JPH0429094A - ガス成分分析装置 - Google Patents
ガス成分分析装置Info
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- JPH0429094A JPH0429094A JP2133953A JP13395390A JPH0429094A JP H0429094 A JPH0429094 A JP H0429094A JP 2133953 A JP2133953 A JP 2133953A JP 13395390 A JP13395390 A JP 13395390A JP H0429094 A JPH0429094 A JP H0429094A
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- JP
- Japan
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- moisture
- time
- sampling gas
- gas
- sampling
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的コ
〔産業上の利用分野〕
本発明は、サンプリングガスに含まれる湿分を除去した
後にそのサンプリングガスの成分を分析するガス成分分
析装置に関する。
後にそのサンプリングガスの成分を分析するガス成分分
析装置に関する。
従来、高温多湿のサンプリングガスの成分分析を行なう
場合、分析計に対してガス中の水分か腐食等の悪影響を
与えるのを防ぐために、サンプリングガス中の水分を除
去した後に、そのサンプリングガスの成分分析を行なう
ための分析計へ導いている。
場合、分析計に対してガス中の水分か腐食等の悪影響を
与えるのを防ぐために、サンプリングガス中の水分を除
去した後に、そのサンプリングガスの成分分析を行なう
ための分析計へ導いている。
第３図はこの種のガス成分分析装置の構成例を示す図で
ある。
ある。
同図に示す分析装置では、サンプリングガス中トから導
かれてきた高温多湿のサンプリングガスが冷却器２で冷
却され、さらに除湿器３て除湿されてガス中の湿分を除
去された後、サンプリングポンプ４によって分析計５へ
導かれ、そこてサシプリングガス中の各成分の濃度が測
定される。
かれてきた高温多湿のサンプリングガスが冷却器２で冷
却され、さらに除湿器３て除湿されてガス中の湿分を除
去された後、サンプリングポンプ４によって分析計５へ
導かれ、そこてサシプリングガス中の各成分の濃度が測
定される。
一方、冷却器２お′よび除湿器３て除去されたサンプリ
ングガス中の湿分は凝固して、その凝固水がドレンポッ
ト６に収集される。このドレンポ・ソト６に収集された
凝固水の液位はドレン液位針７にて検出される。そして
、分析計５で算出されるサンプリングガスの成分測定結
果と、ドレン液位針７にて検出されるそのサンプリング
ガスから除去された湿分量が湿分補正演算部８に入力す
る。
ングガス中の湿分は凝固して、その凝固水がドレンポッ
ト６に収集される。このドレンポ・ソト６に収集された
凝固水の液位はドレン液位針７にて検出される。そして
、分析計５で算出されるサンプリングガスの成分測定結
果と、ドレン液位針７にて検出されるそのサンプリング
ガスから除去された湿分量が湿分補正演算部８に入力す
る。
この湿分補正演算部８には、さらに温度検出器９で検出
されたサンプリングガスの温度データか入力される。
されたサンプリングガスの温度データか入力される。
ここで、分析計５で分析される各成分の濃度値は、サン
プリングガスから除去された湿分量に応じて真の濃度値
よりも上昇している。そこで、湿分補正演算部８では分
析計５で分析される各成分の濃度値を、除去された湿分
量に応じて補正している。
プリングガスから除去された湿分量に応じて真の濃度値
よりも上昇している。そこで、湿分補正演算部８では分
析計５で分析される各成分の濃度値を、除去された湿分
