JPH04291177A - テストヘッド位置決め装置 - Google Patents

テストヘッド位置決め装置

Info

Publication number
JPH04291177A
JPH04291177A JP3057356A JP5735691A JPH04291177A JP H04291177 A JPH04291177 A JP H04291177A JP 3057356 A JP3057356 A JP 3057356A JP 5735691 A JP5735691 A JP 5735691A JP H04291177 A JPH04291177 A JP H04291177A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
rotating shaft
knob
head
mounting
guide
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3057356A
Other languages
English (en)
Inventor
Akinobu Shibata
柴田 秋信
Shoji Uehara
昇二 上原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP3057356A priority Critical patent/JPH04291177A/ja
Publication of JPH04291177A publication Critical patent/JPH04291177A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体試験装置などに用
いられるテストヘッド位置決め装置に係り、特に位置決
めを簡便な操作で容易に行なう構造の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体試験装置は、例えば本出願人の提
案に係る特開昭60−119472号公報等で公知であ
る。この様な装置は製造された半導体を一個毎に検査す
るので、検査ラインに組み込んで最適な位置に保持する
ことが、検査時間を最小化することが必要である。そこ
でテストヘッド位置決め装置が使用されている。
【0003】図5は従来装置の構成斜視図である。図に
おいて、ベ―ス10はメインポ―ル20を支持する桁部
11と、ベ―ス10の床面内に於ける左右・前後方向の
移動を行なうキャスタ12と、キャスタ12を床面より
浮上させて底面内の位置決めを行なうレベラ13を有し
ている。メインポ―ル20は、底面に設けられたベ―ス
10に対する固定を担当するポストベ―ス21と、頂面
に設けられたリフトホルダ30を上下させる上下用ハン
ドル22を有している。リフトホルダ30はメインポ―
ル20に取付けられるもので、テストヘッド50を支持
する凹状のヘッド受け部31が設けられている。
【0004】図6はテストヘッドの構成斜視図である。 テストヘッド50は重量100kg程度のもので、一般
には被検査対象となる半導体に合わせて設計してある。 ヘッド用筐体40はテストヘッド50と半導体試験装置
の本体とを接続するもので、いわば分電盤のようにテス
トヘッド50側の各端子の信号を信号線を介して本体に
送っている。接続用プレ―ト41はヘッド用筐体40の
側面に取付けられるもので、取付用のネジ42と、リフ
トホルダ30のヘッド受け部31と係合する軸部43を
有している。
【0005】このように構成された装置の使用状態を次
に説明する。図7はテストヘッドとテストヘッド位置決
め装置を組み合わせた状態の構成斜視図である。リフト
ホルダ30にはテストヘッド50の検査面の姿勢を定め
る姿勢用ノブ32が設けられており、通常検査面を水平
若しくは垂直に維持する。そして、底面内の位置決めは
キャスタ12とレベラ13を用いて行ない、テストヘッ
ド50の上下方向の位置決めは上下用ハンドル22で行
ない、検査面の姿勢は姿勢用ノブ32を用いて調整して
いた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、半導体製造
は一日に多数の種類の半導体を製造するのが一般的であ
り、このためテストヘッド50も一日に何回も取替えて
位置決めする必要がある。この場合、ヘッド用筐体40
の幅が長いので、軸部43とヘッド受け部31を係合さ
せる際、いわゆる芯出し作業が正確に行なえなかった。 そのため、ヘッド用筐体40を軸部43を中心として回
転させる際に、荷重の偏心が生じているため、回転作業
の際に作業者は大きな力を出して姿勢用ノブ32を操作
しなければならず作業が大変になっていた。また軸部4
3がヘッド用筐体40の設計上の回転中心とずれていれ
ば、テストヘッド50の検査面も水平面や垂直面も完全
な基準姿勢とは乖離が生じているので、半導体の検査の
際にうまく半導体とテストヘッド50が接触しない虞が
あった。
【0007】本発明はこのような課題を解決したもので
、ヘッド用筐体をリフトホルダに装着する際に正確に芯
出し作業が行なえ、ヘッド用筐体回転の際に力が少なく
てすみ、検査面が基準姿勢と一致しているテストヘッド
位置決め装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
る本発明は、テストヘッドを搭載する検査面を有するヘ
ッド用筐体(40)と、このヘッド用筐体を支持するリ
フトホルダ(30)を有するテストヘッド位置決め装置
において、次の構成としたものである。
【0009】即ち、前記ヘッド用筐体は、このヘッド用
筐体の一方の側面主軸と大略一致する位置に設けられる
第1の回転軸部(43)、この第1の回転軸部の取付け
られる側面の反対側側面の主軸と大略一致する位置に設
けられる第2の回転軸部(48)、この第1又は第2の
回転軸部の少なくとも一方に対して所定距離離れた位置
の当該側面に取付けられる固定用ノブ(45)、この第
1の回転軸部を挟んで反対側方向の当該側面に取付けら
れる案内用ノブ(46)を有している。
【0010】前記リフトホルダは、第1の回転軸部の取
付けられる側面に設けられた第1の回転軸部の係合する
第1の取付用U型溝(33)、この第1の取付用U型溝
の設けられる側面と反対側の側面に設けられた第2の回
転軸部の係合する第2の取付用U型溝(36)、当該固
定用ノブの取付けられる側の側面にある取付用U型溝を
中心として前記検査面を水平に保持する角度と垂直に保
持する角度との間を連続的に連結すると共に当該固定用
ノブが当該側面より突出するノブ案内部(34)、第1
の取付用U型溝を中心としてこのノブ案内部の成す円弧
角とほぼ等しい円弧角を有すると共に当該案内用ノブが
当該側面より突出する円弧状案内部(35)を有してい
る。
【0011】そして、第2の回転軸部と第2の取付用U
型溝より定まる第2の回転軸と、第1の回転軸部と第1
の取付用U型溝より定まる第1の回転軸との偏差を補償
する位置に第1の回転軸部をリフトホルダ側面に取付け
る軸受(60,61)を具備することを特徴としている
【0012】
【作用】本発明の各構成要素はつぎの作用をする。第2
の回転軸部と第2の取付用U型溝及び第1の回転軸部と
第1の取付用U型溝は、ヘッド用筐体をリフトホルダに
対して回転する際の回転軸となる。固定用ノブと案内用
ノブは少なくとも一方の側面に設けられるもので、ヘッ
ド用筐体を回転する際のハンドルとして働くと共に、ヘ
ッド用筐体の姿勢を一定状態で固定するのに用いる。ノ
ブ案内部と円弧状案内部は固定用ノブと案内用ノブの移
動する軌跡を定めるもので、ヘッド用筐体の回転範囲に
合わせた円弧角を有してる。軸受は、製作上発生する第
1と第2の回転軸の不一致を吸収して、バランスの良い
位置でヘッド用筐体を支持する。
【0013】
【実施例】以下図面を用いて、本発明を説明する。図1
