JPH0430047B2 - - Google Patents
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- JPH0430047B2 JPH0430047B2 JP57232561A JP23256182A JPH0430047B2 JP H0430047 B2 JPH0430047 B2 JP H0430047B2 JP 57232561 A JP57232561 A JP 57232561A JP 23256182 A JP23256182 A JP 23256182A JP H0430047 B2 JPH0430047 B2 JP H0430047B2
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- G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
- G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
- G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
- G06F3/0446—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using a grid-like structure of electrodes in at least two directions, e.g. using row and column electrodes
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Description
〔発明の技術分野〕
この発明はタツチ電極を用いて文字パターンの
座標位置を入力する座標入力装置に関する。 〔従来技術〕 従来、文字、図形などを入力してそれを認識す
る入力装置として、種々のものが提案されてい
る。例えば、タブレツト上にX軸およびY軸方向
にマトリクス上に配列した検知線によつて、前記
タブレツトにペン型治具によつて描かれる文字、
図形の座標位置を検出し、それをパルス信号に変
換する入力装置、また、CRT表示装置にライト
ペンで入力する装置、あるいはまた、押し釦をマ
トリクス状に配列しておき、文字、図形に沿つた
状態で、必要な押し釦をオンする装置などがあ
る。 〔従来技術の問題点〕 腕時計などの小型電子機器に上述した従来の入
力装置の原理を適用して文字、図形を入力する場
合、従来の入力装置には夫々、次のような問題点
がある。即ち、タブレツトとペン型治具を用いた
入力装置では、特別な治具が必要となり、また装
置が複雑なため、小型の電子機器であるから、そ
の表面積が小さいため、例えば、腕時計の場合に
は、時刻表示部と文字、図形の入力部とを重合さ
せる必要があるが、そのためには、前記タブレツ
トは透明でなければあらないが、透明なタブレツ
トは、製作が困難である点もある。また、押し釦
を用いた入力装置では、座標位置の検出精度が押
し釦の数によつて決定されるため、精度向上のた
めには、その封を増やさねばならぬから、小型の
電子機器には不適である点、また機械的なスイツ
チであるから耐久性に乏しい点、透明化できない
点等の問題点がある。 〔発明の目的〕 タツチ電極を用いることにより、小型の電子機
器においても、文字、図形等の文字パターンの座
標位置が高精度で入力できるようにした座標入力
装置を提供することである。 〔発明の要点〕 XY座標系上に複数のタツチ電極をマトリクス
状に配設し、文字パターンの入力に際して指など
の人体が前記複数のタツチ電極に接触した際に、
各タツチ電極の接触容量成分を検出し、而して検
出した接触容量成分の値が最大であるタツチ電極
の容量成分と隣接するタツチ電極の容量成分とか
ら人体接触座標位置を検出し記憶するようにした
座標入力装置である。 〔実施例〕 以下、図面を参照してこの発明を、アラーム時
刻になると予メ設定されているメツセージを表示
する機能を有する電子腕時計に適用した一実施例
を説明する。第1図は、電子腕時計の外観図であ
る。時計ケース1の上面には、透明な表面ガラス
2が固定されており、而してその表面ガラス2の
