JPH0557611B2 - - Google Patents
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- JPH0557611B2 JPH0557611B2 JP60238871A JP23887185A JPH0557611B2 JP H0557611 B2 JPH0557611 B2 JP H0557611B2 JP 60238871 A JP60238871 A JP 60238871A JP 23887185 A JP23887185 A JP 23887185A JP H0557611 B2 JPH0557611 B2 JP H0557611B2
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、誘導起電圧を用いた座標読取装置に
関し、座標指示器の傾きによる誤差を補正する手
段を備えた座標読取装置に関する。
関し、座標指示器の傾きによる誤差を補正する手
段を備えた座標読取装置に関する。
本発明は、座標指示器が傾いた時の読取誤差を
二次ピーク近傍の誘導電圧から算出された傾き情
報を用いて補正する時に、傾き情報が指示位置に
よつて変動してしまうことを位置情報によつて補
正し、指示位置による変動を少なくしてから傾き
誤差を補正するように座標読取装置を構成した。
二次ピーク近傍の誘導電圧から算出された傾き情
報を用いて補正する時に、傾き情報が指示位置に
よつて変動してしまうことを位置情報によつて補
正し、指示位置による変動を少なくしてから傾き
誤差を補正するように座標読取装置を構成した。
従来の座標読取装置としては、複数のセンスラ
イン間の位置を詳細に求めるものとして特公昭59
−35069号公報が、また座標指示器を傾けて入力
した場合に発生する誤差を補正するものとして特
公昭59−20156号公報が提案されている。
イン間の位置を詳細に求めるものとして特公昭59
−35069号公報が、また座標指示器を傾けて入力
した場合に発生する誤差を補正するものとして特
公昭59−20156号公報が提案されている。
特公昭59−20156号公報によつて、従来の座標
読取装置による座標指示器の傾き誤差を補正する
方法について説明する。
読取装置による座標指示器の傾き誤差を補正する
方法について説明する。
従来の座標読取装置において、座標指示器が傾
いて入力されると算出位置が指示位置と異なるこ
と、すなわち傾き誤差が発生することは同公報に
も記載されている。同公報による座標読取装置で
は、センスラインに発生する誘導電圧の最大値の
両側に発生する誘導電圧の極大値である二次ピー
ク、Ｖ−pxとＶ＋pxとを用いて、 ｆ（θ）＝｜（Ｖ＋px−Ｖ−px） ／（Ｖ＋px＋Ｖ−px）｜ を算出する。ｆ（θ）は主に座標指示器の傾きθ
によつて決定される数値であり、ｆ（θ）と傾き
誤差との関係を予めROMに記憶しておく、そし
て位置座標の算出したときにｆ（θ）も同時に求
め、この値をもとに前記ROMから対応する傾き
誤差を求め、位置座標に加減算して位置座標にお
ける傾き誤差を補正するのである。
いて入力されると算出位置が指示位置と異なるこ
と、すなわち傾き誤差が発生することは同公報に
も記載されている。同公報による座標読取装置で
は、センスラインに発生する誘導電圧の最大値の
両側に発生する誘導電圧の極大値である二次ピー
ク、Ｖ−pxとＶ＋pxとを用いて、 ｆ（θ）＝｜（Ｖ＋px−Ｖ−px） ／（Ｖ＋px＋Ｖ−px）｜ を算出する。ｆ（θ）は主に座標指示器の傾きθ
によつて決定される数値であり、ｆ（θ）と傾き
誤差との関係を予めROMに記憶しておく、そし
て位置座標の算出したときにｆ（θ）も同時に求
め、この値をもとに前記ROMから対応する傾き
誤差を求め、位置座標に加減算して位置座標にお
ける傾き誤差を補正するのである。
ところが上記従来の座標読取装置で求めるｆ
（θ）は厳密に評価すると座標指示器の傾きのみ
で決定されるものではない。特に高精度が要求さ
れる場合には座標指示器の傾き以外による影響が
無視できないのである。その無視できない影響の
一つは座標指示器の指示位置自身による影響であ
る。
（θ）は厳密に評価すると座標指示器の傾きのみ
で決定されるものではない。特に高精度が要求さ
れる場合には座標指示器の傾き以外による影響が
無視できないのである。その無視できない影響の
一つは座標指示器の指示位置自身による影響であ
る。
また上記ｆ（θ）は二次ピークの値そのものを
用いているため、たとえばセンスラインの間隔が
広くなつた場合などには、二次ピークの誘導電圧
が小さくなりＳ／Ｎの劣化によつて演算精度も劣
化して正確な補正が行えなくなる可能性があつ
た。
用いているため、たとえばセンスラインの間隔が
広くなつた場合などには、二次ピークの誘導電圧
が小さくなりＳ／Ｎの劣化によつて演算精度も劣
化して正確な補正が行えなくなる可能性があつ
た。
上記問題点を解決するために、本発明による座
