7、8の導通時間と非導通時間を周期的に
決め、出力を制御している。即ち、整流器1で交流を整
流し、チョークコイル3、コンデンサ4、5でリップル
を除去し、トランジスタ7、8を決まった周期で交互に
オン・オフし、インバータ用1次コイル6からインバー
タ用2次コイル9に電力を伝える。これを整流器10、
11で整流し、直流リアクトル12とコンデンサ13で
リップルを除去し、光源18に印加する。
【0023】なお、光源18の起動時は、陰極42、陽
極43間で放電させるトリガとして高周波カップリング
コイル15より3000〜20000Vの電圧を印加
し、光源18を点灯させる。陰極42、陽極43間に電
流が流れれば高周波カップリングコイル15からの高電
圧印加を停止する。即ち、トランジスタ7、8を駆動さ
せるとともに点灯用起動スイッチ17をオンし、点灯手
段16により高電圧を発生させ、高周波カップリングコ
イル15に出力することにより、光源18が点灯し、点
灯後点灯手段16の動作が停止する。この切換えは後述
の図1の第1シーケンス制御手段30にて行われる。
極43間で放電させるトリガとして高周波カップリング
コイル15より3000〜20000Vの電圧を印加
し、光源18を点灯させる。陰極42、陽極43間に電
流が流れれば高周波カップリングコイル15からの高電
圧印加を停止する。即ち、トランジスタ7、8を駆動さ
せるとともに点灯用起動スイッチ17をオンし、点灯手
段16により高電圧を発生させ、高周波カップリングコ
イル15に出力することにより、光源18が点灯し、点
灯後点灯手段16の動作が停止する。この切換えは後述
の図1の第1シーケンス制御手段30にて行われる。
【0024】図2ではアーク放電する場合の回路を示し
たが、アーク放電ランプでは電流をフィードバック源と
する制御を行い定電流制御するのが適当であるが、厳密
に定電流でなくともよい。
たが、アーク放電ランプでは電流をフィードバック源と
する制御を行い定電流制御するのが適当であるが、厳密
に定電流でなくともよい。
【0025】電流検出器14で検出した信号は、図1に
示すように増幅器29で増幅して次段に伝える。この電
流検出器14と増幅器29にて電気出力検出手段40を
構成している。又、光検出器24で検出した信号も、図
1に示すように増幅器25で増幅して次段に伝える。こ
の光検出器24と増幅器25にて光出力検出手段26を
構成している。
示すように増幅器29で増幅して次段に伝える。この電
流検出器14と増幅器29にて電気出力検出手段40を
構成している。又、光検出器24で検出した信号も、図
1に示すように増幅器25で増幅して次段に伝える。こ
の光検出器24と増幅器25にて光出力検出手段26を
構成している。
【0026】又、図2はインバータ方式の制御電源を例
示したが、サイリスタ制御方式、漏洩トランス方式(定
電流方式)、定電圧トランス方式、チッッパー方式の制
御方式を採用することもできる。
示したが、サイリスタ制御方式、漏洩トランス方式(定
電流方式)、定電圧トランス方式、チッッパー方式の制
御方式を採用することもできる。
【0027】次に、図1により図2の制御電源の制御回
路について説明する。31は電気出力指令手段で、予め
指定した電流、電圧が出力されるように指令するもので
あり、ボリュームの両端に電圧を印加し、センター電圧
を出力するように構成され、アナログ式、デジタル式の
いずれでもよい。又、23は電気出力検出手段40によ
る検出値を表示する電気出力表示手段である。
路について説明する。31は電気出力指令手段で、予め
指定した電流、電圧が出力されるように指令するもので
あり、ボリュームの両端に電圧を印加し、センター電圧
を出力するように構成され、アナログ式、デジタル式の
いずれでもよい。又、23は電気出力検出手段40によ
る検出値を表示する電気出力表示手段である。
【0028】32は第1誤差増幅器であり、オペアンプ
33を中心にして構成されている。オペアンプ33にお
ける+印は非反転、−印は反転入力端を示す。又、R
1、R2、R3、R4、R5は抵抗、55はプラス電
源、Eはアース、X1は電気出力検出手段40からの入
力、X2は電気出力指令手段31からの入力で、X1は
+極性、X2は−極性である。X3はオペアンプ33の
出力端である。
33を中心にして構成されている。オペアンプ33にお
ける+印は非反転、−印は反転入力端を示す。又、R