上面には更に、後述するXY座標系に沿つて4×
4のマトリクス状に合計16枚の透明なタツチ電極
3が一定間隔で配設されていると共に、タツチ電
極3の上方には、また、液晶表示装置から成るド
ツト表示部4が配設されている。また、時計ケー
ス1内には、計時回路、液晶駆動回路、文字パタ
ーン処理回路などの電子回路部品のほかに、電池
などが配設されている。なお、説明の便宜上、前
記16個のタツチ電極に、図示の如き16進表現によ
る番号S/0〜S/Fを付しておく。 第2図におよび第3図は、前記タツチ電極3の
スイツチング特性の原理図である。第2図におい
て、前記時計ケース1は、金属製であり、同様に
金属製の裏蓋(図示略)を介して腕に装着され
る。そして時計ケース1には、電源電圧の高電位
VDD(論理値“1”)側に接続されており、一方
のタツチ電極として併用されている。このため、
腕時計を腕に装着している状態において、タツチ
電極3に人体が触れることによつて該タツチ電極
3をON動作させることができるようになつてい
る。また符号Cxは浮遊容量成分であり、これは、
タツチ電極3の配線によつて生ずる電極配線容量
および本実施例に使用されているCMOSICのゲ
ートの入力インピーダンスが高いために生ずるゲ
ート容量等によるものである。また符号Cyは、
タツチ電極3に触れたとき、時計ケース1とタツ
チ電極3間に生ずる人体の接触容量成分である。
したがつて、前記浮遊容量成分Cxは常に存在し
ているものであるが、接触成分Cyは人為的に生
ずるものである。 また、符号Aは所定周期(例えば64Hz)の矩形
波信号であり、この矩形波信号Aは抵抗5、Nチ
ヤンネルMOSトランジスタ6およびPチヤンネ
ルMOSトランジスタ7から成るCMOSインバー
タ8の各ゲートに入力されている。トランジスタ
6のソース側には、電源電圧の低電位Vss(論理
値“0”)が供給されており、またトランジスタ
7のソース側には、時計ケース1を介して高電位
VDDが供給されている。そして、CMOSインバー
タ8の出力信号は、タツチ電極3に入力するほ
か、COMSインバータ9を介し、信号Bとして
出力する。即ち、前記信号Bは、タツチ電極3に
人体が接触しているか否か、つまりタツチの有無
の判定に供される被判定信号である。 而して、タツチ電極3に人体が触れていない状
態において、第3図1に示すように、矩形波信号
Aが高電位レベルになつてCMOSインバータ8
に入力されると、該COMSインバータ9の出力
信号は低電位レベルとなり、したがつて、インバ
ータ9の出力信号は高電位レベルとなる。このと
き、CMOSインバータ8の出力信号は、浮遊容
量成分Cxの影響を受けるので、インバータ9の
出力信号は、第3図2に示すように、その立上り
が矩形波信号Aに対して、時間T0だけ遅れる。 次に、タツチ電極3に人体が触れた場合には、
タツチ電極3と時計ケース1との間に接触容量成
分Cyが形成され、そして、この接触容量成分Cy
は浮遊容量成分Cxに対して、並列接続された状
態となるので、インバータ9の出力信号Bは、矩
形波信号Aに対して浮遊容量成分Cxと接触容量
成分Cyとの合成容量に対応するだけ遅れて出力
される。 ところで、接触容量成分Cyの大きさは、人体
とタツチ電極3との接触面積あるいは押圧力等の
接触状態によつて異なるが、略前記接触面積に比
例している。而して、接触容量成分Cyが小さい
ときのインバータ9の出力信号Bは、タツチ電極
3に人体が接触していないときの出力信号〔第3
図2参照〕と比較して、第3図3に示すように、
その立上りが時間T1だけ更に遅れて出力され
る。また、接触容量成分Cyが大きいときのイン
バータ9の出力信号Bは、第3図4に示すよう
に、その立上りが時間T1+T2だけ遅れて出力
される。このようにして、CMOSインバータ9
の出力信号Bの出力状態に応じて、接触面積に略
比例した値として出力される接触容量成分Cyの
大きさを知ることができるものである。 第4図は、4×4のマトリクス状に配設された
前記タツチ電極3に設定されているXY座標系を
説明するものである。而して、このXY座標系は
更に、図示するように、外周部に位置する12個の
タツチ電極3(記号S/0,S/1,S/2,S/3,
S/
4,S/7,S/8,S/B,S/C,S/D,S/E
