JPH0425774A - 摺動抵抗器検査装置 - Google Patents

摺動抵抗器検査装置

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Publication number
JPH0425774A
JPH0425774A JP2130611A JP13061190A JPH0425774A JP H0425774 A JPH0425774 A JP H0425774A JP 2130611 A JP2130611 A JP 2130611A JP 13061190 A JP13061190 A JP 13061190A JP H0425774 A JPH0425774 A JP H0425774A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
resistor
sliding
terminal
sliding resistor
resistors
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Pending
Application number
JP2130611A
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English (en)
Inventor
Koji Kobuchi
小渕 幸二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPH0425774A publication Critical patent/JPH0425774A/ja
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、摺動抵抗器の摺動接触不良を検査する摺動
抵抗器検査装置に関するものである。
〔従来の技術〕
第2図は従来の摺動抵抗器検査装置を示すブロック図で
ある。図において、1は検査が行われる摺動抵抗器であ
り、2はその摺動子である。3および4はこの摺動抵抗
器1の固定端子であり、5はその摺動端子である。6は
摺動抵抗器1の固定端子の一方、例えば固定端子3が接
続される正電源端子であり、7はこの正電源端子6との
間に図示を省略した電源装置が接続される負電源端子で
ある。8はこの負電源端子7と、摺動抵抗器1の固定端
子の他方、例えば固定端子4との間に接続された固定抵
抗器である。9は摺動抵抗器1の摺動子2より負電源端
子7へ流れる電流を観察するためのシンクロスコープで
あり、10はその表示画面である。
次に動作について説明する。正電源端子6と負電源端子
7との間に電源装置を接続して所定の電圧を印加すると
、摺動抵抗器1から固定抵抗器8に電流1.が流れ、摺
動抵抗器1の摺動子2からはシンクロスコープ9に電流
1.が分流する。シンクロスコープ9はその電流I、の
値の変化を表示画面10上に表示する。ここで、第3図
はシンクロスコープ9の表示画面10の表示例を示す説
明図であり、図中、11は電流■2の変化を示す表示波
形、12はその摺動接触不良による表示波形11の乱れ
をそれぞれ示している。
即ち、摺動抵抗器1の摺動子2を固定端子3から固定端
子4に向けて漸次移動させてゆくと、摺動子2より分流
される電流12は滑らかに減少してゆく。従って、シン
クロスコープ9の表示画面10上の表示波形11は、実
線で示すように摺動子2の移動に伴う抵抗値の変化に従
って減少してゆく。ここで、摺動子2の移動中に接触不
良が発生すると、摺動子2にて分流される電流I2は瞬
時遮断される。従って、シンクロスコープ9の表示画面
10上の表示波形11には、摺動子2の摺動接触不良に
よる急激な変動が生じて、破線で示すような波形の乱れ
12が瞬間的に発生する。
作業者はこのシンクロスコープ9の表示画面10に表示
される表示波形11を観察して、波形の乱れ12を確認
するとその摺動抵抗器1を不良品と判定する。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来の摺動抵抗器検査装置は以上のように構成されてい
るので、シンクロスコープ9の表示画面10に表示され
る波形の乱れ12は瞬間的なものであり、その波形の乱
れ12の発生を監視して摺動抵抗器1の良品/不良品の
判定を行わなければならず、その判定作業には高度な熟
練性が要求され、また、その作業には極めて高い集中力
が必要となるなどの課題があった。
この発明は上記のような課題を解消するためになされた
もので、良品/不良品の判定作業に高度な熟練性と集中
力が要求されることはなく、誰にでも容易に摺動抵抗器
の摺動接触不良の検査ができる摺動抵抗器検査装置を得
ることを目的とする。
C課題を解決するための手段〕 この発明に係る摺動抵抗器検査装置は、検査が行われる
摺動抵抗器の固定端子の一方に、直列接続された第1の
抵抗器と第3の抵抗器とを接続するとともに、摺動端子
に第3の抵抗器を接続し、第1および第2の抵抗器の接
続点と摺動抵抗器の摺動端子との電位を比較する比較回
路、比較回路の出力信号を保持する自己保持回路、およ
び自己保持回路の出力信号を表示する表示器を設けたも
のである。
〔作 用〕
この発明における摺動抵抗器検査装置は、比較回路によ
って、検査が行われる摺動抵抗器の固定端子の一方に接
続された第1の抵抗器と第2の抵抗器の接続点の電位と
、第3の抵抗器が接続された摺動抵抗器の摺動端子との
電位を比較し、比較結果を自己保持回路にて保持して表
示器に表示することにより、良品/不良品の判定作業に
高度な熟練性と集中力が要求されることのない摺動抵抗
器検査装置を実現する。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図において、1は摺動抵抗器、2は摺動子、3,4は固
定端子、5は摺動端子、6は正電源端子、7は負電源端
子であり、第2図に同一符号を付した従来のそれらと同
一、あるいは相当部分であるため詳細な説明は省略する
また、I3および14は互いに直列に接続されて、前記
摺動抵抗器Iの固定端子の一方、例えば固定端子4と前