1、R2、R3、R4、R5は抵抗、55はプラス電
源、Eはアース、X1は電気出力検出手段40からの入
力、X2は電気出力指令手段31からの入力で、X1は
+極性、X2は−極性である。X3はオペアンプ33の
出力端である。
【0029】X1、X2、X3の電圧値をVX1、VX
2、VX3とし、A=R5/R3、B=R5/R2とす
れば、VX3=−A*VX2−B*VX1(*は積を示
す)となり、電気出力(電流、電圧)VX1が増大すれ
ばVX3は減少する。指令電圧VX2が増大すればVX
2がマイナス方向に増大するためVX3は増大する。よ
って、X1、X2の誤差がオペアンプ33で増幅されて
X3に出力される。
2、VX3とし、A=R5/R3、B=R5/R2とす
れば、VX3=−A*VX2−B*VX1(*は積を示
す)となり、電気出力(電流、電圧)VX1が増大すれ
ばVX3は減少する。指令電圧VX2が増大すればVX
2がマイナス方向に増大するためVX3は増大する。よ
って、X1、X2の誤差がオペアンプ33で増幅されて
X3に出力される。
【0030】S1、S2は切換スイッチであり、S1が
オンのときはS2はオフ、又はその逆となるように連動
されている。X7はこの切換スイッチS1、S2からの
出力である。又、34は基準器、35は比較器であり、
これらによって出力幅制御手段36が構成されている。
X8は基準器34の出力、X9(X10)は出力幅制御
手段36の出力である。37はドライバであり、B1、
E1、B2、E2は図2のトランジスタ7、8への制御
入力である。
オンのときはS2はオフ、又はその逆となるように連動
されている。X7はこの切換スイッチS1、S2からの
出力である。又、34は基準器、35は比較器であり、
これらによって出力幅制御手段36が構成されている。
X8は基準器34の出力、X9(X10)は出力幅制御
手段36の出力である。37はドライバであり、B1、
E1、B2、E2は図2のトランジスタ7、8への制御
入力である。
【0031】図4において、45、46は出力幅制御手
段36の動作を説明する制御信号図であり、第1誤差増
幅器32の出力X3又は第2誤差増幅器28の出力X6
からなる入力X7に応じた幅の出力X9、X10が出力
される。即ち、X8は基準器34から出力された周期一
定の三角波信号であり、X7は第1又は第2誤差増幅器
32、28の出力で、時間が進むとともに減少する場合
を表示してあり、それぞれ信号図45に示してある。X
7>X8なら信号図46にX9、X10の信号が発生す
る。X7が時間とともに減少する場合には、X9信号幅
>X10信号幅となる。つまり、この場合VX1が増大
したのに伴ってVX2に漸次接近するように出力幅制御
手段36の出力幅が減少して行く例を示している。その
後、ドライバ37により、X9信号はB1、E1信号
に、X10信号はB2、E2に交互に変換され、トラン
ジスタ7、8が駆動される。
段36の動作を説明する制御信号図であり、第1誤差増
幅器32の出力X3又は第2誤差増幅器28の出力X6
からなる入力X7に応じた幅の出力X9、X10が出力
される。即ち、X8は基準器34から出力された周期一
定の三角波信号であり、X7は第1又は第2誤差増幅器
32、28の出力で、時間が進むとともに減少する場合
を表示してあり、それぞれ信号図45に示してある。X
7>X8なら信号図46にX9、X10の信号が発生す
る。X7が時間とともに減少する場合には、X9信号幅
>X10信号幅となる。つまり、この場合VX1が増大
したのに伴ってVX2に漸次接近するように出力幅制御
手段36の出力幅が減少して行く例を示している。その
後、ドライバ37により、X9信号はB1、E1信号
に、X10信号はB2、E2に交互に変換され、トラン
ジスタ7、8が駆動される。
【0032】図1に戻って、27は光出力指令手段であ
り、電気出力指令手段31と同様の構成である。また、
39は光出力検出手段26にて検出した光出力を表示す
る光出力表示手段である。28は第2誤差増幅器であ
り、第1誤差増幅器32と同様の構成であり、共通で使
用するようにしてもよい。X4は光出力検出手段26か
らの入力、X5は光出力指令手段27からの入力、X6
は第2誤差増幅器28の出力で切換スイッチS2を介し
てX7として出力幅制御手段36に入力されている。
り、電気出力指令手段31と同様の構成である。また、
39は光出力検出手段26にて検出した光出力を表示す