,S/F
で夫々示すもの)の各中心位置を結ぶ座標面内に
おいて16×16=256点の座標位置を設定されてい
る。そしてそのXY座標位置は点(0,0)〜
(15,15)により、表現される。 次に第5図、第6図を参照して、第4図のよう
に形成されているXY座標系上の256個の座標位
置を入力する原理を説明する。即ち、本発明の場
合、既に述べたように、前記信号Bの立上りの遅
れが前記接触容量成分Cyに比例、即ち、接触面
積に比例することから、前記信号Bの遅れ量を後
述するカウンタによつて検出し、そしてその検出
値を演算処理することによつて、現在、人体が接
触している領域の中心座標位置を求めるものであ
る。而して、第5図aはいま、人の指が記号A,
B,C,D,E等で示す複数のタツチ電極3に同
時に接触している状態を示している。またこのと
き、前記カウンタは、各タツチ電極3に対するカ
ウント動作を実行し、その結果、各タツチ電極3
の接触面積に比例したカウント値が夫々検出され
ている。そして、後述する制御部では先ず、これ
らカウント値のなかからその値が最大のタツチ電
極3を求め、(図示の例では信号Bで示すタツチ
電極3)、次に、カウント値が最大のタツチ電極
3を中心にしてその上方、下方、右方、左方の各
タツチ電極3(第5図bに示すように、記号D,
E,A,Cで示すタツチ電極3)を選択し、それ
らの各カウント値を用いて斜線で示す現在の接触
領域の中心座標位置が、カウント値が最大のタツ
チ電極3(記号Bで示すタツチ電極3)の中心座
標位置からどの方向にどれだけずれているかを算
出し、前記現在の接触領域の中心位置の座標を求
める。この場合、 前記カウント値が最大のタツチ電極3の番号
をKm、 Kmのカウント値をB、 Kmの上方のタツチ電極3のカウント値を
D、 Kmの下方のタツチ電極3のカウント値を
E、 Kmの左方のタツチ電極3のカウント値を
A、 Kmの右方のタツチ電極3のカウント値を
C、 とすると、)〜)の5つのカウント値から前
記中心位置の座標がX軸、Y軸につき実行される
演算によつて求められる。即ち、第6図は演算の
アルゴリズムを図示したもので、横軸はタツチ電
極3の中心位置(即ち、点a,b,cは夫々、記
号A,B,Cで示すタツチ電極3の各中心位置を
示している)を示し、縦軸に前記カウント値を示
している。また図中、点Sは前記現在の接触領域
の中心位置を示し、そのカウント値をSとし、而
して点Sの座標位置が二等辺三角形の合同により
求められる。 第6図において、直線bcと直線b′c′との交点を
P1とし、また直線ab上の点aの左側に、Lc′P
1C=La′P2aとなる点P2をとる。更に、直
線P2a′と直線b′c′との交点を点S′とし、またこ
の点S′から直線abに降した垂線との交点を前記
点Sとする。而して △SS′P1≡△SS′P2 の関係から、次式(1)が求められ、その結果、式(2)
が得られる。なお、タツチ電極3のピツチ(即
ち、例えば点aと点b間の距離)をlxとし、ま
た、点Sと点b間の距離をdxとする。 B−C/lx=S−C/lx+bx=S−A/lx−dx……(1
) dx=lx/2・A−C/B−C (2) y軸方向についても全く同様であり、式(3)が得
られる。即ち、 dy=ly/2・D−E/B−E (3) 茲で、第4図の前記XY座標に式(2)、(3)を適用
すると、次のようになる。即ち、このXY座標
は、点(0,0)〜点(15,15)から成るから、 lx=ly=5 (4) となる。 また、16個のタツチ電極3の番号を夫々(5x,
5y)により表わすとすると、x,yのとる値は
0,1,2,3の何れかである。いまKm=
(5xm,5ym)とすると、その座標位置(X,Y)
は (X,Y)=(5xm+5/2・A−C/B−C、 5ym+5/2・D−E/B−E) ……(5) となる。 但し、Kmが端の電極であり、隣接するタツチ
電極3がない場合、即ちxm=0、xm=3、ym
=0、ym=3のときには夫々、前記カウント値
C,A,E,Dを夫々「0」に設定する。 以上のようにして、第4図のXY座標系におい
ては、現在の接触領域の中心座標位置が、式(5)を
演算することによつて求められることになる。 次に第7図および第8図を参照して回路構成を
