JPH04242122A - 保安テスト支援装置 - Google Patents
保安テスト支援装置Info
- Publication number
- JPH04242122A JPH04242122A JP3002744A JP274491A JPH04242122A JP H04242122 A JPH04242122 A JP H04242122A JP 3002744 A JP3002744 A JP 3002744A JP 274491 A JP274491 A JP 274491A JP H04242122 A JPH04242122 A JP H04242122A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- safety
- security
- equipment
- results
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
に対して行う保安テストの実施を支援する保安テスト支
援装置関する。
テストの実施を支援する保安テスト支援装置としては、
例えば、特開昭63−135202号公報や特開昭62
−118407号公報に記載されているものがある。
条件を確認し、保安テストに先立って対象となる機器の
運転状態の変動を抑制し、テスト完了後、再び通常の運
転状態に戻して、保安テストをできるかぎり安定した状
態で実施できるようにしたものである。また、後者の保
安テスト支援装置は、保安テストの結果を記憶する記憶
手段を設け、この記憶手段に記憶された保安テストの履
歴を逐次表示できるようにしたものである。
良である場合、保安テストの対象となった機器を点検し
、ときには修理をするが、一般的に、一旦修理した機器
は、短期間のうちに異常を発生する可能性が高い。従来
の保安テスト支援装置は、このようなテスト結果を次回
の保安テストにまったく生かしておらず、これまでのテ
スト間隔と同じ間隔で行うために、次回の保安テストが
行われる前に機器不良を起こすことが度々あり、機器不
良を防ぐための保安テストを無意味なものにしていた。
に、保安テストの対象となった機器の不良発生原因につ
いては、従来、直接機器の各種箇所を点検して確認する
か、または支援装置から対象となっている機器の保安テ
スト履歴を操作者が呼び出し、操作者自身がこの膨大な
データを見て不良発生原因を推定していた。
、前述したように保安テストの履歴表示に留まり、この
保安テストの履歴を次回の保安テストに生かし切れず、
有効な保安テストを行うことができないという問題点が
あった。
て着目してなされたもので、保安テストの履歴を次回の
保安テストに生かして、保安テストをより有効なものに
し、プラントの安定運転を図ることができる保安テスト
支援装置を提供することを目的とする。
の保安テスト支援装置は、保安テストによって得られた
データから、対象となった機器が良好であるか否かを判
断する機器状態判断手段と、定期的に前記機器の制御装
置に対して保安テストの実施を指示すると共に、該保安
テストにより前記機器が不良であると判断された場合に
、再度、前記機器の制御装置に対して保安テストの実施
を指示するテスト指示手段とを備えていることを特徴と
するものである。
テスト支援装置は、保安テストの実施間隔を記憶する実
施間隔記憶手段と、前記実施間隔記憶手段に記憶されて
いる実施間隔に従って、対象となっている機器の制御装
置に対して保安テストの実施を指示するテスト指示手段
と、前記保安テストによって得られたデータから、前記
機器が良好であるか否かを判断する機器状態判断手段と
、前記機器が不良であると判断された場合に、前記実施
間隔記憶手段に記憶されている実施間隔を短くする実施
間隔変更手段とを備えていることを特徴とするものであ
る。
施間隔を短くした後に行われる保安テストで、1回また
は2回以上連続して前記機器が良好であると判断された
ときに、前記実施間隔を元の実施間隔に変更することが
できるようにすることが好ましい。
ト支援装置は、対象となっている機器の不良原因を入力
する入力手段と、保安テストの結果、および該保安テス
トの結果に対応させて前記不良原因を記憶する記憶手段
と、前記保安テストにより前記機器が不良であると判断
されたときに、該保安テスト結果と類似している過去の
保安テストを選び出し、該過去の保安テストにおける不
良原因を抽出する不良原因抽出手段と、抽出された前記
不良原因を表示する表示手段とを備えていることを特徴
とするものである。
器が不良であると判断されたときには、機器自体が不良
であるのかテスト環境等が悪かったのかを判断するため
に、再度保安テストを実施することが多い。また、機器
が不良であると判断され、実際に不良であった場合には
、短期間のうちに再び故障を起こす可能性が高いために
、次回の保安テストを早期に行うことも多い。
より、対象となっている機器が不良と判断されたときに
、再度保安テストを行うために、テスト指示手段により