は本発明の一実施例を示す装置全体の側面図、図2は正
面図で、いずれもヘッド用筐体の検査面を水平に保持す
る状態を示している。尚図1及び図2において、前記図
5〜図7と同一作用をするものには同一符号をつけ説明
を省略する。図において、メインポ―ル20にはリフト
ホルダ30の端部に設けられたポ―ルガイド38が取付
けられており、リフトホルダ30の上下移動はこのメイ
ンポ―ル20に沿って行われる。ホイ―ル25には、一
端がリフトホルダ30に固定され他端がバランスウェイ
ト26に固定されたチェ―ン27が巻かれている。ウェ
イト収容部28はバランスウェイト26を収容する箱体
である。この様なバランスウェイト26はリフトホルダ
30の重量バランスをとって、リフトホルダ30の上下
運動を容易にしている。
【0014】ヘッド用筐体40には、一方の側面に第1
の回転軸部43、固定用ノブ45及び案内用ノブ46が
調整側ピン取付ブラケット51を介して取付けられ、他
方の側面には第2の回転軸部48が固定側ピン取付ブラ
ケット52を介して取付けられている。第1の回転軸部
43はヘッド用筐体40の側面主軸と大略一致する位置
に設けられる。ここで主軸とはヘッド用筐体40の重量
中心を通る軸をいい、この重量中心に一致させると、偏
心がなくなるので慣性モ―メントが最小化されてヘッド
用筐体40を回転させるのが容易になる。第2の回転軸
部48はヘッド用筐体40の側面の主軸と大略一致する
位置に設けられる。固定用ノブ45は第1の回転軸部4
3の中心に対して所定距離(r1)離れた位置に取付け
られるものであり、ヘッド用筐体40を回転させる状態
と固定している状態とを選択できる機構を有している。 案内用ノブ46は、第1の回転軸部43を挟んで固定用
ノブ45の反対側方向に所定距離(r2)離れた位置に
取付けられるもので、ここではr2>r1になっている
【0015】第1の取付用U型溝33は第1の回転軸部
43と係合するもので、リフトホルダ30の一方の側面
に設けられている。第2の取付用U型溝36は、この第
1の取付用U型溝33の設けられるリフトホルダ30の
反対側側面に設けられるもので、第2の回転軸部48と
係合する。ノブ案内部34は、第1の取付用U型溝33
を有する側面に設けられたもので、中心は第1の取付用
U型溝33の底部近傍にあり、理想的には第1の回転軸
部43の軸中心と一致する。円弧状案内部35もこのノ
ブ案内部34を有する側面に、ノブ案内部34と共通の
中心を有するものである。両者はいずれも円弧状をして
おり、ヘッド用筐体40の検査面を水平に保持する角度
と垂直に保持する角度との間を連続的に連結する事が可
能になっており、例えば135度の円弧角になっている
。ノブ案内部34は固定用ノブ45と係合し、円弧状案
内部35は案内用ノブ46と係合する。ケ―ブル箱47
はテストヘッド50と半導体試験装置本体を接続するケ
―ブルを収容するもので、開口部から図示しない信号線
が外部に現れる。
【0016】下部軸受60と上部軸受61は、リフトホ
ルダ30の第1の取付用U型溝33側側面に固定された
もので、第1の回転軸部43をベアリング部44を介し
て支持している。下部軸受64と上部軸受65は、リフ
トホルダ30の第2の取付用U型溝36側側面に固定さ
れたもので、第2の回転軸部48をベアリング部を介し
て支持している。ここでは、第2の回転軸部48と案内
用ノブ46より定まる第1の回転軸と、第1の回転軸部
43と第1の取付用U型溝33より定まる第1の回転軸
との偏差を補償する目的で、下部軸受60と上部軸受6
1の取付け位置が側面に対して微調整できるようになっ
ている。
【0017】図3は検査面を垂直にした状態の装置全体
の側面図である。固定用ノブ45と案内用ノブ46を、
ノブ案内部34と円弧状案内部35にそって移動させる
ことにより、検査面を水平状態(図1参照)から垂直状
態にすることができる。固定は固定用ノブ45を用いて
行なう。
【0018】図4はリフトホルダ30とヘッド用筐体4
0の詳細を説明する図で、(A)は正面図、(B)は側
面図になっている。案内用ノブ46はシャフト461を
介して調整側ピン取付ブラケット51と取付けられ、固
定用ノブ45はシャフト451を介して調整側ピン取付
ブラケット51と取付けられている。リリ―ス部452
は固定用ノブ45とノブ案内部34との係止状態を維持
したり、解除したりするもので、これによりヘッド用筐
体40の姿勢固定と姿勢変更の切替をしている。ブラケ
ット取付け部453はシャフト451の先端に装着され
るサ―クリップ形状をするもので、調整側ピン取付ブラ
ケット51に対する取付けを担当する。軸受固定板62
は、下部軸受60と上部軸受61をリフトホルダ30に
対して実質的に固定する。例えば、軸受の微調整は軸受
固定板62の取付け位置を調整して行なう。軸受固定板
65は、下部軸受63と上部軸受64をリフトホルダ3
0に対して実質的に固定するもので、第2の取付用U型
溝36だけでは第2の回転軸部48を支持するのが強度
的に困難な場合があるので用いている。
【0019】このように構成された装置の動作を次に説
明する。調整側ピン取付ブラケット51を用いて第1の
回転軸部43をヘッド用筐体40の側面主軸に位置合わ
せする際に取付け誤差が発生する。固定側ピン取付ブラ
ケット52を用いて第2の回転軸部48を位置合わせす
ることも同様である。また第1の取付用U型溝33と第
2の取付用U型溝36を完全に対称的に製作することは
、リフトホルダ30の幅が大きいことからも困難である
。そこでこれを補償して、ヘッド用筐体40の回転軸が
芯出しできるように、下部軸受60と上部軸受61の第
1の取付用U型溝33に対する取付け位置を微調整する
。この微調整は、熟練した作業者が行なっても良く、ま
たバランシングマシンを偏心量と偏心方向を求めて行な
っても良い。
【0020】尚、上記実施例においてはノブ案内部34
、円弧状案内部35、固定用ノブ45及び案内用ノブ4
6を第1の回転軸部43側にのみ設ける場合を示したが
、本発明はこれに限定されるものではなく、第2の回転
軸部48側のみに設けても良くまた両方の回転軸部に設
けても良い。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば次
のような効果がある。■ヘッド用筐体40の回転軸部と
リフトホルダ30に対する取付け軸との間に偏心があっ
ても、回転軸部の取付け位置を調整してこの偏心を補償
しているのでヘッド用筐体40の回転が容易に行われる
。■  第1の取付用U型溝33と第2の取付用U型溝
36を第1の回転軸部43と第2の回転軸部48を係合
させて、ヘッド用筐体40をリフトホルダ30に取付け
ているので、装着方向が溝の上方のみに限定されて、装
着作業が容易になる。■  実施例のように第1の回転
軸部43と第2の回転軸部48の両側を割りタイプの軸
受を用いて支持すると、左右が独立して芯出しすること
が可能になり、リフトホルダ30側のみで偏心の補償が
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す装置全体の側面図であ
る。
【図2】本発明の一実施例を示す装置全体の正面図であ
る。
【図3】検査面を垂直にした状態の装置全体の側面図で
ある。
【図4】リフトホルダ30とヘッド用筐体40の詳細を
説明する図である。
【図5】従来装置の構成斜視図である。
【図6】テストヘッドの構成斜視図である。
【図7】テストヘッドとテストヘッド位置決め装置を組
み合わせた状態の構成斜視図である。
【符号の説明】
10…ベ―ス 20…メインポ―ル 30…リフトホルダ 33…第1の取付用U型溝 34…ノブ案内部 35…円弧状案内部 36…第2の取付用U型溝 40…ヘッド用筐体 43…第1の回転軸部 45…固定用ノブ 46…案内用ノブ 48…第2の回転軸部 50…テストヘッド 60,61…軸受