量に応じて補正している。
しかしなから、このような分析装置では、湿分補正演算
部８てサンプリングガスの成分値を補正するだめの湿分
量に誤差か含まれるので、正確な測定値を得ることがで
きなかった。
部８てサンプリングガスの成分値を補正するだめの湿分
量に誤差か含まれるので、正確な測定値を得ることがで
きなかった。
すなわち、サンプリングガスか冷却器２．除湿器３を通
過した後、分析計５に導入されてそこで分析が行われる
までの時間と、そのサンプリングガスの湿分が冷却器２
および除湿器３て除去されて凝固水としてドレンポット
６に収集され湿分補正演算部８で湿分量として算出され
るまでの時間とに、経路に応じた時間差かある。この時
間差が有るために、サンプリングガス中の湿分量が変化
した場合には、実際の湿分補正演算に用いられるデータ
は正確な湿分量とはならなくなり、湿分補正演算部８で
の湿分補正演算に誤差が含まれることになる。
過した後、分析計５に導入されてそこで分析が行われる
までの時間と、そのサンプリングガスの湿分が冷却器２
および除湿器３て除去されて凝固水としてドレンポット
６に収集され湿分補正演算部８で湿分量として算出され
るまでの時間とに、経路に応じた時間差かある。この時
間差が有るために、サンプリングガス中の湿分量が変化
した場合には、実際の湿分補正演算に用いられるデータ
は正確な湿分量とはならなくなり、湿分補正演算部８で
の湿分補正演算に誤差が含まれることになる。
したがって、サンプリングガス中の湿分量に応じて測定
値を補正する従来のガス成分分析装置は、湿分補正演算
に誤差が含まれ、正確なガス成分測定値を得ることがで
きないという問題かあった。
値を補正する従来のガス成分分析装置は、湿分補正演算
に誤差が含まれ、正確なガス成分測定値を得ることがで
きないという問題かあった。
本発明は以上のような実情に鑑みてなされたもので、湿
分補正演算に含まれる誤差を補正でき、正確なガス成分
測定値を得ることのできる信頼性の高いガス成分分析装
置を提供することを目的とする。
分補正演算に含まれる誤差を補正でき、正確なガス成分
測定値を得ることのできる信頼性の高いガス成分分析装
置を提供することを目的とする。
［発明の構成コ
〔課題を解決するための手段〕
本発明は上記課題を解決するために、サンプリングガス
に含まれる湿分を除去する除湿手段と、この除湿手段に
より湿分が除去されたサンプリングガスの成分を分析す
る分析手段と、前記除湿手段により前記サンプリングガ
スから除去された湿分量を検出する湿分量検出手段と、
前記分析手段による成分分析値を前記湿分量検出手段で
検出された湿分量に応じて補正する補正手段とを備えた
ガス成分分析装置において、前記分析手段におけるサン
プリングガスの分析時刻と、前記湿分量検出手段におけ
る湿分量検出時刻との時間差に基づいて前記成分分析値
または前記補正結果のいずれかを補正する構成とした。
に含まれる湿分を除去する除湿手段と、この除湿手段に
より湿分が除去されたサンプリングガスの成分を分析す
る分析手段と、前記除湿手段により前記サンプリングガ
スから除去された湿分量を検出する湿分量検出手段と、
前記分析手段による成分分析値を前記湿分量検出手段で
検出された湿分量に応じて補正する補正手段とを備えた
ガス成分分析装置において、前記分析手段におけるサン
プリングガスの分析時刻と、前記湿分量検出手段におけ
る湿分量検出時刻との時間差に基づいて前記成分分析値
または前記補正結果のいずれかを補正する構成とした。
本発明は以上のような手段を講じたことにより、分析手
段におけるサンプリングガスの分析時刻と、湿分量検出
手段における湿分量検出時刻との時間差に基づいて、成
分分析手段による成分分析値または補正手段による補正
結果のいずれかが補正されるので、分析時刻と湿分量検
出時刻との時間差による誤差か補正されることとなり、
正確な成分分析結果を得ることができる。
段におけるサンプリングガスの分析時刻と、湿分量検出
手段における湿分量検出時刻との時間差に基づいて、成