説明する。制御部11は、この電子腕時計のすべ
ての動作を制御するマイクロプログラムを記憶
し、マイクロ命令AD,DA,0P,NAを並列的
に出力する。而してマイクロ命令ADは,ROM
(リードオンリメモリ)12およびRAM(ランダ
ムアクセスメモリ)13に夫々アドレスデータと
して印加される。またマイクロ命令DAは、前記
RAM13または演算部14に対しデータとして
印加される。更にマイクロ命名OPは、オペレー
シヨンデコーダ15に印加され、その結果、該オ
ペレーシヨンデコータ15は各種制御信号CS1,
CS2,R/W,X,Y,Zを出力する。また、マ
イクロ命令NAはアドレス部16に印加され、而
してアドレス部16ではマイクロ命令NAと後述
する信号d,e,16Hzとから次の処理を実行する
マイクロ命令AD,DA,OP,NAを読出すため
のアドレスデータを出力し、制御部11へ印加す
る。 ROM12には、数字およびアルフアベツトの
各文字パターンに対する標準ベクトル列(後述)
がデータとして記憶されており、制御信号CS1の
印加時に前記データが読出されて演算部14へ与
えられる。 RAM13は、第9図に示すような各種レジス
タを有しており、演算部14が行なう計時処理、
タイマ処理、文字認識処理等の各種処理時に利用
される。而してTレジスタは現在時刻記憶用、A
レジスタは、アラーム時刻記憶用、TMレジスタ
は、タイマ時刻記憶用であり、また、その他のレ
ジスタについては後述する。更にRAM13の他
のエリアには、前記式(5)の演算によつて算出した
座標位置(X,Y)のデータを記憶するエリア
M1〜M4が第10図に示すように設けられてい
る。即ち、エリアM1,M2,M3,M4は夫々、タ
ツチ電極3から入力された文字パターンデータの
1ストローク目、2ストローク目、3ストローク
目、4ストローク目の各座標位置データ(X,
Y)が夫々、最大20づつ書込める。そして演算部
14における前記文字認識処理時においては、
RAM14の各エリアM1〜M4に、このようにし
て書込まれたデータから、先ず、各ストロークの
全長(ストローク長)が算出され、次いで各スト
ローク長を6等分して分割した各部のベクトルを
判断してベクトル列を得、更にこのベクトル列を
前記ROM12内の各文字パターンに対する標準
ベクトル列と比較し、而して最も類似した標準ベ
クトル列の文字パターンを入力された文字パター
ンデータとする処理が実行される。なお、RAM
13は、制御信号CS2、R/Wによつてデータの
読出し、書込みが行なわれる。 茲で、前記ストローク、ベクトルにつき説明す
る。第18図はストローク数が1の数字「2」を
タツチ電極3から入力した状態を示すもので、第
18図Aに示すように、文字パターンデータ
「2」を入力すると、その座標位置データが上述
したようにしてRAM13の、この場合は1スト
ローク目であるから、エリアM1に書込まれる。
そして第18図Bに示すように、1ストローク目
のストローク長の算出後、6等分される。そして
第18図Cに示すように、各等分点が始点側から
終点側に向けて直線近似され、第19図のベクト
ル(0〜7の8種類)にしたがつて、各部のベク
トルが判断され、ベクトル列が算出される。 第20図、第21図、第22図、第23図は
夫々、ストローク数が1,2,3,4の各文字パ
ターンに対する標準ベクトル列を示し、前記
ROM12に記憶されている。 第7図にもどつて、演算部14は、制御信号X
の制御下に上述した各種演算を実行し、その結果
データをRAM13、ドツト表示部4、入力部1
7に与える。また、ジヤツジ演算を実行した際に
は、演算結果データ有りを示す信号d、キヤリー
発生を示す信号cを夫々出力し、アドレス部16
に供給し、次アドレスを出力させる。 ドツト表示部4は、制御信号Yの制御下に、ア
ラーム時刻になると予め記憶設定されているメツ
セージを一定時間表示したりする。また、入力部
17は、前記タツチ電極3等から成り、制御信号
Zの制御下に、前記カウント値を入力データとし
て出力し、RAM13、演算部14に与えて処理
させる。 発振回路18は、例えば32.768KHzの基準周波
数信号を常時発振し分周回路19に与える。そし
て、分周回路19からは、16Hzまで分周された信