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】テストヘッドを搭載する検査面を有するヘ
    ッド用筐体(40)と、このヘッド用筐体を支持するリ
    フトホルダ(30)を有するテストヘッド位置決め装置
    において、このヘッド用筐体の一方の側面主軸と大略一
    致する位置に設けられる第1の回転軸部(43)、この
    第1の回転軸部の取付けられる側面の反対側側面の主軸
    と大略一致する位置に設けられる第2の回転軸部(48
    )、この第1又は第2の回転軸部の少なくとも一方に対
    して所定距離離れた位置の当該側面に取付けられる固定
    用ノブ(45)、この第1の回転軸部を挟んで反対側方
    向の当該側面に取付けられる案内用ノブ(46)を有す
    る前記ヘッド用筐体と、第1の回転軸部の取付けられる
    側面に設けられた第1の回転軸部の係合する第1の取付
    用U型溝(33)、この第1の取付用U型溝の設けられ
    る側面と反対側の側面に設けられた第2の回転軸部の係
    合する第2の取付用U型溝(36)、当該固定用ノブの
    取付けられる側の側面にある取付用U型溝を中心として
    前記検査面を水平に保持する角度と垂直に保持する角度
    との間を連続的に連結すると共に当該固定用ノブが当該
    側面より突出するノブ案内部(34)、第1の取付用U
    型溝を中心としてこのノブ案内部の成す円弧角とほぼ等
    しい円弧角を有すると共に当該案内用ノブが当該側面よ
    り突出する円弧状案内部(35)を有する前記リフトホ
    ルダと、第2の回転軸部と第2の取付用U型溝より定ま
    る第2の回転軸と、第1の回転軸部と第1の取付用U型
    溝より定まる第1の回転軸との偏差を補償する位置に第
    1の回転軸部をリフトホルダ側面に取付ける軸受(60
    ,61)と、を具備することを特徴とするテストヘッド
    位置決め装置。
JP3057356A 1991-03-20 1991-03-20 テストヘッド位置決め装置 Pending JPH04291177A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3057356A JPH04291177A (ja) 1991-03-20 1991-03-20 テストヘッド位置決め装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3057356A JPH04291177A (ja) 1991-03-20 1991-03-20 テストヘッド位置決め装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH04291177A true JPH04291177A (ja) 1992-10-15

