JPH045576A - 接触抵抗の試験装置 - Google Patents
接触抵抗の試験装置Info
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- JPH045576A JPH045576A JP10605890A JP10605890A JPH045576A JP H045576 A JPH045576 A JP H045576A JP 10605890 A JP10605890 A JP 10605890A JP 10605890 A JP10605890 A JP 10605890A JP H045576 A JPH045576 A JP H045576A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明はリードスイッチや押釦スイッチ等機械的スイッ
チの試験装置に係り、特に良品への不良品の混入を防止
する接触抵抗の試験装置に関する。
チの試験装置に係り、特に良品への不良品の混入を防止
する接触抵抗の試験装置に関する。
リードスイッチや押釦スイッチ等を半導体集積回路と組
合せてなる装置では、それらの機械的スイッチにおける
接点の接触性が装置の性能を左右する場合が多く、機械
的スイッチに対する多くの試験項目の中でも接触抵抗の
試験は極めて重要視されている。しかるに接点の接触抵
抗値は小さいため良品と不良品の判別が難しく、信鯨度
の低い試験装置で試験すると良品の中に中に不良品が混
入する場合が多い。しかし不良品の良品への混入は絶対
防がなければならない。そこで信転度の高い接触抵抗試
験装置の実現が要望されている。
合せてなる装置では、それらの機械的スイッチにおける
接点の接触性が装置の性能を左右する場合が多く、機械
的スイッチに対する多くの試験項目の中でも接触抵抗の
試験は極めて重要視されている。しかるに接点の接触抵
抗値は小さいため良品と不良品の判別が難しく、信鯨度
の低い試験装置で試験すると良品の中に中に不良品が混
入する場合が多い。しかし不良品の良品への混入は絶対
防がなければならない。そこで信転度の高い接触抵抗試
験装置の実現が要望されている。
［従来の技術〕
第３図は従来の第１の試験装置を示すブロック図、第４
図は従来の第２の試験装置を示すブロック図である。
図は従来の第２の試験装置を示すブロック図である。
従来の第１の試験装置は第３図に示す如く被試験試料１
の端子に、プローブＰ１、Ｒ２を介して電流を供給する
定電流発生器２と、プローブＰ３、Ｐ、を介して接触抵
抗による電圧降下を検出する差動増幅器３と、差動増幅
器３の出力電圧をデジタル化するアナログ／デジタル変
換器（Ａ／Ｄ変換器）４と、Ａ／Ｄ変換器４から出力さ
れる電圧または抵抗値を表示する表示器５と、電圧また
は抵抗値を規格値と比較して接触抵抗の良否を判定する
判定回路６を具えている。
の端子に、プローブＰ１、Ｒ２を介して電流を供給する
定電流発生器２と、プローブＰ３、Ｐ、を介して接触抵
抗による電圧降下を検出する差動増幅器３と、差動増幅
器３の出力電圧をデジタル化するアナログ／デジタル変
換器（Ａ／Ｄ変換器）４と、Ａ／Ｄ変換器４から出力さ
れる電圧または抵抗値を表示する表示器５と、電圧また
は抵抗値を規格値と比較して接触抵抗の良否を判定する
判定回路６を具えている。
また従来の第２の試験装置は第４図に示す如く上記回路
の他に、プローブＰ１．Ｐ２、Ｒ３、Ｒ４の接触不良を
検出する導通チエツク回路７を具えており、導通チエツ
ク回路７はリレー接点ｒｌ、、ｒ１．、Ｒ１３、ｒｌａ
を介してプローブＰ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｐ４に接続され、
プローブＰ、、Ｐ、、Ｒ３、Ｐ４のいずれか一つに接触
不良があると、判定回路６における良否の判定を無効に
するように構成されている。
の他に、プローブＰ１．Ｐ２、Ｒ３、Ｒ４の接触不良を
検出する導通チエツク回路７を具えており、導通チエツ
ク回路７はリレー接点ｒｌ、、ｒ１．、Ｒ１３、ｒｌａ
を介してプローブＰ１、Ｒ２、Ｒ３、Ｐ４に接続され、
プローブＰ、、Ｐ、、Ｒ３、Ｐ４のいずれか一つに接触
不良があると、判定回路６における良否の判定を無効に
するように構成されている。
〔発明が解決しようとする課題］
しかし従来の第１の試験装置の場合はプローブＰ８、Ｐ