号16Hzが出力し、アドレス部16へ与えられる。
これに応じて1/16秒ごとに1回づつ計時処理フロ
ーが実行される。 次に、第8図により前記入力部17の構成を具
体的に説明する。デコーダ21には、文字認識処
理の実行時に、制御部11が出力する4ビツトの
データaが印加される。このデータaは、第1図
において番号S0〜SFを付しておいた16個のタツ
チ電極T1〜TFを順次時分割的に指定し、各タ
ツチ電極から対応する信号B(第3図参照)を順
次出力させるためのものである。即ち、前記デー
タaはデコーダ21により、デコードされて順次
高電位VDDレベルの信号として出力される信号
“1”〜“16”に変換され、夫々対応するトラン
スミツシヨンゲートG1〜G16のゲートに供給
される。また、トランスミツシヨンゲートG1〜
G16の入力側は対応するタツチ電極T1〜TF
の出力端子に夫々接続され、更に、トランスミツ
シヨングートG1〜G16の出力側は共に、第2
図で説明したCMOSインバータ8,9に夫々接
続されている。そしてタイミング信号発生回路2
2が出力する矩形波信号c(この矩形波信号cは
第2図において説明した矩形波信号Aと同一目的
の信号である)がCMOSインバータ8およびア
ンドゲート23に夫々、ゲート制御信号として印
加されている。また、タイミング信号発生回路2
2は、タウンタ25に実際のカウント動作を行な
わせるための高周波の信号dを出力して、アンド
ゲート23に印加する。更に、インバータ9の出
力信号(前記信号B)は、インバータ24により
反転された信号eとしてアンドゲート23に供給
される。この結果、アンドゲート23からは前記
信号dに同期した信号fが出力して、カウンタ2
5のクロツク入力端子CKに印加され、カウント
される。そして、そのカウント値Xは、前記
RAM13、演算部14に送出される。而してこ
のカウント値Xは、既に述べたように、タツチ電
極T1〜TFの接触容量成分Cyの大きさに比例し
たものとなつている。なお、カウンタ25のクリ
ア入力端子CLには、各タツチ電極T1〜TFが時
分割的に順次指定されるその指定終了時に、タイ
ミング信号発生回路22が出力する信号bによつ
て、クリアされ、次のタツチ電極のカウント動作
に備えられる。また、一端が高電位VDDレベルに
接続され、且つ他端が抵抗26を介し低電位Vss
レベルに接続されているACスイツチの出力がト
ランステートバツフア27を介し、制御部11へ
AC信号として送出されている。これは、タツチ
電極T1〜TFの浮遊容量成分Cxは環境の条件に
よつて大きく変化するために、メツセージを入力
する際などには、予め前記ACスイツチをオンし、
これに応じて制御部11が前記データaを出力し
てタツチ電極T1〜TFを少なくとも1回、一通
りスキヤンして各浮遊容量成分Cxに対するカウ
ント値を得、RAM13に、記憶しておために設
けられている。 次に、第12図ないし第17図のフローチヤー
トを参照して動作を具体的に説明する。先ず、第
12図のジエネラルフローを参照して全体動作の
概要を説明する。このジエネラルフローは、第7
図の分周回路19から信号16Hzが出力するたび
に、即ち、1/16秒ごとに実行開始される。そして
先ず、ステツプS1の計時処理が実行され、演算
部14は、RAM13のTレジスタ内のそれ以前
のデータに対し、所定の演算を行なつて、現在時
刻データを算出する。そして、この現在時刻デー
タは、ドツト表示部4に送出されて表示される。 次に、ステツプS2のタイマ処理が実行される。
このタイマ処理は、後述するフローにおいて一定
時間、何らかの処理を行なう必要があり、TMレ
ジスタに一定時間がプリセツトされている場合
に、この処理の実行ごとに、所定時間が減算され
てゆく。 次にメツセージ設定モードであるか否かの判断
処理がステツプS3において実行される。而して
この判断処理は、メツセージ設定のためのモード
スイツチ(図示略)がオンされたか否かによつて
そのメツセージ設定モードが設定されたか否かを
判断し、「YES」であれば、ステツプS8に進行し
て文字認識処理ルーチンの方向へゆき、他方、
「ON」であれば、ステツプS4の判断処理に進む。
この判断処理は、ALレジスタに予め設定されて
いるアラーム時刻に達したか否かが判断され、