る光出力表示手段である。28は第2誤差増幅器であ
り、第1誤差増幅器32と同様の構成であり、共通で使
用するようにしてもよい。X4は光出力検出手段26か
らの入力、X5は光出力指令手段27からの入力、X6
は第2誤差増幅器28の出力で切換スイッチS2を介し
てX7として出力幅制御手段36に入力されている。
【0033】30は第1シーケンス制御手段であり、切
換スイッチS1、S2の切り換え制御を行う。41は第
2シーケンス制御手段であり、加工指示スイッチ44の
オンにより電気出力指令手段31又は光出力指令手段2
7の指令電圧を変えることにより被加工物を加工できる
光出力に変える。38は上限値設定手段であり、その設
定値よりも電気出力検出手段40の出力が大なら、比較
器35の出力を停止させる信号を出力する。
換スイッチS1、S2の切り換え制御を行う。41は第
2シーケンス制御手段であり、加工指示スイッチ44の
オンにより電気出力指令手段31又は光出力指令手段2
7の指令電圧を変えることにより被加工物を加工できる
光出力に変える。38は上限値設定手段であり、その設
定値よりも電気出力検出手段40の出力が大なら、比較
器35の出力を停止させる信号を出力する。
【0034】次に、図6を参照して各種信号と光源電流
や光出力の関係を説明する。(a) は点灯信号で、点灯用
起動スイッチ17をオンしたときの点灯手段16内にお
けるT0〜T7間の信号である。(b) は加工指示信号
で、加工指示スイッチ44をオンしたときのT3〜T4
間及びT5〜T6間の信号である。なお、T0〜T7間
における加工指示信号のある加工指示区間以外の、加工
指示信号がローレベルの区間を準備点灯区間と呼ぶ。
(c) は光源18に流れる電流、即ち電気出力検出手段4
0の出力である。(d) は電流が所定レベル以上流れた区
間を示す電流区間信号である。(e) は光出力である。
や光出力の関係を説明する。(a) は点灯信号で、点灯用
起動スイッチ17をオンしたときの点灯手段16内にお
けるT0〜T7間の信号である。(b) は加工指示信号
で、加工指示スイッチ44をオンしたときのT3〜T4
間及びT5〜T6間の信号である。なお、T0〜T7間
における加工指示信号のある加工指示区間以外の、加工
指示信号がローレベルの区間を準備点灯区間と呼ぶ。
(c) は光源18に流れる電流、即ち電気出力検出手段4
0の出力である。(d) は電流が所定レベル以上流れた区
間を示す電流区間信号である。(e) は光出力である。
【0035】図6において、横軸は時間を示し、T0、
T1〜T7、T8は任意時間を示す。IA、IB、IC
は電流、WA、WB、WC、WD、WEは光出力であ
る。図6においては、(b) の加工指示信号があるときの
み、光一定制御を行った例を示してあり、WB、WDの
光出力は光源18の経時変化等にかかわらず一定であ
る。一方、(e) に示すようにT0〜T2間の光出力は不
安定である。また、IB、ICはWB、WDに、IAは
WA、WC、WEに対応しており、IAはアイドリング
又はスタンバイ区間であり、光出力は一定でない。
T1〜T7、T8は任意時間を示す。IA、IB、IC
は電流、WA、WB、WC、WD、WEは光出力であ
る。図6においては、(b) の加工指示信号があるときの
み、光一定制御を行った例を示してあり、WB、WDの
光出力は光源18の経時変化等にかかわらず一定であ
る。一方、(e) に示すようにT0〜T2間の光出力は不
安定である。また、IB、ICはWB、WDに、IAは
WA、WC、WEに対応しており、IAはアイドリング
又はスタンバイ区間であり、光出力は一定でない。
【0036】次に、各種制御動作を説明する。 (1) 第1シーケンス制御手段30が、電気出力検出手段
40の出力信号により図6の(d) の電流区間信号(T1
〜T7間の信号)を作り、この電流区間信号が有る時は
切換スイッチS1をオフ、S2をオンにして光出力検出
手段26からの出力信号により光出力のフィードバック
制御を行い、この信号が無い時(T0〜T1間)は切換
スイッチS1をオン、S2をオフにして電気出力検出手
段40からの出力信号により電気出力のフィードバック
制御を行う。
40の出力信号により図6の(d) の電流区間信号(T1
〜T7間の信号)を作り、この電流区間信号が有る時は
切換スイッチS1をオフ、S2をオンにして光出力検出