標読取装置では、座標検出ユニツト上を指示する
ことによつて該座標検出ユニツトと電磁気的な結
合を得るためのコイルを有する座標指示器と、複
数のセンスラインを敷設して成り、前記座標指示
器と結合することによつてセンスラインに誘導信
号を発生せしめ、誘導電圧を出力する座標検出ユ
ニツトと、座標検出ユニツトから入力される誘導
電圧をもとに位置情報も求める制御回路とからな
る座標読取装置であつて、制御回路には、座標指
示器の傾き情報に対する傾き誤差を記憶した傾き
誤差ROMテーブルと、位置情報に対する傾き誤
差の誤差量比を記憶した誤差量比ROMテーブル
とを備え、さらに前記誘導電圧のうち、二次ピー
ク近傍の複数の誘導電圧をもとに傾き情報を算出
し、傾き誤差ROMテーブルを参照することによ
つて傾き誤差を求める傾き誤差算出手段と、前記
位置情報をもとに前記誤差量ROMテーブルを参
照して誤差量比を求め、誤差量比を前記傾き誤差
に乗算して傾き誤差補正値を算出する傾き誤差補
正手段と、傾き誤差補正値によつて前記位置情報
を補正する座標補正手段とを設けて座標読取装置
を構成した。
標読取装置では、座標検出ユニツト上を指示する
ことによつて該座標検出ユニツトと電磁気的な結
合を得るためのコイルを有する座標指示器と、複
数のセンスラインを敷設して成り、前記座標指示
器と結合することによつてセンスラインに誘導信
号を発生せしめ、誘導電圧を出力する座標検出ユ
ニツトと、座標検出ユニツトから入力される誘導
電圧をもとに位置情報も求める制御回路とからな
る座標読取装置であつて、制御回路には、座標指
示器の傾き情報に対する傾き誤差を記憶した傾き
誤差ROMテーブルと、位置情報に対する傾き誤
差の誤差量比を記憶した誤差量比ROMテーブル
とを備え、さらに前記誘導電圧のうち、二次ピー
ク近傍の複数の誘導電圧をもとに傾き情報を算出
し、傾き誤差ROMテーブルを参照することによ
つて傾き誤差を求める傾き誤差算出手段と、前記
位置情報をもとに前記誤差量ROMテーブルを参
照して誤差量比を求め、誤差量比を前記傾き誤差
に乗算して傾き誤差補正値を算出する傾き誤差補
正手段と、傾き誤差補正値によつて前記位置情報
を補正する座標補正手段とを設けて座標読取装置
を構成した。
このように構成した座標読取装置では、まず二
次ピーク近傍の誘導電圧をもとに座標指示器の傾
き情報を求め、この値をもとに傾き誤差のROM
テーブルを参照することによつて傾き誤差を求め
る。この傾き誤差は座標指示器の位置情報によつ
て変動するものであるが、位置情報をもとに誤差
量比ROMテーブルを参照することによつて誤差
量比が求められ、誤差量比を前記傾き誤差に乗算
することによつて位置情報の影響を補正した傾き
誤差が求められる。傾き誤差を含んだ位置情報
は、この補正した傾き誤差によつて補正されるの
で、位置によらず正確に傾き補正された座標値を
算出することができる。
次ピーク近傍の誘導電圧をもとに座標指示器の傾
き情報を求め、この値をもとに傾き誤差のROM
テーブルを参照することによつて傾き誤差を求め
る。この傾き誤差は座標指示器の位置情報によつ
て変動するものであるが、位置情報をもとに誤差
量比ROMテーブルを参照することによつて誤差
量比が求められ、誤差量比を前記傾き誤差に乗算
することによつて位置情報の影響を補正した傾き
誤差が求められる。傾き誤差を含んだ位置情報
は、この補正した傾き誤差によつて補正されるの
で、位置によらず正確に傾き補正された座標値を
算出することができる。
以下、本発明の実施例を図面にもとづいて説明
する。第１図は本発明による座標読取装置の構成
を示すブロツク図である。１は座標検出ユニツト
であり、図示しないＸ方向Ｙ方向それぞれの複数
のセンスラインと、これらのセンスラインを選択
する走査回路、また図示してはいないが座標指示
器によつて座標検出ユニツト１上を指示したとき
にセンスラインに誘導する誘導信号の増幅、検波
等を行う信号処理回路等で構成されている。座標
検出原理については特公昭59−35069号公報で開
示されている座標読取装置等と同様であり、詳細
な構成についても公報によつて開示されている通
りである。
する。第１図は本発明による座標読取装置の構成
を示すブロツク図である。１は座標検出ユニツト
であり、図示しないＸ方向Ｙ方向それぞれの複数
のセンスラインと、これらのセンスラインを選択
する走査回路、また図示してはいないが座標指示
器によつて座標検出ユニツト１上を指示したとき
にセンスラインに誘導する誘導信号の増幅、検波
等を行う信号処理回路等で構成されている。座標
検出原理については特公昭59−35069号公報で開
示されている座標読取装置等と同様であり、詳細
な構成についても公報によつて開示されている通
りである。
３はCPUでありマイクロプロセツサで構成さ
れている。CPU３にはROMテーブル４および補
正回路７が接続されている。CPU３は前記座標
検出ユニツト１から入力される信号処理された誘