「YES」であれば、ステツプS5に進行し、前記メ
ツセージデータがRAMから読出されて表示さ
れ、また一定時間表示されると、そのことがステ
ツプS6により判断され、ステツプS7によりメツ
セージは表示を消去される。他方、ステツプS4,
S6において何れも「NO」と判断されたときに
は、このジエネラルフローの処理は終了し、他の
処理(図示略)が開始される。 また、ステツプS3においてメツセージ設定モ
ードの設定が判断されてステツプS8に進行した
場合、このステツプS8では、RAM13内のフラ
グFAが「0」か否かが判断される。而して、文
字認識処理を実行していない通常は「0」にセツ
トされており、したがつて、次にステツプS9に
進行し、フラグFAにデータ「1」がセツトされ、
文字認識処理実行中であることが記憶される。そ
して後述するフローにしたがつて入力部4のタツ
チスイツチT1〜TFから座標入力される文字パ
ターンの認識処理が実行され(ステツプS10)、
そして入力されたメツセージデータが、RAM1
3に記憶され(ステツプS11)、更にドツト表示
部4に表示確認され(ステツプS12)のち、フラ
グFAがクリアされて文字認識処理実行状態が解
除される。なお、ステツプS8において、フラグ
FAが「0」でなかつたときには、それ以前に実
行中の処理に復帰する。 第13図は前記ステツプS10における文字認識
処理の具体的内容を示すフローチヤートである。
即ち、文字認識処理ステツプに入ると、先ず、ス
テツプSAのイニシヤライズ処理が実行される。
このイニシヤライズ処理は、第14図にその具体
的な内容が示してある。先ず、ステツプSA、に
おいてRAM13内のフラグF1,F2に共にデ
ータ「1」がセツトされ、またRAM13内のス
トローク数カウンタZおよびカウンタnが共にク
リアされる。次に、ステツプSA2に進行し、AC
スイツチがONされたか否かが判断され、ONさ
れていなければ、他の処理ルーチンに進み、ま
た、ONされた場合にはステツプSEのデータ入力
処理に入る。而して、このデータ入力処理の内容
は、第15図のフローチヤートに示す2ステツプ
処理から成り、即ち、ACスイツチのONに伴つ
て制御部11は、第8図のデコーダ21に対しデ
ータn、即ち、タツチ電極T1〜TFを順次時分
割的に指定するための前記データaを出力しはじ
める。この場合、データa(データn)は「1」
づつインクリメントされてゆくので、データa
(データn)の内容は、第11図のタイムチヤー
トに示すように、タツチ電極T1に設定されてい
る番号S0〜SFと夫々対応したものに変化する。
そして先ず、タツチ電極T1においてACスイツ
チON後、まだ人体がタツチ電極T1に触れない
ときの浮遊容量成分Cxがカウンタ25のカウン
ト値Xとして求められる。即ち、デコーダ21か
ら高電位VDDの信号“1”が出力してトランスミ
ツシヨンゲートG1に印加され開成される。この
ため、タツチ電極T1のそのときの浮遊容量成分
Cxの大きさに応じて、矩形波信号Cの立上りか
ら遅れて立下る信号eがタツチ電極T1の出力と
してインバータ24から出力し、アンドゲート2
3に入力する。この結果、第11図にみられるよ
うに、矩形波信号Cと信号eが共に、高電位VDD
レベルの間だけアンドゲート23が開成されて信
号dに同期した信号fが出力し、カウンタ25の
クロツク入力端子CKに印加されて計数され、カ
ウント値Xとされる(ステツプSE2)。次にステ
ツプSA3に進行し、タツチ電極T1の前記カウン
ト値X1(いま、データnが「1」であるからX1
と記す)に一定値ξを加算した結果データが、
RAM13のYnレジスタ(n=S1の第9図に示
すレジスタ)に書込まれる。この処理は、浮遊容
量成分Cxのふらつき、カウンタ35の係数誤差
等を考慮し、ξ=2〜3に設定しておいて、浮遊
容量成分をやや大きめの値としておくために実行
される。 次に、ステツプSA4にゆき、データnがSFか
否か、つまり、タツチ電極T1〜TFまで一通り、
各浮遊容量成分Cxを検出したか否かが判断され
たのち、ステツプSA5に進み、データnが+1さ
れて「2」となり、タツチ電極T2の浮遊容量成
分Cxの検出を開始する。而して以後の処理はタ
ツチ電極T1のときと全く同様であり、ステツプ