手段26からの出力信号により光出力のフィードバック
制御を行い、この信号が無い時(T0〜T1間)は切換
スイッチS1をオン、S2をオフにして電気出力検出手
段40からの出力信号により電気出力のフィードバック
制御を行う。
【0037】(2) 加工指示スイッチ44がオンされた
時、第2シーケンス制御手段41から第1シーケンス制
御手段30に図6の(b) の加工指示信号が出力され、加
工指示スイッチ44がオンの時のみ切換スイッチS2を
オン、S1をオフにして光出力のフィードバック制御を
行う。
時、第2シーケンス制御手段41から第1シーケンス制
御手段30に図6の(b) の加工指示信号が出力され、加
工指示スイッチ44がオンの時のみ切換スイッチS2を
オン、S1をオフにして光出力のフィードバック制御を
行う。
【0038】(3) 図1の制御回路から第2誤差増幅器2
8、切換スイッチS2、第2シーケンス制御手段41、
加工指示スイッチ44を除いた回路で、作業者が光出力
表示手段39を見ながら電気出力指令手段31を設定す
る制御も行える。
8、切換スイッチS2、第2シーケンス制御手段41、
加工指示スイッチ44を除いた回路で、作業者が光出力
表示手段39を見ながら電気出力指令手段31を設定す
る制御も行える。
【0039】(4) 図3に破線で示すように、ファン制御
手段61を設け、第2誤差増幅器28の出力X6により
このファン制御手段61を制御し、光出力が指令より低
下すればファン19を停止又は減速し、逆ならファン1
9を回転又は増速させる。即ち、このような制御によっ
て陰極42の熱電子放出を陰極42の温度制御で制御
し、光出力を制御する。
手段61を設け、第2誤差増幅器28の出力X6により
このファン制御手段61を制御し、光出力が指令より低
下すればファン19を停止又は減速し、逆ならファン1
9を回転又は増速させる。即ち、このような制御によっ
て陰極42の熱電子放出を陰極42の温度制御で制御
し、光出力を制御する。
【0040】(5) 図2に破線で示すように、陰極42の
ランプ管外側にヒータ62を取付けるとともにヒータ制
御手段63を設け、第2誤差増幅器28の出力X6によ
りこのヒータ制御手段63を制御し、(4) と同様に光出
力を制御する。なお、光出力は陰極温度が高い程おおき
い。その理由は陰極がさらに冷陰極から熱陰極になり、
陰極から電子が発生し易くなるためである。
ランプ管外側にヒータ62を取付けるとともにヒータ制
御手段63を設け、第2誤差増幅器28の出力X6によ
りこのヒータ制御手段63を制御し、(4) と同様に光出
力を制御する。なお、光出力は陰極温度が高い程おおき
い。その理由は陰極がさらに冷陰極から熱陰極になり、
陰極から電子が発生し易くなるためである。
【0041】次に、図7、図8を参照して本発明の別の
実施例を説明する。図7において、M1は第1メモリ手
段、M2は第2メモリ手段、C1は第1演算手段、C2
は第2演算手段、M3は第3メモリ手段、C3は第3演
算手段、M4は第4メモリ手段である。56は比較手段
である。電気出力指令手段31、電気出力検出手段4
0、光出力検出手段26、第1誤差増幅器32、出力幅
制御手段36、ドライバ37は上記実施例と同一であ
る。また、A/Dはアナログ−デジタル変換器、D/A
はデジタル−アナログ変換器を示す。
実施例を説明する。図7において、M1は第1メモリ手
段、M2は第2メモリ手段、C1は第1演算手段、C2
は第2演算手段、M3は第3メモリ手段、C3は第3演
算手段、M4は第4メモリ手段である。56は比較手段
である。電気出力指令手段31、電気出力検出手段4
0、光出力検出手段26、第1誤差増幅器32、出力幅
制御手段36、ドライバ37は上記実施例と同一であ
る。また、A/Dはアナログ−デジタル変換器、D/A
はデジタル−アナログ変換器を示す。
【0042】図8において、横軸は電流I、縦軸は光出
力Wを示す。aは光源18の初期特性の関数a:W=N
*(I−IP)を示し、bは光源18が経時変化したと
きの特性の関数b:W=J*(I−IP)を示す。N、
Jは関数a、bの比例定数、IPはWが0のときの電流
値である。W0はI0時のa上の光出力、W01はI0
時のb上の光出力、又b上ではI01の時W0の光出力
を発生する。この時、N=W0/(I0−IP)、J=
W01/(I0−IP)である。W0、I0、IPは既
知であり、W01は未知である。
