JPH0425014A - 周縁露光装置及び周縁露光方法 - Google Patents
周縁露光装置及び周縁露光方法Info
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- JPH0425014A JPH0425014A JP2126447A JP12644790A JPH0425014A JP H0425014 A JPH0425014 A JP H0425014A JP 2126447 A JP2126447 A JP 2126447A JP 12644790 A JP12644790 A JP 12644790A JP H0425014 A JPH0425014 A JP H0425014A
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- Japan
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- exposure
- light
- substrate
- edge
- signal
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- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/20—Exposure; Apparatus therefor
- G03F7/2022—Multi-step exposure, e.g. hybrid; backside exposure; blanket exposure, e.g. for image reversal; edge exposure, e.g. for edge bead removal; corrective exposure
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、集積回路製造用のウェハ等の円形基板の周縁
部分を選択的に露光する周縁露光装置に関するものであ
る。
部分を選択的に露光する周縁露光装置に関するものであ
る。
ウェハ等の基板に微細な回路パターンを形成するために
塗布されるレジストは、ウェハの周縁部分で剥がれ易く
、剥がれたレジストがその後の集積回路製造工程に於い
て悪影響を及ぼすということが従来より問題となってい
る。ウェハ周縁部分に於けるレジスト剥離を防止するた
めには、特開平2−56924号公報に開示された装置
を用いる方法が知られている。これは、露光光束を照射
する発光部と、ウェハの周縁部を挟んで発光部と対向す
る受光部とを一体に、ウェハと相対移動可能に備えた装
置に於いて、ウェハの周縁部分を露光する露光光束のう
ち、所定の露光幅(ウェハの径方向の長さ)に対応する
光束はウェハによって遮られ、その残りの光束をウェハ
周縁部を挟んで露光光源と対向して配置された受光部で
受光し、この受光部で得られる信号をウェハの露光幅を
一定に保つためのサーボ動作用に用いるものである。
塗布されるレジストは、ウェハの周縁部分で剥がれ易く
、剥がれたレジストがその後の集積回路製造工程に於い
て悪影響を及ぼすということが従来より問題となってい
る。ウェハ周縁部分に於けるレジスト剥離を防止するた
めには、特開平2−56924号公報に開示された装置
を用いる方法が知られている。これは、露光光束を照射
する発光部と、ウェハの周縁部を挟んで発光部と対向す
る受光部とを一体に、ウェハと相対移動可能に備えた装
置に於いて、ウェハの周縁部分を露光する露光光束のう
ち、所定の露光幅(ウェハの径方向の長さ)に対応する
光束はウェハによって遮られ、その残りの光束をウェハ
周縁部を挟んで露光光源と対向して配置された受光部で
受光し、この受光部で得られる信号をウェハの露光幅を
一定に保つためのサーボ動作用に用いるものである。
従来の技術に於いては、受光部で得られる信号をウェハ
の露光幅を一定に保つためのサーボ動作用に用いている
。この場合、例えは光源が劣化して露光光の強度が予想
具」二に低下したり、光源を交換したりすることによっ
て、同一の露光幅に対する受光部での受光光量か所期の
ものに比べて大きく変化してしまい、その結果サーボ動
作用の目標値との対応付けが曖昧になり、周縁露光動作
の露光幅が安定しないという問題点があった。
の露光幅を一定に保つためのサーボ動作用に用いている
。この場合、例えは光源が劣化して露光光の強度が予想
具」二に低下したり、光源を交換したりすることによっ
て、同一の露光幅に対する受光部での受光光量か所期の
ものに比べて大きく変化してしまい、その結果サーボ動
作用の目標値との対応付けが曖昧になり、周縁露光動作
の露光幅が安定しないという問題点があった。
また、第6図(a)に示すように露光光束のウェハ径方
向に関する露光ビームの強度分布が均一でない場合、第
6図(b)に示すように設定露光幅に対する受光部での
信号の大きさの関係か線形にならず、ウェハ周縁部の露
光時に得られる受光信号のみで露光幅を制御することが
困難であるという問題点もあった。
向に関する露光ビームの強度分布が均一でない場合、第
6図(b)に示すように設定露光幅に対する受光部での
信号の大きさの関係か線形にならず、ウェハ周縁部の露
光時に得られる受光信号のみで露光幅を制御することが
困難であるという問題点もあった。
これらの問題点の解決策としては、(1)露光用照明系
内に露光光束の強度分布均一化のための光学系を入れた
り、(2)設定露光幅に対応した受光信号値を逐一メモ
リ・テーブルとして持たせたりすること等が考えられる
。ところが(1)の場合、十分に均一化するためには非
常に大きな光学系が必要となり、また(2)の場合、設
定露光幅の設定可能なステップを十分細かく取りたいと
きには膨大なメモリ量のテーブルが必要となり、しかも
露光ビームの強度分布が変化するたびに、そのテーブル
を作り直さねばならない。或いは、近似式により信号値
を求めるようにしても、近似式の誤差が露光幅の精度に
悪影響を及ぼす等の問題点があった。
内に露光光束の強度分布均一化のための光学系を入れた
り、(2)設定露光幅に対応した受光信号値を逐一メモ
リ・テーブルとして持たせたりすること等が考えられる
。ところが(1)の場合、十分に均一化するためには非
常に大きな光学系が必要となり、また(2)の場合、設
定露光幅の設定可能なステップを十分細かく取りたいと
きには膨大なメモリ量のテーブルが必要となり、しかも