SE、SA3〜SA5が更に15回繰返され、この結果、
RAM13内のXS1〜XSFレジスタには夫々、
ACスイツチON後、まだ人体がタツチ電極T1
〜TFに触れないときの各浮遊容量成分Cxが記憶
され、また対応するYS1〜YSFレジスタには、
一定値ξを加算した前記浮遊容量成分Cxの補正
値が、記憶される。 前記イニシヤライズ処理SAが終了すると、次
もステツプSBのタツチ処理に進行する。而して
このタツチ処理の詳細は、第16図のフローチヤ
ートに示している。先ず、ステツプSB1では、
RAM13内のMレジスタがクリアされ、また、
カウンタnがリセツトされる。次に、前記ステツ
プSEのデータ入力処理が同様に実行されるが、
この場合は、タツチ電極T1〜TFの前記XY座
標上を指などの人体で触れて、例えば第18図に
示すように、数字「2」の文字パターンを入力し
たときの各タツチ電極T1〜TFの浮遊容量成分
Cx、接触容量成分Cyの合成容量にもとづくカウ
ント値Xが検出される。そして、このときの第8
図の動作は、前述したことと同じであるから説明
を省略するが、先ず、タツチ電極T1のカウント
値X1(n=1のとき)が検出されると、ステツプ
SB2に進行し、X1〜Y1の演算が実行される。即
ち、浮遊容量成分Cxと接触容量成分Cyの合成容
量にもとづくカウント値X1から浮遊容量成分Cx
にもとづくカウント値Y1(いま、補正値として
Y1レジスタ、即ち、YS1レジスタに保持されて
いる)を減算した結果データ、換言すれば、接触
容量成分Cyのみにもとづくカウント値が算出さ
れて、第9図のT1レジスタ(TS1〜TSFで示
す)に書込まれる。 次にステツプSB3では、T1レジスタのデータ
がMレジスタのデータ(いま「0」)より大か否
かの判断処理が実行され、大であるからステツプ
SB4に進行し、T1レジスタ内のデータがMレジ
スタに転送保持され、またカウンタnのデータ
(いまn=1)がmレジスタに転送保持される。
而して、このステツプSB3,SB4の各処理は順次
検出されるタツチ電極T1〜TFの接触容量成分
Cyのみにもとづくカウント値のうち、最大のも
のを求める処理であり、即ち、前記接触容量成分
Cyが最大のタツチ電極を検出するためのもので
ある。 次にステツプSB5では、タツチ電極T1〜TF
が一通り検出されたか否かが判断され、カウンタ
nは+1されてタツチ電極T2の検出が開始され
る。そして以後、ステツプSE,SB2〜SB6が更
に15回繰返され、タツチ電極T1〜TFに対する
一通りのタツチ処理が完了する。而してこの間
に、ステツプSB3,SB4の実行により、今回のタ
ツチ処理の結果検出された、接触容量成分Cyが
最大のタツチ電極の番号がmレジスタに記憶され
ていると共に、その最大の接触容量成分Cyに対
するカウント値がMレジスタに記憶されているこ
とになる。 前記タツチ処理が終了すると、ステツプSC1に
進行し、Mレジスタのデータが「0」より大か否
かが判断される。即ち、人体が何れかのタツチ電
極T1〜TFに既に触れたか否かの判断処理であ
り、文字パターンが入力されて人体が触れていれ
ば既に述べたように、Mレジスタのデータは、
「0」なり大であり、したがつて、ステツプSC2
に進行する。そしてステツプSC2では、フラグF
1が「1」か否かが判断され、而して「1」とな
つているからステツプSC3に進行し、前記TMレ
ジスタに一定時間がプリセツトされ、タイマがス
タートされる。これはTMレジスタに設定された
一定時間内に入力された文字パターンを一文字と
するための処理である。次にステツプSC4に進行
し、フラグF1がクリアされる。そしてステツプ
SC5に進行し、フラグF2が「1」か否かが判断
され、いま「1」であるため、ステツプSC6に進
行してストローク数カウンタZが+1されて
「1」となり、第1ストローク目を示す内容とな
る。次にステツプSC7によりフラグF2がクリア
され、次いでステツプSDのキーイン処理に入る。
而してこのキーイン処理は、第17図のフローチ
ヤートに、その詳細を示している。 このキーイン処理では、先ず、ステツプSD1の
処理により、前記mレジスタに記憶保持されてい
る接触容量成分Cyが最大のタツチ電極の番号
(S0〜SF)が座標(xm,ym)に変換される。
