JPH0425610B2 - - Google Patents
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- JPH0425610B2 JPH0425610B2 JP59126348A JP12634884A JPH0425610B2 JP H0425610 B2 JPH0425610 B2 JP H0425610B2 JP 59126348 A JP59126348 A JP 59126348A JP 12634884 A JP12634884 A JP 12634884A JP H0425610 B2 JPH0425610 B2 JP H0425610B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- spindle
- disk
- carriage
- inspection
- type recording
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Specific Conveyance Elements (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、ハード磁気デイスク等デイスク型
記録媒体の諸特性を検査するために用いられるデ
イスク型記録媒体テスタに関する。
記録媒体の諸特性を検査するために用いられるデ
イスク型記録媒体テスタに関する。
テスタを用いて複数のデイスク型記録媒体の諸
特性の検査を次々に行なう場合には、検査を終了
したデイスク型記録媒体を取外して、かわりに新
しいデイスク型記録媒体を取付けるという交換作
業が必要である。しかし、この交換作業を検査に
対して時間的にシリアルに行ない、交換作業中検
査を休止していたのでは、時間的に効率のよい検
査を行なうことはできない。殊に、検査対象であ
るデイスク型記録媒体が多数存在し、交換作業を
何度も繰返す必要がある場合には、これによつて
もたらされる時間的ロスは無視できないものにな
る。
特性の検査を次々に行なう場合には、検査を終了
したデイスク型記録媒体を取外して、かわりに新
しいデイスク型記録媒体を取付けるという交換作
業が必要である。しかし、この交換作業を検査に
対して時間的にシリアルに行ない、交換作業中検
査を休止していたのでは、時間的に効率のよい検
査を行なうことはできない。殊に、検査対象であ
るデイスク型記録媒体が多数存在し、交換作業を
何度も繰返す必要がある場合には、これによつて
もたらされる時間的ロスは無視できないものにな
る。
そこで従来、上述のような検査を行なう場合に
は、検査と交換作業を並行処理することによつて
検査の非効率化を回避することが考えられてお
り、そのために次のような構成をもつテスタが使
用されていた。すなわち、そのような従来のテス
タは、検査対象である磁気デイスクを装着して回
転駆動させるためのスピンドル装置と、該デイス
クをスピンドル装置に固定させるためのクランプ
機構と、該デイスクの諸特性を検査するためセン
サ若しくはヘツドと、該センサ若しくはヘツドを
支持するとともに移動させるためのキヤリツジと
から成る検査ユニツトを２台具備しており、各検
査ユニツトを交互に一方ずつ動作させるための切
替回路、及び各検査ユニツトから交互に出力され
た検査信号を受入れて解析処理するための検査回
路を備えている。
は、検査と交換作業を並行処理することによつて
検査の非効率化を回避することが考えられてお
り、そのために次のような構成をもつテスタが使
用されていた。すなわち、そのような従来のテス
タは、検査対象である磁気デイスクを装着して回
転駆動させるためのスピンドル装置と、該デイス
クをスピンドル装置に固定させるためのクランプ
機構と、該デイスクの諸特性を検査するためセン
サ若しくはヘツドと、該センサ若しくはヘツドを
支持するとともに移動させるためのキヤリツジと
から成る検査ユニツトを２台具備しており、各検
査ユニツトを交互に一方ずつ動作させるための切
替回路、及び各検査ユニツトから交互に出力され
た検査信号を受入れて解析処理するための検査回
路を備えている。
このテスタを用いた検査は、切替回路によつて
前記各検査ユニツトを交互に動作させ、検査動作
中のユニツトがそこに装着されたデイスクの諸特
性の検査を行なつている間に、他方の動作してい
ないユニツト上の検査済デイスクを新しいデイス
クに交換する作業を行なう（すなわち、検査と交