ｚの接触抵抗がある一定の値を超すと、定電流発生器か
ら被試験試料に定電流を流すことが不可能になり、被試
験試料の接触抵抗値が規定値以上であっても電圧降下が
小さいため良品と判定される。同様にプローブＰ３、Ｒ
４の接触抵抗が差動増幅器３の入力インピーダンスに近
くなると、被試験試料による電圧降下分が分圧されて差
動増幅器３に小さい電圧が入力され、被試験試料の接触
抵抗値が規定値以上であっても良品と判定される。即ち
、不良品であるべき被試験試料が良品の中に混入すると
いう問題があった。
ｚの接触抵抗がある一定の値を超すと、定電流発生器か
ら被試験試料に定電流を流すことが不可能になり、被試
験試料の接触抵抗値が規定値以上であっても電圧降下が
小さいため良品と判定される。同様にプローブＰ３、Ｒ
４の接触抵抗が差動増幅器３の入力インピーダンスに近
くなると、被試験試料による電圧降下分が分圧されて差
動増幅器３に小さい電圧が入力され、被試験試料の接触
抵抗値が規定値以上であっても良品と判定される。即ち
、不良品であるべき被試験試料が良品の中に混入すると
いう問題があった。
また従来の第２の試験装置はプローブの接触抵抗を確認
することが可能で、第１の試験装置のように不良品であ
るべき被試験試料が良品の中に混入することはないが、
プローブの接触抵抗の確認と被試験試料の接触抵抗の試
験を交互に行うことになり、被試験試料の接触抵抗を試
験するために長い時間がかかるという問題があった。
することが可能で、第１の試験装置のように不良品であ
るべき被試験試料が良品の中に混入することはないが、
プローブの接触抵抗の確認と被試験試料の接触抵抗の試
験を交互に行うことになり、被試験試料の接触抵抗を試
験するために長い時間がかかるという問題があった。
本発明の目的は被試験試料の接触抵抗試験のみで良品へ
の不良品の混入が防止され、しかも信鎖度の高い接触抵
抗試験装置を提供することにある。
の不良品の混入が防止され、しかも信鎖度の高い接触抵
抗試験装置を提供することにある。
第１図は本発明になる試験装置を示すブロック図である
。なお企図を通し同じ対象物は同一記号で表している。
。なお企図を通し同じ対象物は同一記号で表している。
上記課題は被試験試料１にプローブＰ、、Ｐ、を介して
電流を供給する定電流発生器２と、プローブＰ３、Ｒ４
を介して被試験試料ｌの接触抵抗による電圧降下を検出
し、接触抵抗値を表示すると共に被試験試料１の良否を
判定するための、差動増幅器３とアナログ／デジタル変
換器４と表示器５と判定回路６を有し、且つ、プローブ
Ｐ１、Ｒ２の接触不良による誤判定を防止するための比
較回路８と、プローブＰ３、Ｒ４の接触不良による誤判
定を防止するための抵抗Ｒ１，Ｒ２を有し、不良品の良
品への混入を防止してなる本発明の接触抵抗の試験装置
によって達成される。
電流を供給する定電流発生器２と、プローブＰ３、Ｒ４
を介して被試験試料ｌの接触抵抗による電圧降下を検出
し、接触抵抗値を表示すると共に被試験試料１の良否を
判定するための、差動増幅器３とアナログ／デジタル変
換器４と表示器５と判定回路６を有し、且つ、プローブ
Ｐ１、Ｒ２の接触不良による誤判定を防止するための比
較回路８と、プローブＰ３、Ｒ４の接触不良による誤判
定を防止するための抵抗Ｒ１，Ｒ２を有し、不良品の良
品への混入を防止してなる本発明の接触抵抗の試験装置
によって達成される。
第１図においてプローブＰ Ｌ、 Ｐ ｔの接触不良に
よる誤判定を防止するための比較回路と、プローブＰ３
、Ｒ４の接触不良による誤判定を防止するための抵抗Ｒ
，，Ｒ，を設けることによって、被試験試料の接触抵抗
値を試験する都度プローブの接触状態を確認する必要が
無くなり、被試験試料の接触抵抗試験のみで良品への不
良品の混入が防止され、しかも信顛度の高い接触抵抗試
験装置を実現することができる。
よる誤判定を防止するための比較回路と、プローブＰ３
、Ｒ４の接触不良による誤判定を防止するための抵抗Ｒ
，，Ｒ，を設けることによって、被試験試料の接触抵抗
値を試験する都度プローブの接触状態を確認する必要が
無くなり、被試験試料の接触抵抗試験のみで良品への不
良品の混入が防止され、しかも信顛度の高い接触抵抗試
験装置を実現することができる。
以下添付図により本発明の実施例について説明する。な
お第２図は本発明になる試験装置の動作原理を示す回路