力Wを示す。aは光源18の初期特性の関数a:W=N
*(I−IP)を示し、bは光源18が経時変化したと
きの特性の関数b:W=J*(I−IP)を示す。N、
Jは関数a、bの比例定数、IPはWが0のときの電流
値である。W0はI0時のa上の光出力、W01はI0
時のb上の光出力、又b上ではI01の時W0の光出力
を発生する。この時、N=W0/(I0−IP)、J=
W01/(I0−IP)である。W0、I0、IPは既
知であり、W01は未知である。
【0043】尚、関数a、bにおいて上記においてはI
Pは同一としたが、必ずしも同一ではなく、その場合に
は増加した未知数だけ光検出と演算回数を増やせばよ
い。IMは許容上限電流、ILは光源発光下限電流値で
ある。
Pは同一としたが、必ずしも同一ではなく、その場合に
は増加した未知数だけ光検出と演算回数を増やせばよ
い。IMは許容上限電流、ILは光源発光下限電流値で
ある。
【0044】関数aは第1メモリ手段M1に記憶され、
関数bは第2メモリ手段M2に記憶される。
関数bは第2メモリ手段M2に記憶される。
【0045】今、光源18の使用開始後の任意時間後に
I0で光出力を測定するとW01であったとする。ここ
で、第2メモリ手段M2の未知数を持つ関数bを第1演
算手段C1に入力し、かつ光出力検出手段26で検出さ
れた光出力W01を第1演算手段C1に入力し、さらに
電気出力指令手段31で指令されたI0を第1演算手段
C1に入力し、I0、W01を関数bに代入演算すれ
ば、Jが既知の値となり、関数bは既知関数となる。
I0で光出力を測定するとW01であったとする。ここ
で、第2メモリ手段M2の未知数を持つ関数bを第1演
算手段C1に入力し、かつ光出力検出手段26で検出さ
れた光出力W01を第1演算手段C1に入力し、さらに
電気出力指令手段31で指令されたI0を第1演算手段
C1に入力し、I0、W01を関数bに代入演算すれ
ば、Jが既知の値となり、関数bは既知関数となる。
【0046】次に、この既知関数bを第2演算手段C2
に入力し、かつ第1メモリ手段M1より電流I0の時の
出力W0を入力し、既知関数b上のW0出力時の電流I
01を求める。このI01は、I01=(W0/W0
1)*(I0−IP)+IPとなる。そして、K=I0
1/I0を演算し、第3メモリ手段M3に入力する。こ
のKは、K=(1/I0)*((W0/W01)*(I
0−IP)+IP)で与えられる。このKを第3メモリ
手段M3にメモリしておく。
に入力し、かつ第1メモリ手段M1より電流I0の時の
出力W0を入力し、既知関数b上のW0出力時の電流I
01を求める。このI01は、I01=(W0/W0
1)*(I0−IP)+IPとなる。そして、K=I0
1/I0を演算し、第3メモリ手段M3に入力する。こ
のKは、K=(1/I0)*((W0/W01)*(I
0−IP)+IP)で与えられる。このKを第3メモリ
手段M3にメモリしておく。
【0047】加工時において、電気出力指令手段31の
指令電流がIXであったと仮定し、経時変化した光源1
8(既知関数b)で標準出力を得るための実指令電流を
求めるため、第3演算手段C3にIXとKを入力し、I
X*Kを演算する。このIX*Kで光源18を駆動すれ
ば、新品時の光源と同一の光出力W0を経時変化した光
源でも発生する。
指令電流がIXであったと仮定し、経時変化した光源1
8(既知関数b)で標準出力を得るための実指令電流を
求めるため、第3演算手段C3にIXとKを入力し、I
X*Kを演算する。このIX*Kで光源18を駆動すれ
ば、新品時の光源と同一の光出力W0を経時変化した光
源でも発生する。
【0048】次に、この演算結果を比較手段56に入力
し、予め決められた最大電流IMをメモリした第4メモ
リ手段M4からの入力と比較し、IX*K>IMならI
Mを、それ以外はIX*Kを出力し、D/A変換器を介
して第1誤差増幅器32に指令入力端子に入力する。第
1誤差増幅器32のフィードバック端子には電気出力検
出手段40からの出力が入力され、図1と同様に制御さ
れる。
し、予め決められた最大電流IMをメモリした第4メモ
リ手段M4からの入力と比較し、IX*K>IMならI
Mを、それ以外はIX*Kを出力し、D/A変換器を介
して第1誤差増幅器32に指令入力端子に入力する。第
1誤差増幅器32のフィードバック端子には電気出力検
出手段40からの出力が入力され、図1と同様に制御さ
れる。
