JPH04256219A - フェーズ・ロックド・ループ装置 - Google Patents

フェーズ・ロックド・ループ装置

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JPH04256219A
JPH04256219A JP3017721A JP1772191A JPH04256219A JP H04256219 A JPH04256219 A JP H04256219A JP 3017721 A JP3017721 A JP 3017721A JP 1772191 A JP1772191 A JP 1772191A JP H04256219 A JPH04256219 A JP H04256219A
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JP
Japan
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gain
phase
low
read data
normal
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Application number
JP3017721A
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English (en)
Inventor
Yoshiaki Yamaguchi
山口 義明
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NEC Engineering Ltd
Original Assignee
NEC Engineering Ltd
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Publication date
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  • Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はフェーズ・ロックド・ル
ープ装置に関し、特に情報記録再生装置のフェーズ・ロ
ックド・ループ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のフェーズ・ロックド・ル
ープ装置は、リードデータとリードクロックとを位相比
較する位相比較器と、位相比較器の位相比較結果である
位相誤差信号を加算する位相誤差加算器と、位相誤差加
算器により加算された位相誤差信号である位相誤差加算
信号の高周波成分を除去し系全体の応答速度を決定する
ループフィルタと、発振中心周波数電圧に前記ループフ
ィルタにより高周波成分が除去された位相誤差加算信号
である位相誤差電圧を加算しその電圧に見合った周波数
で発振する電圧制御発振器とを有して、電圧制御発振器
の発振クロックであるリードクロックが再び位相比較器
にフィードバックされる構成となっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のフェー
ズ・ロックド・ループ装置では、リードデータが媒体欠
陥や何等かの要因でノイズ成分を含んだり、パルスがシ
フトしたり欠落した場合においても、応答速度を決定す
るループフィルタは通常(正常リードデータ)のゲイン
でリードデータに追従するので、リードデータが急激に
正常に戻っても追従できなかったり、追従できるまでに
回復したとしてもその間(欠陥区間)のリードデータ情
報量とリードクロックの数とが合わなく、その後の正常
リードデータにおいてもその状態が伝播して書き込んだ
データが復元できなくなるという問題点がある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明のフェーズ・ロッ
クド・ループ装置はリードデータとリードクロックとを
位相比較する位相比較器と、この位相比較器の位相比較
結果である位相誤差信号を加算する位相誤差加算器と、
この位相誤差加算器により加算された位相誤差信号であ
る位相誤差加算信号の高周波成分を除去し系全体の応答
速度を決定するループフィルタと、発振中心周波数電圧
に前記ループフィルタにより高周波成分を除去された前
記位相誤差加算信号である位相誤差電圧を加算しその電
圧に見合った周波数で発振する電圧制御発振器と、この
電圧制御発振器の発振クロックである前記リードクロッ
クが再び前記位相比較器にフィードバックされるフェー