分分析手段による成分分析値または補正手段による補正
結果のいずれかが補正されるので、分析時刻と湿分量検
出時刻との時間差による誤差か補正されることとなり、
正確な成分分析結果を得ることができる。
以下、本発明の実施例について説明する。
第１図は本発明の実施例となるガス成分分析装置を示す
図である。同図に示す１０は原子炉を収容する圧力抑制
型コンテナから気水混合ガスが放出されるドライウェル
である。このドライウェル１０中の雰囲気（サンプリン
グガス）がサンプリング配管を介して冷却器１１に導か
れ、さらにこの冷却器１１て冷却されたサンプリングガ
スか除湿器１２に導かれる。除湿器１２はサンプリング
配管Ｌ１を介して分析計１３に接続されている。
図である。同図に示す１０は原子炉を収容する圧力抑制
型コンテナから気水混合ガスが放出されるドライウェル
である。このドライウェル１０中の雰囲気（サンプリン
グガス）がサンプリング配管を介して冷却器１１に導か
れ、さらにこの冷却器１１て冷却されたサンプリングガ
スか除湿器１２に導かれる。除湿器１２はサンプリング
配管Ｌ１を介して分析計１３に接続されている。
除湿器１２と分析計１３とを結ぶサンプリング配管し１
には、ドライウェル１０中の雰囲気を吸引して冷却器１
１．除湿器１２を通して分析計］３へ導くためのサンプ
リングポンプ１４か付設されている。また、冷却器１１
および除湿器１２はドレン配管Ｌ２を介してドレンポッ
ト１５に接続されている。このドレンポット１５には、
ドレンポット１５に収集される凝固水（ドレン）の液位
を検出するドレン液位針１６が設けられていて、その液
位検出信号が時間差演算部１７に入力される。
には、ドライウェル１０中の雰囲気を吸引して冷却器１
１．除湿器１２を通して分析計］３へ導くためのサンプ
リングポンプ１４か付設されている。また、冷却器１１
および除湿器１２はドレン配管Ｌ２を介してドレンポッ
ト１５に接続されている。このドレンポット１５には、
ドレンポット１５に収集される凝固水（ドレン）の液位
を検出するドレン液位針１６が設けられていて、その液
位検出信号が時間差演算部１７に入力される。
サンプリング配管Ｌ１には除湿器１２から分析計１３へ
導びかれるサンプリング流量を検出するガス流量計１８
が設けられていて、このガス流量計１８の流量検出信号
が時間差演算部１７へ送られる。時間差演算部１７は液
位検出信号と流量検出信号に基づいて、分析計１３での
サンプリングガスの分析時刻と後述する湿分補正演算部
での湿分補正演算時刻との時間差を算出し、その時間差
データを湿分補正演算部２０へ送信する。湿分補正演算
部２０は、分析計１３からサンプリングガスの各成分の
分析値か入力し、ドレン液位針１６から液位検出信号が
入力し、流量計１８からサンプリング流量検出信号が入
力し、さらに温度検出器１９から分析計１３へ送られる
サンプリングガスの温度検出信号か入力する。そして、
湿分補正演算部２０ではこれら入力信号から上記時間差
を考慮した湿分補正演算が実行されサンプリングガスの
各成分の分析値が演算される。
導びかれるサンプリング流量を検出するガス流量計１８
が設けられていて、このガス流量計１８の流量検出信号
が時間差演算部１７へ送られる。時間差演算部１７は液
位検出信号と流量検出信号に基づいて、分析計１３での
サンプリングガスの分析時刻と後述する湿分補正演算部
での湿分補正演算時刻との時間差を算出し、その時間差
データを湿分補正演算部２０へ送信する。湿分補正演算
部２０は、分析計１３からサンプリングガスの各成分の
分析値か入力し、ドレン液位針１６から液位検出信号が
入力し、流量計１８からサンプリング流量検出信号が入
力し、さらに温度検出器１９から分析計１３へ送られる
サンプリングガスの温度検出信号か入力する。そして、
湿分補正演算部２０ではこれら入力信号から上記時間差
を考慮した湿分補正演算が実行されサンプリングガスの
各成分の分析値が演算される。
次に、以上のように構成された実施例の動作について説
明する。
明する。
サンプリングガス中ユ４を動作させることにより、サン
