JPH04247950A - 電極製造方法 - Google Patents
電極製造方法Info
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- JPH04247950A JPH04247950A JP755391A JP755391A JPH04247950A JP H04247950 A JPH04247950 A JP H04247950A JP 755391 A JP755391 A JP 755391A JP 755391 A JP755391 A JP 755391A JP H04247950 A JPH04247950 A JP H04247950A
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- Electrophotography Using Other Than Carlson'S Method (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、粉体直接駆動方式の記
録装置に用いられる、帯電したトナーを変調するための
アパチャー電極等の電極製造方法に関するものである。
録装置に用いられる、帯電したトナーを変調するための
アパチャー電極等の電極製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、アパチャー電極は次に述べるよう
な形状であった。すなわち、アパチャー電極は、極薄の
セラミックス基板と、該セラミクス絶縁基板の一方の面
に薄膜形成法によって設けられた基準電極膜と、前記セ
ラミクス基板の他方の面に薄膜形成法によって独立に設
けられた多数の制御電極膜と、該制御電極膜各々の略中
心に設けられ、且つ前記セラミクス絶縁基板を貫通して
いるアパチャーとから構成されていた。
な形状であった。すなわち、アパチャー電極は、極薄の
セラミックス基板と、該セラミクス絶縁基板の一方の面
に薄膜形成法によって設けられた基準電極膜と、前記セ
ラミクス基板の他方の面に薄膜形成法によって独立に設
けられた多数の制御電極膜と、該制御電極膜各々の略中
心に設けられ、且つ前記セラミクス絶縁基板を貫通して
いるアパチャーとから構成されていた。
【0003】そして、そののアパチャー電極の製造方法
は、まず、基準電極膜形成工程において極薄のセラミク
ス絶縁基板の一方の面にスパッタリングなどの薄膜形成
法により金属膜を形成する。そして、制御電極膜パター
ン形成工程において前記セラミクス絶縁基板の他方の面
に薄膜形成法などによって独立した多数の金属膜のパタ
ーンを形成する。その後、アパチャー形成工程において
両面に金属膜の形成された前記セラミクス絶縁基板を貫
くように、前記制御電極膜パターンの独立した多数の金
属膜各々の略中心にアパチャーを設けて製造していた。
は、まず、基準電極膜形成工程において極薄のセラミク
ス絶縁基板の一方の面にスパッタリングなどの薄膜形成
法により金属膜を形成する。そして、制御電極膜パター
ン形成工程において前記セラミクス絶縁基板の他方の面
に薄膜形成法などによって独立した多数の金属膜のパタ
ーンを形成する。その後、アパチャー形成工程において
両面に金属膜の形成された前記セラミクス絶縁基板を貫
くように、前記制御電極膜パターンの独立した多数の金
属膜各々の略中心にアパチャーを設けて製造していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この様
なアパチャー電極の製造方法に於ては、次のような問題
が発生していた。すなわち、剛体であり且つ絶縁体であ
る薄いセラミックス基板に画素に対応する小さいアパチ
ャーを形成する工程に問題があった。この穴をあけるた
め、レーザ加工やいわゆるドリル加工を行なっていた。 しかし、精度的にも厳しく、また、元来が加工しにくい
難削材である極薄のセラミックスの穴加工であり、製造
技術的にもコスト的のも困難だった。
なアパチャー電極の製造方法に於ては、次のような問題
が発生していた。すなわち、剛体であり且つ絶縁体であ
る薄いセラミックス基板に画素に対応する小さいアパチ
ャーを形成する工程に問題があった。この穴をあけるた
め、レーザ加工やいわゆるドリル加工を行なっていた。 しかし、精度的にも厳しく、また、元来が加工しにくい
難削材である極薄のセラミックスの穴加工であり、製造
技術的にもコスト的のも困難だった。
【0005】本発明は、上述した問題点を解決するため
になされたものであり、精度が良く、品質が優れており
、且つ、製造コストも下げることが可能なアパチャー電