ズ・ロックド・ループ装置において、前記フェーズ・ロ
ックド・ループ装置を乱す要因となる前記リードデータ
のビットシフト検出であるウィンドチェックと前記リー
ドデータの欠落検出であるバーストチェックとを行うチ
ェック回路を有し、前記系全体の応答速度を決定する前
記ループフィルタに正常の前記リードデータに通常の応
答速度で追従するための通常ゲインであるノーマルゲイ
ンと不正の前記リードデータに低い応答速度で追従する
ための低ゲインであるローゲインとの2つのロックゲイ
ン・モードを備え、前記チェック回路の結果により前記
2つのロックゲインを切り換える切り換え手段を有し、
ビットシフトや欠落を含む不正リードデータの場合は欠
落区間のゲインを下げて追従しにくくし、前記不正リー
ドデータによるフェーズ・ロックド・ループの乱れを最
小限におさえて常に正常なリードクロックを生成し、前
記ループフィルタは前記ノーマルゲインと前記ローゲイ
ンとの2つのローパスフィルタと、前記ノーマルゲイン
と前記ローゲインとを切り換えるアナログスイッチとを
有して構成し、前記アナログスイッチによって前記2つ
のローパスフィルタを切り換えることにより前記ループ
フィルタのロックゲイン・モードの切り換えを行い、ま
たは前記ループフィルタは前記ノーマルゲインと前記ロ
ーゲインとの2つのインピーダンスを備えるローパスフ
ィルタと、前記アナログスイッチとを有して構成し、前
記アナログスイッチによって前記2つのインピーダンス
を切り換えを行い、または前記ループフィルタを構成す
るローパスフィルタのゲインが出力側インピーダンス÷
入力側インピーダンスで表されるとき、前記入力側イン
ピーダンスを前記アナログスイッチによって前記出力側
インピーダンスより高インピーダンス素子に切り換えて
前記ゲインを下げ、または前記ループフィルタを構成す
るローパスフィルタのゲインが前記出力側インピーダン
ス÷前記入力側インピーダンスで表されるとき、前記出
力側インピーダンスを前記アナログスイッチによって前
記入力側インピーダンスより低インピーダンス素子に切
り換えて前記ゲインを下げている。
【0005】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
るあ。
【0006】図1は本発明の第1の実施例を示すブロッ
ク図、図2は図1に示す本第1の実施例におけるチェッ
ク回路を示すブロック図、図3は図1に示す本第1の実
施例の動作を示すタイミング図である。
【0007】図1,図2において、本第1の実施例のフ
ェーズ・ロックド・ループ装置は、リードデータAとリ
ードクロックFとを位相比較する位相比較器1と、位相
比較器1の位相比較結果である位相誤差信号を加算する
位相誤差加算器2と、位相誤差加算器2により加算され
た位相誤差信号である位相誤差加算信号Dの高周波成分
を除去し系全体の応答速度を決定するループフィルタ3
と、発振中心周波数電圧にループフィルタ3により高周
波成分を除去された位相誤差加算信号である位相誤差電
圧Eを加算しその電圧に見合った周波数で発振する電圧
制御発振器4と、電圧制御発振器4の発振クロックであ
るリードクロックFが再び位相比較器1にフィードバッ
クされ、リードデータAの品質をチェックするチェック
回路5とを有して構成し、チェック回路5は本第1の実
施例のフェーズ・ロックド・ループ装置を乱す要因とな
るリードデータAのビットシフト検出であるウィンドチ
ェック回路6と、リードデータAの欠落を検出するバー
ストチェック回路7と、ウィンドチェック回路6からの
ウィンドチェック信号Hかまたはバーストチェック回路
7からのバーストチェック信号Iをゲイン切り換え信号
GとするORゲート8とを有して構成している。
【0008】次に、本第1の実施例の動作について、図
1,図2および図3を用いて説明する。
【0009】位相比較器1によりリードデータAとリー
ドクロックFとを位相比較して進み側,遅れ側の位相誤
差信号B,Cを出力し、位相誤差加算器2は進み側,遅
れ側の位相誤差信号B,Cを加算して位相誤差加算信号
Dを出力し、ループフィルタ3は位相誤差加算信号Dの
高周波成分を取り除き位相誤差電圧Eを出力し、電圧制
御発振器4は内部に持つ発振中心周波数電圧に位相誤差
電圧Eを加算しその電圧に比例するリードクロックFを
出力し、リードクロックFは位相比較器1へフィードバ
ックして再び同様な動作が繰り返し行われ、チェック回
路5はリードデータAの品質をチェックし欠陥があった
時にゲイン切り換え信号Gを出力し、ループフィルタ3
に転送する。
【0010】ここでチェック回路5はリードデータAの