【0049】以上の演算処理は、図7に破線で示すよう
にマイクロコンピュータによりソフト的に実施してもよ
い。又、第4メモリ手段M4や比較手段56は削除して
もよい。
にマイクロコンピュータによりソフト的に実施してもよ
い。又、第4メモリ手段M4や比較手段56は削除して
もよい。
【0050】次に、光出力検出手段26の具体構成例を
図9により説明する。図9においてLは光であり、実線
で示す光Lは光ファイバ21の入口端101にファイバ
の開口角g以内の角度で入射する光であり、他の光57
は破線で示してある。47は光減衰用のフィルタ、48
はフォトダイオード等の光検出器であり、光検出器48
は他の光57をフィルタ47を介して検出するように配
置される。
図9により説明する。図9においてLは光であり、実線
で示す光Lは光ファイバ21の入口端101にファイバ
の開口角g以内の角度で入射する光であり、他の光57
は破線で示してある。47は光減衰用のフィルタ、48
はフォトダイオード等の光検出器であり、光検出器48
は他の光57をフィルタ47を介して検出するように配
置される。
【0051】又、51は光ファイバ21のクラッド材、
52はコア材で、クラッド材51の屈折率(例、1.4
2)はコア材52の屈折率(例、1.46)より小であ
る。54は開口角g内で入射し、クラッド材51で全反
射しながら伝播する光、53は開口角gより大きい角度
hで入射してコア材52から漏れる光である。
52はコア材で、クラッド材51の屈折率(例、1.4
2)はコア材52の屈折率(例、1.46)より小であ
る。54は開口角g内で入射し、クラッド材51で全反
射しながら伝播する光、53は開口角gより大きい角度
hで入射してコア材52から漏れる光である。
【0052】49は光ファイバ21の入口端101近傍
の側部に配置して漏れ光を検出するようにしたフォトダ
イオード等の光検出器、50は漏れ光を増加するためク
ラッド材51に設けた開口に臨むように配置した光検出
器である。
の側部に配置して漏れ光を検出するようにしたフォトダ
イオード等の光検出器、50は漏れ光を増加するためク
ラッド材51に設けた開口に臨むように配置した光検出
器である。
【0053】次に、光ファイバ21を多数本束ねて樹脂
で固めたバンドルファイバを用いた場合の光出力検出2
6の構成例を図10により説明する。図9の場合と同様
に入口端101の近傍側部に光検出器71を配置する
か、任意の1本の光ファイバを出口端60の近傍で側方
に屈曲させ、その先端に対向して光検出器72を配置す
るか、出口端60から出射した光を集光レンズ22で第
2焦点F2に焦点を結んで被加工物100を加工したし
た時の反射光を検出するように光検出器73を配置して
もよい。
で固めたバンドルファイバを用いた場合の光出力検出2
6の構成例を図10により説明する。図9の場合と同様
に入口端101の近傍側部に光検出器71を配置する
か、任意の1本の光ファイバを出口端60の近傍で側方
に屈曲させ、その先端に対向して光検出器72を配置す
るか、出口端60から出射した光を集光レンズ22で第
2焦点F2に焦点を結んで被加工物100を加工したし
た時の反射光を検出するように光検出器73を配置して
もよい。
【0054】これら光検出器48、49、50、71、
72、73のいずれかの配置構成が選択して実施され
る。尚、フォトダイオード用増幅器はFET(電界効果
トランジスタ)入力のオペアンプを用いるとよい。フォ
トダイオードの接合容量を減じ、高速応答させるため、
逆バイアス制御するとよい。
72、73のいずれかの配置構成が選択して実施され
る。尚、フォトダイオード用増幅器はFET(電界効果
トランジスタ)入力のオペアンプを用いるとよい。フォ
トダイオードの接合容量を減じ、高速応答させるため、
逆バイアス制御するとよい。
【0055】なお、本発明はレーザ加工器にも適用可能
である。
である。
【0056】
【発明の効果】本発明の光出力発生装置によれば、点灯
期間は電気出力指令手段にて電気出力が一定になるよう
に制御し、それ以降の必要時に光出力指令手段にて光出
力が一定になるように制御するので、経時変化する光源
からの光を被加工物の加工に使用しても、光出力を一定
にして品質の高い加工ができる。
期間は電気出力指令手段にて電気出力が一定になるよう
に制御し、それ以降の必要時に光出力指令手段にて光出
力が一定になるように制御するので、経時変化する光源