換作業を並行処理する）、という過程を交互に繰
返すことによつて行なわれる。
前記各検査ユニツトを交互に動作させ、検査動作
中のユニツトがそこに装着されたデイスクの諸特
性の検査を行なつている間に、他方の動作してい
ないユニツト上の検査済デイスクを新しいデイス
クに交換する作業を行なう（すなわち、検査と交
換作業を並行処理する）、という過程を交互に繰
返すことによつて行なわれる。
しかし上述の従来のテスタは、スピンドル装
置、クランプ、センサ若しくはヘツド、及びキヤ
リツジを夫々２台備えているにもかかわらず、デ
イスクの検査のために両方が同時に動作すること
はなく、常にいずれか一方だけしか検査動作を行
なわないので、テスタ全体の装置規模が複雑かつ
大型化し、かつ不経済でもあるという問題点があ
つた。切替回路を必要としている点も、この装置
の大型化、不経済化を招く一因である。
置、クランプ、センサ若しくはヘツド、及びキヤ
リツジを夫々２台備えているにもかかわらず、デ
イスクの検査のために両方が同時に動作すること
はなく、常にいずれか一方だけしか検査動作を行
なわないので、テスタ全体の装置規模が複雑かつ
大型化し、かつ不経済でもあるという問題点があ
つた。切替回路を必要としている点も、この装置
の大型化、不経済化を招く一因である。
また、複数のデイスクに対する同一特性の検査
を異なつた２台のセンサ若しくはヘツドを交互に
用いて行なつていくので、両センサ若しくはヘツ
ドによる検査の互換性を保証する必要があるが、
そのための作業は非常にはん雑であり、この点も
従来のテスタを用いて検査を行なう場合の問題点
のひとつであつた。
を異なつた２台のセンサ若しくはヘツドを交互に
用いて行なつていくので、両センサ若しくはヘツ
ドによる検査の互換性を保証する必要があるが、
そのための作業は非常にはん雑であり、この点も
従来のテスタを用いて検査を行なう場合の問題点
のひとつであつた。
更に、時間的に効率のよい検査を行なうために
は交換作業に要する時間が短かい程よく、交換作
業時間が検査時間以下である（このとき交換作業
時間は見かけ上ゼロになる）ことが理想であるこ
とは明らかである。しかし従来のテスタでは、各
スピンドルに対応してセンサ若しくはヘツドが設
けられているので、検査後デイスクを取外すため
にはそのつどキヤリツジを動作させてセンサ若し
くはヘツドを該デイスクから離さなければなら
ず、続いて新しいデイスクが取付けられると改め
てキヤリツジによつて該センサ若しくはヘツドを
新しいデイスクに近寄せる必要があつた。従つて
キヤリツジのこうした動作に要する時間のため
に、交換作業時間の短縮には自ら限界があつた。
は交換作業に要する時間が短かい程よく、交換作
業時間が検査時間以下である（このとき交換作業
時間は見かけ上ゼロになる）ことが理想であるこ
とは明らかである。しかし従来のテスタでは、各
スピンドルに対応してセンサ若しくはヘツドが設
けられているので、検査後デイスクを取外すため
にはそのつどキヤリツジを動作させてセンサ若し
くはヘツドを該デイスクから離さなければなら
ず、続いて新しいデイスクが取付けられると改め
てキヤリツジによつて該センサ若しくはヘツドを
新しいデイスクに近寄せる必要があつた。従つて
キヤリツジのこうした動作に要する時間のため
に、交換作業時間の短縮には自ら限界があつた。
この発明は上述の点に鑑みてなされたもので、
複数のデイスク型記録媒体の諸特性の検査をより
簡素で経済的な装置を用いてより簡易な作業によ
り行ない、加えて、より短時間で行ない得るよう
にしたデイスク型記録媒体テスタを提供しようと
するものである。
複数のデイスク型記録媒体の諸特性の検査をより
簡素で経済的な装置を用いてより簡易な作業によ
り行ない、加えて、より短時間で行ない得るよう
にしたデイスク型記録媒体テスタを提供しようと
するものである。
この発明に係るデイスク型記録媒体テスタに
は、検査対象であるデイスク型記録媒体を夫々搭
載して回転駆動するための複数のスピンドル装置
と、少なくとも１台分の前記スピンドル装置の位
置に対応して設けられており、検査用センサ若し
くはヘツドを搭載し、該センサ及びヘツドをスピ
ンドル回転の径方向に移動させるためのキヤリツ
ジ装置と、前記キヤリツジ装置が対応するスピン
ドル装置の位置とは別のスピンドル装置の位置に
対応し設けられており、該スピンドル装置に対す
る前記デイスク型記録媒体の搭載及び取外しを行
なう移載用ハンドラ装置と、前記複数のスピンド