ノイズやビットシフトなどの不正データを検知した時に
ウィンドチェック信号Hを出力するウィドチェック回路
6と、リードデータAのデータ欠落を検知した時にバー
ストチェック信号Iを出力するバーストチェック回路7
とにより構成され、ウィンドチェック信号Hとバースト
チェック信号IはORゲート8により加算されてゲイン
切り換え信号Gが出力される。
【0011】一方、本第1の実施例のフェーズ・ロック
ド・ループ装置の系全体の応答速度を支配的に決定する
のはループルィルタ3のもつゲインであり、このゲイン
が高いほどリードデータAの変動に追従しやすく、ゲイ
ンが低いほどリードデータAの変動に追従しにくいので
あるから、ループフィルタ3に正常リードデータAに通
常の応答速度で追従するための通常ゲインであるノーマ
ルゲイン(NG)と不正リードデータに低い応答速度で
追従するための通常ゲインよりも低いゲインであるロー
ゲイン(LG)の2つのロックゲイン・モードを設けて
、チェック回路5によりリードデータAの品質をチェッ
クしてウィンドエラーやバーストエラーを検出した時に
出力されるゲイン切り換え信号Gによりループフィルタ
3のゲインをノーマルゲイン(NG)モードからローゲ
イン(LG)モードに切り換えて追従するのを抑制する
【0012】図3において、リードデータA中にウィン
ドエラー発生箇所とバーストエラー発生箇所があるとす
ると、ウィンドエラーチェック信号HはリードデータA
中のウィンドエラー発生箇所でレベル・ハイ(H)をも
ってウィンドエラーを検出する。また、バーストチェッ
ク信号IはリードデータA中バーストエラー発生箇所で
レベル・ハイ(H)をもってバーストエラーを検出する
。ゲイン切り換え信号Gはウィンドエラーもしくはバー
ストエラー発生箇所でレベル・ハイ(H)をもってリー
ドデータA中に不正リードデータを検出する。ループフ
ィルタ3はゲイン切り換え信号Gがレベル・ロー(L)
のときノーマルゲイン(NG)モードとなり、またゲイ
ン切り換え信号Gがレベル・ハイ(H)のときローゲイ
ン(LG)モードとなる。
【0013】図4は本発明の第2の実施例におけるルー
プフィルタのブロック図である。
【0014】図4において、本第2の実施例におけるル
ープフィルタ3aは正常のリートデータAに通常の応答
速度で追従するための通常ゲインであるノーマルゲイン
(NG)を出力するノーマルゲイン・ローパスフィルタ
(以下LPF  NG)9と、不正のリードデータに低
い応答速度で追従するための通常のゲインよりも低いゲ
インであるローゲイン(LG)を出力するローゲイン・
ローパスフィルタ(LPF  LG)10と、図1に示
すチェック回路5からのゲイン切り換え信号GによりL
PF  NG9からの信号またはLPF  LG10か
らの信号に切り換え制御されるアナログスイッチ11と
を有し、本第2の実施例は図1に示す第1の実施例の中
のループフィルタ3の代りに図4に示すループフィルタ
3aを使用した構成になっている。
【0015】本第2の実施例では、ゲイン切り換え信号
Gによりアナログスイッチ11はLPF  NG9によ
るNGモードかLPF  LG10によるLGモードこ
を切り換えることができる。
【0016】図5は本発明の第3の実施例におけるルー
プフィルタを構成するローパスフィルタのブロック図で
ある。
【0017】図5において、本発明の第3の実施例にお
けるループフィルタはオペアンプ(OPA)14と、入
力側インピーダンス(ZI)12,出力側インピーダン
ス(ZO)13とにより実現されるローパスフィルタを
有して構成され、またそのゲインがG=ZO/ZI(Z
Iは入力側インピーダンス(ZI)12,ZOは出力側
インピーダンス(ZO)13)で表されるとき、ローゲ
イン(LG)モードにおいて入力側インピーダンス(Z
I)12をノーマルゲイン(NG)・モードのときより
も上げるか、もしくは出力側インピーダンス(ZO)1
3をノーマルゲイン(NG)・モードのときよりも下げ
てゲインを切り換えることができる。
【0018】なお、本第3の実施例は図1に示す第1の
実施例の中のループフィルタ3に図5に示すローパスフ
ィルタを含むループフィルタを使用した構成となってい
る。
【0019】図6は本発明の第4の実施例におけるルー
プフィルタのブロック図である。
【0020】図6において、本第4の実施例におけるル
ープフィルタ3bは入力側ノーマルインピーダンス(Z
IN)15と、入力側ローインピーダンス(ZIL)1
6と、アナログスイッチ11と、出力側インピーダンス