導信号をもとに座標指示器の指示する位置座標を
算出するとともに、ROMテーブル４を参照しな
がら座標指示器が傾くことによる位置座標の誤差
を補正回路７に指示して算出させ、算出された補
正値によつて位置座標を補正する機能を有する。
なお、図ではROMテーブル４、補正回路７は
CPU３とは別ブロツクであるかのように示して
いるが、実際には後述するようにマイクロプロセ
ツサのプログラムによる処理となつている。
れている。CPU３にはROMテーブル４および補
正回路７が接続されている。CPU３は前記座標
検出ユニツト１から入力される信号処理された誘
導信号をもとに座標指示器の指示する位置座標を
算出するとともに、ROMテーブル４を参照しな
がら座標指示器が傾くことによる位置座標の誤差
を補正回路７に指示して算出させ、算出された補
正値によつて位置座標を補正する機能を有する。
なお、図ではROMテーブル４、補正回路７は
CPU３とは別ブロツクであるかのように示して
いるが、実際には後述するようにマイクロプロセ
ツサのプログラムによる処理となつている。
CPU３にはさらにＩ／Ｆ５が接続され外部機
器６と接続されている。これらは座標読取装置に
とつては一般的に存在する機能ブロツクである。
器６と接続されている。これらは座標読取装置に
とつては一般的に存在する機能ブロツクである。
次に第３図ないし第７図を参照しながら本発明
による座標読取装置の傾き補正の原理について説
明する。
による座標読取装置の傾き補正の原理について説
明する。
第３図は本発明による座標読取装置の座標検出
ユニツト１からCPU３に出力される信号の説明
図であり、座標検出ユニツト１の各センスライン
に誘導した誘導信号の誘導電圧を表している。セ
ンスラインは時間的に順次選択されるので各セン
スラインの誘導電圧は時間的に順次現れる。前述
したようにセンスラインはＸ方向、Ｙ方向それぞ
れに敷設されているが、第３図では代表的にＸ方
向に誘導信号を斜線で示し、これを後の説明で用
いている。
ユニツト１からCPU３に出力される信号の説明
図であり、座標検出ユニツト１の各センスライン
に誘導した誘導信号の誘導電圧を表している。セ
ンスラインは時間的に順次選択されるので各セン
スラインの誘導電圧は時間的に順次現れる。前述
したようにセンスラインはＸ方向、Ｙ方向それぞ
れに敷設されているが、第３図では代表的にＸ方
向に誘導信号を斜線で示し、これを後の説明で用
いている。
この種の座標読取装置ではVpxなる最大の誘導
電圧が発生したセンスラインの近傍に座標指示器
が置かれていることになり、このセンスラインの
両隣のセンスラインに誘導した誘導信号Vp＋1x、
Vp−1xを用いて Ｑ＝（Vpx−Vp＋1x）／（Vpx−Vp−1x） を求め、このＱから位置座標を算出する。Ｑを算
出すること、またＱから位置座標を算出すること
の詳細は特公昭59−35069号公報に詳述してある
ので省略する。
電圧が発生したセンスラインの近傍に座標指示器
が置かれていることになり、このセンスラインの
両隣のセンスラインに誘導した誘導信号Vp＋1x、
Vp−1xを用いて Ｑ＝（Vpx−Vp＋1x）／（Vpx−Vp−1x） を求め、このＱから位置座標を算出する。Ｑを算
出すること、またＱから位置座標を算出すること
の詳細は特公昭59−35069号公報に詳述してある
ので省略する。
ところで、このＱは座標指示器の傾きによつて
も影響を受け、そのために従来の座標読取装置で
は傾き誤差が発生してしまうのであつた。傾き誤
差発生のメカニズムを第６図によつて説明する。
も影響を受け、そのために従来の座標読取装置で
は傾き誤差が発生してしまうのであつた。傾き誤
差発生のメカニズムを第６図によつて説明する。
第６図は座標指示器の位置に対するＱの特性曲
線である。曲線ａが座標指示器が傾いていないと
きのものである。横軸のは第４図における
に対応し、座標指示器のコイル１５とセン
スラインとの位置関係を示している。図に示した
ようにＱはコイル１５がセンスライン中央に置か
れている場合、すなわち第４図のの位置ではＱ
＝１、となりあら２本のセンスラインの境界、す
なわち第４図のまたはの位置ではＱ＝０、さ
らに〜の間、または〜の間では０＜Ｑ＜
１となる特性を有している。
線である。曲線ａが座標指示器が傾いていないと
きのものである。横軸のは第４図における
に対応し、座標指示器のコイル１５とセン
スラインとの位置関係を示している。図に示した
ようにＱはコイル１５がセンスライン中央に置か
れている場合、すなわち第４図のの位置ではＱ
＝１、となりあら２本のセンスラインの境界、す
なわち第４図のまたはの位置ではＱ＝０、さ
らに〜の間、または〜の間では０＜Ｑ＜
１となる特性を有している。
ところが、たとえば座標指示器がの位置に置
かれていて、この状態で正方向、すなわち第３図
においてVpxを誘導したセンスラインに対してＶ
＋pxを誘導したセンスラインの方向（以下傾き
の正負の方向はこのように対応させる）に傾く