ル装置を前記キヤリツジ装置及びハンドラ装置に
対して相対的に移動し、前記キヤリツジ装置及び
ハンドラ装置に対応するスピンドル装置を順番に
切換える駆動装置とが設けられている。
は、検査対象であるデイスク型記録媒体を夫々搭
載して回転駆動するための複数のスピンドル装置
と、少なくとも１台分の前記スピンドル装置の位
置に対応して設けられており、検査用センサ若し
くはヘツドを搭載し、該センサ及びヘツドをスピ
ンドル回転の径方向に移動させるためのキヤリツ
ジ装置と、前記キヤリツジ装置が対応するスピン
ドル装置の位置とは別のスピンドル装置の位置に
対応し設けられており、該スピンドル装置に対す
る前記デイスク型記録媒体の搭載及び取外しを行
なう移載用ハンドラ装置と、前記複数のスピンド
ル装置を前記キヤリツジ装置及びハンドラ装置に
対して相対的に移動し、前記キヤリツジ装置及び
ハンドラ装置に対応するスピンドル装置を順番に
切換える駆動装置とが設けられている。
検査用センサ若しくはヘツドを具えたキヤリツ
ジと交換作業用のハンドラ装置が夫々別々のスピ
ンドル装置に対応して設けられており、キヤリツ
ジに対応しているスピンドル装置上のデイスク型
記録媒体に対して所定の検査が実行されている間
に、移載用ハンドラ装置に対応している別のスピ
ンドル装置上では、検査済のデイスク型記録媒体
の取外しと新たなデイスク型記録媒体の搭載、つ
まりデイスク型記録媒体の交換作業が行なわれ
る。各スピンドル装置上のデイスク型記録媒体に
対する検査・交換作業の並行処理が終了すると、
駆動装置による移動により、キヤリツジ及びハン
ドラ装置に対応するスピンドル装置が切換えら
れ、キヤリツジ及びハンドラ装置が夫々別のスピ
ンドル装置に対応させられる。そしてそのスピン
ドル装置上の新たなデイスク型記録媒体に対して
検査が行なわれるとともに、デイスク型記録媒体
の交換作業が行なわれる。以下、同様の処理が繰
返される。
ジと交換作業用のハンドラ装置が夫々別々のスピ
ンドル装置に対応して設けられており、キヤリツ
ジに対応しているスピンドル装置上のデイスク型
記録媒体に対して所定の検査が実行されている間
に、移載用ハンドラ装置に対応している別のスピ
ンドル装置上では、検査済のデイスク型記録媒体
の取外しと新たなデイスク型記録媒体の搭載、つ
まりデイスク型記録媒体の交換作業が行なわれ
る。各スピンドル装置上のデイスク型記録媒体に
対する検査・交換作業の並行処理が終了すると、
駆動装置による移動により、キヤリツジ及びハン
ドラ装置に対応するスピンドル装置が切換えら
れ、キヤリツジ及びハンドラ装置が夫々別のスピ
ンドル装置に対応させられる。そしてそのスピン
ドル装置上の新たなデイスク型記録媒体に対して
検査が行なわれるとともに、デイスク型記録媒体
の交換作業が行なわれる。以下、同様の処理が繰
返される。
従つて、センサ若しくはヘツドは新たなデイス
ク型記録媒体に対する検査を順次連続して行なう
ことが可能である。また、同一の検査対象特性に
関してはセンサ若しくはヘツドを具えたキヤリツ
ジは１台しか必要とされないので、装置に無駄が
ない。更に、スピンドル装置がキヤリツジの位置
に対応しているときには該スピンドル装置上では
交換作業は行なわれないので、従来のテスタのよ
うに交換作業にキヤリツジの動作を関与させる必
要がない。従つて交換作業時間はキヤリツジの動
作に要する時間に無関係に専ら移載用ハンドラ装
置の性能によつて決定されることになり、交換時
間の短縮化が図られる。
ク型記録媒体に対する検査を順次連続して行なう
ことが可能である。また、同一の検査対象特性に
関してはセンサ若しくはヘツドを具えたキヤリツ
ジは１台しか必要とされないので、装置に無駄が
ない。更に、スピンドル装置がキヤリツジの位置
に対応しているときには該スピンドル装置上では
交換作業は行なわれないので、従来のテスタのよ
うに交換作業にキヤリツジの動作を関与させる必
要がない。従つて交換作業時間はキヤリツジの動
作に要する時間に無関係に専ら移載用ハンドラ装
置の性能によつて決定されることになり、交換時
間の短縮化が図られる。
なお、スピンドル装置の台数を３以上とすれば
キヤリツジを２台以上設けることができるので、
異なる検査対象特性に関して複数のキヤリツジで
並行して検査を行なうことができる。
キヤリツジを２台以上設けることができるので、
異なる検査対象特性に関して複数のキヤリツジで
並行して検査を行なうことができる。
以下、添付図面を参照してこの発明の一実施例
を詳細に説明しよう。
を詳細に説明しよう。
図は、この発明に係るデイスク型記録媒体テス
タの一実施例を示す平面概略図（一部電気的ブロ
ツク図を含む）である。このテスタには、検査対
象であるハード磁気デイスクを回転駆動させるた
めの３台のスピンドル装置１，２，３が、テーブ
ル装置４の円周上に等間隔に配置されている。図
の状態では、スピンドル装置１に対応する位置に
は、ハード磁気デイスクの搭載及び取外しを自動
的に行なうための移載用ハンドラ５が設けられて
いる。スピンドル装置２に対応する位置には、検
査用の読み書きヘツド６を具えたキヤリツジ８
と、スピンドル装置２上の磁気デイスクを回転駆
動時に該スピンドル装置２に自動的に固定するた
めのクランプ機構１４が設けられている。同くス
ピンドル装置３に対応する位置には、検査用の読
み書きヘツド７を備えたキヤリツジ９と、スピン
ドル装置３上のハード磁気デイスクを回転駆動時
に該スピンドル装置３に固定するためのクランプ
機構１５が設けられている。なお、両ヘツド６，
７は夫々異なる特性（例えば物理的特性と電気的
特性）の検査を行なうものである。
タの一実施例を示す平面概略図（一部電気的ブロ
ツク図を含む）である。このテスタには、検査対
象であるハード磁気デイスクを回転駆動させるた
めの３台のスピンドル装置１，２，３が、テーブ
ル装置４の円周上に等間隔に配置されている。図
の状態では、スピンドル装置１に対応する位置に
は、ハード磁気デイスクの搭載及び取外しを自動
的に行なうための移載用ハンドラ５が設けられて
いる。スピンドル装置２に対応する位置には、検
査用の読み書きヘツド６を具えたキヤリツジ８
と、スピンドル装置２上の磁気デイスクを回転駆
動時に該スピンドル装置２に自動的に固定するた
めのクランプ機構１４が設けられている。同くス
ピンドル装置３に対応する位置には、検査用の読
み書きヘツド７を備えたキヤリツジ９と、スピン
ドル装置３上のハード磁気デイスクを回転駆動時
に該スピンドル装置３に固定するためのクランプ
機構１５が設けられている。なお、両ヘツド６，
７は夫々異なる特性（例えば物理的特性と電気的
特性）の検査を行なうものである。
検査回路１０は、キヤリツジ８の動作及びヘツ
ド６による検査用の読み書き動作を制御するとと
もに、ヘツド６から出力される読出し信号を受入
れて検査のための所定の解析処理を行なうもので
ある。検査回路１１のキヤリツジ９、ヘツド７に
対する関係も全くこれと同様である。
ド６による検査用の読み書き動作を制御するとと
もに、ヘツド６から出力される読出し信号を受入
れて検査のための所定の解析処理を行なうもので
ある。検査回路１１のキヤリツジ９、ヘツド７に
対する関係も全くこれと同様である。
前記スピンドル装置１，２，３が配置されてい
るテーブル装置４は、テーブル駆動装置１２によ
つて図の矢印Ａ方向に回転させられるとともに、
各スピンドル１，２，３がキヤリツジ８，９ある
いはハンドラ５に対応する所定の位置したときテ
ーブル固定機構１３により固定される。
るテーブル装置４は、テーブル駆動装置１２によ
つて図の矢印Ａ方向に回転させられるとともに、
各スピンドル１，２，３がキヤリツジ８，９ある
いはハンドラ５に対応する所定の位置したときテ
ーブル固定機構１３により固定される。
制御回路１６は、前記スピンドル装置１，２，
３、移載用ハンドラ５、検査回路１０，１１、テ
ーブル駆動装置１２、テーブル固定機構１３及び
クランプ機構１４，１５の夫々の動作を検査の全
過程にわたつて制御するための回路であり、たと
えばコンピユータからなる。
３、移載用ハンドラ５、検査回路１０，１１、テ
ーブル駆動装置１２、テーブル固定機構１３及び
クランプ機構１４，１５の夫々の動作を検査の全
過程にわたつて制御するための回路であり、たと
えばコンピユータからなる。
次に、磁気デイスクの検査時における各装置の
動作の一例について説明すると、まず被検査磁気
デイスクを移載用ハンドラ５によつてスピンドル
装置１に載置した後、テーブル駆動装置１２によ
つてテーブル装置４を矢印Ａ方向に120゜回転さ
せ、その後テーブル固定機構１３によつて該テー
ブル装置４を固定する。このとき、キヤリツジ９
の位置には新たな磁気デイスクをのせたスピンド
ル装置１が対応し、移載用ハンドラ５の位置には
スピンドル装置２が対応するようになる。この状
態で、該デイスクをクランプ機構１５によりスピ
ンドル装置１に固定させた後該スピンドル装置１
上で回転駆動させ、ヘツド７により該デイスクに
関する所定の検査を行なう。同時に、前記移載用
ハンドラ５によつて新しい磁気デイスクをスピン
ドル装置２に搭載する。そしてこの両処理が終了
した後、前記テーブル固定機構１３による固定を
解除し、前述と同様にテーブル駆動装置１２及び
テーブル固定機構１３を用いて再びテーブル装置
４を矢印Ａ方向に120゜回転させて固定する。この
状態ではキヤリツジ９の位置には新たな磁気デイ
スクをのせたスピンドル装置２が対応し、キヤリ
ツジ８の位置にはキヤリツジ９で検査済みの磁気
デイスクをのせたスピンドル装置１が対応する。
そして、移載用ハンドラ５の位置にはスピンドル
装置３が対応する。次に、スピンドル装置１上の
磁気デイスクをクランプ機構１４により固定した
後該スピンドル装置１上で回転駆動させ、ヘツド
６により該デイスクに関する所定の検査を行な
う。同時に、スピンドル装置２上の磁気デイスク
をクランプ機構１５により固定した後該スピンド
ル２上で回転駆動させ、ヘツド７により該デイス
クに関する所定の検査を行なう。同時に、前記移
載用ハンドラ５によつて新しい磁気デイスクをス
ピンドル装置３に搭載する。そしてこれらの各処
理が終了した後、再び前述と同様にしてテーブル
装置４を矢印Ａ方向に120゜回転させて固定する。
このとき、テーブル装置４は通算で１回転したこ
とになり、スピンドル装置１，２，３、移載用ハ
ンドラ５及びキヤリツジ８，９は夫々再び図に示
すような配置に戻る。そしてこのとき、最初スピ
ンドル装置１に搭載した磁気デイスクは、このテ
スタによる全ての検査を終了している。そこで移
載用ハンドラ５によつてこの検査済みデイスクの
取外し及びスピンドル装置１への新たな被検査デ
イスクの搭載を行なうとともに、ヘツド６，７に
よるスピンドル装置２，３上の磁気デイスクに対
する検査を前述と同様に行なう。そして以下同様
に、上述のようなテーブル装置４の回転と、検査
及び交換作業の並行処理とを、繰返し行なつてい
く。なお、この検査の過程でヘツド６，７から出
力される読出し信号は、夫々逐次検査回路１０，
１１に与えられ、解析処理されていく。
動作の一例について説明すると、まず被検査磁気
デイスクを移載用ハンドラ５によつてスピンドル
装置１に載置した後、テーブル駆動装置１２によ
つてテーブル装置４を矢印Ａ方向に120゜回転さ
せ、その後テーブル固定機構１３によつて該テー
ブル装置４を固定する。このとき、キヤリツジ９
の位置には新たな磁気デイスクをのせたスピンド
ル装置１が対応し、移載用ハンドラ５の位置には
スピンドル装置２が対応するようになる。この状
態で、該デイスクをクランプ機構１５によりスピ
ンドル装置１に固定させた後該スピンドル装置１
上で回転駆動させ、ヘツド７により該デイスクに
関する所定の検査を行なう。同時に、前記移載用
ハンドラ５によつて新しい磁気デイスクをスピン
ドル装置２に搭載する。そしてこの両処理が終了
した後、前記テーブル固定機構１３による固定を
解除し、前述と同様にテーブル駆動装置１２及び
テーブル固定機構１３を用いて再びテーブル装置
４を矢印Ａ方向に120゜回転させて固定する。この
状態ではキヤリツジ９の位置には新たな磁気デイ
スクをのせたスピンドル装置２が対応し、キヤリ
ツジ８の位置にはキヤリツジ９で検査済みの磁気
デイスクをのせたスピンドル装置１が対応する。
そして、移載用ハンドラ５の位置にはスピンドル
装置３が対応する。次に、スピンドル装置１上の
磁気デイスクをクランプ機構１４により固定した
後該スピンドル装置１上で回転駆動させ、ヘツド
６により該デイスクに関する所定の検査を行な
う。同時に、スピンドル装置２上の磁気デイスク
をクランプ機構１５により固定した後該スピンド
ル２上で回転駆動させ、ヘツド７により該デイス
クに関する所定の検査を行なう。同時に、前記移
載用ハンドラ５によつて新しい磁気デイスクをス
ピンドル装置３に搭載する。そしてこれらの各処
理が終了した後、再び前述と同様にしてテーブル
装置４を矢印Ａ方向に120゜回転させて固定する。
このとき、テーブル装置４は通算で１回転したこ
とになり、スピンドル装置１，２，３、移載用ハ
ンドラ５及びキヤリツジ８，９は夫々再び図に示
すような配置に戻る。そしてこのとき、最初スピ
ンドル装置１に搭載した磁気デイスクは、このテ
スタによる全ての検査を終了している。そこで移
載用ハンドラ５によつてこの検査済みデイスクの
取外し及びスピンドル装置１への新たな被検査デ
イスクの搭載を行なうとともに、ヘツド６，７に
よるスピンドル装置２，３上の磁気デイスクに対
する検査を前述と同様に行なう。そして以下同様
に、上述のようなテーブル装置４の回転と、検査
及び交換作業の並行処理とを、繰返し行なつてい
く。なお、この検査の過程でヘツド６，７から出
力される読出し信号は、夫々逐次検査回路１０，
１１に与えられ、解析処理されていく。
このようにこの実施列に係るテスタを用いるこ
とによつて、ヘツド６，７は、移載用ハンドラ５
によつて各スピンドル装置１，２，３に順次搭載
される新たなハード磁気デイスクに対して、夫々
連続して検査を行なうことができる。そして、ハ
ード磁気デイスクの交換作業は、各スピンドル装
置１，２，３が夫々移載用ハンドラ５の位置に対
応したときにのみ行なわれるので、従来のように
交換作業にキヤリツジの動作が関与していた場合
と比較して、一層交換時間の短縮化を図ることが
できる。また、ヘツド６を具えたキヤリツジ８と
ヘツド７を具えたキヤリツジ９は異なる検査項目
の検査を夫々単独で行なつているので、同一検査
対象特性の検査に複数のヘツド及びキヤリツジを
用いる場合のような検査の互換性保証の作業は必
要なく、装置にも無駄がない。従つて、ハード磁
気デイスクに対する検査を、より簡素かつ経済的
な装置を用いてより簡単な作業により行ない、加
えて、より短時間で行なうことが可能となる。
とによつて、ヘツド６，７は、移載用ハンドラ５
によつて各スピンドル装置１，２，３に順次搭載
される新たなハード磁気デイスクに対して、夫々
連続して検査を行なうことができる。そして、ハ
ード磁気デイスクの交換作業は、各スピンドル装
置１，２，３が夫々移載用ハンドラ５の位置に対
応したときにのみ行なわれるので、従来のように
交換作業にキヤリツジの動作が関与していた場合
と比較して、一層交換時間の短縮化を図ることが
できる。また、ヘツド６を具えたキヤリツジ８と
ヘツド７を具えたキヤリツジ９は異なる検査項目
の検査を夫々単独で行なつているので、同一検査
対象特性の検査に複数のヘツド及びキヤリツジを
用いる場合のような検査の互換性保証の作業は必
要なく、装置にも無駄がない。従つて、ハード磁
気デイスクに対する検査を、より簡素かつ経済的
な装置を用いてより簡単な作業により行ない、加
えて、より短時間で行なうことが可能となる。
なお、この実施例ではヘツド６を具えたキヤリ
ツジ８とヘツド７を具えたキヤリツジ９が設けら
れているが、ヘツド及びキヤリツジの数は、検査
対象特性の数に対応して１台でもあるいは３台以
上でも構わない。
ツジ８とヘツド７を具えたキヤリツジ９が設けら
れているが、ヘツド及びキヤリツジの数は、検査
対象特性の数に対応して１台でもあるいは３台以
上でも構わない。
以上のとおり、この発明に係るデイスク型記録
媒体テスタによれば、キヤリツジと移載用ハンド
ラとが別々のスピンドルに対応して設けられてい
るので、検査と交換作業とを同時に並行処理する
ことができる。従つて、多数のデイスク型記録媒
体を連続して次々に検査することができ、効率的
な検査を行なうことが可能である。また、各スピ
ンドル毎にキヤリツジを設ける必要がないので、
装置の簡素化を図ることができると共に経済的で
ある。
媒体テスタによれば、キヤリツジと移載用ハンド
ラとが別々のスピンドルに対応して設けられてい
るので、検査と交換作業とを同時に並行処理する
ことができる。従つて、多数のデイスク型記録媒
体を連続して次々に検査することができ、効率的
な検査を行なうことが可能である。また、各スピ
ンドル毎にキヤリツジを設ける必要がないので、
装置の簡素化を図ることができると共に経済的で
ある。
図は、この発明の一実施例を示す平面概略図で
あつて、一部に電気的ブロツク図を含むものであ
る。 １，２，３……スピンドル装置、４……テーブ
ル装置、５……移載用ハンドラ、６……物理的特
性検査用ヘツド、７……電気的特性検査用ヘツ
ド、８，９……キヤリツジ、１０，１１……検査
回路、１２……テーブル駆動装置、１３……テー
ブル固定機構、１４，１５……クランプ機構、１
６……制御回路。
あつて、一部に電気的ブロツク図を含むものであ
る。 １，２，３……スピンドル装置、４……テーブ
ル装置、５……移載用ハンドラ、６……物理的特
性検査用ヘツド、７……電気的特性検査用ヘツ
ド、８，９……キヤリツジ、１０，１１……検査
回路、１２……テーブル駆動装置、１３……テー
ブル固定機構、１４，１５……クランプ機構、１
