JPH0424720A - 座標読み取り装置の走査方式 - Google Patents
座標読み取り装置の走査方式Info
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- JPH0424720A JPH0424720A JP2125056A JP12505690A JPH0424720A JP H0424720 A JPH0424720 A JP H0424720A JP 2125056 A JP2125056 A JP 2125056A JP 12505690 A JP12505690 A JP 12505690A JP H0424720 A JPH0424720 A JP H0424720A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 49
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 16
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims abstract description 12
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 43
- 238000012937 correction Methods 0.000 abstract description 11
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
C産業上の利用分野〕
本発明は、座標読み取り装置ムこ関するものである。
〔従来の技術]
座標指示器とタブレットを電磁的に結合させる座標読み
取り装置において、座標指示器に内蔵されているコイル
とタブレット面のなす角度により座標検出に誤差が生し
ることが知られている。
取り装置において、座標指示器に内蔵されているコイル
とタブレット面のなす角度により座標検出に誤差が生し
ることが知られている。
第3図および第4図により傾きによる座標検出誤差を簡
単に説明する。第3図は座標指示器がタブレット面に対
して垂直時のコイル位置と誘起電圧を示している。座標
指示器によって指示された指示位置8はコイル7の中心
に位置する。センスライン3の2木目の中心にコイルが
位置するのでセンスライン3の1木目と3木目に誘起さ
れる電圧は等しくなる。第4図は座標指示器がタブレッ
ト面に対して傾きを持っている場合であり、第3図と同
し指示位置8を指示しているが、コイル7の中心にはな
い。コイル7はセンスライン3の2木目と3木目の間に
位置するため、センス547301木目と3木目に誘起
される電圧が等しくならない。よって、座標指示器を傾
けると実際に指示した位置よりも座標指示器を傾けた方
向に座標値が移動するという誤差が発生する。
単に説明する。第3図は座標指示器がタブレット面に対
して垂直時のコイル位置と誘起電圧を示している。座標
指示器によって指示された指示位置8はコイル7の中心
に位置する。センスライン3の2木目の中心にコイルが
位置するのでセンスライン3の1木目と3木目に誘起さ
れる電圧は等しくなる。第4図は座標指示器がタブレッ
ト面に対して傾きを持っている場合であり、第3図と同
し指示位置8を指示しているが、コイル7の中心にはな
い。コイル7はセンスライン3の2木目と3木目の間に
位置するため、センス547301木目と3木目に誘起
される電圧が等しくならない。よって、座標指示器を傾
けると実際に指示した位置よりも座標指示器を傾けた方
向に座標値が移動するという誤差が発生する。
この誤差を補正する方法として2次ピークを用いる方法
がある。第51により補正方法を簡単に説明する。第5
図(alは座標指示器がタブレット面に対して垂直時の
誘起電圧の分布図である。図のように座標指示器の近傍
では最大の誘起電圧が発生しているが、周囲においても
ピークより振幅が小である極大値(2次ピーク)が発生
している。
がある。第51により補正方法を簡単に説明する。第5
図(alは座標指示器がタブレット面に対して垂直時の
誘起電圧の分布図である。図のように座標指示器の近傍
では最大の誘起電圧が発生しているが、周囲においても
ピークより振幅が小である極大値(2次ピーク)が発生
している。
これはコイルの逆相成分のためである。
座標指示器が垂直である場合、両側の2次ピークは等し
い。第5図(blは座標指示器がタブレット面に対して
傾きを持っている場合の誘起電圧の分布図である。座標
指示器が傾いた場合、傾いた側の2次ピークが大きくな
り、反対側の2次ピークは小さくなる。両側の2次ピー
クを各々piprとすると2次ピークの差は、 ag=abs (pl pr)となる。
い。第5図(blは座標指示器がタブレット面に対して
傾きを持っている場合の誘起電圧の分布図である。座標
指示器が傾いた場合、傾いた側の2次ピークが大きくな
り、反対側の2次ピークは小さくなる。両側の2次ピー
クを各々piprとすると2次ピークの差は、 ag=abs (pl pr)となる。
座標指示器の頭きXの場合の誤差量をxa、2次ピーク
の差をagxとすると補正分解能は、cons t−”
Xa+agXとなる。
の差をagxとすると補正分解能は、cons t−”
Xa+agXとなる。
2次ピークの差による補正量calは次の式から求まる
。
。
cal=agXconst
このように両側の2次ピークの差を利用して傾きによる
誤差を補正する。
誤差を補正する。
従来の座標読み取り装置は、上記2次ピークを読み出す
のに、ピークと同しゲインレベルで増幅し、読み出して
いた。
のに、ピークと同しゲインレベルで増幅し、読み出して
いた。
〔発明が解決しようとする課題]
従来のようにピークと同しゲインで増幅した2次ピーク
を読み出す方法では、読み出した2次ピークの振幅が小
さかった。そのため2次ピークの差の絶対量が小さく、
補正分解能が大きくなり繊細な補正が行えなかった。
を読み出す方法では、読み出した2次ピークの振幅が小
さかった。そのため2次ピークの差の絶対量が小さく、
補正分解能が大きくなり繊細な補正が行えなかった。
そこで本発明は、2次ピーク検出位置の誘導電圧をピー
ク検出のゲインよりも一定量上げて増幅し、これにより
二次ピークの差の絶対量を大きくすることで、傾きを補
正するための補正分解能を細かくすることを目的とした
。
ク検出のゲインよりも一定量上げて増幅し、これにより
二次ピークの差の絶対量を大きくすることで、傾きを補
正するための補正分解能を細かくすることを目的とした
。
〔課題を解決するための手段2
上記課題を解決するために本発明では、座標読み取り点
を指示する座標指示器と、座標指示器と電磁的に結合す
るタブレットと、タブレットに敷設されたセンスライン
を1本ずつ選択し、センスラインに誘起された電圧を読
み出す走査部と、走査部で読み出された誘起電圧を増幅
する増幅器と、走査部に対し、選択するセンスラインを
指示し、増幅器のゲインを制御する制御部とから構成さ
れる座標読み取り装置において、制御部は、座標指示器
が存在するセンスライン位置を中心にした矩型領域のセ
ンスラインを選択し、誘起電圧の読み取りを行う走査処
理と、矩型領域内でピークを検出したピーク検出センス
ライン位置を求めるピーク検出処理と、ピーク検出処理
によって求めたピーク検出センスライン位置により、2
次ピークが発生する位置を求める2次ピーク検出位で決
定処理と、2次ピーク検出位置決定処理によって求めた
センスライン位置に誘起される電圧を増幅するためにゲ
インを一定量上げるように増幅器に指示を与える増幅制
御処理と、2次ピーク位置決定手段によって求めたセン
スライン位置を走査部に与え、増幅処理によって増幅さ
れた2次ピークを読み取る2次ピーク検出処理を設けた
。
を指示する座標指示器と、座標指示器と電磁的に結合す
るタブレットと、タブレットに敷設されたセンスライン
を1本ずつ選択し、センスラインに誘起された電圧を読
み出す走査部と、走査部で読み出された誘起電圧を増幅
する増幅器と、走査部に対し、選択するセンスラインを
指示し、増幅器のゲインを制御する制御部とから構成さ
れる座標読み取り装置において、制御部は、座標指示器
が存在するセンスライン位置を中心にした矩型領域のセ
ンスラインを選択し、誘起電圧の読み取りを行う走査処
理と、矩型領域内でピークを検出したピーク検出センス
ライン位置を求めるピーク検出処理と、ピーク検出処理
によって求めたピーク検出センスライン位置により、2
次ピークが発生する位置を求める2次ピーク検出位で決
定処理と、2次ピーク検出位置決定処理によって求めた
センスライン位置に誘起される電圧を増幅するためにゲ
インを一定量上げるように増幅器に指示を与える増幅制
御処理と、2次ピーク位置決定手段によって求めたセン
スライン位置を走査部に与え、増幅処理によって増幅さ
れた2次ピークを読み取る2次ピーク検出処理を設けた
。
前記のように構成された座標読み取り装置では、走査処
理によって座標を算出するのに最低限のセンスラインを