図である。
お第２図は本発明になる試験装置の動作原理を示す回路
図である。
本発明になる試験装置は第１図に示す如く被試験試料１
の端子に、プローブＰ３、Ｒ２を介して電流を供給する
定電流発生器２と、プローブＰ３、Ｒ４を介して接触抵
抗による電圧降下を検出する差動増幅器３と、差動増幅
器３の出力電圧をデジタル化するＡ／Ｄ変換器４と、Ａ
／Ｄ変換器４から出力される電圧または抵抗値を表示す
る表示器５と、電圧または抵抗値を規格値と比較して接
触抵抗の良否を判定する判定回路６を具えている。
の端子に、プローブＰ３、Ｒ２を介して電流を供給する
定電流発生器２と、プローブＰ３、Ｒ４を介して接触抵
抗による電圧降下を検出する差動増幅器３と、差動増幅
器３の出力電圧をデジタル化するＡ／Ｄ変換器４と、Ａ
／Ｄ変換器４から出力される電圧または抵抗値を表示す
る表示器５と、電圧または抵抗値を規格値と比較して接
触抵抗の良否を判定する判定回路６を具えている。
また本発明になる試験装置はプローブＰ１、Ｒ２の接触
抵抗が大きいと、定電流発生器２の電圧が上昇すること
を利用して誤判定を防止する比較回路８を具えている。
抵抗が大きいと、定電流発生器２の電圧が上昇すること
を利用して誤判定を防止する比較回路８を具えている。
比較回路８は第２図に示す如く比較器８１とフォトカプ
ラ８２とゲート回路８３を有し、基準電圧Ｖｓとして定
電流発生器２の飽和電圧の１７２程度の電圧が比較器８
１に印加されている。
ラ８２とゲート回路８３を有し、基準電圧Ｖｓとして定
電流発生器２の飽和電圧の１７２程度の電圧が比較器８
１に印加されている。
接触抵抗の試験時に定電流発生器２の電圧が基準電圧Ｖ
ｓより大きいと、プローブＰ１、Ｒ２の接触不良を示す
信号がゲート回路８３を介して出力される。
ｓより大きいと、プローブＰ１、Ｒ２の接触不良を示す
信号がゲート回路８３を介して出力される。
更に本発明になる試験装置はプローブＰ１．Ｐ。
と並列に接続された抵抗Ｒ１、プローブＰｚ、Ｐ。
と並列に接続された抵抗Ｒ２を具えており、プローブＰ
３、Ｒ４の接触不良による誤判定を防止している。第２
図において定電流発生器２から被試験試料１に、プロー
ブの接触抵抗ｒ、、ｒｚを介して電流が供給されており
、プローブの接触抵抗ｒ、、Ｒ２が許容値以下の低い値
であれば、被試験試料ｌの端子間電圧は被試験試料ｌの
抵抗値に比例した値になる。しかしいずれが一方のプロ
ーブの接触抵抗が許容値を超えると、定電流発生器２が
ら定電流が供給できなくなり被試験試料１の端子間電圧
は前記電圧より低くなる。
３、Ｒ４の接触不良による誤判定を防止している。第２
図において定電流発生器２から被試験試料１に、プロー
ブの接触抵抗ｒ、、ｒｚを介して電流が供給されており
、プローブの接触抵抗ｒ、、Ｒ２が許容値以下の低い値
であれば、被試験試料ｌの端子間電圧は被試験試料ｌの
抵抗値に比例した値になる。しかしいずれが一方のプロ
ーブの接触抵抗が許容値を超えると、定電流発生器２が
ら定電流が供給できなくなり被試験試料１の端子間電圧
は前記電圧より低くなる。
同様に被試験試料ｌはプローブの接触抵抗ｒ３、Ｒ４を
介して差動増幅器３に接続され、被試験試料１の端子間
電圧と差動増幅器３の入力電圧は、プローブの接触抵抗
ｒ３、Ｒ４が許容値以下であればほぼ等しい。しかしい
ずれが一方のプローブの接触抵抗が大きくなると、被試
験試料１の端子間電圧に比べ差動増幅器３の入力電圧が
低くなる。
介して差動増幅器３に接続され、被試験試料１の端子間
電圧と差動増幅器３の入力電圧は、プローブの接触抵抗
ｒ３、Ｒ４が許容値以下であればほぼ等しい。しかしい
ずれが一方のプローブの接触抵抗が大きくなると、被試
験試料１の端子間電圧に比べ差動増幅器３の入力電圧が
低くなる。
しかるに接触抵抗ｒ＋、ｒ３と並列に抵抗Ｒ１が接続さ
れており、接触抵抗ｒ２、Ｒ４と並列に抵抗Ｒ２が接続
されている。したがって定電流発生器２の電圧は接触抵
抗ｒ３、Ｒ４と抵抗Ｒ１、Ｒ２で、それぞれ分圧されて
差動増幅器３に入力される。
れており、接触抵抗ｒ２、Ｒ４と並列に抵抗Ｒ２が接続
されている。したがって定電流発生器２の電圧は接触抵
抗ｒ３、Ｒ４と抵抗Ｒ１、Ｒ２で、それぞれ分圧されて
差動増幅器３に入力される。
即ち、接触抵抗ｒ３、Ｒ４が許容値を超えると差動増幅
器３に、被試験試料１の端子間電圧より高い電圧が人力