極の製造方法を提供することにある。
になされたものであり、精度が良く、品質が優れており
、且つ、製造コストも下げることが可能なアパチャー電
極の製造方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明のアパチャー電極の製造方法は、次のような
工程で構成される。すなわち、少なくとも二つの絶縁体
の基板材料に対し、アパチャー孔を形成する溝加工を行
なうアパチャー加工工程がある。さらに、加工した二つ
の基板材料を、位置決めして一体に接合する接合工程が
ある。その後、接合された基板材料を必要な厚みまで整
える厚み加工工程を実施する。最後に、外形を整えられ
た基板材料に対し、制御電極と基準電極を形成する電極
パターン形成工程がある。
に、本発明のアパチャー電極の製造方法は、次のような
工程で構成される。すなわち、少なくとも二つの絶縁体
の基板材料に対し、アパチャー孔を形成する溝加工を行
なうアパチャー加工工程がある。さらに、加工した二つ
の基板材料を、位置決めして一体に接合する接合工程が
ある。その後、接合された基板材料を必要な厚みまで整
える厚み加工工程を実施する。最後に、外形を整えられ
た基板材料に対し、制御電極と基準電極を形成する電極
パターン形成工程がある。
【0007】
【作用】上記の構成を有する本発明により、加工が困難
で精度的にも高くない、セラミックスの穴明け加工を行
なわずに、アパチャー電極が作成できる。その結果、精
度的にも優れたアパチャー電極が低コストで製造できる
。
で精度的にも高くない、セラミックスの穴明け加工を行
なわずに、アパチャー電極が作成できる。その結果、精
度的にも優れたアパチャー電極が低コストで製造できる
。
【0008】
【実施例】以下、本発明を具体化した一実施例を図面を
参照して説明する。
参照して説明する。
【0009】図1は、本発明により作成するアパチャー
電極の構成を説明する斜視図である。アパチャー電極1
0は、基板材料たる絶縁体15である第1及び第2のコ
ア11、12が基材となっており、その中心に、複数の
貫通したアパチャー14が配置されている。コア11、
12の材質は、絶縁体で剛性のあるものであれば構わな
いが、アルミナや炭化珪素等のセラミック材が好ましい
。第1と第2のコア11、12は、お互いが接合されて
いて、両者の境界には微細な接合部13が構成される。 さらに、コア11、12の上面及び下面には、基準電極
16と制御電極17が配置されている。基準電極16と
制御電極17は、銅薄膜で出来ている。次に、図2を参
照して、本発明のアパチャー電極製造工程について説明
を行なう。図2は、本発明のアパチャー電極形成法の工
程を示す図である。すなわち、まず、同図(a)に於い
て、素材20が用意される。素材20は、前述したよう
に、いわゆる難加工材となるセラミック材料でよい。後
述するように、本製造法では、一対となるコアを作成す
る必要があるため、素材20は最低2つ必要となるが、
本図に於いては省略した。したがって、外形形状として
は、断面形状でアパチャー電極10の半分の大きさで良
く、高さは、必要枚数が採取できれば良い。
電極の構成を説明する斜視図である。アパチャー電極1
0は、基板材料たる絶縁体15である第1及び第2のコ
ア11、12が基材となっており、その中心に、複数の
貫通したアパチャー14が配置されている。コア11、
12の材質は、絶縁体で剛性のあるものであれば構わな
いが、アルミナや炭化珪素等のセラミック材が好ましい
。第1と第2のコア11、12は、お互いが接合されて
いて、両者の境界には微細な接合部13が構成される。 さらに、コア11、12の上面及び下面には、基準電極
16と制御電極17が配置されている。基準電極16と
制御電極17は、銅薄膜で出来ている。次に、図2を参
照して、本発明のアパチャー電極製造工程について説明
を行なう。図2は、本発明のアパチャー電極形成法の工
程を示す図である。すなわち、まず、同図(a)に於い
て、素材20が用意される。素材20は、前述したよう
に、いわゆる難加工材となるセラミック材料でよい。後
述するように、本製造法では、一対となるコアを作成す
る必要があるため、素材20は最低2つ必要となるが、
本図に於いては省略した。したがって、外形形状として
は、断面形状でアパチャー電極10の半分の大きさで良
く、高さは、必要枚数が採取できれば良い。
【0010】さて、次に用意された素材20に対し、ア
パチャー加工工程を与える(図2(b))。すなわち、
2つの素材20に対し、精密スライサーやダイシングマ
