JPH04263233A - 画像処理装置 - Google Patents
画像処理装置Info
- Publication number
- JPH04263233A JPH04263233A JP3023311A JP2331191A JPH04263233A JP H04263233 A JPH04263233 A JP H04263233A JP 3023311 A JP3023311 A JP 3023311A JP 2331191 A JP2331191 A JP 2331191A JP H04263233 A JPH04263233 A JP H04263233A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lens system
- detection mark
- receiving element
- light receiving
- image processing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/026—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring distance between sensor and object
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Punching Or Piercing (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Studio Devices (AREA)
- Character Input (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、画像処理装置に関する
。更に詳しくは、工作機械等に付設されて工作ポイント
等を画像処理により検出,設定する画像処理装置におい
て、工作ポイント等に記された検出マークを撮像するカ
メラ部の撮像精度の改良に関する。
。更に詳しくは、工作機械等に付設されて工作ポイント
等を画像処理により検出,設定する画像処理装置におい
て、工作ポイント等に記された検出マークを撮像するカ
メラ部の撮像精度の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、画像処理装置としては、例えば、
画像処理対象である検出マーク(基準マーク)からの入
射光(反射光、直射透光等)を受光するフィルタ,レン
ズ,絞等のレンズ系と、レンズ系の背部に設けられ入射
光を結像するCCD等の受光素子とからなるカメラ部を
備え、カメラ部が平面的に設定された検出マークの直交
線に対して所定角度を介して設置されるものが知られて
いる。
画像処理対象である検出マーク(基準マーク)からの入
射光(反射光、直射透光等)を受光するフィルタ,レン
ズ,絞等のレンズ系と、レンズ系の背部に設けられ入射
光を結像するCCD等の受光素子とからなるカメラ部を
備え、カメラ部が平面的に設定された検出マークの直交
線に対して所定角度を介して設置されるものが知られて
いる。
【0003】この従来の画像処理装置は、板材等の平面
的な穿孔材料に記された円形,十字形等の検出マークの
直交線上に穿孔工作機械のパンチが設置された場合等の
ように、検出マークの直交線上へのカメラ部の設置が困
難または不適当な場合に、検出マークの直交線上を避け
て直交線に対して所定角度を介してカメラ部を設置した
ものであり、レンズ系で受光し受光素子で結像した検出
マークの撮像を受光素子に接続したコントローラで解析
し必要な工作機械等の動作等を演算しさらにはその動作
を指示するものである。
的な穿孔材料に記された円形,十字形等の検出マークの
直交線上に穿孔工作機械のパンチが設置された場合等の
ように、検出マークの直交線上へのカメラ部の設置が困
難または不適当な場合に、検出マークの直交線上を避け
て直交線に対して所定角度を介してカメラ部を設置した
ものであり、レンズ系で受光し受光素子で結像した検出
マークの撮像を受光素子に接続したコントローラで解析
し必要な工作機械等の動作等を演算しさらにはその動作
を指示するものである。
【0004】このような従来の画像処理装置では、平面
的に設定された検出マークに対してカメラ部が直面せず
傾斜して対面することになることから、検出マークのカ
メラ部側の端部とその対称的反対側の端部とではカメラ
部への光路の距離が相違するため、受光素子に結像され
る撮像の検出マークの中心から離れた部分程不鮮明にな
り、その後の画像解析,演算が不正確になるという問題
点を有している。
的に設定された検出マークに対してカメラ部が直面せず
傾斜して対面することになることから、検出マークのカ
メラ部側の端部とその対称的反対側の端部とではカメラ
部への光路の距離が相違するため、受光素子に結像され
る撮像の検出マークの中心から離れた部分程不鮮明にな
り、その後の画像解析,演算が不正確になるという問題
点を有している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、平面的に設
定された検出マークの全体を鮮明に撮像することのでき
るカメラ部を備えた画像処理装置を提供することを課題
とする。
定された検出マークの全体を鮮明に撮像することのでき
るカメラ部を備えた画像処理装置を提供することを課題
とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】前述の課題を解決するた
め、本発明に係る画像処理装置は、画像処理対象である
検出マークからの入射光を受光するレンズ系と、レンズ