と、Ｑを求めるために用いるVp＋1xは大きくな
り、逆にVP−1Xは小さくなつてＱは１より小さ
な値となつてしまう。Ｑはセンスライン間の詳細
な位置座標に相当する値であるから、Ｑが変化す
ることはそのまま位置座標の誤差となつてしまう
のである。第６図に示すように座標指示器が正方
向に傾くとＱの特性曲線は曲線ｂのように変形
し、逆に負方形に傾くとｃのように変形する。こ
のＱの特性曲線の変化が傾き誤差を発生させる原
因である。
かれていて、この状態で正方向、すなわち第３図
においてVpxを誘導したセンスラインに対してＶ
＋pxを誘導したセンスラインの方向（以下傾き
の正負の方向はこのように対応させる）に傾く
と、Ｑを求めるために用いるVp＋1xは大きくな
り、逆にVP−1Xは小さくなつてＱは１より小さ
な値となつてしまう。Ｑはセンスライン間の詳細
な位置座標に相当する値であるから、Ｑが変化す
ることはそのまま位置座標の誤差となつてしまう
のである。第６図に示すように座標指示器が正方
向に傾くとＱの特性曲線は曲線ｂのように変形
し、逆に負方形に傾くとｃのように変形する。こ
のＱの特性曲線の変化が傾き誤差を発生させる原
因である。
さて、特公昭59−20156号公報によれば、第３
図の誘導電圧のうち二次ピークであるＶ−pxと
Ｖ＋pxとを用いて、 ｆ（θ）＝｜（Ｖ＋px−Ｖ−px） ／（Ｖ＋px＋Ｖ−px）｜ を算出すればｆ（θ）は座標指示器の傾き情報を
表す値となるのであつた。しかし前述したように
二次ピークのみを用いたのでは二次ピークが小さ
くなつた場合にＳ／Ｎの悪化等の問題があつた。
図の誘導電圧のうち二次ピークであるＶ−pxと
Ｖ＋pxとを用いて、 ｆ（θ）＝｜（Ｖ＋px−Ｖ−px） ／（Ｖ＋px＋Ｖ−px）｜ を算出すればｆ（θ）は座標指示器の傾き情報を
表す値となるのであつた。しかし前述したように
二次ピークのみを用いたのでは二次ピークが小さ
くなつた場合にＳ／Ｎの悪化等の問題があつた。
そこで本発明では傾き情報を示す二次ピークの
新たな関係式で表すことにした。
新たな関係式で表すことにした。
Ｒ＝（Ｖ−px＋Ｖ−px−１＋Ｖ−px−２）／（
Ｖ＋px＋Ｖ＋px＋１＋Ｖ＋px＋２） ただしこの式は座標指示器が正方向に傾いた場
合の式である。座標指示器が負方向に傾いた場合
にはＲは次の式となる。
Ｖ＋px＋Ｖ＋px＋１＋Ｖ＋px＋２） ただしこの式は座標指示器が正方向に傾いた場
合の式である。座標指示器が負方向に傾いた場合
にはＲは次の式となる。
Ｒ＝（Ｖ＋px＋Ｖ＋px＋１＋Ｖ＋px＋２）／（
Ｖ−px＋Ｖ−px−１＋Ｖ−px−２） 座標指示器が正方向に傾いたか負方向に傾いた
かは上記Ｒを求める式の分母と分子を大小比較す
ることによつてわかる。正方向に傾いた場合に
は、 （Ｖ−px＋Ｖ−px−１＋Ｖ−px−２）≦（Ｖ
＋px＋Ｖ＋px＋１＋Ｖ＋px＋２） であり、負方向に傾いた場合には、 （Ｖ−px＋Ｖ−px−１＋Ｖ−px−２）＞（Ｖ
＋px＋Ｖ＋px＋１＋Ｖ＋px＋２） となる。このＲを傾き情報とすることは、基本的
には二次ピークの大小比を傾き情報とするという
点で特公昭59−20156号公報による思想と共通で
あるが、二次ピークだけで表すのではなく、その
周辺の信号を用いることによつて信号を平均化
し、ばらつきを抑えられる点で新たな効果を発揮
している。
Ｖ−px＋Ｖ−px−１＋Ｖ−px−２） 座標指示器が正方向に傾いたか負方向に傾いた
かは上記Ｒを求める式の分母と分子を大小比較す
ることによつてわかる。正方向に傾いた場合に
は、 （Ｖ−px＋Ｖ−px−１＋Ｖ−px−２）≦（Ｖ
＋px＋Ｖ＋px＋１＋Ｖ＋px＋２） であり、負方向に傾いた場合には、 （Ｖ−px＋Ｖ−px−１＋Ｖ−px−２）＞（Ｖ
＋px＋Ｖ＋px＋１＋Ｖ＋px＋２） となる。このＲを傾き情報とすることは、基本的
には二次ピークの大小比を傾き情報とするという
点で特公昭59−20156号公報による思想と共通で
あるが、二次ピークだけで表すのではなく、その
周辺の信号を用いることによつて信号を平均化
し、ばらつきを抑えられる点で新たな効果を発揮
している。
このＲは実験によれば座標指示器の傾きに対し
て第５図に示す特性を有することが確認されてい
る。図のように座標指示器の傾きに対してＲは一
対一に定まる。一方座標指示器の傾きに対する傾
き誤差は第９図に示す特性を有することが確認さ
れている。第９図の傾き誤差は絶対値を表したも
のであり、実際には座標指示器が負方向に傾いた
場合には負方向に傾き誤差が発生する。特公昭59
−20156号公報による技術思想では、このＲに相
当する値を二次ピークから求め、これを傾き情報
として、ROM等に記憶された傾き情報と傾き誤
差との関係からそのときの傾き誤差を求め座標値
を補正していたのであつた。
て第５図に示す特性を有することが確認されてい
る。図のように座標指示器の傾きに対してＲは一
対一に定まる。一方座標指示器の傾きに対する傾