走査し、センスラインに誘起された電圧を読み出す。ピ
ーク検出処理は走査処理によって読み出された誘起電圧
の中から最も大きな電圧を読み取ったピーク検出センス
ライン位置を求める。2次ピーク位置決定処理はピーク
検出処理によって求められたピーク検出センスライン位
置をもとに2次ピーク検出位置を求める。増幅制御処理
は2次ピーク検出位置決定処理によって求めたセンスラ
イン位置に誘起される電圧を増幅するためにゲインを一
定量上げるように増幅器に指示を与え、2次ピーク検出
処理は2次ピーク位置決定手段によって求めたセンスラ
イン位置を走査部に与え、増幅制御処理によって増幅さ
れた2次ピークを読み取る。このようにして2次ピーク
の情報量を増やすので傾きの補正分解能を細かくするこ
とができる。
理によって座標を算出するのに最低限のセンスラインを
走査し、センスラインに誘起された電圧を読み出す。ピ
ーク検出処理は走査処理によって読み出された誘起電圧
の中から最も大きな電圧を読み取ったピーク検出センス
ライン位置を求める。2次ピーク位置決定処理はピーク
検出処理によって求められたピーク検出センスライン位
置をもとに2次ピーク検出位置を求める。増幅制御処理
は2次ピーク検出位置決定処理によって求めたセンスラ
イン位置に誘起される電圧を増幅するためにゲインを一
定量上げるように増幅器に指示を与え、2次ピーク検出
処理は2次ピーク位置決定手段によって求めたセンスラ
イン位置を走査部に与え、増幅制御処理によって増幅さ
れた2次ピークを読み取る。このようにして2次ピーク
の情報量を増やすので傾きの補正分解能を細かくするこ
とができる。
以下、本発明による座標読み取り装置の実施例について
、図面を参照しながら説明する。
、図面を参照しながら説明する。
第1図は本発明による座標読み取り装置のブロック図で
ある。走査部4は制御部6で指示されるセンスライン3
を選択し、座標指示器】によって誘起される電圧を取り
込み、増幅器5を通し制御部6に渡す。制御部6内の各
処理を第2図のフローチャートを参照しながら説明する
。第2図は制御部の概略フローチャートであり、走査処
理s1、ピーク検出処理S2.2次ピーク検出位置決定
処理s3、増幅制御処理S4および2次ピーク検出処理
S5の5つの処理によって本発明を実現している。
ある。走査部4は制御部6で指示されるセンスライン3
を選択し、座標指示器】によって誘起される電圧を取り
込み、増幅器5を通し制御部6に渡す。制御部6内の各
処理を第2図のフローチャートを参照しながら説明する
。第2図は制御部の概略フローチャートであり、走査処
理s1、ピーク検出処理S2.2次ピーク検出位置決定
処理s3、増幅制御処理S4および2次ピーク検出処理
S5の5つの処理によって本発明を実現している。
(走査処理31)
走査処理s1では、前回検出されたピーク検出センスラ
イン位置を中心に片軸0本(本実施例では5本)のnx
nのセンスラインを走査し、各センスラインに誘起され
る電圧を読み取る。
イン位置を中心に片軸0本(本実施例では5本)のnx
nのセンスラインを走査し、各センスラインに誘起され
る電圧を読み取る。
(ピーク検出処理s2)
ピーク検出処理s2は、走査処理s1によって読み取ら
れた矩型領域(nXn)の誘起電圧の中から最大値を読
み出したピーク検出センスライン位置pax、Payを
求める。
れた矩型領域(nXn)の誘起電圧の中から最大値を読
み出したピーク検出センスライン位置pax、Payを
求める。
(2次ピーク検出位置決定処理53)
2次ピーク検出位置決定処理s3は、ピーク検出処理s
2によって求められたピーク検出センスライン位置Pa
x、、Payと、Pax、、Payがら実験によって求
めた一定距離にある2次ピーク出現位置Pal、Po2
によって2次ピークが存在するセンスライン位置を求め
る。本実施例ではセンスライン・ピ、千6.35mm、
コイル径5mm、センスラインからコイルまでの高さ4
.5mmであり、Po1=3、Po2−4としている。
2によって求められたピーク検出センスライン位置Pa
x、、Payと、Pax、、Payがら実験によって求
めた一定距離にある2次ピーク出現位置Pal、Po2
によって2次ピークが存在するセンスライン位置を求め
る。本実施例ではセンスライン・ピ、千6.35mm、
コイル径5mm、センスラインからコイルまでの高さ4
.5mmであり、Po1=3、Po2−4としている。
実験によれば、2次ピークはこの2つの範囲に含まれる
ことか確認されている。2次ピークが存在するセンスラ