露光ビームの強度分布が変化するたびに、そのテーブル
を作り直さねばならない。或いは、近似式により信号値
を求めるようにしても、近似式の誤差が露光幅の精度に
悪影響を及ぼす等の問題点があった。
本発明は、上記の様な問題点に鑑みてなされたものであ
り、露光光束の強度変化や強度分布の不均一性に影響さ
れずに、周縁部をほぼ均一な幅で露光できる周縁露光装
置を提供することを目的とする。
り、露光光束の強度変化や強度分布の不均一性に影響さ
れずに、周縁部をほぼ均一な幅で露光できる周縁露光装
置を提供することを目的とする。
上記問題点を解決するために本発明では、レジストをほ
ぼ均一に塗布した基板(2)の中央近傍を中心として、
基板(2)を回転手段(1,3)によって回転させなが
ら基板(2)の周縁部を露光する周縁露光装置に於いて
、基板(2)のレジストを感応させる特性を有する光束
(6)を射出する照射手段(4〜7.LG)と、基板(
2)の周縁部を挟むように照射手段(4〜7.LG)と
対向して配置された受光手段(8)と、照射手段(4〜
7.tG)からの光束(6)と基板(2)とを基板(2
)の回転半径方向に相対的に移動させる移動手段(10
)と、移動手段(10)の移動範囲内で、且つ基板(2
)と同一平面内の空間に基板(2)の周縁部とほぼ並行
した基準縁部(12a)を伴って配置された遮光部材(
12)と、移動手段(10)の位置情報を検出する検出
手段(13)と、検出手段(I3)の情報に基づいて移
動手段(10)を駆動させて、光束(6)が相対移動の
方向に関して所定の基準量だけ遮光される如く光束(6
)と遮光部材(12)の基準縁部(12a)とを位置付
けたときに、受光手段(8)から出力された信号を基準
値(S b)として記憶する記憶手段(34)と、基板
(2)の周縁部分を光束(6)で露光する際、受光手段
(8)から出力された信号(Se)が記憶手段(14)
に記憶された基準値と常に所定の関係に維持されるよう
に、移動手段(10)をサーボ制御するサーボ制御手段
(15,35)とを備え、基板(2)の周縁部の回転半
径方向に関する露光幅を基準値に対応した幅に制御する
。
ぼ均一に塗布した基板(2)の中央近傍を中心として、
基板(2)を回転手段(1,3)によって回転させなが
ら基板(2)の周縁部を露光する周縁露光装置に於いて
、基板(2)のレジストを感応させる特性を有する光束
(6)を射出する照射手段(4〜7.LG)と、基板(
2)の周縁部を挟むように照射手段(4〜7.LG)と
対向して配置された受光手段(8)と、照射手段(4〜
7.tG)からの光束(6)と基板(2)とを基板(2
)の回転半径方向に相対的に移動させる移動手段(10
)と、移動手段(10)の移動範囲内で、且つ基板(2
)と同一平面内の空間に基板(2)の周縁部とほぼ並行
した基準縁部(12a)を伴って配置された遮光部材(
12)と、移動手段(10)の位置情報を検出する検出
手段(13)と、検出手段(I3)の情報に基づいて移
動手段(10)を駆動させて、光束(6)が相対移動の
方向に関して所定の基準量だけ遮光される如く光束(6
)と遮光部材(12)の基準縁部(12a)とを位置付
けたときに、受光手段(8)から出力された信号を基準
値(S b)として記憶する記憶手段(34)と、基板
(2)の周縁部分を光束(6)で露光する際、受光手段
(8)から出力された信号(Se)が記憶手段(14)
に記憶された基準値と常に所定の関係に維持されるよう
に、移動手段(10)をサーボ制御するサーボ制御手段
(15,35)とを備え、基板(2)の周縁部の回転半
径方向に関する露光幅を基準値に対応した幅に制御する
。
本発明では、周縁露光動作の前に遮光部材を用いたキャ
リブレーション動作を行ってサーボ制御用基準信号(目
標値)を得ており、この基準信号に基づいて露光幅の制
御を行う構成にしたため、ウェハ周縁部への露光光束の
照射直前での強度及び強度分布を加味した正確な周縁露
光を行うことか可能となる。
リブレーション動作を行ってサーボ制御用基準信号(目
標値)を得ており、この基準信号に基づいて露光幅の制
御を行う構成にしたため、ウェハ周縁部への露光光束の
照射直前での強度及び強度分布を加味した正確な周縁露
光を行うことか可能となる。
第1図は、本発明の実施例による周縁露光装置の概略的
な構成を示す図である。不図示のウェハ搬送路に沿って
ターンテーブルl上に搬送されてきたウェハ2は、その
中心とターンテーブル1の回転中心とがほぼ一致する位
置(ここでは、必ずしも一致している必要はなく、ある
範囲内で偏心していても可。)でターンテーブル1上に
吸着保持される。ターンテーブル1は、ウェハ2を保持
したままモータ3によって所定の速度で回転される。ウ
ェハ2の周縁部上方に配置された照射部4には光源5か
ら光ファイバーLGによって導かれた露光光が供給され
る。光源5は照射部4の近傍でなくともスペースに余裕
のある位置に配置すればよい。さらに照射部4には、ウ
ェハ2のレジストに対して感応性の高い露光光束6を所
定の形状に規定するための絞り7が備えられている。ま
た、ポジションセンサ、シリコン・フォトダイオード等
からなる受光部8はウェハ2の周縁部を挟んで照射部4
と対向するような位置に配置されており、ウェハ2の外
周エツジ、若しくは後述の遮光板12が露光光束6の一
部を遮ったとき、残りの光束を、斜設したビームスプリ
ッタ9を介して受光する。この受光部8からの光電信号
に基づいて、ウェハ2、若しくは遮光板12のエツジ(
基準縁部12a)が検出される。受光部8とウェハ2と
の間には露光光束6のうちウェハ2、若しくは遮光板1
2で遮られずに受光部8に達する光束のうち一部を透過
し、残りを反射させるビームスプリッタ9が配置されて
いる。このビームスプリッタ9はウェハ2の周縁部の裏
面へ一部の露光光束を反射させて、裏面に回り込んだレ
ジストを露光させる。照射部4と受光部8は、一体で駆
動部10に固定されており、駆動部10は、モータ11
により送りネジ等を介してウェハ2の半径方向(ターン
テーブル1の回転中心から放射方向)に移動可能になっ
ている。遮光板12は、照射部4及び受光部8がウェハ
2より離れた位置に移動した際に、照射部4からの露光
光束6の一部を遮断するようにウェハ2と概略同じ高さ
で駆動部IOの移動範囲内に固設されている。更に遮光
板12には露光光束6を一部遮光する基準縁部12aが
形成されていて、その基準縁部12aはウェハ2の周縁
部とほぼ並行に配置されている。又、駆動部10の移動
位置を検出するために、エンコーダ、ポジションスケー
ル、干渉計等からなる位置検出器13が配置されている
。この位置検出器13は駆動部10の移動ストローク全
域をカバーする測長範囲を持つものでもよいが、遮光板
12を露光光束6が照射する位置近傍のみに制御された
測長範囲を持ったものでもよい。
な構成を示す図である。不図示のウェハ搬送路に沿って
ターンテーブルl上に搬送されてきたウェハ2は、その
中心とターンテーブル1の回転中心とがほぼ一致する位
置(ここでは、必ずしも一致している必要はなく、ある
範囲内で偏心していても可。)でターンテーブル1上に
吸着保持される。ターンテーブル1は、ウェハ2を保持
したままモータ3によって所定の速度で回転される。ウ
ェハ2の周縁部上方に配置された照射部4には光源5か
ら光ファイバーLGによって導かれた露光光が供給され
る。光源5は照射部4の近傍でなくともスペースに余裕
のある位置に配置すればよい。さらに照射部4には、ウ
ェハ2のレジストに対して感応性の高い露光光束6を所
定の形状に規定するための絞り7が備えられている。ま
た、ポジションセンサ、シリコン・フォトダイオード等
からなる受光部8はウェハ2の周縁部を挟んで照射部4
と対向するような位置に配置されており、ウェハ2の外
周エツジ、若しくは後述の遮光板12が露光光束6の一
部を遮ったとき、残りの光束を、斜設したビームスプリ
ッタ9を介して受光する。この受光部8からの光電信号
に基づいて、ウェハ2、若しくは遮光板12のエツジ(
基準縁部12a)が検出される。受光部8とウェハ2と
の間には露光光束6のうちウェハ2、若しくは遮光板1
2で遮られずに受光部8に達する光束のうち一部を透過
し、残りを反射させるビームスプリッタ9が配置されて
いる。このビームスプリッタ9はウェハ2の周縁部の裏
面へ一部の露光光束を反射させて、裏面に回り込んだレ
ジストを露光させる。照射部4と受光部8は、一体で駆
動部10に固定されており、駆動部10は、モータ11
により送りネジ等を介してウェハ2の半径方向(ターン
テーブル1の回転中心から放射方向)に移動可能になっ
ている。遮光板12は、照射部4及び受光部8がウェハ
2より離れた位置に移動した際に、照射部4からの露光
光束6の一部を遮断するようにウェハ2と概略同じ高さ
で駆動部IOの移動範囲内に固設されている。更に遮光
板12には露光光束6を一部遮光する基準縁部12aが
形成されていて、その基準縁部12aはウェハ2の周縁
部とほぼ並行に配置されている。又、駆動部10の移動
位置を検出するために、エンコーダ、ポジションスケー
ル、干渉計等からなる位置検出器13が配置されている
。この位置検出器13は駆動部10の移動ストローク全
域をカバーする測長範囲を持つものでもよいが、遮光板
12を露光光束6が照射する位置近傍のみに制御された
測長範囲を持ったものでもよい。
ここで、受光部8の構成と露光光束6及び遮光板12と
の各位置関係を第2図を用いて説明する。
の各位置関係を第2図を用いて説明する。
受光部8は、駆動部10の移動方向に細長く伸びた受光
面から成る受光素子8aと、ピンホール状のエツジセン
サ8bと、遮光板12から最も離れた位置に配置された
受光素子8Cとで構成されている。この受光素子8aは
遮光板12及びウェハ2で遮光されずに受光部8に達し
た光量に応じたレベルの光電信号Seを出力し、また受
光素子8Cは常に露光光束6の光量に応じたレベルの光
電信号Cを出力する。さらに、エツジセンサ8bは遮光
板12の基準エツジ12a1若しくはウェハ2のエツジ
を定点検出するもので、エツジ12aが露光光束6の先
端側(ウェハ側)からlの範囲内のときは大きなレベル
になり、1以上のときはほぼ零となる光電信号Bを出力
する。この受光部8には露光光束6が図示のように照射
され、受光部8と露光光束6との相対位置は変化しない
。即ち露光光束6の先端とエツジセンサ8bとの距離l
は予め設定されており、遮光板12若しくはウェハ2が
露光光束中に進入してきてエツジセンサ8bで受光され
る光束を遮光した位置で、遮光板12若しくはウェハ2
上での露光幅がβとなるようになっている。尚、露光幅
を任意の値りに設定する場合は、露光幅lの位置を基準
としてLlの値に対応した量だけ位置検出器13で位置
検出しながら駆動部10を移動する。このようにして遮
光板12上で露光幅が任意の値りとなるようにして露光
光束6を照射し、このとき受光部8で得られた信号Se
をサーボ用基準信号sbとして周縁露光制御部14に記
憶する。これは後で述べるキャリブレーション動作で必
要とされる構成である。
面から成る受光素子8aと、ピンホール状のエツジセン
サ8bと、遮光板12から最も離れた位置に配置された
受光素子8Cとで構成されている。この受光素子8aは
遮光板12及びウェハ2で遮光されずに受光部8に達し
た光量に応じたレベルの光電信号Seを出力し、また受
光素子8Cは常に露光光束6の光量に応じたレベルの光
電信号Cを出力する。さらに、エツジセンサ8bは遮光
板12の基準エツジ12a1若しくはウェハ2のエツジ
を定点検出するもので、エツジ12aが露光光束6の先
端側(ウェハ側)からlの範囲内のときは大きなレベル
になり、1以上のときはほぼ零となる光電信号Bを出力
する。この受光部8には露光光束6が図示のように照射
され、受光部8と露光光束6との相対位置は変化しない
。即ち露光光束6の先端とエツジセンサ8bとの距離l
は予め設定されており、遮光板12若しくはウェハ2が
露光光束中に進入してきてエツジセンサ8bで受光され
る光束を遮光した位置で、遮光板12若しくはウェハ2
上での露光幅がβとなるようになっている。尚、露光幅
を任意の値りに設定する場合は、露光幅lの位置を基準
としてLlの値に対応した量だけ位置検出器13で位置
検出しながら駆動部10を移動する。このようにして遮
光板12上で露光幅が任意の値りとなるようにして露光
光束6を照射し、このとき受光部8で得られた信号Se
をサーボ用基準信号sbとして周縁露光制御部14に記
憶する。これは後で述べるキャリブレーション動作で必
要とされる構成である。
第3図は、本発明の実施例による周縁露光装置の制御系
の全体構成を示すブロック図である。受光部8は、照射
部4から発生した露光光束6のうち遮光板12、又はウ
ェハ2によって遮光されずに透過した光束を受光して、
その光量に応じたレベルの検出信号Seを周縁露光制御
部14に出力する。また、遮光板12の基準エツジ1.
2 a、若しくはウェハ2のエツジを検出した際に光電
信号Bを信号処理部30に出力する。信号処理部30は
受光部8からの光電信号Bを入力し、エツジ検出信号E
をキャリブレーション動作制御部16に出力する。キャ
リブレーション動作制御部16は、信号処理部30から
のエツジ検出信号E、位置検出器13からの位置信号S
p(後述の露光幅l′に対応)、周縁露光制御部14か
らの周縁部の必要露光領域(設定露光幅L)に関するデ
ータDとを入力して、モータ11に対する回転制御信号
Gを出力すると共に、周縁露光制御部14に対して受光
部8からの検出信号Seを基準信号として記憶させるた
めの記憶制御信号Mを出力する。周縁露光制御部14は
、周縁部の必要露光領域(設定露光幅L)に関するデー
タD1、適正露光量に関するデータD2、光源5(又は
、光源5内に設けられたシャッタ)のON、OFFに関
するデータD3、受光部8の検出信号Se、及びその検
出信号Seをサーボ基準信号(目標値)Sbとして記憶
するための記憶制御信号Mを入力すると共に、回転制御
系・17に対する速度信号Stと、サーボ制御部15に
対する偏差信号Sdと、キャリブレーション動作制御部
16に対するデータD1と、光源5に対するデータD3
を夫々出力する。ウェハを回転させる回転制御系17は
、周縁露光制御部14から回転速度に関する信号Stを
入力し、モータ3を回転させてターンテーブル1を回転
する。タコジェネレータTGはモータ3の回転速度に応
じた信号を回転制御系17にフィードバックして常に制
御された速度でターンテーブル■を回転できるようにな
っている。サーボ制御部15は、周縁露光制御部14か
ら、基準信号sbとして記憶した目標信号レベルと受光
部8からの信号レベルとの偏差信号Sdを入力し、モー
タ11にサーボドライブ信号Ssを出力する。モータ1
1は、周縁露光動作時に於いては、そのサーボドライブ
信号Ssを、またキャリブレーション動作時に於いては
、キャリブレーション動作制御部16からの制御信号G
を入力して駆動部1oを駆動する。
の全体構成を示すブロック図である。受光部8は、照射
部4から発生した露光光束6のうち遮光板12、又はウ
ェハ2によって遮光されずに透過した光束を受光して、
その光量に応じたレベルの検出信号Seを周縁露光制御
部14に出力する。また、遮光板12の基準エツジ1.
2 a、若しくはウェハ2のエツジを検出した際に光電
信号Bを信号処理部30に出力する。信号処理部30は
受光部8からの光電信号Bを入力し、エツジ検出信号E
をキャリブレーション動作制御部16に出力する。キャ
リブレーション動作制御部16は、信号処理部30から
のエツジ検出信号E、位置検出器13からの位置信号S
p(後述の露光幅l′に対応)、周縁露光制御部14か
らの周縁部の必要露光領域(設定露光幅L)に関するデ
ータDとを入力して、モータ11に対する回転制御信号
Gを出力すると共に、周縁露光制御部14に対して受光
部8からの検出信号Seを基準信号として記憶させるた
めの記憶制御信号Mを出力する。周縁露光制御部14は
、周縁部の必要露光領域(設定露光幅L)に関するデー
タD1、適正露光量に関するデータD2、光源5(又は
、光源5内に設けられたシャッタ)のON、OFFに関
するデータD3、受光部8の検出信号Se、及びその検
出信号Seをサーボ基準信号(目標値)Sbとして記憶
するための記憶制御信号Mを入力すると共に、回転制御
系・17に対する速度信号Stと、サーボ制御部15に
対する偏差信号Sdと、キャリブレーション動作制御部
16に対するデータD1と、光源5に対するデータD3
を夫々出力する。ウェハを回転させる回転制御系17は
、周縁露光制御部14から回転速度に関する信号Stを
入力し、モータ3を回転させてターンテーブル1を回転
する。タコジェネレータTGはモータ3の回転速度に応
じた信号を回転制御系17にフィードバックして常に制
御された速度でターンテーブル■を回転できるようにな
っている。サーボ制御部15は、周縁露光制御部14か
ら、基準信号sbとして記憶した目標信号レベルと受光
部8からの信号レベルとの偏差信号Sdを入力し、モー
タ11にサーボドライブ信号Ssを出力する。モータ1
1は、周縁露光動作時に於いては、そのサーボドライブ
信号Ssを、またキャリブレーション動作時に於いては
、キャリブレーション動作制御部16からの制御信号G
を入力して駆動部1oを駆動する。
駆動部10は、モータ11によって照射部4及び受光部
8を一体に移動させる。
8を一体に移動させる。
さらに、周縁露光制御部14とキャリブレーション動作
制御部16について第4図を参照しながら詳細に説明す
る。信号処理部3oはエツジセンサ8bで検出された光
電信号Bを入力し、遮光板12の基準エツジ12a(又
はウェハエツジ)がエツジセンサ8bの上を横切るとき
に論理値が反転する2値化されたエツジ検出信号Eをカ
ウンタ31に出力する。このカウンタ31は位置検出器
13からの位置信号(パルス)Spを計数するものであ
る。カウンタ31は信号処理部3oがらの検出信号Eを
入力し、エツジ検出信号Eの論理値が反転する時点で計
数値を基準露光幅lに対応する値にプリセットする。カ
ウンタ31がら出力される実際の露光幅に関する計数値
l“は任意の設定露光幅に関する情報りとともに減算器
32に入力し、2つの情報り、 l’ の差Fを演算
して比較器33に出力する。比較器33はFが0がどう
かを判断し、差Fが零になったときには記憶部34へ記
憶制御信号Mを出力し、差Fが零になっていないときは
差Fが小さくなるような回転信号GをスイッチSWbを
介してモータ11へ出力する。
制御部16について第4図を参照しながら詳細に説明す
る。信号処理部3oはエツジセンサ8bで検出された光
電信号Bを入力し、遮光板12の基準エツジ12a(又
はウェハエツジ)がエツジセンサ8bの上を横切るとき
に論理値が反転する2値化されたエツジ検出信号Eをカ
ウンタ31に出力する。このカウンタ31は位置検出器
13からの位置信号(パルス)Spを計数するものであ
る。カウンタ31は信号処理部3oがらの検出信号Eを
入力し、エツジ検出信号Eの論理値が反転する時点で計
数値を基準露光幅lに対応する値にプリセットする。カ
ウンタ31がら出力される実際の露光幅に関する計数値
l“は任意の設定露光幅に関する情報りとともに減算器
32に入力し、2つの情報り、 l’ の差Fを演算
して比較器33に出力する。比較器33はFが0がどう
かを判断し、差Fが零になったときには記憶部34へ記
憶制御信号Mを出力し、差Fが零になっていないときは
差Fが小さくなるような回転信号GをスイッチSWbを
介してモータ11へ出力する。
記憶部34は受光部8の受光素子8aからの検出信号S
eをアナログ除算器36により受光素子8Cからの信号
Cで除算した信号をスイッチS W aを介して入力し
、記憶制御信号Mを受けた時点で信号Se/Cを記憶す
る。記憶部34は保持した信号S e / Cをサーボ
基準信号sbとして演算部35に出力し、演算部35は
受光部8からアナログ除算器36.スイッチSWaを介
して得られる信号S e / Cを入力して、その2つ
の信号の偏差信号Sdを演算してサーボ制御部15に出
ツJする。
eをアナログ除算器36により受光素子8Cからの信号
Cで除算した信号をスイッチS W aを介して入力し
、記憶制御信号Mを受けた時点で信号Se/Cを記憶す
る。記憶部34は保持した信号S e / Cをサーボ
基準信号sbとして演算部35に出力し、演算部35は
受光部8からアナログ除算器36.スイッチSWaを介
して得られる信号S e / Cを入力して、その2つ
の信号の偏差信号Sdを演算してサーボ制御部15に出
ツJする。
尚、第4図中の2つのスイッチSWa、SWbはいずれ
もキャリブレーション時の状態を示し、ウェハへの周縁
露光時には両方とも切り替えられる。上記第4図の構成
で、記憶部34と演算部35は第2図中の周縁露光制御
部14に相当し、また、第2図中のキャリブレーション
動作制御部16は信号処理部30、カウンタ31、減算
器32、比較部33で構成されている。また第2図中の
周縁露光制御部14とキャリブレーション動作制御部1
6の機能はマイクロコンピュータ等のソフトウェアで代
用することができる。
もキャリブレーション時の状態を示し、ウェハへの周縁
露光時には両方とも切り替えられる。上記第4図の構成
で、記憶部34と演算部35は第2図中の周縁露光制御
部14に相当し、また、第2図中のキャリブレーション
動作制御部16は信号処理部30、カウンタ31、減算
器32、比較部33で構成されている。また第2図中の
周縁露光制御部14とキャリブレーション動作制御部1
6の機能はマイクロコンピュータ等のソフトウェアで代
用することができる。
次に、本発明の実施例による周縁露光装置の動作につい
て第5図に基づいて説明する。先ず、実際の露光を開始
する前に周縁露光時のサーボ用基準信号を得るためのキ
ャリブレーション動作を行う。周縁露光制御部14は、
任意の周縁露光においてのキャリブレーションが終了し
ているかどうかを判断する(ステップ101)。キャリ
ブレーションの実行タイミングは、例えば露光すべきウ
ェハの連続する同一処理のロット(ウェハ25枚)毎、
または光源5の発光点のゆらぎをモニターするセンサが
変化を検知した時点等に行われる。キャリブレーション
が終了していない時は、照射部4から露光光束6を照射
する(ステップ102)。これは、データD3の露光開
始信号(光源ON)が周縁露光制御部14から光源5(
又はその内に設けられたシャッタ)に伝達されることに
より、照射部4からの露光光束6が遮光板12で遮られ
ることなく受光部8へ射出される。この時、受光部8で
検出される露光量(信号Se/Cのレベル)と目標露光
量とに基づいて、ウェハの回転速度に関する情報Stを
求める(ステップ103)。次に、駆動部10を駆動し
て照射部4と受光部8とを遮光板12の基準縁部12a
へ移動する(ステップ104)。遮光板12の基準縁部
12aが受光部8のエツジセンサ8bに達して信号処理
部30がエツジ検出信号Eを出力すると(ステップ10
5)、カウンタ31の計数値は基準露光幅の値lにプリ
セットされる(ステップ106)。周縁露光時の設定露
光幅りと基準値lとが異なる場合は、さらにカウンタ3
1の計数値l′が任意の設定露光幅りになる位置まで照
射部4と受光部8を移動しながら(ステップ107)、
減算器32でカウンタ31の計数値l゛と設定露光幅り
との差F1即ちL−42’ を求める(ステップ108
)。比較器33でその差Fが0になった1b か否かを判断する(ステップ109)。この時、F=0
ならばモータ11の回転を止め、記憶部34に記憶制御
信号Mを出力する。一方、F≠0ならばF=0となるま
で引き続き発光部4と受光部8を移動する(ステップ1
07〜109)。記憶部34は記憶制御信号Mが入力さ
れると、受光部8の受光素子8a、8bで検出された信
号Seを、露光光束6の強度値(信号C)で規格化した
信号S e / Cをサーボ基準信号sbとして記憶す
る(ステップ110)。以上のことによりキャリブレー
ション動作が終了する。
て第5図に基づいて説明する。先ず、実際の露光を開始
する前に周縁露光時のサーボ用基準信号を得るためのキ
ャリブレーション動作を行う。周縁露光制御部14は、
任意の周縁露光においてのキャリブレーションが終了し
ているかどうかを判断する(ステップ101)。キャリ
ブレーションの実行タイミングは、例えば露光すべきウ
ェハの連続する同一処理のロット(ウェハ25枚)毎、
または光源5の発光点のゆらぎをモニターするセンサが
変化を検知した時点等に行われる。キャリブレーション
が終了していない時は、照射部4から露光光束6を照射
する(ステップ102)。これは、データD3の露光開
始信号(光源ON)が周縁露光制御部14から光源5(
又はその内に設けられたシャッタ)に伝達されることに
より、照射部4からの露光光束6が遮光板12で遮られ
ることなく受光部8へ射出される。この時、受光部8で
検出される露光量(信号Se/Cのレベル)と目標露光
量とに基づいて、ウェハの回転速度に関する情報Stを
求める(ステップ103)。次に、駆動部10を駆動し
て照射部4と受光部8とを遮光板12の基準縁部12a
へ移動する(ステップ104)。遮光板12の基準縁部
12aが受光部8のエツジセンサ8bに達して信号処理
部30がエツジ検出信号Eを出力すると(ステップ10
5)、カウンタ31の計数値は基準露光幅の値lにプリ
セットされる(ステップ106)。周縁露光時の設定露
光幅りと基準値lとが異なる場合は、さらにカウンタ3
1の計数値l′が任意の設定露光幅りになる位置まで照
射部4と受光部8を移動しながら(ステップ107)、
減算器32でカウンタ31の計数値l゛と設定露光幅り
との差F1即ちL−42’ を求める(ステップ108
)。比較器33でその差Fが0になった1b か否かを判断する(ステップ109)。この時、F=0
ならばモータ11の回転を止め、記憶部34に記憶制御
信号Mを出力する。一方、F≠0ならばF=0となるま
で引き続き発光部4と受光部8を移動する(ステップ1
07〜109)。記憶部34は記憶制御信号Mが入力さ
れると、受光部8の受光素子8a、8bで検出された信
号Seを、露光光束6の強度値(信号C)で規格化した
信号S e / Cをサーボ基準信号sbとして記憶す
る(ステップ110)。以上のことによりキャリブレー
ション動作が終了する。
次に、上記のキャリブレーションに基づいてウェハの周
縁露光を行う。先ず、駆動部1oは、予めサーボ制御部
15に記憶されている遮光板12の基準縁部12aとウ
ェハ2の設計上の外周部との概略的な距離に基づいて、
位置検出器13、若しくは不図示の別設の位置検出器で
位置検出しながら、照射部4と受光部8とを一体にウェ
ハ2の周縁部まで移動する(ステップl 11)。次に
、ステップ102と同様にして露光光束6を照射し、受
光部8で検出される信号S e / Cを周縁露光制御
部14内の偏差演算部35に入力する(ステップ112
)。周縁露光制御部14は、予め記憶されているサーボ
用基準信号sbと、受光部8から作られる信号Se/C
とを、偏差演算部35で比較して偏差信号Sclを求め
(ステップ113)、これをサーボ制御部15に送る。
縁露光を行う。先ず、駆動部1oは、予めサーボ制御部
15に記憶されている遮光板12の基準縁部12aとウ
ェハ2の設計上の外周部との概略的な距離に基づいて、
位置検出器13、若しくは不図示の別設の位置検出器で
位置検出しながら、照射部4と受光部8とを一体にウェ
ハ2の周縁部まで移動する(ステップl 11)。次に
、ステップ102と同様にして露光光束6を照射し、受
光部8で検出される信号S e / Cを周縁露光制御
部14内の偏差演算部35に入力する(ステップ112
)。周縁露光制御部14は、予め記憶されているサーボ
用基準信号sbと、受光部8から作られる信号Se/C
とを、偏差演算部35で比較して偏差信号Sclを求め
(ステップ113)、これをサーボ制御部15に送る。
一方回転制御系17は、先に求めておいた速度情報St
に基づいてモータ3の回転速度を制御してターンテーブ
ル1を所定の速度で回転させる(ステップ114)。
に基づいてモータ3の回転速度を制御してターンテーブ
ル1を所定の速度で回転させる(ステップ114)。
モータ3にはタコジェネレータTGが接続されており、
回転速度を回転制御系17にフィードバックして常に一
定の速度でターンテーブル1を回転できるようになって
いる。さて、サーボ制御部15は周縁露光制御部14か
らの偏差信号Sdが零になるように、即ち露光光束6と
ウェハ2のエツジとの相対的な位置関係が常に一定とな
るようにスイッチSWbを介してモータ11にサーボ信
号Ssを送って照射部4及び受光部8の駆動部10をサ
ーボ制御する(ステップ115)。これによりウェハ2
のエツジから半径方向へ所定の距離の領域が一定の幅で
均一に露光される。また同時に露光光束6のうちビーム
スプリッタ9により反射された光束は、第7図に示すよ
うなウェハ裏面に回り込んだレジスト]8をも露光する
。そしてウェハか所定回転した後、周縁露光制御部]4
には光源OFF信号D3が入力され1枚のウェハに対す
る周縁露光か終了する(ステップ116)。
回転速度を回転制御系17にフィードバックして常に一
定の速度でターンテーブル1を回転できるようになって
いる。さて、サーボ制御部15は周縁露光制御部14か
らの偏差信号Sdが零になるように、即ち露光光束6と
ウェハ2のエツジとの相対的な位置関係が常に一定とな
るようにスイッチSWbを介してモータ11にサーボ信
号Ssを送って照射部4及び受光部8の駆動部10をサ
ーボ制御する(ステップ115)。これによりウェハ2
のエツジから半径方向へ所定の距離の領域が一定の幅で
均一に露光される。また同時に露光光束6のうちビーム
スプリッタ9により反射された光束は、第7図に示すよ
うなウェハ裏面に回り込んだレジスト]8をも露光する
。そしてウェハか所定回転した後、周縁露光制御部]4
には光源OFF信号D3が入力され1枚のウェハに対す
る周縁露光か終了する(ステップ116)。
」−述の実施例では、キャリブレーション動作の前と周
縁露光動作の前とで照射部4を点灯して露光光束6を射
出するようにしたが、照射部4及び受光部8の移動中に
も露光光束6を射出していても構わない。尚、サーボ制
御部15に遮光板12の基準縁部12aとウェハ2の設
計上の外周部との距離に関する情報が記憶されていない
場合は、照射部4から露光光束6を射出しながら照射部
4と受光部8を一体にウェハ2の周縁部の方向へ移動す
る。この際、周縁露光制御部14は、検出信号Seの強
度の変化に基づいてウェハ2のエツジを検出し、その後
、前述の実施例と同様に周縁部光制御部14からの偏差
信号Sdに基づいてサーボ制御部15によりモータ11
を回転し駆動部10をサーボ制御する。尚、本実施例に
おけるウェハ2、又は遮光板12のエツジ検出は、露光
光束6を用いて行うようにしたが、エツジ検出を別に行
う装置を設けても構わない。例えば第8図に示すように
、照射部4及び受光部8の近傍に非露光光束19を発生
する照射部20と非露光光束I9を受光する不図示の受
光部とで構成されたエツジ検出器を設け、非露光光束1
9の少なくとも一部がウェハ2等によって遮光される位
置と露光光束6がウェハ2等によって遮光される位置と
を対応付けておく。この場合、露光光束6と非露光光束
19とは円周方向にある角度をもってずれて配置されて
おり、ウェハ2の回転中にオリエンテーションフラット
部を検出する際には、露光光束6と非露光光束19との
対応付けが曖昧になる。そこで、露光光束6と非露光光
束19との間をウェハ2が通過する時間に応じてサーボ
応答遅れ(又は単なるデイレイ)をかけておくようにす
る。このようにすれば、エツジ検出を露光光束6の位置
と別の位置で行っても何ら問題はなくなる。またこの場
合、非露光光束19の位置は、ウェハ回転方向に応じて
露光光束6よりも先にエツジ検出するように配置される
。
縁露光動作の前とで照射部4を点灯して露光光束6を射
出するようにしたが、照射部4及び受光部8の移動中に
も露光光束6を射出していても構わない。尚、サーボ制
御部15に遮光板12の基準縁部12aとウェハ2の設
計上の外周部との距離に関する情報が記憶されていない
場合は、照射部4から露光光束6を射出しながら照射部
4と受光部8を一体にウェハ2の周縁部の方向へ移動す
る。この際、周縁露光制御部14は、検出信号Seの強
度の変化に基づいてウェハ2のエツジを検出し、その後
、前述の実施例と同様に周縁部光制御部14からの偏差
信号Sdに基づいてサーボ制御部15によりモータ11
を回転し駆動部10をサーボ制御する。尚、本実施例に
おけるウェハ2、又は遮光板12のエツジ検出は、露光
光束6を用いて行うようにしたが、エツジ検出を別に行
う装置を設けても構わない。例えば第8図に示すように
、照射部4及び受光部8の近傍に非露光光束19を発生
する照射部20と非露光光束I9を受光する不図示の受
光部とで構成されたエツジ検出器を設け、非露光光束1
9の少なくとも一部がウェハ2等によって遮光される位
置と露光光束6がウェハ2等によって遮光される位置と
を対応付けておく。この場合、露光光束6と非露光光束
19とは円周方向にある角度をもってずれて配置されて
おり、ウェハ2の回転中にオリエンテーションフラット
部を検出する際には、露光光束6と非露光光束19との
対応付けが曖昧になる。そこで、露光光束6と非露光光
束19との間をウェハ2が通過する時間に応じてサーボ
応答遅れ(又は単なるデイレイ)をかけておくようにす
る。このようにすれば、エツジ検出を露光光束6の位置
と別の位置で行っても何ら問題はなくなる。またこの場
合、非露光光束19の位置は、ウェハ回転方向に応じて
露光光束6よりも先にエツジ検出するように配置される
。
以上、本発明による実施例においてはウェハ等の円形基
板を用いたが、角形基板を用いても勿論構わない。
板を用いたが、角形基板を用いても勿論構わない。
次に、駆動部IOの送り機構の変形例を説明する。
第9図、第10図は、夫々、本実施例に於ける駆動部I
Oの送り機構の変形例の概略的な構成を示す正面図、及
び平面図である。ローラ21とローラ22は回転アーム
23の両端に固定され、回転アーム23はローラ21と
ローラ22の回転軸間のほぼ中点を回転軸としてモータ
24により往復回転する。移動ブロック25の移動方向
の両端には、垂直に懸架された少なくとも2つの当接子
28a、28bが形成され、移動ブロック25はバネ(
ここでは引っ張りバネ)27によりローラ21、或いは
ローラ22に押し付けられながらリニアガイド26に沿
って直進する。尚、移動ブロック25は本実施例の駆動
部10と直接、或いは間接的に固定されている。又、ロ
ーラ21とローラ22との間隔(回転軸中心間の距離)
と、当接子28a、28bの間隔(当接面間の距離)と
はほぼ等しくなっている。
Oの送り機構の変形例の概略的な構成を示す正面図、及
び平面図である。ローラ21とローラ22は回転アーム
23の両端に固定され、回転アーム23はローラ21と
ローラ22の回転軸間のほぼ中点を回転軸としてモータ
24により往復回転する。移動ブロック25の移動方向
の両端には、垂直に懸架された少なくとも2つの当接子
28a、28bが形成され、移動ブロック25はバネ(
ここでは引っ張りバネ)27によりローラ21、或いは
ローラ22に押し付けられながらリニアガイド26に沿
って直進する。尚、移動ブロック25は本実施例の駆動
部10と直接、或いは間接的に固定されている。又、ロ
ーラ21とローラ22との間隔(回転軸中心間の距離)
と、当接子28a、28bの間隔(当接面間の距離)と
はほぼ等しくなっている。
次に、本機構の動作について第11図を用いて説明する
。まず、第11図(a)の状態でモータ24が駆動され
てアーム23が時計方向に回転すると、移動ブロック2
5は、バネ力によって当接子28aがローラ21に押し
付けられながら徐々に図中右方向に直進移動して第11
図(b)のような状態になる。第11図(b)の状態か
らアーム23が時計方向に約90°回転すると第11図
(C)のようにローラ22が当接子28bに当たり初め
、それと同時にローラ21は当接子28aから離れる。
。まず、第11図(a)の状態でモータ24が駆動され
てアーム23が時計方向に回転すると、移動ブロック2
5は、バネ力によって当接子28aがローラ21に押し
付けられながら徐々に図中右方向に直進移動して第11
図(b)のような状態になる。第11図(b)の状態か
らアーム23が時計方向に約90°回転すると第11図
(C)のようにローラ22が当接子28bに当たり初め
、それと同時にローラ21は当接子28aから離れる。
さらに回転アーム23が回転すると、第11図(d)、
(e)のように、移動ブロック25はバネ力によって
当接子28bがローラ22に押し付けられながら、右方
へ直進移動し続ける。以上のようなカム機構を駆動部1
0に用いれば、比較的小さなスペースで移動量の大きな
駆動装置を得ることができる。
(e)のように、移動ブロック25はバネ力によって
当接子28bがローラ22に押し付けられながら、右方
へ直進移動し続ける。以上のようなカム機構を駆動部1
0に用いれば、比較的小さなスペースで移動量の大きな
駆動装置を得ることができる。
以」二のように本発明によれば、発光部と受光部とがウ
ェハから離れた位置に退避した時に遮光板を用いてキャ
リブレーション動作を行って、露光時のサーボ用基準信
号を求めているので、実際の露光光束強度及び強度分布
に応じて適正な露光量で周縁露光できる。また、ビーム
スプリッタを用いてウェハ裏面に露光光束を反射させれ
ば、裏面に回り込んだレジストも露光できる。
ェハから離れた位置に退避した時に遮光板を用いてキャ
リブレーション動作を行って、露光時のサーボ用基準信
号を求めているので、実際の露光光束強度及び強度分布
に応じて適正な露光量で周縁露光できる。また、ビーム
スプリッタを用いてウェハ裏面に露光光束を反射させれ
ば、裏面に回り込んだレジストも露光できる。
第1図は本発明の実施例による周縁露光装置の概略的な
構成を示す図、第2図は本発明の実施例による周縁露光
装置の受光部の構成を示す図、第3図、第4図は本発明
の実施例による周縁露光装置の制御系の構成を示すブロ
ック図、第5図は本発明の実施例による周縁露光装置の
動作を示すフローチャート、第6図は露光光束の強度分
布、及−2,3 び受光部の信号強度を示す図、第7図はレジストが塗布
されたウェハの断面図、第8図は本発明の実施例による
周縁露光装置におけるエツジ検出の他の方法を示す図、
第9図、第10図は本発明の実施例による周縁露光装置
に用いて好適な送り機構の変形例の概略的な構成を示す
図、第11図は本発明の実施例による周縁露光装置に用
いて好適な送り機構の変形例の動作を示す図である。 〔主要部分の符号の説明〕 1・・・ターンテーブル、2・・・ウェハ、3,11・
・・モータ、4・・・発光部、5・・・光源、6・・・
露光光束、7・・・絞り、8・・・受光部、9・・・ビ
ームスプリッタ、10・・・駆動部、12・・・遮光板
、13・・・位置検出器、14・・・周縁露光制御部、
15・・・サーボ制御部、16・・・キャリブレーショ
ン動作制御部、17・・・回転制御系、sb・・・サー
ボ基準信号、Se・・・光量検出信号、Sd・・・偏差
信号、Ss・・・サーボ信号。
構成を示す図、第2図は本発明の実施例による周縁露光
装置の受光部の構成を示す図、第3図、第4図は本発明
の実施例による周縁露光装置の制御系の構成を示すブロ
ック図、第5図は本発明の実施例による周縁露光装置の
動作を示すフローチャート、第6図は露光光束の強度分
布、及−2,3 び受光部の信号強度を示す図、第7図はレジストが塗布
されたウェハの断面図、第8図は本発明の実施例による
周縁露光装置におけるエツジ検出の他の方法を示す図、
第9図、第10図は本発明の実施例による周縁露光装置
に用いて好適な送り機構の変形例の概略的な構成を示す
図、第11図は本発明の実施例による周縁露光装置に用
いて好適な送り機構の変形例の動作を示す図である。 〔主要部分の符号の説明〕 1・・・ターンテーブル、2・・・ウェハ、3,11・
・・モータ、4・・・発光部、5・・・光源、6・・・
露光光束、7・・・絞り、8・・・受光部、9・・・ビ
ームスプリッタ、10・・・駆動部、12・・・遮光板
、13・・・位置検出器、14・・・周縁露光制御部、
15・・・サーボ制御部、16・・・キャリブレーショ
ン動作制御部、17・・・回転制御系、sb・・・サー
ボ基準信号、Se・・・光量検出信号、Sd・・・偏差
信号、Ss・・・サーボ信号。
Claims (2)
- (1)レジストをほぼ均一に塗布した基板の中央近傍を
中心として、該基板を回転手段によって回転させながら
該基板の周縁部を露光する周縁露光装置に於いて、 前記基板のレジストを感応させる特性を有する光束を射
出する照射手段と、 前記基板の周縁部を挟むように前記照射手段と対向して
配置された受光手段と、 前記照射手段からの光束と前記基板とを該基板の半径方
向に相対的に移動させる移動手段と、前記移動手段の移
動範囲内で、且つ前記基板とほぼ同一平面内の空間に該
基板の周縁部とほぼ並行した基準縁部を伴って配置され
た遮光部材と、前記移動手段の位置情報を検出する検出
手段と、前記光束が前記相対移動の方向に関して所定の
基準量だけ遮光される如く該光束と前記遮光部材の基準
縁部とを位置付けたときに、前記受光手段から出力され
た信号を基準値として記憶する記憶手段と、 前記基板の周縁部分を前記光束で露光する際、前記受光
手段から出力された信号が前記記憶手段に記憶された基
準値と常に所定の関係に維持されるように、前記移動手
段をサーボ制御するサーボ制御手段とを備え、前記基板
の周縁部の回転半径方向に関する露光幅を前記基準値に
対応した幅に制御することを特徴とする周縁露光装置。 - (2)前記移動手段は、前記検出手段からの情報に基づ
いて前記遮光部材と前記光束との相対位置を設定するこ
とを特徴とする請求項1に記載の周縁露光装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2126447A JP2874280B2 (ja) | 1990-05-16 | 1990-05-16 | 周縁露光装置及び周縁露光方法 |
| US07/694,759 US5361121A (en) | 1990-05-16 | 1991-05-02 | Periphery exposing method and apparatus therefor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2126447A JP2874280B2 (ja) | 1990-05-16 | 1990-05-16 | 周縁露光装置及び周縁露光方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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