き誤差は第９図に示す特性を有することが確認さ
れている。第９図の傾き誤差は絶対値を表したも
のであり、実際には座標指示器が負方向に傾いた
場合には負方向に傾き誤差が発生する。特公昭59
−20156号公報による技術思想では、このＲに相
当する値を二次ピークから求め、これを傾き情報
として、ROM等に記憶された傾き情報と傾き誤
差との関係からそのときの傾き誤差を求め座標値
を補正していたのであつた。
しかし、前述したように傾き情報を表すＲは、
厳密には傾き角のみによつて定まるものではな
く、座標指示器の指示座標によつても影響を受け
ることがわかつた。第１０図は位置座標を代表す
る値として前述したＱを採用したとき、Ｑに対す
るＲの特性の変化を示した説明図である。第４図
において座標指示器のコイル１５が１本のセンス
ラインの中央、すなわちの位置に置かれた場
合、このときのＱは１となる。Ｑの特性について
は特公昭59−35069号公報に詳述されている。第
１０図において「Ｑ＝１の位置」と示された曲線
はこの条件でのＲの特性曲線であり、第５図に示
したＲの特性曲線と同じものである。コイル１５
がセンスライン上を移動しの位置を指示する
と、このときのＱは０となる。一方、正方向の二
次ピーク付近の誘導電圧、すなわちＶ＋px、Ｖ
＋px＋１、Ｖ＋px＋２はこれらを誘導するセン
スラインにコイル１５が近づくことになるため大
きくなり、逆に負方向の二次ピーク付近の誘導電
圧、すなわちＶ−px、Ｖ−px−１、Ｖ−px−２
はこれらの誘導するセンスラインからコイル１５
が遠ざかることになるため小さくなる。したがつ
てＲを算出する式の分母が大きく、同時に分子が
小さくなつてＲは小さな値となる。第１０図の
「Ｑ＝０の位置」と示された曲線はそのときのＲ
の特性曲線である。コイル１５がの位置との
位置の中間にある場合にはＱは０＜Ｑ＜１の範囲
の値となる。Ｒの特性曲線も「Ｑ＝１の位置」で
示された特性曲線と「Ｑ＝０の位置」で示された
特性曲線の間に描かれる曲線となる。この特性曲
線は第１０図において「０＜Ｑ＜１の位置」とし
て示されている。
厳密には傾き角のみによつて定まるものではな
く、座標指示器の指示座標によつても影響を受け
ることがわかつた。第１０図は位置座標を代表す
る値として前述したＱを採用したとき、Ｑに対す
るＲの特性の変化を示した説明図である。第４図
において座標指示器のコイル１５が１本のセンス
ラインの中央、すなわちの位置に置かれた場
合、このときのＱは１となる。Ｑの特性について
は特公昭59−35069号公報に詳述されている。第
１０図において「Ｑ＝１の位置」と示された曲線
はこの条件でのＲの特性曲線であり、第５図に示
したＲの特性曲線と同じものである。コイル１５
がセンスライン上を移動しの位置を指示する
と、このときのＱは０となる。一方、正方向の二
次ピーク付近の誘導電圧、すなわちＶ＋px、Ｖ
＋px＋１、Ｖ＋px＋２はこれらを誘導するセン
スラインにコイル１５が近づくことになるため大
きくなり、逆に負方向の二次ピーク付近の誘導電
圧、すなわちＶ−px、Ｖ−px−１、Ｖ−px−２
はこれらの誘導するセンスラインからコイル１５
が遠ざかることになるため小さくなる。したがつ
てＲを算出する式の分母が大きく、同時に分子が
小さくなつてＲは小さな値となる。第１０図の
「Ｑ＝０の位置」と示された曲線はそのときのＲ
の特性曲線である。コイル１５がの位置との
位置の中間にある場合にはＱは０＜Ｑ＜１の範囲
の値となる。Ｒの特性曲線も「Ｑ＝１の位置」で
示された特性曲線と「Ｑ＝０の位置」で示された
特性曲線の間に描かれる曲線となる。この特性曲
線は第１０図において「０＜Ｑ＜１の位置」とし
て示されている。
このように傾き情報を表すＲの値は位置座標を
表すＱによつても影響を受けるので、特に高精度
の座標算出が望まれる場合にはＲをそのまま用い
るわけにはいかない。本発明ではこの点を解決す
るためにＲの値をＱによつて求めた位置情報によ
つて補正し、補正されたＲを用いて傾き置正を行
おうとするものである。
表すＱによつても影響を受けるので、特に高精度
の座標算出が望まれる場合にはＲをそのまま用い
るわけにはいかない。本発明ではこの点を解決す
るためにＲの値をＱによつて求めた位置情報によ
つて補正し、補正されたＲを用いて傾き置正を行
おうとするものである。
第１図において補正回路７とROMテーブル４
が傾き誤差の補正量を求める機能を果たす。次に
これらの回路について以下に具体的に説明する。
が傾き誤差の補正量を求める機能を果たす。次に
これらの回路について以下に具体的に説明する。
まずROMテーブル４について説明する。
ROMテーブルはいくつかのROMテーブルから
成り立つている。第１のROMテーブルはＱとセ
ンスライン間の詳細な位置との関係を記憶したも
ので、たとえば第６図の曲線ａの〜間のＱに
対するセンスライン間の位置座標が記憶されてい
る。この第１のROMテーブルは従来の座標読取
装置と同様である。