イン位置を求める弐は以下のものである。
ことか確認されている。2次ピークが存在するセンスラ
イン位置を求める弐は以下のものである。
al= (Pax+Pol、Pay)
a 2= (Pa x+Po 2.Pa y)a3=
(Pax−Po1.Pay) a4−(Pax−Po2.Pay) a5= (Pax、Pay+Po1) a6= (Pax、Pay+Po2) a7= (Pax、Pay−Pot) a8= (Pax、Pay−Po2) (増幅制御処理S4) 増幅制御処理s4は、2次ピーク検出位置決定処理s3
で求めたセンスライン位置に誘起される電圧をピークを
検出した時のゲインよりも一定量上げて増幅するように
増幅器に指示する。
(Pax−Po1.Pay) a4−(Pax−Po2.Pay) a5= (Pax、Pay+Po1) a6= (Pax、Pay+Po2) a7= (Pax、Pay−Pot) a8= (Pax、Pay−Po2) (増幅制御処理S4) 増幅制御処理s4は、2次ピーク検出位置決定処理s3
で求めたセンスライン位置に誘起される電圧をピークを
検出した時のゲインよりも一定量上げて増幅するように
増幅器に指示する。
(2次ピーク検出処理55)
2次ピーク検出処理S5は、2次ピーク検出位置決定処
理s3で求めたセンスライン位置を逐次走査部に指示し
、誘起される電圧を取り出す。取り出した電圧値は各隣
接する検出位置(alとa2、a3とa4、a5とa6
、alとa8)の電圧値と比較し、大きい電圧値を2次
ピークとして採用する。
理s3で求めたセンスライン位置を逐次走査部に指示し
、誘起される電圧を取り出す。取り出した電圧値は各隣
接する検出位置(alとa2、a3とa4、a5とa6
、alとa8)の電圧値と比較し、大きい電圧値を2次
ピークとして採用する。
第6図は誘起電圧の分布図であるが、第6図(b)の本
発明による装置の誘起電圧の分布図に示される2次ピー
ク11は、第6図(alの従来装置による誘起電圧の分
布図に示される2次ピーク11より大きくなり、2次ピ
ークの差の絶対量が従来装置より大きくなることが分か
る。
発明による装置の誘起電圧の分布図に示される2次ピー
ク11は、第6図(alの従来装置による誘起電圧の分
布図に示される2次ピーク11より大きくなり、2次ピ
ークの差の絶対量が従来装置より大きくなることが分か
る。
以上のように本発明では、2次ピーク検出時のゲインを
一定量上げて2次ピークを増幅し、2次ピークの情報量
を増やすので2次ピークの差絶対量が大きくなり傾き補
正のための補正量分解能を細かくすることができる。
一定量上げて2次ピークを増幅し、2次ピークの情報量
を増やすので2次ピークの差絶対量が大きくなり傾き補
正のための補正量分解能を細かくすることができる。
第1図は本発明による座標読み取り装置のブロック図、
第2図は本発明による制御部の概略フローチャート、第
3図および第4図は座標指示器の傾きによる座標検出誤
差を説明するための説明図、第5図は座標指示器の傾き
による誘起電圧の分布変化を説明する誘起電圧分分布図
、第6図は本発明による装置と従来装置による誘起電圧
の分布図である。 1・・・座標指示器 2・・・タブレット 3・・・センスライン 4・・・走査部 5・・・増幅器 6・・・制御部 sl・・走査処理 s2・・ピーク検出処理 s3・・2次ピーク検出位置決定処理 s4・・増幅制御処理 s5・・2次ピーク検出処理 以上 出願人 セイコー電子工業株式会社 代理人 弁理士 林 敬 之 肋 木発明による座HI読み取り!?1のブロック図第1圓 本発明によるル1111部の概略処理フローチャー1・
第2目 K i訃 指示1−7置 誘起電圧 座標指示器グ)#JIきによる座標検出誤差説明図(傾
きがある場合)第4[71 1次ピーク (」 1次ピーク (1ノ) 誘起電圧σ)21作図(傾きがある場h)第5因
第2図は本発明による制御部の概略フローチャート、第
3図および第4図は座標指示器の傾きによる座標検出誤
差を説明するための説明図、第5図は座標指示器の傾き
による誘起電圧の分布変化を説明する誘起電圧分分布図
、第6図は本発明による装置と従来装置による誘起電圧
の分布図である。 1・・・座標指示器 2・・・タブレット 3・・・センスライン 4・・・走査部 5・・・増幅器 6・・・制御部 sl・・走査処理 s2・・ピーク検出処理 s3・・2次ピーク検出位置決定処理 s4・・増幅制御処理 s5・・2次ピーク検出処理 以上 出願人 セイコー電子工業株式会社 代理人 弁理士 林 敬 之 肋 木発明による座HI読み取り!?1のブロック図第1圓 本発明によるル1111部の概略処理フローチャー1・