、直ちに、前記機器の制御装置に対して保安テストの実
施が指示され、自動的に再テストが実施される。また、
対象となっている機器が不良と判断されたときに、実施
間隔変更手段により、実施間隔記憶手段に記憶されてい
る実施間隔が短くされ、次回の実施までの間隔が短くな
る。
次回の保安テストまでの期間を自動的に変えることによ
り、運転員の労力が削減されるのみならず、機器不良に
起因するプラント異常等を未然に防ぐことができ、プラ
ントの安定運転を図ることができる。
した場合には、直ちに、その機器を点検して修理する必
要がある。この修理では、予め不良原因が把握できると
、修理不用な箇所まで修理する必要がなく、作業を短時
間で行える。そのため、本発明では、不良原因抽出手段
を設け、不良原因が直ちに運転員に分かるようにしてい
る。
と対応させて記憶手段に記憶される。保安テストが実施
され、機器が不良であると判断されると、不良原因抽出
手段により、記憶手段に記憶されている過去の保安テス
トのうちから実施した保安テスト結果と類似しているも
のが選びだされ、これに対応する不良原因が抽出される
。抽出された不良原因は、表示手段に表示される。
用して、不良原因を推定することにより、機器の修理作
業を素早く行うことができると共に、確実な修理を行う
ことができるので、プラントの安定運転を図ることがで
きる。
基づいて説明する。
0は、プラント内の各種機器を制御するプロセス機器制
御装置23と、プラント内の各種機器からのデータを処
理するプロセス情報処理装置24とに接続されている。
力する入力部11と、保安テストの実施間隔を記憶する
と共にタイマー機能を有し保安テスト実施時期を指定す
るテスト実施タイミング処理部12と、前記保安テスト
実施時期の経過後にプロセス情報処理装置24からのデ
ータに基づいて機器が保安テストの実施に適した状態で
あるか否かを判定するテスト許可条件判定処理部13と
、保安テストの結果等を記憶するテスト結果記憶部15
と、各部からのデータを制御してテスト結果記憶部15
に該データを記憶させると共にテスト結果記憶部15に
記憶されている内容を整理して各部に出力する記憶処理
部14と、各種データを表示する表示部16と、保安テ
ストの実行指示をプロセス機器制御装置23に対して行
うテスト指示処理部17と、プロセス情報処理装置24
からの保安テスト結果データに基づいて対象機器が良好
であるか否かを判断するテスト結果判断部18とを有し
ている。プラント機器群26には、運転員の手動操作に
より保安テストを実施できるように、テストスイッチ2
8が設けられている。
うに、コンバインドサイクルが適用されたプラントの各
種プラント機器に対する保安テストのための装置として
設けられている。
気圧縮機26A、ガスタービン26B、発電機26C、
蒸気タービン26D、復水ポンプ26E、循環水ポンプ
26F、復水器逆洗弁26G、高圧蒸気加減弁26H、
低圧蒸気加減弁26I、高圧主蒸気止弁26J、低圧主
蒸気止弁26K、復水器26Lなどから構成されており
、各機器の状態を検出するためのセンサ(図示省略)の
出力がプラントの運転状態を示すプロセス情報としてプ
ロセス情報処理装置24へ供給されるようになっている
。
ト支援装置20の作用について、各種機器ごとの保安テ
ストを例にとり、具体的に説明する。
について、図3から図8に基づき説明する。図3は、高
圧主蒸気止弁26Jの保安テストにおける各部位の動作
を説明するためのものである。なお、同図において、符
号T1,T2はタイマ、A1,A2,A3,A4,A5
,A6,A7はAND論理を、O1,O2はOR論理を
、N1,N2,N3,N4はNOT論理を示している。
態がテスト実施可能状態になった時間として、高圧主蒸
気止弁26J全開状態が24時間継続した時間としてい
るため、高圧主蒸気止弁26Jの全開状態を監視して全
開状態が24時間継続したときテスト実施タイミング処
理部12内のタイマT1から信号を出力することとして
いる。これは、高圧主蒸気止弁26Jに対する保安テス
トの実施時期は1日1回であるため、前回のテストが行
なわれた後24時間後に保安テストを実施すればよい。 このため、高圧主蒸気止弁26Jが24時間全開状態に
なったときタイマT1からテスト時期を指定するための
信号を出力することとしている。さらに、高圧主蒸気止
弁26Jは24時間以内に1回閉じることが多いところ
から、高圧主蒸気止弁26Jに対するテスト時期を24
時間に設定すれば、高圧主蒸気止弁26Jに対する保安
テストを省略することが可能となるためである。すなわ
ち、高圧主蒸気止弁26Jに対する保安テストの目的は
弁がステックしておらず、トリップ時に閉じて正しく蒸
気を遮断できることを確認するものである。このため、
上記のようなテスト時期を設定することにより不必要な
テスト操作を省略することが可能となる。
を実施する場合、この保安テストの開始前に、プラント
の運転状態がテスト条件を満たすか否かの判定をテスト