ROMテーブルはいくつかのROMテーブルから
成り立つている。第１のROMテーブルはＱとセ
ンスライン間の詳細な位置との関係を記憶したも
ので、たとえば第６図の曲線ａの〜間のＱに
対するセンスライン間の位置座標が記憶されてい
る。この第１のROMテーブルは従来の座標読取
装置と同様である。
第２のROMテーブルはＲと傾き誤差との関係
を記憶したものである。これは第５図に示した傾
き角とＲとの関係と、第９図に示した傾き角と傾
き誤差との関係からＲと傾き誤差との関係を導出
したもので、第１１図に示す特性曲線を記憶した
ものになつている。
を記憶したものである。これは第５図に示した傾
き角とＲとの関係と、第９図に示した傾き角と傾
き誤差との関係からＲと傾き誤差との関係を導出
したもので、第１１図に示す特性曲線を記憶した
ものになつている。
第３のROMテーブルはＱとＲとの関係を記憶
したものである。第１０図によつてＱによるＲの
特性の変化を説明したように、Ｑ＝１のときのＲ
の値に比べＱ＜１のときにはＱの大きさによつて
Ｒは小さくなるという傾向があつた。たとえば第
１０図において「Ｑ＝０の位置」でのＲは「Ｑ＝
１の位置」のＲに比べて小さい。そのためＲによ
つて傾き誤差を補正しようとするならば、この状
態でのＲに、ある値を乗算して「Ｑ＝１の位置」
でのＲの特性曲線に合わせてやることが必要であ
る。第３のROMテーブルはＱに対するこの乗算
値を記憶したものである。これは第７図に示す曲
線のうち〜間の曲線を記憶したものになつて
いる。第７図の横軸はセンスライン間の詳細な位
置座標であり、縦軸の「誤差量比」が前記乗算値
を表している。
したものである。第１０図によつてＱによるＲの
特性の変化を説明したように、Ｑ＝１のときのＲ
の値に比べＱ＜１のときにはＱの大きさによつて
Ｒは小さくなるという傾向があつた。たとえば第
１０図において「Ｑ＝０の位置」でのＲは「Ｑ＝
１の位置」のＲに比べて小さい。そのためＲによ
つて傾き誤差を補正しようとするならば、この状
態でのＲに、ある値を乗算して「Ｑ＝１の位置」
でのＲの特性曲線に合わせてやることが必要であ
る。第３のROMテーブルはＱに対するこの乗算
値を記憶したものである。これは第７図に示す曲
線のうち〜間の曲線を記憶したものになつて
いる。第７図の横軸はセンスライン間の詳細な位
置座標であり、縦軸の「誤差量比」が前記乗算値
を表している。
次に補正回路７の機能について説明する。補正
回路７ではまず座標検出ユニツト１からCPU３
に入力された誘導電圧群を用いてＲを算出し、こ
のＲをもとに第２のROMテーブルを参照して傾
き誤差を求める。たとえば第１１図に示される例
ではＲ＝ｒが求められたとき、これに相当する傾
き誤差としてｓなる値が求められることを示して
いる。なお傾きの方向は前述のようにＲの算出式
の分母と分子とを大小比較することで求めること
ができる。一方CPU３は誘導電圧群からＱを求
め、このＱをもとに第１のROMテーブルを参照
してセンスライン間の詳細な位置を求め、これを
補正回路７に出力する。第６図の例ではＱ＝ｕが
求められたとき、これに相当するセンスライン間
位置ｐが求められることを示している。補正回路
７はこのセンスライン間の詳細な位置をもとに第
３のROMテーブルを参照して第７図に示すとこ
ろの誤差量比、すなわちＲに乗算すべき乗算値を
求める。たとえば第７図の例ではセンスライン間
位置ｐに対して誤差量比ｑが求められることを示
している。補正回路７はこのようにして求めた傾
き誤差ｓに誤差量比ｑを乗算してＱによつて変動
する傾き誤差を補正し、補正した傾き誤差を
CPU３に返すのである。CPU３は自ら求めた座
標値を補正回路７によつて求められた傾き誤差に
よつて補正し、傾きによらない正確な座標値を算
出する。
回路７ではまず座標検出ユニツト１からCPU３
に入力された誘導電圧群を用いてＲを算出し、こ
のＲをもとに第２のROMテーブルを参照して傾
き誤差を求める。たとえば第１１図に示される例
ではＲ＝ｒが求められたとき、これに相当する傾
き誤差としてｓなる値が求められることを示して
いる。なお傾きの方向は前述のようにＲの算出式
の分母と分子とを大小比較することで求めること
ができる。一方CPU３は誘導電圧群からＱを求
め、このＱをもとに第１のROMテーブルを参照
してセンスライン間の詳細な位置を求め、これを
補正回路７に出力する。第６図の例ではＱ＝ｕが
求められたとき、これに相当するセンスライン間
位置ｐが求められることを示している。補正回路
７はこのセンスライン間の詳細な位置をもとに第
３のROMテーブルを参照して第７図に示すとこ
ろの誤差量比、すなわちＲに乗算すべき乗算値を
求める。たとえば第７図の例ではセンスライン間
位置ｐに対して誤差量比ｑが求められることを示
している。補正回路７はこのようにして求めた傾
き誤差ｓに誤差量比ｑを乗算してＱによつて変動
する傾き誤差を補正し、補正した傾き誤差を
CPU３に返すのである。CPU３は自ら求めた座