プリングポイントとなるドライウェル１０より吸引され
たサンプリングガスは冷却器１１および除湿器１２でそ
れぞれ除湿された後、分析計１３へ送られ、そこで各成
分の濃度が測定される。このとき、サンプリング配管し
１を通ったサンプリングガスの流量は流量検出信号とし
て時間差演算部１７に送られる。
プリングポイントとなるドライウェル１０より吸引され
たサンプリングガスは冷却器１１および除湿器１２でそ
れぞれ除湿された後、分析計１３へ送られ、そこで各成
分の濃度が測定される。このとき、サンプリング配管し
１を通ったサンプリングガスの流量は流量検出信号とし
て時間差演算部１７に送られる。
一方、上記サンプリングガス中の水分は冷却器１１およ
び除湿器１２で除去されて、凝固水となってドレンポッ
ト１５に収集される。ドレンポット１５の液位はドレン
液位針１６にて検出され、その液位検出信号が時間差演
算部１７へ送られる。
び除湿器１２で除去されて、凝固水となってドレンポッ
ト１５に収集される。ドレンポット１５の液位はドレン
液位針１６にて検出され、その液位検出信号が時間差演
算部１７へ送られる。
時間差演算部１７では、次のようにしてサンプリングガ
スの分析時刻と湿分補正演算時刻との時間差ＤＴを算出
する。
スの分析時刻と湿分補正演算時刻との時間差ＤＴを算出
する。
サンプリングガスか除湿器１２から分析計１３まで到達
するのに要する時間ＴＳ［ｈｌを、Ｔｓ−１１＋Ｘｓ＋
／ＦＳ ［ｈｌ ・・ （１）なる式より算出す
る。たたし、Ｊ７１はサンブリジグ配管し１の配管長［
ｍｌ、Ｓ＋はサンプリング配管し１の内径の断面積［ｍ
２コである。なお、冷却器１１と除湿器１２とを連結す
る配管し３の配管長ｇ２と９１との関係は、ｇｌ）Ω２
とする。
するのに要する時間ＴＳ［ｈｌを、Ｔｓ−１１＋Ｘｓ＋
／ＦＳ ［ｈｌ ・・ （１）なる式より算出す
る。たたし、Ｊ７１はサンブリジグ配管し１の配管長［
ｍｌ、Ｓ＋はサンプリング配管し１の内径の断面積［ｍ
２コである。なお、冷却器１１と除湿器１２とを連結す
る配管し３の配管長ｇ２と９１との関係は、ｇｌ）Ω２
とする。
また、冷却器１１および除湿器１２からドレンポット１
５まで凝固水が到達するまでに要する時間Ｔ。［ｈｌを
、 Ｔｏ ＝Ｉ ｉ ・Ｓ２／ＦＤ ［ｈｌ ・・・
（２）なる式より算出する。ただし、ｇ３はドレン配管
Ｌ２の配管長［ｍｌ、Ｓ２はドレン配管Ｌ２の内径の断
面積［ｍ２］、ＦＤは下式（３）より求められるドレン
流量［ｍ ３／ ｈコを示している。ドレン流量ＦＤ、
すなわち冷却器１１．除湿器１２からトレン配管Ｌ２を
通ってドレンポット１５に収集される凝固水は、 Ｆｏ ｍ５］ ” Ｌｏ ／ Δ Ｔ［ｍ
３ ／ｈココ−（３）として算出される。たたし、Ｓ
３はトレンポット１５の断面積［ｍ２］ 、Ｌｏ ／Δ
Ｔはドレンポ・ノド１５の液位をＬＤ［ＩＩｌ］とした
ときの単位時間ΔＴ当たりの変化量である。
５まで凝固水が到達するまでに要する時間Ｔ。［ｈｌを
、 Ｔｏ ＝Ｉ ｉ ・Ｓ２／ＦＤ ［ｈｌ ・・・
（２）なる式より算出する。ただし、ｇ３はドレン配管
Ｌ２の配管長［ｍｌ、Ｓ２はドレン配管Ｌ２の内径の断
面積［ｍ２］、ＦＤは下式（３）より求められるドレン
流量［ｍ ３／ ｈコを示している。ドレン流量ＦＤ、
すなわち冷却器１１．除湿器１２からトレン配管Ｌ２を
通ってドレンポット１５に収集される凝固水は、 Ｆｏ ｍ５］ ” Ｌｏ ／ Δ Ｔ［ｍ
３ ／ｈココ−（３）として算出される。たたし、Ｓ
３はトレンポット１５の断面積［ｍ２］ 、Ｌｏ ／Δ
Ｔはドレンポ・ノド１５の液位をＬＤ［ＩＩｌ］とした
ときの単位時間ΔＴ当たりの変化量である。
上記（１）式および（２）式より、サンプリングガスの
分析時刻と湿分補正演算時刻との時間差Ｄ Ｔ ［ｈｌ
を、 ＤＴ＝Ｔｐ Ｔｓ ［ｈｌ −（４）と
して求める。
分析時刻と湿分補正演算時刻との時間差Ｄ Ｔ ［ｈｌ
を、 ＤＴ＝Ｔｐ Ｔｓ ［ｈｌ −（４）と
して求める。
この様にして計算された時間差Ｄ Ｔ ［ｈｌは湿分補