シン等の微細切削加工機により、ダイヤモンド砥石によ
る溝入れ加工を行なう。本加工法は、磁気ヘッドや半導
体などを始めとする、電子部品の精密加工に通常利用さ
れており、有効に利用できる。溝入れ加工は、必要なア
パチャー径の半分の断面形状に加工を行い、溝部21を
形成する。溝部21は、高さ方向に縦断して形成する。
パチャー加工工程を与える(図2(b))。すなわち、
2つの素材20に対し、精密スライサーやダイシングマ
シン等の微細切削加工機により、ダイヤモンド砥石によ
る溝入れ加工を行なう。本加工法は、磁気ヘッドや半導
体などを始めとする、電子部品の精密加工に通常利用さ
れており、有効に利用できる。溝入れ加工は、必要なア
パチャー径の半分の断面形状に加工を行い、溝部21を
形成する。溝部21は、高さ方向に縦断して形成する。
【0011】さらに、溝21を形成した2つの素材20
を、対向して配置した後、接着固定する、接合工程を行
なう(図2(c))。すなわち、一対の溝21を有した
素材20を、顕微鏡下において、対応する溝部同士がず
れないように位置ぎめした後、仮固定する。そして、有
機系接着剤や低融点ガラスにより、両素材20の対向面
を浸透させて、接合部13を形成する。さらに、適した
熱処理を行ない硬化を促進させ、接合を強化する。その
結果、アパチャー14を有し、複数枚の電極10が採取
できる接合コア22が作成できる。
を、対向して配置した後、接着固定する、接合工程を行
なう(図2(c))。すなわち、一対の溝21を有した
素材20を、顕微鏡下において、対応する溝部同士がず
れないように位置ぎめした後、仮固定する。そして、有
機系接着剤や低融点ガラスにより、両素材20の対向面
を浸透させて、接合部13を形成する。さらに、適した
熱処理を行ない硬化を促進させ、接合を強化する。その
結果、アパチャー14を有し、複数枚の電極10が採取
できる接合コア22が作成できる。
【0012】そして、最後に、厚み加工工程を行なう(
図2(d))。すなわち、前記工程で出来た接合コア2
2に対し、複数枚の電極を切り出す形で、スライス加工
を施行する。この加工は、一般的な精密スライサーによ
り加工可能である。これにより、スライサーによるスラ
イス溝23を設けながら、スライスコア24が多数切り
出される。スライスコア24の厚みは、アパチャー電極
10として必要な100ミクロン程度でよい。また、ア
パチャー形成面が切削面では適していない場合は、さら
に、ラップ加工や研削加工により追加工を行ない、必要
とする性状に整えても良い。以上の工程により、アパチ
ャー電極10の基材となる多数のアパチャーを有するセ
ラミック製のスライスコア24が完成する。
図2(d))。すなわち、前記工程で出来た接合コア2
2に対し、複数枚の電極を切り出す形で、スライス加工
を施行する。この加工は、一般的な精密スライサーによ
り加工可能である。これにより、スライサーによるスラ
イス溝23を設けながら、スライスコア24が多数切り
出される。スライスコア24の厚みは、アパチャー電極
10として必要な100ミクロン程度でよい。また、ア
パチャー形成面が切削面では適していない場合は、さら
に、ラップ加工や研削加工により追加工を行ない、必要
とする性状に整えても良い。以上の工程により、アパチ
ャー電極10の基材となる多数のアパチャーを有するセ
ラミック製のスライスコア24が完成する。
【0013】最後に、電極製造工程において、スライス
コア24の上面及び下面に基準電極16と制御電極17
が作成され、アパチャー電極10が完成する。ここで、
制御電極や基準電極の作成については、特願平2−53
351号の願書に添付した明細書及び図面に於いて詳述
されているため、ここでは省略する。本発明は、以上詳
述した実施例に限定されるものでなく、その趣旨を逸脱
しない範囲において種々の変更を加えることができる。 ここで、第2の実施例について説明する。
コア24の上面及び下面に基準電極16と制御電極17
が作成され、アパチャー電極10が完成する。ここで、
制御電極や基準電極の作成については、特願平2−53
351号の願書に添付した明細書及び図面に於いて詳述
されているため、ここでは省略する。本発明は、以上詳
述した実施例に限定されるものでなく、その趣旨を逸脱
しない範囲において種々の変更を加えることができる。 ここで、第2の実施例について説明する。
【0014】図3は、本発明の第2の実施例のアパチャ
ー電極の斜視図である。
ー電極の斜視図である。
【0015】一方にスリット30を設けた第1のコア1
1と、平板状の第2のコア12が一体化されていて、そ