系の背部に設けられ入射光を結像する受光素子とからな
るカメラ部を備え、カメラ部が平面的に設定された検出
マークの直交線に対して所定角度を介して設置される画
像処理装置において、カメラ部のレンズ系の光軸に対し
て受光素子を所定角度傾斜させて配置したことを特徴と
する手段を採用する。
め、本発明に係る画像処理装置は、画像処理対象である
検出マークからの入射光を受光するレンズ系と、レンズ
系の背部に設けられ入射光を結像する受光素子とからな
るカメラ部を備え、カメラ部が平面的に設定された検出
マークの直交線に対して所定角度を介して設置される画
像処理装置において、カメラ部のレンズ系の光軸に対し
て受光素子を所定角度傾斜させて配置したことを特徴と
する手段を採用する。
【0007】
【作用】前述の手段によると、受光素子の傾斜により、
検出マークからカメラ部(レンズ系)までの光路の距離
を相違量をレンズ系から受光素子までのカメラ部内部の
光路において加減修正することになることから、検出マ
ークの対称的各部から検出マークの撮像を結像する受光
素子までの全体の光路の距離を同一にすることが可能と
なるため、平面的に設定された検出マークの全体を鮮明
に撮像することのできるカメラ部を備えた画像処理装置
を提供するという課題が解決される。
検出マークからカメラ部(レンズ系)までの光路の距離
を相違量をレンズ系から受光素子までのカメラ部内部の
光路において加減修正することになることから、検出マ
ークの対称的各部から検出マークの撮像を結像する受光
素子までの全体の光路の距離を同一にすることが可能と
なるため、平面的に設定された検出マークの全体を鮮明
に撮像することのできるカメラ部を備えた画像処理装置
を提供するという課題が解決される。
【0008】
【実施例】以下、本発明に係る画像処理装置の実施例を
図面に基いて説明する。この実施例では、図1に示すよ
うに、穿孔工作機械に付設されたものを示してある。
図面に基いて説明する。この実施例では、図1に示すよ
うに、穿孔工作機械に付設されたものを示してある。
【0009】この実施例の画像処理対象である検出マー
クMは、作業テーブルT上に載置された穿孔材料,検出
マーク記憶処理用シート等の平面的な対象部材Sの表面
に平面的に設定されている。作業テーブルTの直上には
、穿孔材料を穿孔するパンチPが検出マークMの中心を
通る直交線L上を昇降可能に設置されている。
クMは、作業テーブルT上に載置された穿孔材料,検出
マーク記憶処理用シート等の平面的な対象部材Sの表面
に平面的に設定されている。作業テーブルTの直上には
、穿孔材料を穿孔するパンチPが検出マークMの中心を
通る直交線L上を昇降可能に設置されている。
【0010】この実施例のカメラ部1は、ケース11の
下部にレンズ系12を突出する格好で設け、レンズ系1
2の背部のケース11の内部に受光素子13を傾斜して
取付基板14に取付けてある。このカメラ部1は、パン
チPを避けて光軸L′が検出マークMの中心から前記直
交線Lに所定角度を介して延びるように設置され、ケー
ス11内部で直線状の光軸L′上にレンズ系12,受光
素子13を直列状に配置してある。
下部にレンズ系12を突出する格好で設け、レンズ系1
2の背部のケース11の内部に受光素子13を傾斜して
取付基板14に取付けてある。このカメラ部1は、パン
チPを避けて光軸L′が検出マークMの中心から前記直
交線Lに所定角度を介して延びるように設置され、ケー
ス11内部で直線状の光軸L′上にレンズ系12,受光
素子13を直列状に配置してある。
【0011】受光素子13の傾斜は、図2に示すような
距離関係に設定されて、レンズ系12の光軸L′に対し
傾斜している。即ち、検出マークMのカメラ部1側の端
部からカメラ部1(レンズ系12)までの光路の距離a
と、この光路のレンズ系12から受光素子13までの距
離a′との和が、検出マークMの中心を介した対称的反
対側の端部からカメラ部1(レンズ系12)までの光路
の距離bと、この光路のレンズ系12から受光素子13
までの距離b′との和と同一で、a+a′=b+b′の
関係が成立するように設定されている。換言すれば、検
出マークMからカメラ部1(レンズ系12)までの光路
の距離a,bの相違量を、レンズ系12から受光素子1
2までのカメラ部1内部の光路の距離a′,b′におい
て加減修正している。なお、この受光素子13の傾斜は
、取付基板14の取付け角度の変更により簡単に設定す
ることができる。
距離関係に設定されて、レンズ系12の光軸L′に対し
傾斜している。即ち、検出マークMのカメラ部1側の端
部からカメラ部1(レンズ系12)までの光路の距離a
と、この光路のレンズ系12から受光素子13までの距
離a′との和が、検出マークMの中心を介した対称的反
対側の端部からカメラ部1(レンズ系12)までの光路
の距離bと、この光路のレンズ系12から受光素子13
までの距離b′との和と同一で、a+a′=b+b′の
関係が成立するように設定されている。換言すれば、検
出マークMからカメラ部1(レンズ系12)までの光路
の距離a,bの相違量を、レンズ系12から受光素子1
2までのカメラ部1内部の光路の距離a′,b′におい
て加減修正している。なお、この受光素子13の傾斜は
、取付基板14の取付け角度の変更により簡単に設定す
ることができる。
【0012】また、受光素子13は、画像解析,演算等
を行なうコントローラの一部を構成し受光素子13の撮
像を電気的信号に変換する変換器2に接続している。
を行なうコントローラの一部を構成し受光素子13の撮
像を電気的信号に変換する変換器2に接続している。
【0013】このような実施例によると、検出マークM