正演算部２０へ出力される。湿分補正演算部２０は、次
に示すような湿分補正演算を実行して、湿分補正値を算
出する。
正演算部２０へ出力される。湿分補正演算部２０は、次
に示すような湿分補正演算を実行して、湿分補正値を算
出する。
すなわち、湿分補正演算部２０では、時刻ｔに分析計１
３から入力するサンプリングガスの分析値となるある成
分の濃度信号をＣ（ｔ）、同様に時刻ｔにおけるガス温
度検出器１つより入力した温度検出信号をＴＥ（ｘ）、
液位検出信号をＬｏ（ｔ）、流量検出信号をＦ ｓ （
ｔ） 、時間差ＤＴの入力値をＤ Ｔ （ｔ）として、
上記各入力信号に基づいて湿分補正演算を実行する。
３から入力するサンプリングガスの分析値となるある成
分の濃度信号をＣ（ｔ）、同様に時刻ｔにおけるガス温
度検出器１つより入力した温度検出信号をＴＥ（ｘ）、
液位検出信号をＬｏ（ｔ）、流量検出信号をＦ ｓ （
ｔ） 、時間差ＤＴの入力値をＤ Ｔ （ｔ）として、
上記各入力信号に基づいて湿分補正演算を実行する。
湿分補正演算部２０に入力した濃度信号Ｃ（ｔ）と温度
検出信号Ｔ Ｅ （ｔ）は、（４）式で算出される時間
差ＤＴの予想される最長時間だけ記憶される。
検出信号Ｔ Ｅ （ｔ）は、（４）式で算出される時間
差ＤＴの予想される最長時間だけ記憶される。
そして、時刻（ｔ−ＤＴ（ｔ））における湿分補正係数
Ｑ （ｔ −ＤＴ（ｔ） ）を次式にて算出する。
Ｑ （ｔ −ＤＴ（ｔ） ）を次式にて算出する。
次に、（５）式より得られる湿分補正係数を用いて、濃
度信号Ｃ（ｔ）の湿分補正値Ｃ，ｌ （ｔ−ＤＴ（ｔ）
）を次式より算出する。
度信号Ｃ（ｔ）の湿分補正値Ｃ，ｌ （ｔ−ＤＴ（ｔ）
）を次式より算出する。
ＣＲ（ｔ−ＤＴ（ｔ）） −Ｃ（ｔ−ＤＴ（ｔ））／
ｔｌ＋Ｑ（ｔ−ＤＴ（ｔ）１・・・（６） 以上のようにして、分析計１３で測定されるサンプリン
グガスの各成分の成分分析値が、時間差ＤＴによる誤差
を考慮した湿分補正演算によって補正され、正確な成分
分析値か得られる。
ｔｌ＋Ｑ（ｔ−ＤＴ（ｔ）１・・・（６） 以上のようにして、分析計１３で測定されるサンプリン
グガスの各成分の成分分析値が、時間差ＤＴによる誤差
を考慮した湿分補正演算によって補正され、正確な成分
分析値か得られる。
この様に本実施例によれば、サンプリングガスの分析時
刻と湿分補正演算時刻との時間差ＤＴを考慮した湿分補
正演算を分析計１３で得られる分析値に対して施すよう
にしたので、サンプリングガス中の湿分量が時間と共に
変化してもその変化による誤差を除去することができ、
極めて精度の高い成分分析値を得ることができる。
刻と湿分補正演算時刻との時間差ＤＴを考慮した湿分補
正演算を分析計１３で得られる分析値に対して施すよう
にしたので、サンプリングガス中の湿分量が時間と共に
変化してもその変化による誤差を除去することができ、
極めて精度の高い成分分析値を得ることができる。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではない。
例えば、上記実施例では時間差ＤＴを算出する部分と湿
分補正演算を実行する部分とを分離した構成のものが示
されているが、第２図に示すように、時間差ＤＴを算出
する機能を湿分補正演算部２１と同一ユニットに組込む
構成としてもよい。
分補正演算を実行する部分とを分離した構成のものが示
されているが、第２図に示すように、時間差ＤＴを算出
する機能を湿分補正演算部２１と同一ユニットに組込む
構成としてもよい。
［発明の効果］
以上詳記したように本発明によれば、サンプリングガス
中の湿分量が時間と共に変化しても、サンプリングガス
の分析時刻と湿分補正演算時刻との時間差による誤差を
除去することができ、極めて精度の高い成分分析値を得
ることができる信頼性の高いガス成分分析装置を提供で
きる。
中の湿分量が時間と共に変化しても、サンプリングガス
の分析時刻と湿分補正演算時刻との時間差による誤差を
除去することができ、極めて精度の高い成分分析値を得
ることができる信頼性の高いガス成分分析装置を提供で
