JPH04294573A - 高周波半導体装置 - Google Patents

高周波半導体装置

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JPH04294573A
JPH04294573A JP3083449A JP8344991A JPH04294573A JP H04294573 A JPH04294573 A JP H04294573A JP 3083449 A JP3083449 A JP 3083449A JP 8344991 A JP8344991 A JP 8344991A JP H04294573 A JPH04294573 A JP H04294573A
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JP
Japan
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terminals
semiconductor device
grounding
dielectric substrate
high frequency
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JP3083449A
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Takanori Onoda
小野田 高典
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FUKUSHIMA NIPPON DENKI KK
NEC Fukushima Ltd
Original Assignee
FUKUSHIMA NIPPON DENKI KK
NEC Fukushima Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は超高周波領域で使用する
高周波素子を有する高周波半導体装置に関し、特にその
パッケージ構造に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の超高周波用半導体装置は、図4に
示すように半導体素子(図示せず)を内装したパッケー
ジ本体21の周囲に複数本の信号用端子22と接地用端
子23とを突出させている。通常では、これらの端子2
2,23は平面配置が十字型をしており、各端子22,
23は同一平面上に配置されている。このような半導体
装置は、マイクロストリップラインを設けた誘電体基板
30に実装する際には、図5に示すように、誘電体基板
30の表面に形成された信号用配線面31に信号用端子
22を接続する。又、誘電体基板30の表面の他部に形
成された接地用配線面32に接地用端子23を接続する
。そして、この接地用配線面32はスルーホール33を
通して誘電体基板30の裏面側にまで延長させ、裏面に
設けた接地面に接続させている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】このような実装構造で
は、半導体装置の各端子22,23は同一平面上に配置
されているために、誘電体基板30の表面側にのみ接続
されることになる。このため、誘電体基板30の裏面に
形成した接地面と表面の接地用配線面32とをスルーホ
ール33で接続することになり、このスルーホール33
に図6に示すようなインダクタンスが寄生する。図6で
は高周波FETトランジスタの例を示しており、トラン
ジスタTRのソースを接地するために表面側の接地用配
線面32と裏面の接地面とを接続するスルーホール33
によってインダクタンスLが生じ、このインダクタンス
はトランジスタのソースの共通インピーダンスとして働
いて高周波利得を減少させ、逆方向伝達利得(アイソレ
ーション)をも悪化させることになる。このため、従来
の半導体装置では、高周波特性がパッケージ構造によっ
て決定され易く、より高い周波数まで使用可能な半導体
装置を得ることが難しいという問題がある。本発明の目
的は寄生インダクタンスを防止して、高周波特性に優れ
たパッケージ構造の半導体装置を提供することにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の高周波半導体装
置は、パッケージ本体から突出される複数の信号用端子
を同一平面上に配置するとともに、これらの端子と対を
なす同数の接地用端子を前記信号用端子とは異なる同一
平面上に配置し、かつ信号用端子を誘電体基板の表面の
配線面に接続したときに、接地用端子が誘電体基板の裏
面の接地面に接続されるように構成する。この場合、対
をなす信号用端子と接地用端子は誘電体基板の厚さ寸法
の間隔で対向配置される。
【0005】
【作用】本発明によれば、信号用端子を誘電体基板表面
の配線面に接続したときには、接地用端子は誘電体基板
裏面の接地面に接続されるため、誘電体基板の表裏面を
相互接続するためのスルーホールが不要となり、寄生イ
ンダクタンスが抑制される。
【0006】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明の一実施例の斜視図であり、図2(a
)及び(b)はその平面図、正面図である。半導体装置
のパッケージ本体1は内部に高周波半導体装置(図示せ
ず)を内装しており、この高周波半導体装置に接続され
る複数の信号用端子2,3と接地用端子4,5をパッケ