標値を補正回路７によつて求められた傾き誤差に
よつて補正し、傾きによらない正確な座標値を算
出する。
ところで、これらの動作は実際にはマイクロプ
ロセツサのプログラムによつて処理されている。
そのフローチヤートを第２図に示す。処理の内容
はほぼ補正回路７の説明に記述した通りである。
この流れの通りで機能を果たすが、一部処理の順
序を入れ換えても同様の機能を果たすことができ
る。たとえば位置情報と誤差量比を求める処理、
すなわちステツプ２〜ステツプ５までの処理と、
傾き誤差を求める処理、すなわちステツプ６、ス
テツプ７の処理とは前後入れ替え可能である。そ
の他変更可能な箇所も存在する。
ロセツサのプログラムによつて処理されている。
そのフローチヤートを第２図に示す。処理の内容
はほぼ補正回路７の説明に記述した通りである。
この流れの通りで機能を果たすが、一部処理の順
序を入れ換えても同様の機能を果たすことができ
る。たとえば位置情報と誤差量比を求める処理、
すなわちステツプ２〜ステツプ５までの処理と、
傾き誤差を求める処理、すなわちステツプ６、ス
テツプ７の処理とは前後入れ替え可能である。そ
の他変更可能な箇所も存在する。
マイクロプロセツサは第２図の処理を繰り返し
実行し座標値を求める。なお、この図ではＩ／Ｆ
に座標値を出力するなどの一般的な機能の説明は
省略した。
実行し座標値を求める。なお、この図ではＩ／Ｆ
に座標値を出力するなどの一般的な機能の説明は
省略した。
第８図に本発明による座標読取装置による傾き
誤差の改善効果の一例を示す。第８図の例は傾き
誤差の実測値であり、従来の座標読取装置によつ
て傾き補正された後の傾きに対する座標値のずれ
と、本発明による座標読取装置によつて補正され
た後の傾きに対する座標値のずれとを並記したも
のである。傾き角が45度のとき従来の座標読取装
置では約1.5mmの誤差が残つていた。これは位置
によつて傾き補正の効果が変化し、十分補正でき
なかつたことによる。一方、本発明による座標読
取装置では同様に傾き角45度において傾き誤差は
0.5mm程度にまで改善された。このように本発明
による効果が実験によつて確認されている。
誤差の改善効果の一例を示す。第８図の例は傾き
誤差の実測値であり、従来の座標読取装置によつ
て傾き補正された後の傾きに対する座標値のずれ
と、本発明による座標読取装置によつて補正され
た後の傾きに対する座標値のずれとを並記したも
のである。傾き角が45度のとき従来の座標読取装
置では約1.5mmの誤差が残つていた。これは位置
によつて傾き補正の効果が変化し、十分補正でき
なかつたことによる。一方、本発明による座標読
取装置では同様に傾き角45度において傾き誤差は
0.5mm程度にまで改善された。このように本発明
による効果が実験によつて確認されている。
以上のように本発明による座標読取装置では、
二次ピーク近傍の誘導電圧を用いて算出された傾
き情報を用いて傾き誤差を補正するとき、傾き情
報が指示位置によつて変動してしまうことを、位
置情報によつて補正し指示位置による変動を少な
くしてから傾き誤差を補正するように座標読取装
置を構成した。そのため指示位置によつて傾き補
正の効果が変動していた問題点を解決し、指示位
置によらず安定して傾き補正が行え、正確な座標
値を算出することのできる座標読取装置を実現す
ることができた。
二次ピーク近傍の誘導電圧を用いて算出された傾
き情報を用いて傾き誤差を補正するとき、傾き情
報が指示位置によつて変動してしまうことを、位
置情報によつて補正し指示位置による変動を少な
くしてから傾き誤差を補正するように座標読取装
置を構成した。そのため指示位置によつて傾き補
正の効果が変動していた問題点を解決し、指示位
置によらず安定して傾き補正が行え、正確な座標
値を算出することのできる座標読取装置を実現す
ることができた。
第１図は本発明による座標読取装置の構成ブロ
ツク図である。第２図は動作を示すフローチヤー
トである。第３図は座標検出ユニツトで得られた
各センスラインに誘導して誘導電圧の分布説明図
である。第４図はセンスラインと座標指示器のコ
イルとの位置関係を示す説明図である。第５図は
傾き角とＲとの関係のグラフである。第６図はセ
ンスライン間位置とＱとの関係のグラフである。
第７図はセンスライン間位置と誤差量比との関係
のグラフである。第８図は実測値による効果を示
す説明図である。第９図は傾き角と傾き誤差との
関係を示すグラフである。第１０図は指示位置に
よるＲの特性の変化を示す説明図である。第１１
図はＲと傾き誤差との関係を示すグラフである。 １……座標検出ユニツト、３……CPU、４…
…ROMテーブル、７……補正回路、１５……コ
イル。
ツク図である。第２図は動作を示すフローチヤー
トである。第３図は座標検出ユニツトで得られた
各センスラインに誘導して誘導電圧の分布説明図
である。第４図はセンスラインと座標指示器のコ
イルとの位置関係を示す説明図である。第５図は