許可条件判定処理部13で行う。この判定を行うに際し
ては、プラントの負荷、例えば発電機の負荷が50%以
上になった状態が10分以上継続、低圧主蒸気止弁26
K全開、高圧蒸気加減弁26H全開、低圧蒸気加減弁2
6I全開、復水器26Lの真空正常のAND条件を満た
すか否かの判定を行う。そして、このAND条件が満た
され、かつ高圧主蒸気止弁26Jが24時間全開状態に
なったときに、テスト指示処理部17からプロセス機器
制御装置23に高圧主蒸気止弁26Jに対する保安テス
トの実施を促す。テストスイッチ28が自動側に操作さ
れていたときには、実施指令によりテスト用電磁弁を励
磁し、高圧主蒸気止弁26Jを閉状態とする。
されていないときには、「高圧主蒸気止弁の開閉テスト
を実施してください。」の操作メッセージが表示装置3
2の画面上に表示される。そして、この操作メッセージ
を基に運転員が手動用のテストスイッチ28を操作すれ
ば、テスト用電磁弁が励磁され、高圧主蒸気止弁26J
が閉状態となる。また、操作メッセージは音声によりお
こなうことも可能である。操作メッセージを出力すれば
、運転員がテストスイッチ28を操作するのを忘れた場
合に効果的である。
テスト用電磁弁が非励磁状態となり、高圧主蒸気止弁2
6Jが全開状態に復帰し保安テストが終了する。保安テ
ストが終了すると、テスト結果から高圧主蒸気止弁26
Jが良好であるか否かが、テスト結果判断部18で判断
される。この判断を行うに際しては、次の3項目を基に
おこなわれる。 (1)テスト所要時間が規定値以内 (2)テスト中の微少時間での弁開度変化率が規定値(
3)正常な弁開閉パターン(時間対弁開度)とほぼ同一
上記3項目のすべての条件を満たしたときにはテスト結
果が良として表示され、それ以外のときにはテスト結果
が否として表示される。
定値(正常値)は主蒸気圧力をパラメータとした所要時
間をあらかじめ設定しておくことにより、より正確な判
定結果を得ることができる。また弁開閉パターンも主蒸
気圧力のパラメータとした複数のパターンを準備するこ
とによりより正確な判定結果を得ることが可能である。 また、保安テストは、負荷運転中におこなうが、中
央給電指令所からのAFC信号によってプラントが制御
されている場合には、負荷制御ALRモード(発電所側
主制御モード)とすることによりより安定な状態で保安
テストを実施することが可能となる。
トの運転状態が保安テストに適する状態にあるときにの
み保安テストを自動的に実施することができるため、プ
ラントの運転状態に悪影響を与えることなく、保安テス
トを実施することができるとともに運転員の負担を軽減
することができる。
図4を用いて説明する。保安テスト表示画面には、操作
項目名、テスト日時、テストの良否判断結果、動作曲線
などが表示される。本画面は、テスト中の間、常時表示
部16の画面に表示し、そのテスト過程を動作曲線によ
り監視することが可能であるが、例えば、結果が「否」
の場合にのみ自動的に表示することも可能である。また
、保安テストは、前回の実績が参考となることが多いた
め、前回もしくは、それ以前に実施した結果(図4中の
動作曲線のうち2点破線で示されているもの)を今回実
施(図4中の動作曲線のうち実線で示されているもの)
に付加して表示することも可能である。保安テストの結
果は、保安テスト履歴として、テスト結果記憶部15に
記憶され、この内容は、入力部11を操作することによ
り、逐次、表示部16に表示させることができる。 保安テストにより高圧主蒸気止弁26Jが不良であ
ると判断されたときには、画面に「否」と表示されると
共に、不良原因も表示される。
チャートに従って説明する。保安テストを実施すると(
ステップ11)、テスト結果判断部18でテスト結果の
良否が判断される(ステップ12)。テスト結果が良で
ある場合には、直ちに画面上に「良」と表示される(ス
テップ13)。テスト結果が不良である場合には、記憶
処理部14がテスト結果記憶部15内を検索し(ステッ
プ14)、類似する実績がなければ(ステップ15)、
テスト結果の「否」を表示すると共に、予め登録されて
いる不良原因候補を表示する(ステップ17)。 ここで、高圧主蒸気止弁26Jの不良原因として考えら
れるものとしては、「弁棒スティック異常」、「テスト
用電磁弁異常」、「弁開度検出系異常」が揚げられるが
、本実施例では、これら全てを表示する。また、類似す
る実績があれば(ステップ15)、テスト結果の「否」
を表示すると共に、前述した不良原因候補のうち類似す
る実績の不良原因を他の不良原因と区別して表示する(
ステップ16)。
「弁棒スティック異常」あったため、これを他の不良原
因と区別するために、そこの表示領域の色を変えている
。過去の類似する実績(図4中の動作曲線のうち1点破
線で示されているもの)は、今回の実績および前回の実
績と共に、画面上に表示される。
ると判断された後に行う機器の点検の際に、実際に確認
して、これを入力部11から保安テスト結果と対応させ