のカメラ部1側の端部とその対称的反対側の端部とにお
いて、検出マークMから検出マークMの撮像を結像する
受光素子13までの全体の光路の距離a+a,b+bを
同一にすることができるため、検出マークMよりの入射
光を受光素子13に結像させても、受光素子13の撮像
の検出マークMの中心から離れた部分程不鮮明になると
いうことはなくなる。このため、画像解析等を行なうコ
ントローラに正確な情報が伝達され、画像解析,演算が
正確になる。
のカメラ部1側の端部とその対称的反対側の端部とにお
いて、検出マークMから検出マークMの撮像を結像する
受光素子13までの全体の光路の距離a+a,b+bを
同一にすることができるため、検出マークMよりの入射
光を受光素子13に結像させても、受光素子13の撮像
の検出マークMの中心から離れた部分程不鮮明になると
いうことはなくなる。このため、画像解析等を行なうコ
ントローラに正確な情報が伝達され、画像解析,演算が
正確になる。
【0014】以上、図示した実施例の外に、カメラ1の
内部においてプリズムを光軸L′を屈折させてレンズ系
12、受光素子13の配置関係を並列等に変更した実施
例とすることも可能である。
内部においてプリズムを光軸L′を屈折させてレンズ系
12、受光素子13の配置関係を並列等に変更した実施
例とすることも可能である。
【0015】
【発明の効果】以上のように本発明に係る画像処理装置
は、カメラ部の内部の光路の距離の修正によって、検出
マークの対称的各部から受光素子までの全体の光路の距
離を同一にすることができるため、平面的に設定された
検出マークの全体を鮮明に撮像することができる効果が
ある。また、この効果により、正確な画像処理が可能と
なるため、付設された工作機械の工作精度等を向上させ
ることができる。
は、カメラ部の内部の光路の距離の修正によって、検出
マークの対称的各部から受光素子までの全体の光路の距
離を同一にすることができるため、平面的に設定された
検出マークの全体を鮮明に撮像することができる効果が
ある。また、この効果により、正確な画像処理が可能と
なるため、付設された工作機械の工作精度等を向上させ
ることができる。
【0016】更に、受光素子のレンズ系の光軸に対する
配置角度を変更する構成であるため、既存品について受
光素子の取付基板の取付け角度を変更する等により簡単
に改造実施することができる効果がある。
配置角度を変更する構成であるため、既存品について受
光素子の取付基板の取付け角度を変更する等により簡単
に改造実施することができる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る画像処理装置の実施例を示す
一部切断の側面図である。 【図2】 図1の構成原理図である。 【符号の説明】 1 カメラ部 12
レンズ系13 受光素子
L′ 光軸M 検出マーク
一部切断の側面図である。 【図2】 図1の構成原理図である。 【符号の説明】 1 カメラ部 12
レンズ系13 受光素子
L′ 光軸M 検出マーク
Claims (1)
- 【請求項1】 画像処理対象である検出マークか
らの入射光を受光するレンズ系と、レンズ系の背部に設
けられ入射光を結像する受光素子とからなるカメラ部を
備え、カメラ部が平面的に設定された検出マークの直交
線に対して所定角度を介して設置される画像処理装置に
おいて、カメラ部のレンズ系の光軸に対して受光素子を
所定角度傾斜させて配置したことを特徴とする画像処理
装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3023311A JPH04263233A (ja) | 1991-02-18 | 1991-02-18 | 画像処理装置 |
| KR1019910024760A KR920017458A (ko) | 1991-02-18 | 1991-12-27 | 화상처리장치 |
| EP92100373A EP0499778B1 (en) | 1991-02-18 | 1992-01-11 | Image processing apparatus |
| DE69208906T DE69208906T2 (de) | 1991-02-18 | 1992-01-11 | Bildverarbeitungsgerät |
| US08/110,211 US5351316A (en) | 1991-02-18 | 1993-08-23 | Image processing apparatus |
| HK65597A HK65597A (en) | 1991-02-18 | 1997-05-15 | Image processing apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3023311A JPH04263233A (ja) | 1991-02-18 | 1991-02-18 | 画像処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04263233A true JPH04263233A (ja) | 1992-09-18 |
Family
ID=12107045
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3023311A Pending JPH04263233A (ja) | 1991-02-18 | 1991-02-18 | 画像処理装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5351316A (ja) |
| EP (1) | EP0499778B1 (ja) |