の上部に基準電極16が設けられている。すなわち、第
2の実施例のアパチャー電極10は、煩雑な多数のアパ
チャー孔の代わりに、一つのスリット30により機能す
るように設計されている。この様なアパチャー電極10
を作成する場合にも、本発明の電極形成法は適用できる
。
1と、平板状の第2のコア12が一体化されていて、そ
の上部に基準電極16が設けられている。すなわち、第
2の実施例のアパチャー電極10は、煩雑な多数のアパ
チャー孔の代わりに、一つのスリット30により機能す
るように設計されている。この様なアパチャー電極10
を作成する場合にも、本発明の電極形成法は適用できる
。
【0016】図4は、第2の実施例に於けるスリット加
工を示す図である。素材20に対し、ダイヤモンド砥石
を有した研削盤を用いて、素材20の一部を平面加工す
ることにより、スリット部31を形成する。この加工も
、従来実績が多く非常に容易に行なうことが可能である
。スリット加工を行なった素材20は、無加工のもう一
つの素材と一体化させるため、前述した接合工程に送ら
れる。その後の工程は、第1の実施例と同様でよい。
工を示す図である。素材20に対し、ダイヤモンド砥石
を有した研削盤を用いて、素材20の一部を平面加工す
ることにより、スリット部31を形成する。この加工も
、従来実績が多く非常に容易に行なうことが可能である
。スリット加工を行なった素材20は、無加工のもう一
つの素材と一体化させるため、前述した接合工程に送ら
れる。その後の工程は、第1の実施例と同様でよい。
【0017】
【発明の効果】以上詳述したことから明らかなように、
本発明によれば、上記の構成を有する本発明により、加
工が困難で精度的にも高くない、セラミックスの穴明け
加工を行なわずに、アパチャー電極が作成できる。その
結果、精度的にも優れたアパチャー電極が低コストで製
造できる。
本発明によれば、上記の構成を有する本発明により、加
工が困難で精度的にも高くない、セラミックスの穴明け
加工を行なわずに、アパチャー電極が作成できる。その
結果、精度的にも優れたアパチャー電極が低コストで製
造できる。
【図1】本発明のアパチャー電極の製造方法により作成
したアパチャー電極の斜視図である。
したアパチャー電極の斜視図である。
【図2】本発明のアパチャー電極の製造方法の工程を示
す図である。
す図である。
【図3】他の実施例のアパチャー電極の製造方法により
作成したアパチャー電極の斜視図である。
作成したアパチャー電極の斜視図である。
【図4】同実施例に於ける、製造工程の一部を示す図で
ある。
ある。
10 アパチャー電極
20 素材
21 溝
22 接合コア
23 スライス溝
31 スリット加工部
Claims (1)
- 【請求項1】 少なくとも二つの絶縁体の基板材料と
、前記基板材料に対し、アパチャー孔を形成する溝を加
工するアパチャー加工工程と、加工した二つの基板材料
を、位置決めし一体に接合する接合工程と、接合された
基板材料を必要な厚みまで整える厚み加工工程と、外形
を整えられた基板材料に対し、制御電極と基準電極を形
成する電極パターン形成工程とからなる電極製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP755391A JPH04247950A (ja) | 1991-01-25 | 1991-01-25 | 電極製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP755391A JPH04247950A (ja) | 1991-01-25 | 1991-01-25 | 電極製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04247950A true JPH04247950A (ja) | 1992-09-03 |
Family
ID=11668991
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP755391A Pending JPH04247950A (ja) | 1991-01-25 | 1991-01-25 | 電極製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04247950A (ja) |
-
1991
- 1991-01-25 JP JP755391A patent/JPH04247950A/ja active Pending
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