(ZO)13と、オペアンプ(OPA)14とを有して
構成し、本第4の実施例は図1に示す第1の実施例の中
のループフィルタ3の代りに図6に示すループフィルタ
3bが使用された構成となっている。
【0021】本第4の実施例では、入力側ノーマルイン
ピーダンス(ZIN)15よりも入力側ローインピーダ
ンス(ZIL)16が高いとすると、ゲイン切り換え信
号Gにより切り換え制御されるアナログスイッチ11に
より入力側ノーマルインピーダンス(ZIN)15が選
択されたときは、ループフィルタ3bのゲインはGN=
ZO/ZINとなり、また入力側ローインピーダンス(
ZIL)16が選択されたときはループフィルタ3bの
ゲインはGL=ZO/ZINとなってGN>GLのゲイ
ン切り換えが実現できる。
【0022】図7は本発明の第5の実施例におけるルー
プフィルタのブロック図である。
【0023】図7において、本第5の実施例におけるル
ープフィルタ3cは入力側インピーダンス(ZI)12
と、出力側ノーマルインピーダンス(ZON)17と、
出力側ローインピーダンス(ZOL)18と、オペアン
プ(OPA)14と、アナログスイッチ11とを有して
構成し、本第5の実施例は図1に示す第1の実施例の中
のループフィルタ3の代りに図6に示すループフィルタ
3cが使用された構成となっている。
【0024】本第5の実施例では出力側ノーマルインピ
ーダンス(ZON)17よりも出力側ローインピーダン
ス(ZOL)18が低いとすると、ゲイン切り換え信号
Gにより切り換え制御されるアナログスイッチ11によ
り出力側ノーマルインピーダンス(ZON)17が選択
されたときはループフィルタ3cのゲインはGN=ZO
N/ZIとなり、また出力側ローインピーダンス(ZO
L)18が選択されたときはループフィルタ3cのゲイ
ンはGL=ZOL/ZIとなってGN>GLのゲイン切
り換えが実現できる。
【0025】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、リードデ
ータが媒体欠陥などによりノイズ成分を含んだりパルス
がシフトしたり欠落した場合にはその間(欠陥区間)だ
け応答速度を決定するループフィルタのゲインを下げて
リードデータに追従するので、リードデータが急激に正
常に戻っても追従できなかったり、追従できるまでに回
復したとしてもその間(欠陥区間)のリードデータ情報
量とリードクロックの数とが合わなく、その後の正常リ
ードデータにおいてもその状態が伝播して書き込んだデ
ータが復元できなくなるという問題点がなくなり、常に
安定したフェーズ・ロックド・ループ回路動作を実現す
ることができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示すブロック図である
【図2】図1に示す本第1の実施例におけるチェック回
路を示すブロック図である。
【図3】図1に示す本第1の実施例の動作を示すタイミ
ング図である。
【図4】本発明の第2の実施例におけるループフィルタ
のブロック図である。
【図5】本発明の第3の実施例におけるループフィルタ
を構成するローパスフィルタのブロック図である。
【図6】本発明の第4の実施例におけるループフィルタ
のブロック図である。
【図7】本発明の第5の実施例におけるループフィルタ
のブロック図である。
【符号の説明】
1    位相比較器 2    位相誤差加算器 3    ループフィルタ 4    電圧制御発振器 5    チュック回路 6    ウィンドチェック回路 7    バーストチェック回路 8    ORゲート 9    ノーマルゲイン・ローパスフィルタ(LPF
  NG) 10    ローゲイン・ローパスフィルタ(LPF 
 LG) 11    アナログスイッチ 12    入力側インピーダンス(ZI)13   
 出力側インピーダンス(ZO)14    オペアン
プ(OPA) 15    入力側ノーマルインピーダンス(ZIN)
16    入力側ローインピーダンス(ZIL)17
    出力側ノーマルインピーダンス(ZON)18
    出力側ローインピーダンス(ZOL)A   
 リードデータ B    進み側位相比較信号 C    遅れ側位相比較信号 D    位相誤差加算信号 E    位相誤差電圧 F    リードクロック G    ゲイン切り換え信号 H    ウィンドチェック信号 I    バーストチェック信号

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  リードデータとリードクロックとを位