| JP (1) | JPH04263233A (ja) |
| KR (1) | KR920017458A (ja) |
| DE (1) | DE69208906T2 (ja) |
| HK (1) | HK65597A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR0158728B1 (ko) * | 1993-12-27 | 1999-01-15 | 마사카주 카키모토 | 천공장치 |
| US5655030A (en) * | 1993-12-27 | 1997-08-05 | Uht Corporation | Method for detecting the center of target marks by image processing |
| RU2179336C1 (ru) * | 2000-12-26 | 2002-02-10 | Общество С Ограниченной Ответственностью "Инсмат Технология" | Способ формирования оптического изображения в некогерентном свете и устройство для его осуществления (варианты) |
| DE102010064107B4 (de) * | 2010-12-23 | 2012-12-27 | Hilti Aktiengesellschaft | Hilfseinrichtung einer Bohrmaschine und Steuerungsverfahren |
| CN103969922A (zh) * | 2014-01-24 | 2014-08-06 | 日东电子科技(深圳)有限公司 | 相机斜照方法及斜照相机 |
| CN104880803B (zh) * | 2015-05-26 | 2020-09-11 | 昂纳工业技术(深圳)有限公司 | 全焦相机视域的调节装置及调节方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57113356A (en) * | 1980-12-30 | 1982-07-14 | Fujitsu Ltd | Article inspection system |
| JPS60134671A (ja) * | 1983-12-23 | 1985-07-17 | Hitachi Ltd | ビデオカメラ |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3968476A (en) * | 1974-07-17 | 1976-07-06 | Sperry Rand Corporation | Spurious signal removal in optical processor fingerprint identification apparatus |
| JPS5767815A (en) * | 1980-10-16 | 1982-04-24 | Mitsuhiro Ueda | Measuring method for position of reflector using light |
| AU553069B2 (en) * | 1981-07-17 | 1986-07-03 | W.R. Grace & Co.-Conn. | Radial scan, pulsed light article inspection ccv system 0 |
| JPS5959397A (ja) * | 1982-09-29 | 1984-04-05 | オムロン株式会社 | 特徴点のラベリング装置 |
| JPS5965205A (ja) * | 1982-10-05 | 1984-04-13 | Kawasaki Steel Corp | 光学式変位測定装置 |
| JPS60256267A (ja) * | 1984-05-22 | 1985-12-17 | インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション | 画像読取装置 |
| US5027424A (en) * | 1986-08-29 | 1991-06-25 | Asahi Kogaku Kogyo K.K. | Image reader |
| US4830485A (en) * | 1987-11-23 | 1989-05-16 | General Electric Company | Coded aperture light detector for three dimensional camera |
| JPH01245111A (ja) * | 1988-03-28 | 1989-09-29 | Fuji Electric Co Ltd | 測距装置 |
| JPH01259213A (ja) * | 1988-04-08 | 1989-10-16 | Fuji Electric Co Ltd | 測距装置 |
| JPH0778429B2 (ja) * | 1988-08-01 | 1995-08-23 | 富士電機株式会社 | 測距装置 |
| US5060283A (en) * | 1989-04-20 | 1991-10-22 | Fuji Photo Film Co. , Ltd. | Method and system for reading images with a movable light intercepting plate |