からの光を被加工物の加工に使用しても、光出力を一定
にして品質の高い加工ができる。
【0057】さらに、光源の経時変化による光出力の変
化を検出してメモリしておき、所定の光出力が得られる
ように演算した電気出力を光源に印加することによっ
て、光出力指令手段による制御構成を省略しながら光出
力を一定にでき、また光出力の検出回数を少なくでき、
光出力検出手段の寿命を長くできる。
化を検出してメモリしておき、所定の光出力が得られる
ように演算した電気出力を光源に印加することによっ
て、光出力指令手段による制御構成を省略しながら光出
力を一定にでき、また光出力の検出回数を少なくでき、
光出力検出手段の寿命を長くできる。
【0058】また、光源に対する供給電力の上限値を設
定してそれを超える電流が流れないようにすることによ
り、光源の長寿命化を図ることができる。
定してそれを超える電流が流れないようにすることによ
り、光源の長寿命化を図ることができる。
【図1】本発明の一実施の形態の光出力発生装置におけ
る電力制御手段の制御部の構成図
る電力制御手段の制御部の構成図
【図2】制御電源の構成図
【図3】全体構成図
【図4】出力幅制御手段の作用を説明する信号波形図
【図5】光出力検出手段の変形例の説明図
【図6】各種信号と光源電流と光出力の波形図
【図7】本発明の他の実施の形態における電力制御手段
の制御部の構成図
の制御部の構成図
【図8】経時変化した光源に対する電気出力の設定方法
を説明するための電流と光出力の関係を示すグラフ
を説明するための電流と光出力の関係を示すグラフ
【図9】光検出器の配置構成例を示す図
【図10】他の光検出器の配置構成例を示す図
【図11】光源の光出力の経時変化を示すグラフ
2 電力制御手段 16 点灯手段 18 光源 19 冷却ファン 20 反射鏡 21 光ファイバ 22 集光レンズ 23 電気出力表示手段 26 光出力検出手段 27 光出力指令手段 28 第2誤差増幅器 30 第1シーケンス制御手段 31 電気出力指令手段 32 第1誤差増幅器 36 出力幅制御手段 38 上限値設定手段 39 光出力表示手段 40 電気出力検出手段 41 第2シーケンス制御手段 56 比較手段 61 ファン制御手段 62 ヒータ 63 ヒータ制御手段 M1 第1メモリ手段 M2 第2メモリ手段 M3 第3メモリ手段 M4 第4メモリ手段 C1 第1演算手段 C2 第2演算手段 C3 第3演算手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H05B 41/29 H05B 41/29 A
Claims (3)
- 【請求項1】アーク放電を用いた光源と、前記光源の点
灯手段と、前記光源に電力を供給する制御電源と、前記
光源からの光を第1焦点に集光する反射鏡とを備えた光
出力発生装置において、前記点灯手段により前記光源を
点灯操作した後前記光源が点灯若しくは安定な光出力を
発生するまでの点灯期間と以降の期間を区別してシーケ
ンス制御を行う第1シーケンス制御手段を設け、前記点
灯期間内において予め設定された光源電流になるように
制御電源に指令する電気出力指令手段を設け、前記点灯
期間以降の期間の全部又は一部の期間において予め設定
された光出力が発生するように制御電源に指令する光出
力指令手段を設けたことを特徴とする光出力発生装置。 - 【請求項2】アーク放電を用いた光源と、前記光源の点
灯手段と、前記光源に電力を供給する制御電源と、前記
光源からの光を第1焦点に集光する反射鏡とを備えた光
出力発生装置において、前記制御電源は、電気出力指令
手段の出力値と前記光源に流れる電流を検出する電気出
力検出手段の出力値の差を増幅する誤差増幅器と、誤差
増幅器の出力により導通時間と非導通時間の幅が設定さ
れる電力制御手段とを備え、前記電気出力指令手段に、
前記光源からの光出力を検出する光出力検出手段と、既
知の光源電流と前記光源からの光出力の関係を記憶する
第1メモリ手段と、前記光源が経時変化したときの光源
電流と前記光源からの光出力の関係を記憶する第2メモ
リ手段と、前記第1、第2メモリ手段のデータから経時
変化した前記光源に対応して指令値を補正演算する演算
手段とを設けたことを特徴とする光出力発生装置。 - 【請求項3】アーク放電を用いた光源と、前記光源の点
灯手段と、前記光源に電力を供給する制御電源と、前記