記負電源端子7との間に接続された、第1の抵抗器およ
び第2の抵抗器としての固定抵抗器である。15は前記
摺動抵抗器1の摺動端子5と負電源端子7との間に接続
された第3の抵抗器としての固定抵抗器である。
16は直列接続された固定抵抗器13と14の接続点の
電位と、摺動抵抗器1の摺動端子5の電位とを比較する
、差動アンプ等による比較回路であり、17は比較回路
16の出力信号を保持するフリップフロップ等による自
己保持回路、18はこの自己保持回路17をリセットす
るためのリセットスイッチである。19はこの自己保持
回路17の出力信号に従って、前記摺動抵抗器1が良品
の間点灯している表示器としての発光ダイオードであり
、20は自己保持回路エフの出力信号に従って摺動抵抗
器1の不良が検出されると点灯する、表示器としての発
光ダイオードである。
次に動作について説明する。正電源端子6と負電源端子
7との間に電源装置を接続して所定の電圧を印加すると
、従来の場合と同様に摺動抵抗器1から固定抵抗器13
.14に電流1.が流れ、摺動抵抗器1の摺動子2より
固定抵抗器15に電流I2が分流する。比較回路16は
、この電流■2による固定抵抗器15における電圧降下
、即ち、摺動抵抗器1の摺動端子5の電位aと、電流I
による固定抵抗器14における電圧降下、即ち、固定抵
抗器13と14との接続点の電位すとを比較する。
その結果、比較回路16は電位aが0ボルトにならなけ
れば、その出力信号Cを所定の極性に維持し、電位aが
Oボルトになると出力信号Cを反転させる。即ち、検査
される摺動抵抗器1が良品で、摺動子2を移動させても
摺動接触不良が発生しなければ電流I2は常に正常に流
れるため、電位aがOボルトになることはない。しかし
ながら、摺動接触不良が発生すると当該電流I2が瞬断
され、その間電位aは0ポルトとなる。従って、比較回
路16は摺動抵抗器1に摺動接触不良が発生した時に、
その出力信号Cを瞬間的に反転させる。
ここで、自己保持回路17はリセットスイッチ18が閉
成されるとリセット状態に遷移して、出力信号eをハイ
レベル、出力信号fをローレベルにする。このようなリ
セット状態において比較回路16の出力信号Cが反転す
ると自己保持回路17はセット状態に遷移し、出力信号
eがローレベル、出力信号fがハイレベルとなって以後
その状態を維持する。従って、自己保持回路17は、摺
動抵抗器1に摺動接触不良が発生しなければリセット状
態に維持して出力信号fをローレベルとし、途中で摺動
接触不良が発生すればセット状態を変化して出力信号e
をローレベルとする。
発光ダイオード19は出力信号fがローレベルになると
発光して、摺動抵抗器lの正常性を表示し、発光ダイオ
ード20は出力信号eがローレベルになると発光して、
摺動抵抗器1に摺動接触不良が発生したことを表示する
。この発光ダイオード20は自己保持回路17の作用に
よって、摺動抵抗器1の摺動接触不良が解消した後も発
光を継続する。
作業者はこの発光ダイオード19.20の発光を観察し
て、摺動子2が固定端子3から4へ移動するまで発光ダ
イオード19が発光していればその摺動抵抗器1を良品
と判定し、途中から発光ダイオード20が発光すればそ
れを不良品とする。
不良品を検出した場合、次の摺動抵抗器1の検査に入る
前にリセットスイッチ18を閉成して自己保持回路17
をリセットする。
なお、上記実施例では、第1〜第3の抵抗器として固定
抵抗器を用いたものを示したが、可変型の抵抗器を用い
てもよく、それらの抵抗値の組み合わせを調整すること
によって、あらゆる抵抗値の摺動抵抗器の検査が可能な
摺動抵抗値検査装置を得ることができる。
また、上記実施例では、表示器として発光ダイオードを
用いた場合について説明したが、ランプ等の他の可視表
示手段を用いても、さらにはブザー等の可聴表示手段を
用いてもよく、上記実施例と同様の効果を奏する。
〔発明の効果〕
以上のようにこの発明によれば、第1および第2の抵抗
器の接続点と、摺動抵抗器の摺動端子との電位を比較し
、比較結果を保持して表示器に表示するように構成した
ので、良品/不良品の判定作業に高度な熟練性、さらに
は高い集中力などが要求されることはなく、また、シン
クロスコープのような高価な機器も必要とせず、作業性
がよく、高精度で安価な摺動抵抗器検査装置が得られる
効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による摺動抵抗器検査装置
を示すブロック図、第2図は従来の摺動抵抗器検査装置
を示すブロック図、第3図はそのシンクロスコープの表
示画面の表示例を示す説明図である。 1は摺動抵抗器、2は摺動子、3,4は固定端子、5は
摺動端子、13は第1の抵抗器(固定抵抗器)、14は
第2の抵抗器(固定抵抗器)、15は第3の抵抗器(固
定抵抗器)、16は比較回路、 17は自己保持回路、 19゜ 20は表示器 (発光ダイオード) なお、 図中、 同一符号は同一、 又は相当部分を 示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 互いに直列に接続されて、検査が行われる摺動抵抗器の
    固定端子の一方に接続された第1の抵抗器および第2の
    抵抗器と、前記摺動抵抗器の摺動端子に接続された第3
    の抵抗器と、前記第1の抵抗器と第2の抵抗器の接続点
    の電位と前記摺動抵抗器の摺動端子の電位とを比較する
    比較回路と、前記比較回路の出力信号を保持する自己保
    持回路と、前記自己保持回路の出力信号を表示する表示
    器とを備えた摺動抵抗器検査装置。
JP2130611A 1990-05-21 1990-05-21 摺動抵抗器検査装置 Pending JPH0425774A (ja)

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JP2130611A JPH0425774A (ja) 1990-05-21 1990-05-21 摺動抵抗器検査装置

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