Family

ID=13053301

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3057356A Pending JPH04291177A (ja) 1991-03-20 1991-03-20 テストヘッド位置決め装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH04291177A (ja)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5600258A (en) Method and apparatus for automated docking of a test head to a device handler
US5606262A (en) Manipulator for automatic test equipment test head
US7276894B2 (en) Dynamic cradle assembly positioner system for positioning an electronic device test head
JPH05126902A (ja) 試験装置用電子試験ヘツド位置決め装置
JPH0797002B2 (ja) ワ−クピ−スの同中心性を測定するための装置
JP3564637B2 (ja) 粗さ測定装置
EP0822393B1 (en) Thermogravimetric instrument
JPH04291177A (ja) テストヘッド位置決め装置
JP4907538B2 (ja) 機械部品の寸法および/または形状の検査装置
JPH09253907A (ja) 加工用工具保持装置
JP2002264067A (ja) ロボット
JPH0249538Y2 (ja)
JPS6314882B2 (ja)
JPH0729504Y2 (ja) 半導体テスト装置用の支持体
JP4114125B2 (ja) 半導体テスタ装置
JPH04277266A (ja) 台付スコヤ用取付架台
JPS6345351B2 (ja)
JP5603096B2 (ja) 組付治具を備える治具装置
JP2772511B2 (ja) 墨出し用レーザー装置
CN220119011U (zh) 一种视觉传感器装置
CN219841337U (zh) 一种快速定位的三轴联调支架
CN222857179U (zh) 一种排气管焊接装置
CN216718616U (zh) 一种电机动静态性能试验验证装置
JPH01281854A (ja) 真直度補正装置
JPS6314883B2 (ja)