    相比較する位相比較器と、この位相比較器の位相比較結
    果である位相誤差信号を加算する位相誤差加算器と、こ
    の位相誤差加算器により加算された位相誤差信号である
    位相誤差加算信号の高周波成分を除去し系全体の応答速
    度を決定するループフィルタと、発振中心周波数電圧に
    前記ループフィルタにより高周波成分を除去された前記
    位相誤差加算信号である位相誤差電圧を加算しその電圧
    に見合った周波数で発振する電圧制御発振器と、この電
    圧制御発振器の発振クロックである前記リードクロック
    が再び前記位相比較器にフィードバックされるフェーズ
    ・ロックド・ループ装置において、前記フェーズ・ロッ
    クド・ループ装置を乱す要因となる前記リードデータの
    ビットシフト検出であるウィンドチェックと前記リード
    データの欠落検出であるバーストチェックとを行うチェ
    ック回路を有し、前記系全体の応答速度を決定する前記
    ループフィルタに正常の前記リードデータに通常の応答
    速度で追従するための通常ゲインであるノーマルゲイン
    と不正の前記リードデータに低い応答速度で追従するた
    めの低ゲインであるローゲインとの2つのロックゲイン
    ・モードを備え、前記チェック回路の結果により前記2
    つのロックゲインを切り換える切り換え手段を有し、ビ
    ットシフトや欠落を含む不正リードデータの場合は欠落
    区間のゲインを下げて追従しにくくし、前記不正リード
    データによるフェーズ・ロックド・ループの乱れを最小
    限におさえて常に正常なリードクロックを生成すること
    を特徴とするフェーズ・ロックド・ループ装置。
  2. 【請求項2】  前記ループフィルタは前記ノーマルゲ
    インと前記ローゲインとの2つのローパスフィルタと、
    前記ノーマルゲインと前記ローゲインとを切り換えるア
    ナログスイッチとを有して構成し、前記アナログスイッ
    チによって前記2つのローパスフィルタを切り換えるこ
    とにより前記ループフィルタのロックゲイン・モードの
    切り換えを行うことを特徴とする請求項1記載のフェー
    ズ・ロックド・ループ装置。
  3. 【請求項3】  前記ループフィルタは前記ノーマルゲ
    インと前記ローゲインとの2つのインピーダンスを備え
    るローパスフィルタと、前記アナログスイッチとを有し
    て構成し、前記アナログスイッチによって前記2つのイ
    ンピーダンスを切り換えることにより前記ループフィル
    タの前記ロックゲイン・モードの切り換えを行うことを
    特徴とする請求項1記載のフェーズ・ロックド・ループ
    装置。
  4. 【請求項4】  前記ループフィルタを構成するローパ
    スフィルタのゲインが出力側インピーダンス÷入力側イ
    ンピーダンスで表されるとき、前記入力側インピーダン
    スを前記アナログスイッチによって前記出力側インピー
    ダンスより高インピーダンス素子に切り換えて前記ゲイ
    ンを下げることを特徴とする請求項1または2または3
    記載のフェーズ・ロックド・ループ装置。
  5. 【請求項5】  前記ループフィルタを構成するローパ
    スフィルタのゲインが前記出力側インピーダンス÷前記
    入力側インピーダンスで表されるとき、前記出力側イン
    ピーダンスを前記アナログスイッチによって前記入力側
    インピーダンスより低インピーダンス素子に切り換えて
    前記ゲインを下げることを特徴とする請求項1または2
    または3記載のフェーズ・ロックド・ループ装置。
JP3017721A 1991-02-08 1991-02-08 フェーズ・ロックド・ループ装置 Pending JPH04256219A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07202871A (ja) * 1993-12-28 1995-08-04 Nec Corp 位相同期回路

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6196571A (ja) * 1984-10-16 1986-05-15 Pioneer Electronic Corp 信号読取装置
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Effective date: 19970624