| GB8924476D0 (en) * | 1989-10-31 | 1989-12-20 | Nat Res Dev | Optical measuring apparatus |
-
1991
- 1991-02-18 JP JP3023311A patent/JPH04263233A/ja active Pending
- 1991-12-27 KR KR1019910024760A patent/KR920017458A/ko not_active Ceased
-
1992
- 1992-01-11 DE DE69208906T patent/DE69208906T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-01-11 EP EP92100373A patent/EP0499778B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1993
- 1993-08-23 US US08/110,211 patent/US5351316A/en not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-05-15 HK HK65597A patent/HK65597A/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57113356A (en) * | 1980-12-30 | 1982-07-14 | Fujitsu Ltd | Article inspection system |
| JPS60134671A (ja) * | 1983-12-23 | 1985-07-17 | Hitachi Ltd | ビデオカメラ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE69208906T2 (de) | 1996-07-25 |
| US5351316A (en) | 1994-09-27 |
| DE69208906D1 (de) | 1996-04-18 |
| EP0499778B1 (en) | 1996-03-13 |
| KR920017458A (ko) | 1992-09-26 |
| HK65597A (en) | 1997-05-23 |
| EP0499778A2 (en) | 1992-08-26 |
| EP0499778A3 (en) | 1992-09-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5234665A (en) | Apparatus for measuring aggregation patterns on a microplate | |
| US6445814B2 (en) | Three-dimensional information processing apparatus and method | |
| KR960703231A (ko) | 고정밀 부품 얼라인먼트 센서 시스템(a high precision component alignment sensor system) | |
| US4857720A (en) | Focus detecting system using multiple portions of the image to be focussed | |
| US10054515B2 (en) | Focusing state measuring apparatus | |
| US4097750A (en) | Method of orienting objects using optically smeared images | |
| EP0499778B1 (en) | Image processing apparatus | |
| JPS56142404A (en) | System for measuring plate width | |
| JP3137573B2 (ja) | 計測装置 | |
| EP0019941B1 (en) | Reduction projection aligner system | |
| JPS63280435A (ja) | ウエハのプリアライメント装置 | |
| US6207945B1 (en) | Integral positioning and imaging device | |
| JPH11218500A (ja) | 一次元ccdカメラを使用した疵検査装置の光学系調整方法 | |
| JP2000337947A (ja) | 液面波検出装置 | |
| JPH07122571B2 (ja) | 折曲げ加工機用ワーク傾斜角度測定装置 | |
| JP3319666B2 (ja) | エッジ検出装置 | |
| JPH0735545A (ja) | 光学式距離計 | |
| JPH03205503A (ja) | シート光の像位置検出方法 | |
| JPH0710352Y2 (ja) | 原稿濃度検出装置 | |
| JPH04145311A (ja) | 高さ測定装置 | |
| JPH11351817A (ja) | 変位射影測定方法と、その測定方法を利用した測定装置 | |
| JPH06294616A (ja) | エッジ位置補正方法 | |
| JPS59217108A (ja) | エツジ位置検出装置 | |
| JPH03237311A (ja) | 画像入力装置 | |
| JPS5533629A (en) | Gap measurement and device therefor |