され、被試験試料Ｉの良・不良に関係なく不良品と判定
される。前記比較回路８はプローブＰ １． Ｐ ｚの
接触不良を検出できるが、プローブＰ４、Ｒ４の接触不
良による誤判定を防止することはできない。しかし並列
に抵抗を接続することによってプローブＰ３、Ｐ、の接
触不良が検出できる。なおＲ＋、Ｒｚとして１００にΩ
程度の抵抗が用いられており、プローブの接触抵抗が許
容値以下であれば検出電圧に誤差を生じることはない。
器３に、被試験試料１の端子間電圧より高い電圧が人力
され、被試験試料Ｉの良・不良に関係なく不良品と判定
される。前記比較回路８はプローブＰ １． Ｐ ｚの
接触不良を検出できるが、プローブＰ４、Ｒ４の接触不
良による誤判定を防止することはできない。しかし並列
に抵抗を接続することによってプローブＰ３、Ｐ、の接
触不良が検出できる。なおＲ＋、Ｒｚとして１００にΩ
程度の抵抗が用いられており、プローブの接触抵抗が許
容値以下であれば検出電圧に誤差を生じることはない。
このようにプローブＰ３、Ｒ２の接触不良による誤判定
を防止するための比較回路と、プローブＰ３、Ｒ４の接
触不良による誤判定を防止するための抵抗Ｒ＋、Ｒｚを
設けることによって、被試験試料の接触抵抗値を試験す
る都度プローブの接触状態を確認する必要が無くなり、
被試験試料の接触抵抗試験のみで良品への不良品の混入
が防止され、しかも信転度の高い接触抵抗試験装置を実
現することができる。
を防止するための比較回路と、プローブＰ３、Ｒ４の接
触不良による誤判定を防止するための抵抗Ｒ＋、Ｒｚを
設けることによって、被試験試料の接触抵抗値を試験す
る都度プローブの接触状態を確認する必要が無くなり、
被試験試料の接触抵抗試験のみで良品への不良品の混入
が防止され、しかも信転度の高い接触抵抗試験装置を実
現することができる。
〔発明の効果］
上述の如く本発明によれば被試験試料の接触抵抗試験の
みで良品への不良品の混入が防止され、しかも信幀度の
高い接触抵抗試験装置を提供することができる。
みで良品への不良品の混入が防止され、しかも信幀度の
高い接触抵抗試験装置を提供することができる。
８３はゲート回路、
８２はフォトカプラ、
Ｒ１，Ｒ２は抵抗、
Ｐ、、Ｐ、、Ｒ３、Ｒ４はブローフ、
ｒｌ、ｒ、、ｒ、、Ｒ４は接触抵抗、
をそれぞれ表す。
第１図は本発明になる試験装置を示すブロック図、
第２図は本発明になる試験装置の動作原理を示す回路図
、 第３図は従来の第１の試験装置を示すブロック図、 第４図は従来の第２の試験装置を示すブロック図、 である。図において １は被試験試料、 ２は定電流発生器、３は差動
増幅器、 ４はＡ／Ｄ変換器、５は表示器、
６は判定回路、８は比較回路、 ８１は
比較器、木虻明にな′５拭１駄置に爪↑７゛旧１１，２
図第１図 翳３図 木′ブ〒−明にＴｉ５ｇ式騒擾Ｋａ）ｍ￥！ＭＬＩ；ｒ
ｉ口昂因槽２図 従来の第２のＳＫ験擾置ｌホ↑プロ１．７７図第４図
、 第３図は従来の第１の試験装置を示すブロック図、 第４図は従来の第２の試験装置を示すブロック図、 である。図において １は被試験試料、 ２は定電流発生器、３は差動
増幅器、 ４はＡ／Ｄ変換器、５は表示器、
６は判定回路、８は比較回路、 ８１は
比較器、木虻明にな′５拭１駄置に爪↑７゛旧１１，２
図第１図 翳３図 木′ブ〒−明にＴｉ５ｇ式騒擾Ｋａ）ｍ￥！ＭＬＩ；ｒ
ｉ口昂因槽２図 従来の第２のＳＫ験擾置ｌホ↑プロ１．７７図第４図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被試験試料（１）にプローブＰ＿１、Ｐ＿２を介して電
流を供給する定電流発生器（２）と、プローブＰ＿３、
Ｐ＿４を介して該被試験試料（１）の接触抵抗による電
圧降下を検出し、接触抵抗値を表示すると共に該被試験
試料（１）の良否を判定するための、差動増幅器（３）
とアナログ／デジタル変換器（４）と表示器（５）と判
定回路（６）を有し、 且つ、プローブＰ＿１、Ｐ＿２の接触不良による誤判定
を防止するための比較回路（８）と、プローブＰ＿３、
Ｐ＿４の接触不良による誤判定を防止するための抵抗Ｒ
＿１、Ｒ＿２を有し、不良品の良品への混入を防止して