てテスト結果記憶部15に入力しておく。なお、ステッ
プ14およびステップ15における過去の実績から不良
原因の抽出動作は、記憶処理部14によって行われてい
る。このように、不良原因が表示されると、操作員は不
良原因を除去するための対応をとることになるが、実際
には、「再現テスト」と称して、再度同一の保安テスト
を繰り返して詳細原因の究明にあたることが多い。
的に実施している。この動作について図6のフローチャ
ートを用いて説明する。保安テストを実施して(ステッ
プ21)、テスト結果が良好であると判定されると(ス
テップ22)前述したように直ちに「良」と表示される
が(ステップ27)、テスト結果が不良であると判定さ
れると(ステップ22)、再度保安テストが実施される
(ステップ23)。そして、再テスト回数がカウントさ
れてから(ステップ24)、再テストの結果が判定され
る(ステップ25)。このとき、テスト結果が不良であ
れば、直ちに「否」と表示される。また、テスト結果が
良好であれば、再テストの回数が1回目か否かが判断さ
れた後(ステップ26)、再度、再テストが実施される
(ステップ23)。このテスト結果が不良である場合に
は(ステップ25)、画面に「否」と表示さ(ステップ
28)、テスト結果が良好である場合には(ステップ2
5)、2度の再テストが良好なので、最初に行った保安
テストはテスト環境等の影響によるテストミスと判断し
て、画面に「良」と表示する(ステップ27)。ここで
、再テストの指示は、最初の保安テストと同様に、テス
ト指示処理部17で実施されるが、テスト許可条件判定
処理部13で判定では、タイマT1とのAND条件は考
慮されず、つまり、テスト時期に関しては考慮されず、
高圧主蒸気止弁26Jがテストの実施に適した状態であ
るか否かのみが考慮される。
うようにしているが、再テストの回数は、固定的に決定
できるものではなく、機器の重要性などを加味して機器
ごとに決定すべきものである。したがって、再テストの
回数は、機器の重要度が低いものであれば1回でもよい
し、また機器の重要度が高いものであれば3回以上行う
ようにしてもよい。
上のように、直ちに再テストを実施する方法があるが、
これとは別に、または、併用して、保安テストの実施間
隔を短縮して行なうことも可能である。つまり、保安テ
ストの結果が不良であった場合には、前述した再テスト
によるなどして原因を究明し、対策することになるが、
一度不具合を発生した機器は応々にして不具合が再発す
ることも考えられ、このため、次回の保安テストの実施
時期を早める(例えば通常の周期の半分にする)ことは
望ましいことである。これは、人間に例えていえば、年
1回の定期健康診断により体の異常が発見された場合、
これを完治させたとしても、以降当面の間は、診断の頻
度を例えば半年に一回とするという処置をとるようなも
のである。
安テストの実施間隔を短縮するものに関して、図7のフ
ローチャートを用いて説明する。保安テストを実施し(
ステップ31)、テスト結果が良好であれば(ステップ
32)、テストの実施間隔を短縮することなく、次回の
保安テストを実施する(ステップ37)。保安テストの
結果が不良であれば(ステップ32)、保安テストの実
施間隔を短縮する(ステップ32)。実施間隔の短縮は
、テスト結果判断部18からの指示を受けて、テスト実
施タイミング処理部12が、自身に記憶している実施間
隔を変更することで行われる。そして、短縮された実施
間隔で次の保安テストが実施され(ステップ34)、テ
スト結果が良好であるか否かの判定が行われる(ステッ
プ35)。このテスト結果が良好であれば、実施間隔を
元に戻し(ステップ36)、次回からは定例の実施間隔
で保安テストが実施される(ステップ37)。テスト結
果が不良であれば、実施間隔が短縮されたまま次回の保
安テストが実施される(ステップ37)。 なお、テ
スト結果が2回連続して不良と判定されたときに、さら
に実施間隔を短くするようにしてもよい。また、実施間
隔を元に戻すにあたり、1回のテスト結果の良好で実施
間隔を元に戻すのではなく、テスト結果が2回またはこ
れ以上連続して良好である場合に、実施間隔を戻すよう
にしてもよい。
について、図8に基づいて説明する。 高圧蒸気加減
弁26Hの保安テストを行う場合には、図8に示される
ように、実施時期を1ヶ月とすることにより高圧主蒸気
止弁26Jと同様に保安テストを自動的に行うことがで
きる。
トリップ電磁弁の保安テストについて図9に基づいて説
明する。STトリップ電磁弁は、図2中に図示されてい
ないが、高圧主蒸気止弁26Jを制御するもので、高圧
主蒸気止弁26Jのアクチュエータに直列に2台接続さ
れているものである。
、1台の電磁弁1の実施時期を1週間とし、他の1台の
電磁弁の実施時期を1週間+αとし、さらにテストを実
行するための判定条件として、蒸気タービン26Dが停
止フェイズでないこととする。蒸気タービンのトリップ
は通常週に一回おこなわれるため、前回テスト実施の1