第2目 K i訃 指示1−7置 誘起電圧 座標指示器グ)#JIきによる座標検出誤差説明図(傾
きがある場合)第4[71 1次ピーク (」 1次ピーク (1ノ) 誘起電圧σ)21作図(傾きがある場h)第5因
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 a)座標読み取り点を指示する座標指示器と、b)前記
座標指示器と電磁的に結合するタブレットと、 c)前記タブレットに敷設されたセンスラインを1本ず
つ選択し、該センスラインに誘起された電圧を読み出す
走査部と、 d)前記走査部で読み出された誘起電圧を増幅する増幅
器と、 e)前記走査部に対し、選択するセンスラインを指示し
、前記増幅器のゲインを制御する制御部とから構成され
る座標読み取り装置において、f)前記制御部は、前記
座標指示器が存在するセンスライン位置を中心にした矩
型領域のセンスラインを選択し、誘起電圧の読み取りを
行う走査処理と、 g)矩型領域内で最も大きな誘起電圧(以後、ピークと
呼ぶ)を検出したピーク検出センスライン位置を求める
ピーク検出処理と、 h)前記ピーク検出処理によって求めたピーク検出セン
スライン位置により、前記ピークの周囲に存在し、振幅
が極大値となる信号であって、ピークとは逆位相の信号
(以後、2次ピークと呼ぶ)が発生する位置を求める2
次ピーク検出位置決定処理と、 i)前記2次ピーク検出位置決定処理によって求めたセ
ンスライン位置に誘起される電圧を増幅するためにゲイ
ンを一定量上げるように増幅器に指示を与える増幅制御
処理と、 j)前記2次ピーク位置決定手段によって求めたセンス
ライン位置を前記走査部に与え、前記増幅制御処理によ
って増幅された2次ピークを読み取る2次ピーク検出処
理 とを含む座標読み取り装置の走査方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2125056A JPH0424720A (ja) | 1990-05-15 | 1990-05-15 | 座標読み取り装置の走査方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2125056A JPH0424720A (ja) | 1990-05-15 | 1990-05-15 | 座標読み取り装置の走査方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0424720A true JPH0424720A (ja) | 1992-01-28 |
Family
ID=14900732
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2125056A Pending JPH0424720A (ja) | 1990-05-15 | 1990-05-15 | 座標読み取り装置の走査方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0424720A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1993018448A1 (fr) * | 1992-03-02 | 1993-09-16 | Seiko Instruments Inc. | Dispositif d'introduction de position et clavier |
-
1990
- 1990-05-15 JP JP2125056A patent/JPH0424720A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1993018448A1 (fr) * | 1992-03-02 | 1993-09-16 | Seiko Instruments Inc. | Dispositif d'introduction de position et clavier |
| US5567920A (en) * | 1992-03-02 | 1996-10-22 | Seiko Instruments Inc. | Position reading apparatus and key board apparatus |
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