なることを特徴とする接触抵抗の試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10605890A JPH045576A (ja) | 1990-04-20 | 1990-04-20 | 接触抵抗の試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10605890A JPH045576A (ja) | 1990-04-20 | 1990-04-20 | 接触抵抗の試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH045576A true JPH045576A (ja) | 1992-01-09 |
Family
ID=14424020
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10605890A Pending JPH045576A (ja) | 1990-04-20 | 1990-04-20 | 接触抵抗の試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH045576A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003066074A (ja) * | 2001-08-24 | 2003-03-05 | Hioki Ee Corp | 抵抗測定方法および抵抗測定装置 |
| US6674295B1 (en) | 1999-08-05 | 2004-01-06 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Impedance measuring apparatus for electronic component |
| JP2007165435A (ja) * | 2005-12-12 | 2007-06-28 | Hitachi Computer Peripherals Co Ltd | プローブの接触状態チェック方法、および同装置 |
| JP2007212340A (ja) * | 2006-02-10 | 2007-08-23 | Hioki Ee Corp | 測定装置 |
| JP2012098157A (ja) * | 2010-11-02 | 2012-05-24 | Hioki Ee Corp | 抵抗測定装置 |
| CN104535843A (zh) * | 2015-01-14 | 2015-04-22 | 秦辉 | 智能直流稳压电源内阻测量装置 |
| CN106415295A (zh) * | 2014-10-06 | 2017-02-15 | 株式会社Lg 化学 | 开关劣化检测设备和方法 |
-
1990
- 1990-04-20 JP JP10605890A patent/JPH045576A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6674295B1 (en) | 1999-08-05 | 2004-01-06 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Impedance measuring apparatus for electronic component |
| JP2003066074A (ja) * | 2001-08-24 | 2003-03-05 | Hioki Ee Corp | 抵抗測定方法および抵抗測定装置 |
| JP2007165435A (ja) * | 2005-12-12 | 2007-06-28 | Hitachi Computer Peripherals Co Ltd | プローブの接触状態チェック方法、および同装置 |
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| JP2012098157A (ja) * | 2010-11-02 | 2012-05-24 | Hioki Ee Corp | 抵抗測定装置 |
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| CN104535843A (zh) * | 2015-01-14 | 2015-04-22 | 秦辉 | 智能直流稳压电源内阻测量装置 |
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