週間後に実施すればよい。すなわち、1週間以内にユニ
ット停止によりSTトリップ電磁弁が必らず非励磁状態
となるので、この動作がまさしくSTトリップ電磁弁の
保安テストとなり、保安テストを省略することが可能と
なる。しかし、STトリップ電磁弁は非励磁状態でトリ
ップ信号を出力するようになっているため、誤動作防止
の観点から電磁弁を2台設け、インターロックをAND
条件に組み、タービントリップ信号を生成するようにし
ている。
は必ず片方ずつ実施しなければならない。すなわち両S
Tトリップ電磁弁が同時に非励磁状態になるとユニット
停止となるため、両STトリップ電磁弁の実施タイミン
グに若干の差αをもたせることとしている。この差αは
STトリップ電磁弁テストの所要時間以上にする必要が
ある。
トについて図10に基づいて説明する。ST先行非常調
速機回路は、蒸気タービン26Dの負荷が突然なくなる
とタービンの回転数が急激に増加するため、これを防止
するための回路である。なお、この回路は図2中には図
示されていない。ST先行非常調速機回路の保安テスト
は、各回路A,B,Cに対する実施時期を1週間に設定
し、保安テストを実施するための判定条件として起動フ
ェイズでなく、かつ停止フェイズでないこと、すなわち
蒸気タービンが運転中であることを条件として行う。
ついて図11に基づいて説明する。ST非常用油ポンプ
の保安テストの実施には、油ポンプが停止した状態が1
週間継続された時間を実施時期とし、テスト条件の判定
項目として起動フェイズでなくかつ停止フェイズでない
ことを検出する。そして実施指令により油ポンプを起動
を抜いて油圧を下げ、油ポンプを起動させる。そして油
ポンプを停止させる場合には、油ポンプの吐出圧が規定
値以上になったことが一定時間以上継続されたことを条
件にテスト弁を通常側とし油ポンプを停止させる。
ついて図12に基づいて説明する。
弁正洗位置が24時間継続されたときを実施時期とし、
海水系統マスタ進行中でないこと、循環水ポンプ26F
が運転中、復水器26Lが真空正常であることをテスト
条件の判定項目として実施する。
実施する場合には、復水器逆洗弁26Gの逆洗操作が自
動的に行われ、逆洗位置に至ったことを条件として30
分後に逆洗弁26Gを正洗位置へ戻す処理を行う。そし
て、逆洗弁26Gを逆洗状態あるいは正洗状態にあるか
否かにより実施結果の良否が表示される。そして実施結
果が否のときにはその推定原因として逆洗弁ステック、
逆洗弁モータの電気系の故障が表示される。
減弁26H、STトリップ電磁弁、先行非常調速機回路
、ST非常用油ポンプ、復水器逆洗弁26Gの保安テス
トについて、具体的に説明したが、これらのものは、高
圧主蒸気止弁26J以外でも、高圧主蒸気止弁26と同
様に、保安テスト支援装置10により、再保安テスト、
不良原因の表示等が実施されることは言うまでもない。
、前述したように、テスト結果記憶部15に記憶される
が、1つプラントにおいて保安テストの対象となる機器
は、多数存在し、かつ定期的に繰り返して保安テストが
行われるので、保安テスト支援装置10に必要な記憶容
量は膨大なものになる。保安テストの結果の保存には、
法令または各発電所等で定めた基準に基づく保管期限が
あり、この期限を過ぎたものは、不必要なメモリ増大、
情報の混乱を避けるため、消去の対象となる。
考えられるので、図13を用いて、消去手法について説
明する。保安テストを実施し(ステップ41,42)、
この結果を保存する際には、テスト結果記憶部15内に
保存されているもののうち、保存期限を過ぎたものがあ
るか否かが、記憶処理部14で判断される(ステップ4
3)。保存期限の過ぎたものがなければ、このテスト結
果は、直ちにテスト結果記憶部15に保存される。保存
期限の過ぎたものがあれば、テスト結果の重要性や対象
となった機器の重要性などを考慮して、保存期限の過ぎ
たもののうち、以下の3種類の手法により消去される。 ケース1:保存期限の過ぎたものは全て消去される(ス
テップ44−1)。ケース2:保存期限の過ぎたものの
うち、テスト結果が不良であったもの以外は、全て消去
される(ステップ44−2)。したがって、保存期限の
過ぎたものでもテスト結果が不良であるものは保存され
る。ケース3:保存期限の過ぎたもののうち、テスト結
果が不良であったものと、テスト結果が良好のテスト項
目と実施期日以外、全て消去される(ステップ44−3
)。保存期限の過ぎたものの消去が終わると、テスト結
果が保存される(ステップ45)。このテスト結果の保
存では、再テスト結果は無論保存するが、再テスト前の
テスト結果を書き換えて保管するか、再テスト前のテス
ト結果に再テスト結果を付加して保管するかは、いずれ
でも構わない。
珍しいテスト結果など保存が必ず必要なものに対しては
、テスト結果のデータの先頭などに消去不可を意味する
コードなどを付加して、消去できないようにしてもよい
。
したように、詳細に表示することもできるが、図14に