６……制御回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 検査対象であるデイスク型記録媒体を夫々搭
載して回転駆動するための複数のスピンドル装置
と、 少なくとも１台分の前記スピンドル装置の位置
に対応して設けられており、検査用センサ若しく
はヘツドを搭載し、該センサ又はヘツドをスピン
ドル回転の径方向に移動させるためのキヤリツジ
装置と、 前記キヤリツジ装置が対応するスピンドル装置
の位置とは別のスピンドル装置の位置に対応して
設けられており、該スピンドル装置に対する前記
デイスク型記録媒体の搭載及び取外しを行う移載
用ハンドラ装置と、 前記複数のスピンドル装置を円周上に所定間隔
で配置したテーブルを有し、このテーブルを所定
角づつ回転させることにより各スピンドル装置を
前記キヤリツジ装置及びハンドラ装置に順送りに
対応させる駆動装置と を具え、前記キヤリツジ装置における検査処理と
前記ハンドラ装置における搭載及び取外し処理を
並行して行えるようにしたことを特徴とするデイ
スク型記録媒体テスタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59126348A JPS617480A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | ディスク型記録媒体テスタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59126348A JPS617480A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | ディスク型記録媒体テスタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS617480A JPS617480A (ja) | 1986-01-14 |
| JPH0425610B2 true JPH0425610B2 (ja) | 1992-05-01 |
Family
ID=14932943
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59126348A Granted JPS617480A (ja) | 1984-06-21 | 1984-06-21 | ディスク型記録媒体テスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS617480A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0536063A (ja) * | 1991-07-30 | 1993-02-12 | Fujitsu Ltd | 磁気デイスクの検査装置 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4894965A (ja) * | 1972-02-25 | 1973-12-06 | ||
| JPS53119493A (en) * | 1977-03-29 | 1978-10-18 | Toyoda Mach Works Ltd | End surface grinding device |
| JPS5525884A (en) * | 1978-08-16 | 1980-02-23 | Fujitsu Ltd | Testing method for mechanical strength of magnetic disc |
| JPS55108931A (en) * | 1979-02-13 | 1980-08-21 | Fujitsu Ltd | Inspection method of magnetic disc surface |
| JPS57156158A (en) * | 1981-03-20 | 1982-09-27 | Hitachi Seiko Ltd | Surface grinder |
-
1984
- 1984-06-21 JP JP59126348A patent/JPS617480A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS617480A (ja) | 1986-01-14 |
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