きる。
第１図は本発明の実施例にかかるガス成分分析装置の構
成図、第２図は同実施例の変形例の構成図、第３図は従
来の分析装置構成図である。 １０・・・ドライウェル、１１・・・冷却器、１２・・
・除湿器、１３・・・分析計、１４・・・サンプリング
ポンプ、１５・・・ドレンポット、１６・・・ドレン液
位針、１７・・・時間差演算部、１８・・・ガス流量計
、１９・・・ガス温度検出器、２０・・・湿分補正演算
部。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第 図 第 図
成図、第２図は同実施例の変形例の構成図、第３図は従
来の分析装置構成図である。 １０・・・ドライウェル、１１・・・冷却器、１２・・
・除湿器、１３・・・分析計、１４・・・サンプリング
ポンプ、１５・・・ドレンポット、１６・・・ドレン液
位針、１７・・・時間差演算部、１８・・・ガス流量計
、１９・・・ガス温度検出器、２０・・・湿分補正演算
部。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第 図 第 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 サンプリングガスに含まれる湿分を除去する除湿手段と
、この除湿手段により湿分が除去されたサンプリングガ
スの成分分析を行なう分析手段と、前記除湿手段により
前記サンプリングガスから除去された湿分量を検出する
湿分量検出手段と、前記分析手段による成分分析値を前
記湿分量検出手段で検出された湿分量に応じて補正する
補正手段とを備えたガス成分分析装置において、 前記分析手段におけるサンプリングガスの分析時刻と、
前記湿分量検出手段における湿分量検出時刻との時間差
に基づいて、前記成分分析値または前記補正結果のいず
れかを補正することを特徴とするガス成分分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2133953A JPH0429094A (ja) | 1990-05-25 | 1990-05-25 | ガス成分分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2133953A JPH0429094A (ja) | 1990-05-25 | 1990-05-25 | ガス成分分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0429094A true JPH0429094A (ja) | 1992-01-31 |
Family
ID=15116939
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2133953A Pending JPH0429094A (ja) | 1990-05-25 | 1990-05-25 | ガス成分分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0429094A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003075307A (ja) * | 2001-08-31 | 2003-03-12 | Nikkiso Co Ltd | 放射性物質を含む排ガスのサンプリングガス用サンプリングシステム |
-
1990
- 1990-05-25 JP JP2133953A patent/JPH0429094A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003075307A (ja) * | 2001-08-31 | 2003-03-12 | Nikkiso Co Ltd | 放射性物質を含む排ガスのサンプリングガス用サンプリングシステム |
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