示すように、各機器に対する保安テストを集計した形で
簡易に、表示することもできる。この表示画面には、テ
スト項目と、実施時日時、実施結果、不良原因などが表
示される。これらは、必要に応じて逐次テスト結果記憶
部15から呼び出し、表示部16で表示することができ
ると共に、図1中には図示していないがプリンタから保
安テスト実施結果報告書として出力することもできる。
じて次回の保安テスト時期を早くすることができ、機器
不良に起因するプラント異常等が発生する前に、保安テ
ストを行うことができるので、プラント異常を未然に防
ぐことができ、プラントの安定運転を図ることができる
。
て、不良原因を推定され、不良原因を把握することがで
きるので、機器の修理作業を素早く行うことができると
共に、確実な修理を行うことができるので、前述同様、
プラントの安定運転を図ることができる。
機能ブロック図である。
動作を示すための説明図である。
である。
ャートである。
のフローチャートである。
実施手順を示すためのフローチャートである。
動作を示すための説明図である。
トの動作を示すための説明図である。
ストの動作を示すための説明図である。
ストの動作を示すための説明図である。
動作を示すための説明図である。
ためのフローチャートである。
を説明するための説明図である。
ト実施タイミング処理部、13…テスト許可条件判定処
理部、14…記憶処理部、15…テスト結果記憶部、1
6…表示部、17…テスト指示処理部、18…テスト結
果判断部、23…プロセス機器制御装置、24…プロセ
ス情報処理装置、26…プラント機器群。
Claims (10)
- 【請求項1】プラント内の各種機器に対して行う保安テ
ストの実施を支援する保安テスト支援装置において、保
安テストによって得られたデータから、前記機器が良好
であるか否かを判断する機器状態判断手段と、定期的に
前記機器の制御装置に対して保安テストの実施を指示す
ると共に、該保安テストにより前記機器が不良であると
判断された場合に、再度、前記機器の制御装置に対して
保安テストの実施を指示するテスト指示手段とを備えて
いることを特徴とする保安テスト支援装置。 - 【請求項2】プラント内の各種機器に対して行う保安テ
ストの実施を支援する保安テスト支援装置において、保
安テストの実施間隔を記憶する実施間隔記憶手段と、前
記実施間隔記憶手段に記憶されている実施間隔に従って
、前記機器の制御装置に対して保安テストの実施を指示
するテスト指示手段と、前記保安テストによって得られ
たデータから、前記機器が良好であるか否かを判断する
機器状態判断手段と、前記機器が不良であると判断され
た場合に、前記実施間隔記憶手段に記憶されている実施
間隔を短くする実施間隔変更手段とを備えていることを
特徴とする保安テスト支援装置。 - 【請求項3】前記実施間隔変更手段は、一旦実施間隔を
短くした後に行われる保安テストで、1回または2回以
上連続して前記機器が良好であると判断されたときに、
前記実施間隔を元の実施間隔に変更することを特徴とす
る請求項2記載の保安テスト支援装置。 - 【請求項4】前記保安テストの結果を記憶する記憶手段
と前記記憶手段に記憶されている内容を表示する表示手
段とを備えていることを特徴とする請求項1、2または
3記載の保安テスト支援装置。 - 【請求項5】前記保安テストの結果を記憶する記憶手段
と、該保安テストにより、前記機器が不良であると判断
されたときに、該保安テストの結果と共に、前記記憶手
段に記憶されている内容のうち前回の保安テストの結果
を表示する表示手段とを備えていることを特徴とする請
求項1、2または3記載の保安テスト支援装置。 - 【請求項6】プラント内の各種機器に対して行う保安テ
ストの実施を支援する保安テスト支援装置において、前
記機器の不良原因を入力する入力手段と、前記保安テス
トの結果、および該保安テストの結果に対応させて前記
不良原因を記憶する記憶手段と、前記保安テストにより
前記機器が不良であると判断されたときに、該保安テス
ト結果と類似している過去の保安テストを選び出し、該
過去の保安テストにおける不良原因を抽出する不良原因
抽出手段と、抽出された前記不良原因を表示する表示手
段とを備えていることを特徴とする保安テスト支援装置
。 - 【請求項7】前記表示手段は、前記不良原因を表示する
と共に、対応する前記過去の保安テストの結果も表示す
ることを特徴とする請求項6記載の保安テスト支援装置
。 - 【請求項8】プラント内の各種機器に対して行う保安テ
ストの実施を支援する保安テスト支援装置において、保
安テストの結果を記憶する記憶手段と、予め定められた
保存期限の過ぎた前記保安テストの結果を消去する消去
手段とを備えていることを特徴とする保安テスト支援装
置。 - 【請求項9】保安テストによって得られたデータから、
前記機器が良好であるか否かを判断する機器状態判断手
段を備え、前記消去手段は、予め定められた保存期限の
過ぎた保安テストの結果うち、機器が良好であると判断
された保安テストの結果のみを消去することを特徴とす
る請求項8記載の保安テスト支援装置。 - 【請求項10】保安テストによって得られたデータから
、前記機器が良好であるか否かを判断する機器状態判断
手段を備え、前記消去手段は、予め定められた保存期限
の過ぎた保安テストの結果うち、機器が良好であると判
断された保安テストの結果の中から定められた内容のみ
を消去することを特徴とする請求項8記載の保安テスト
支援装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3002744A JP2994050B2 (ja) | 1991-01-14 | 1991-01-14 | 保安テスト支援装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3002744A JP2994050B2 (ja) | 1991-01-14 | 1991-01-14 | 保安テスト支援装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04242122A true JPH04242122A (ja) | 1992-08-28 |
| JP2994050B2 JP2994050B2 (ja) | 1999-12-27 |
Family
ID=11537861
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3002744A Expired - Lifetime JP2994050B2 (ja) | 1991-01-14 | 1991-01-14 | 保安テスト支援装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2994050B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010220896A (ja) * | 2009-03-24 | 2010-10-07 | Toshiba Corp | 放射線治療装置 |
| WO2010116989A1 (ja) * | 2009-04-10 | 2010-10-14 | オムロン株式会社 | 設備運転状態計測装置、設備運転状態計測方法、および制御プログラム |
| EP3869931B1 (en) * | 2018-10-16 | 2025-03-05 | Fuji Corporation | Data management device and data management method |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63145588A (ja) * | 1986-12-09 | 1988-06-17 | 株式会社日立製作所 | 機器のメンテナンスガイダンス装置 |
| JPS6436040A (en) * | 1987-07-31 | 1989-02-07 | Tokyo Electron Ltd | Parametric inspection apparatus for semiconductor device |
| JPS6488892A (en) * | 1987-09-30 | 1989-04-03 | Nippon Telegraph & Telephone | Inspection timing setter |
| JPH01305108A (ja) * | 1988-06-01 | 1989-12-08 | Hitachi Ltd | プラントの保安テスト方法及び装置 |
-
1991
- 1991-01-14 JP JP3002744A patent/JP2994050B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63145588A (ja) * | 1986-12-09 | 1988-06-17 | 株式会社日立製作所 | 機器のメンテナンスガイダンス装置 |
| JPS6436040A (en) * | 1987-07-31 | 1989-02-07 | Tokyo Electron Ltd | Parametric inspection apparatus for semiconductor device |
| JPS6488892A (en) * | 1987-09-30 | 1989-04-03 | Nippon Telegraph & Telephone | Inspection timing setter |
| JPH01305108A (ja) * | 1988-06-01 | 1989-12-08 | Hitachi Ltd | プラントの保安テスト方法及び装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010220896A (ja) * | 2009-03-24 | 2010-10-07 | Toshiba Corp | 放射線治療装置 |
| WO2010116989A1 (ja) * | 2009-04-10 | 2010-10-14 | オムロン株式会社 | 設備運転状態計測装置、設備運転状態計測方法、および制御プログラム |
| CN102369492A (zh) * | 2009-04-10 | 2012-03-07 | 欧姆龙株式会社 | 设备运行状态计测装置、设备运行状态计测方法以及控制程序 |
| EP3869931B1 (en) * | 2018-10-16 | 2025-03-05 | Fuji Corporation | Data management device and data management method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2994050B2 (ja) | 1999-12-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Fisher | Gas path debris monitoring-a 21/sup st/century PHM tool | |
| CN112259274A (zh) | 核电厂事故后中长期排热冷却水系统调试方法 | |
| JPH0652286B2 (ja) | 電源インタ−フエ−ス回路の検査装置 | |
| JPH04242122A (ja) | 保安テスト支援装置 | |
| US20070018671A1 (en) | System and method for early qualification of semiconductor devices | |
| JPH06314117A (ja) | 故障診断方法および装置 | |
| CN106919463B (zh) | 一种航天器bc端1553b总线芯片ram重配置方法 | |
| CN113608494A (zh) | 联锁控制方法及装置、安全仪表系统 | |
| JP2575808B2 (ja) | プラントの保安テスト方法及び装置 | |
| US7492179B2 (en) | Systems and methods for reducing testing times on integrated circuit dies | |
| JP2003295937A (ja) | プラント監視装置とプラント監視方法 | |
| US6717870B2 (en) | Method for assessing the quality of a memory unit | |
| JPH01284904A (ja) | プラントのインターロックバイパス方法 | |
| JPS62175060A (ja) | 電子交換機自動故障診断システム | |
| JP2771771B2 (ja) | 異常レベル判定方法 | |
| JP7512763B2 (ja) | ファームウェア試験装置、ファームウェア試験方法およびファームウェア試験プログラム | |
| McIlroy et al. | Circuit breaker condition based monitoring developments | |
| JPH03240835A (ja) | 自己診断方式 | |
| CN118314774A (zh) | 一种自行调整航空发动机维护参数的方法 | |
| JP2003066124A (ja) | 半導体集積回路試験装置 | |
| JPH04121622A (ja) | プラント運転支援方法及びその装置並びにデータ表示方法 | |
| JPH0125888B2 (ja) | ||
| JPH04369746A (ja) | 計算機システムにおけるファイル検査方式 | |
| JPH06139169A (ja) | 通信システム保守運用方式 | |
| Lofaro | Understanding aging in containment cooling systems |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071022 Year of fee payment: 8 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081022 Year of fee payment: 9 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091022 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091022 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101022 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111022 Year of fee payment: 12 |