傾き角とＲとの関係のグラフである。第６図はセ
ンスライン間位置とＱとの関係のグラフである。
第７図はセンスライン間位置と誤差量比との関係
のグラフである。第８図は実測値による効果を示
す説明図である。第９図は傾き角と傾き誤差との
関係を示すグラフである。第１０図は指示位置に
よるＲの特性の変化を示す説明図である。第１１
図はＲと傾き誤差との関係を示すグラフである。 １……座標検出ユニツト、３……CPU、４…
…ROMテーブル、７……補正回路、１５……コ
イル。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ (a) 電磁気的な結合を得るためのコイルを有
し、位置を指示する座標指示器と、 (b) 複数のセンスラインを敷設して成り、前記座
標指示器と結合することによつて該センスライ
ンに誘導信号を発生せしめ、該誘導信号の誘導
電圧を出力する座標検出ユニツトと、 (c) 該座標検出ユニツトから入力される誘導電圧
をもとに前記座標指示器が指示する位置情報を
求める制御回路とからなる座標読取装置であつ
て、 (d) 前記制御回路は、座標指示器の傾き情報に対
する傾き誤差を記憶した傾き誤差ROMテーブ
ルと、 (e) 位置情報に対する傾き誤差の誤差量比を記憶
した誤差量比ROMテーブルとを備え、 (f) さらに前記誘導電圧のうち、極大値を示すセ
ンス線の近傍の複数の誘導電圧をもとに傾き情
報を算出し、前記傾き誤差ROMテーブルを参
照することによつて傾き誤差を求める傾き誤差
算出手段と、 (g) 前記位置情報をもとに前記誤差量比ROMテ
ーブルを参照して誤差量比を求め、該誤差量比
と前記傾き誤差の演算処理から傾き誤差補正値
を算出する傾き誤差補正手段と、 (h) 該傾き誤差補正値によつて前記位置情報を補
正する座標補正手段とを有することを特徴とす
る座標読取装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60238871A JPS6299824A (ja) | 1985-10-25 | 1985-10-25 | 座標読取装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60238871A JPS6299824A (ja) | 1985-10-25 | 1985-10-25 | 座標読取装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6299824A JPS6299824A (ja) | 1987-05-09 |
| JPH0557611B2 true JPH0557611B2 (ja) | 1993-08-24 |
Family
ID=17036496
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60238871A Granted JPS6299824A (ja) | 1985-10-25 | 1985-10-25 | 座標読取装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6299824A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5094905B2 (ja) * | 2010-04-13 | 2012-12-12 | 太瀚科技股▲ふん▼有限公司 | 電磁ポインターの傾斜角検知方法 |
| US8781789B2 (en) * | 2010-05-11 | 2014-07-15 | Waltop International Corporation | Method for determining incline angle of electromagnetic pointer |
| TWI414979B (zh) * | 2010-08-16 | 2013-11-11 | Waltop Int Corp | 手寫輸入裝置及其角度校正方法 |
| CN107015717B (zh) * | 2010-08-18 | 2020-02-28 | 株式会社和冠 | 手写输入装置及其角度校正方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60178527A (ja) * | 1984-02-27 | 1985-09-12 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 座標識別方法 |
-
1985
- 1985-10-25 JP JP60238871A patent/JPS6299824A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6299824A (ja) | 1987-05-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |