JPH04255659A - 電子衝撃型イオン源 - Google Patents

電子衝撃型イオン源

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Publication number
JPH04255659A
JPH04255659A JP3017326A JP1732691A JPH04255659A JP H04255659 A JPH04255659 A JP H04255659A JP 3017326 A JP3017326 A JP 3017326A JP 1732691 A JP1732691 A JP 1732691A JP H04255659 A JPH04255659 A JP H04255659A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ion source
sample gas
electron impact
introduction tube
holes
Prior art date
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Pending
Application number
JP3017326A
Other languages
English (en)
Inventor
Norio Kameshima
亀島 紀夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP3017326A priority Critical patent/JPH04255659A/ja
Publication of JPH04255659A publication Critical patent/JPH04255659A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ガスクロマトグラフィ
質量分析計などに装備される電子衝撃型イオン源に関す
る。
【0002】
【従来の技術】一般に、ガスクロマトグラフィ質量分析
計では、ガスクロマトグラフで成分分離された試料ガス
をイオン源でイオン化した後、質量分析部に導入してイ
オンを質量分離し、試料の定性、定量分析を行う。
【0003】このような試料ガスのイオン化には、試料
ガスを熱電子により直接的に衝撃してイオン化する電子
衝撃型のイオン源が使用される場合がある。
【0004】図3は、従来の電子衝撃型のイオン源の構
成を示すもので、同図において、1イオン源ボックスで
あり、図示省略した真空室内に配置されている。このイ
オン源ボックス1には、試料ガスの導入管2’が挿通さ
れるとともに、この導入管2’の挿通方向と略直交する
方向に熱電子の入射孔4と出射孔6とがそれぞれ形成さ
れる一方、イオン源ボックス1の外方の両孔4,6を結
ぶ直線上の位置には熱電子発生用のフィラメント8と、
イオン化に寄与する熱電子電流をモニタするためのトラ
ップ電極10とが対向配置されている。なお、12はイ
オン源ボックスに設けられたイオン出射孔である。
【0005】この構成において、試料ガスが導入管2’
からイオン源ボックス1内に導入されると、この試料ガ
スは、フィラメント8から放射される熱電子により衝撃
されてイオン化され、このイオンはイオン出射孔12を
通過してイオン源ボックス1の外部に出射され、図示省
略した収束レンズによりイオンビームに収束されて後段
の質量分析部に供給される。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の上記
構成の電子衝撃型イオン源においては、試料ガスの導入
管2’の先端部2a’は直管形で、しかも、イオン源ボ
ックス1の内壁面までしか挿通されていない。
【0007】そのため、イオン源ボックス1内に放出さ
れた試料ガスは、短時間の内にほぼ均一に拡散する。こ
れに対して、フィラメント8から放出される熱電子の通
過領域は、熱電子の入射孔4と出射孔6とを結ぶ直線上
にほぼ集中している。したがって、従来のものでは、熱
電子によりイオン化される領域に存在する試料ガス濃度
が相対的に低くなり、イオン化効率が悪いという問題が
ある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述した課題
を解決するためになされたものであって、イオン源ボッ
クス内において、フィラメントからの熱電子が通過する
領域に存在する試料ガス濃度を積極的に高めることによ
り、イオン化効率を向上させるものである。
【0009】そのため、本発明の電子衝撃型イオン源で
は、試料ガスの導入管の先端部を熱電子の入射孔と出射
孔とを結ぶ位置近くまで突出させるとともに、その先端
部の形状を、両孔を結ぶ方向にラッパ状に開口させてい
る。
【0010】
【作用】上記構成において、イオン源ボックス内の試料
ガスは、このボックス内で直ちに拡散するのではなくて
、導入管の先端部の形状に沿って拡散していく。この拡
散方向は、フィラメントからの熱電子が通過する方向と
同じであり、しかも、この熱電子の通過領域の直前で、
導入管から試料ガスが放出されるために、その領域の濃
度が高くなり、効率良くイオン化されることになる。
【0011】
【実施例】図1は本発明の実施例に係る電子衝撃型イオ
ン源の断面図、図2は図1のA−A線に沿う断面図であ
り、図3に示した従来例に対応する部分には、同一の符
号を付す。
【0012】図1および図2において、1はイオン源ボ
ックス、2は試料ガスの導入管、4,6は熱電子の入射
孔と出射孔、8はフィラメント、10はトラップ電極、
12はイオン出射孔であり、これらの構成は、図3に示
した従来例の場合と同様である。
【0013】この実施例の特徴は、試料ガスの導入管2
の先端部2aを熱電子の入射孔4と出射孔6とを結ぶ位
置近くまで突出させるとともに、導入管2の先端部2a
の形状を、両孔4,6を結ぶ方向にラッパ状に開口させ
ていることである。
【0014】なお、14はイオン出射孔12を通過した
イオンを収束する収束レンズである。
【0015】上記構成において、導入管2に導かれた試
料ガスは、イオン源ボックス1内で直ちに拡散するので
はなくて、導入管2の先端部2aの形状に沿って次第に
拡散していく。この拡散方向は、フィラメント8からの
熱電子が通過する方向(図の上下方向)と同じであり、
しかも、熱電子の通過領域の直前で、導入管2から試料
ガスが放出されるために、熱電子の通過領域での試料ガ
ス濃度が高くなり、効率良くイオン化されることになる
【0016】
【発明の効果】本発明によれば、イオン源ボックス内に
おいて、フィラメントからの熱電子が通過する領域に存
在する試料ガス濃度が高くなるので、イオン化効率が向
上し、精度良い分析結果が得られようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係る電子衝撃型イオン源の断
面図である。
【図2】図1のA−A線に沿う断面図である。
【図3】従来の電子衝撃型イオン源の断面図である。
【符号の説明】
1    イオン源ボックス 2    導入管 2a   導入管の先端部 4    熱電子の入射孔 6    熱電子の出射孔 8    フィラメント

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  イオン源ボックス(1)を有し、この
    イオン源ボックス(1)には、試料ガスの導入管(2)
    が挿通されるとともに、この導入管(2)の挿通方向と
    略直交する方向に熱電子の入射孔(4)と出射孔(6)
    とがそれぞれ形成される一方、イオン源ボックス(1)
    の外方の前記両孔(4),(6)を結ぶ直線上の位置に
    は熱電子発生用のフィラメント(8)が配置されている
    電子衝撃型イオン源において、前記導入管(2)の先端
    部(2a)を前記両孔(4),(6)を結ぶ位置近くま
    で突出させるとともに、その先端部(2a)の形状を、
    前記両孔(4),(6)を結ぶ方向にラッパ状に開口さ
    せたことを特徴とする電子衝撃型イオン源。
JP3017326A 1991-02-08 1991-02-08 電子衝撃型イオン源 Pending JPH04255659A (ja)

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JP3017326A JPH04255659A (ja) 1991-02-08 1991-02-08 電子衝撃型イオン源

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JP3017326A JPH04255659A (ja) 1991-02-08 1991-02-08 電子衝撃型イオン源

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JPH04255659A true JPH04255659A (ja) 1992-09-10

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JP3017326A Pending JPH04255659A (ja) 1991-02-08 1991-02-08 電子衝撃型イオン源

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