ージ本体1の外部に突出させている。ここでは入力端子
及び出力端子としての2本の信号用端子2,3を180
度反対方向に突出させている。又、接地用端子4,5は
各信号用端子2,3と対をなすように夫々対向して突出
されている。前記信号用端子2,3は夫々同一平面上に
位置され、又各接地用端子4,5は信号用端子2,3と
は異なる平面上に位置されている。そして、ここでは接
地用端子4,5の外形寸法を信号用端子2,3よりも大
きくし、かつこれら信号用端子2,3と接地用端子4,
5との対向間隔は、実装する誘電体基板の厚さに略等し
い寸法に設定している。
【0007】この構成の高周波半導体装置をマイクロス
トリップ線路を形成した誘電体基板に実装する例を図3
に示す。同図(a)のように、誘電体基板10には高周
波半導体装置のパッケージ本体及び少なくとも信号用端
子が挿通可能な角型の穴11をあけてあり、この穴11
に臨む表面側には信号ライン用の配線面12を形成し、
裏面には接地面13を形成している。そして、高周波半
導体装置のパッケージ本体1及び信号用端子2,3を誘
電体基板10の下側から穴11内に挿入させる。次いで
、同図(b)のように、信号用端子2,3が誘電体基板
10の表面側に位置されたところで、パッケージ本体1
を約90度水平方向に回動させ、同図(c)の状態とす
る。そして、この状態で誘電体基板10の表面側では信
号用端子2,3を信号ライン用の配線面12に半田等に
より接続し、同時に裏面側では接地用端子4,5を接地
面13に半田付等により接続する。
【0008】したがって、高周波半導体装置は、特に接
地用端子4,5は誘電体基板10の裏面の接地面に直接
接続されることになり、従来のようなスルーホールは不
要とされる。このため、スルーホールが原因となる寄生
インダクタンスが防止でき、高周波特性の劣化が防止で
き、超高周波での使用が可能となる。尚、信号用端子及
び接地用端子の数は前記実施例に限られるものではなく
、3本或いはそれ以上の数でもよい。又、各端子の突出
方向を工夫することで、誘電体基板に形成する穴を可及
的に小さくした上で半導体装置の挿入を可能とし、各端
子を誘電体基板の表面及び裏面に沿設させることが可能
である。
【0009】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、パッケー
ジ本体から同一平面上に突出される複数の信号用端子と
対をなす接地用端子を異なる平面上に配置し、信号用端
子を誘電体基板表面の配線面に接続したときには、接地
用端子は誘電体基板裏面の接地面に接続されるように構
成しているので、誘電体基板の表裏面を相互接続するた
めのスルーホールが不要となり、寄生インダクタンスが
抑制され、高周波半導体素子の特性を劣化することなく
高周波まで使用できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の高周波半導体装置の一実施例の斜視図
である。
【図2】(a)は図1の半導体装置の平面図、(b)は
その正面図である。
【図3】(a)乃至(c)は図1の半導体装置を誘電体
基板に実装する状態を工程順に示す斜視図である。
【図4】従来の高周波半導体装置の斜視図である。
【図5】従来の半導体装置の実装状態の斜視図である。
【図6】寄生インダクタンスを説明するための回路図で
ある。
【符号の説明】
1  パッケージ本体 2,3  信号用端子 4,5  接地用端子 10  誘電体基板 11  穴 12  信号ライン用配線面 13  接地面

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  高周波半導体素子を内装し、複数の信
    号用端子と接地用端子とをパッケージ本体から突出させ
    た高周波半導体装置において、前記複数の信号用端子を
    同一平面上に配置するとともに、これらの端子と対をな
    す同数の接地用端子を前記信号用端子とは異なる同一平
    面上に配置し、前記信号用端子を誘電体基板の表面の配
    線面に接続したときに、接地用端子が前記誘電体基板の
    裏面の接地面に接続されるように構成したことを特徴と
    する高周波半導体装置。
  2. 【請求項2】  対をなす信号用端子と接地用端子は誘
    電体基板の厚さ寸法の間隔で対向配置されてなる請求項
    1の高周波半導体装置。
JP3083449A 1991-03-23 1991-03-23 高周波半導体装置 Expired - Fee Related JP2704055B2 (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104025292B (zh) * 2011-12-22 2018-03-09 松下知识产权经营株式会社 半导体封装、其制造方法及模具、半导体封装的输入输出端子

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5999447U (ja) * 1982-12-24 1984-07-05 株式会社東芝 半導体用パツケ−ジ

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JP2704055B2 (ja) 1998-01-26

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