光源からの光を第1焦点に集光する反射鏡とを備えた光
出力発生装置において、前記制御電源は、前記光源から
の光出力を検出する光出力検出手段と、検出した光出力
を表示する光出力表示手段と、電気出力指令手段と、電
気出力指令手段の出力値と前記光源に流れる電流を検出
する電気検出手段の出力値の差を増幅する誤差増幅器
と、前記誤差増幅器の出力により導通時間と非導通時間
の幅が設定される電力制御手段とを備えていることを特
徴とする光出力発生装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8210942A JPH0917577A (ja) | 1996-08-09 | 1996-08-09 | 光出力発生装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8210942A JPH0917577A (ja) | 1996-08-09 | 1996-08-09 | 光出力発生装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3005445A Division JP2745827B2 (ja) | 1991-01-22 | 1991-01-22 | 光出力発生装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0917577A true JPH0917577A (ja) | 1997-01-17 |
Family
ID=16597650
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8210942A Pending JPH0917577A (ja) | 1996-08-09 | 1996-08-09 | 光出力発生装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0917577A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007188800A (ja) * | 2006-01-16 | 2007-07-26 | Hitachi Ltd | 情報機器 |
| JP2012114009A (ja) * | 2010-11-26 | 2012-06-14 | Iwasaki Electric Co Ltd | 直流ランプ点灯装置 |
| WO2014049780A1 (ja) * | 2012-09-27 | 2014-04-03 | パイオニアデジタルデザインアンドマニュファクチャリング株式会社 | 加熱装置、はんだ付け装置、加熱方法、および、はんだ付け方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04237583A (ja) * | 1991-01-22 | 1992-08-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光出力発生装置 |
-
1996
- 1996-08-09 JP JP8210942A patent/JPH0917577A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04237583A (ja) * | 1991-01-22 | 1992-08-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光出力発生装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007188800A (ja) * | 2006-01-16 | 2007-07-26 | Hitachi Ltd | 情報機器 |
| JP2012114009A (ja) * | 2010-11-26 | 2012-06-14 | Iwasaki Electric Co Ltd | 直流ランプ点灯装置 |
| WO2014049780A1 (ja) * | 2012-09-27 | 2014-04-03 | パイオニアデジタルデザインアンドマニュファクチャリング株式会社 | 加熱装置、はんだ付け装置、加熱方法、および、はんだ付け方法 |
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