而してこの座標は、第4図のXY座標系におい
て、xm=0、1、2、3、ym=0、1、2、3
の各整数値で表現されるものであり、例えば、S
0のタツチ電極T1の座標は(3,3)である。
なお、この座標(xm,ym)は、RAM13内の
xmレジスタ、ymレジスタに夫々記憶される。 次にステツプSD2に進行し、xmが「0」か否
か、即ち、第4図において、右端の番号がS3,
S7,SB,SFのタツチ電極T3,T7,TB,
TFか否かが判断され、そうであれば式(5)にもと
づいて座標を求めるに際しての補正処理がステツ
プSD3において行われる。即ち、RAM13内の
Cレジスタがクリアされ(即ち、右方のタツチ電
極の接触容量成分は「0」である)、またAレジ
スタには番号が夫々S2,S6,SA,SE,のタ
ツチ電極T2,T6,TA,TEに対して求めら
れているTS1〜TSFレジスタ内の各データが転
送される。 他方、ステツプSD2においてXmのデータが
「0」でないときには、ステツプSD4に進行し、
更に、Xmが「3」か否か、即ち、第4図におい
て左端の、番号がS0,S4,S8,SCのタツ
チ電極T0,T4,T8,Tcか否かが判断され、
そうであれば式(5)の補正のために、Aレジスタが
クリアされ、(即ち、左方のタツチ電極の接触容
量成分は「0」である)、また、Cレジスタには、
番号がS1,S5,S9,SDのタツチ電極T1,
T5,T9,TDに対して求められているTS1
〜TSFレジスタ内のデータが転送される。 更にXmのデータが「3」でないときには、今
回検出された接触容量成分Cyが最大のタツチ電
極は真中の、番号がS5,S6,S9,SAのタ
ツチ電極T5,T6,T9,TAの何れか1つで
あり、したがつてその場合には、ステツプSD6の
処理によりAレジスタには、番号がS4,S5,
S8,S9のタツチ電極T4,T5,T8,T9
に対し求められているTS1〜TSFレジスタ内の
データが転送され、また、Cレジスタには、番号
S6,S7,SA,SBのタツチ電極T6,T7,
TA,TBに対し求められているTS1〜TSFレジ
スタ内のデータが転送される。 以上は、前記式(5)によつて現在の接触領域の中
心座標を求めるに際してX軸方向の補正を行なう
処理であるが、次のにステツプSD7〜SD11の各
ステツプの処理はY軸方向の補正を行なう処理で
ある。そして、ステツプSD7,SD8,SD9,
SD10,SD11は夫々、前記ステツプSD2,SD3,
SD4,SD5,SD6と夫々対応しており、自明であ
るからその詳細説明は省略する。 以上の各処理が終了すると、ステツプSD12の
式(5)の演算処理が実行され、現在の接触領域の中
心座標(xs,xs)が求められてRAM13内のxs
レジスタ、ysレジスタに夫々一時記憶される。こ
の場合、いま、最大接触容量成分のデータは、M
レジスタに格納されているため、前記ステツプ
SD12では、データBの替りに、データMと記載
している。また、データSは0〜19の値をとる
(第10図のRAM13参照)。 このようにして、前記中心座標(xs,ys)が
求められると、次にステツプSD13に進行し、今
回の座標(xs,ys)が前回の座標(xs−1、ys
−1)と一致するか否か、即ち、指が1個所に停
つて中心座標が変化していないかどうかが判断さ
れ、変化していれば、ステツプSD14に進行し、
第10図に示すRAM13の1ストローク目のエ
リアM1の0番地に前記座標(xs,ys)が記憶さ
れる。そしてRAM13内のSレジスタが+1さ
れて「1」となる。他方、ステツプSD13におい
て、中心座標が変化していないことが判断される
と、直ちにステツプSBのタツチ処理に復帰する。 以上で、入力された文字パターンデータの1ス
トローク目の1番地の中心座標が求められたこと
になり、而してタツチ電極T1〜TFから指が離
れるまで、ステツプSB、SC1〜SC7、SDの処理
が繰返され、この間に前記データSは、2〜19ま
で1づつ変化し、最大19個の中心座標(xs,ys)
が前記エリアM1の1〜19番地に書込まれる。ま
た、2ストロークの文字(例えば「4」)、3スト
ロークの文字(例えば「F」)、4ストロークの文
字(例えば「E」)の2ストローク目、3ストロ
ーク目、4ストローク目についても、各文字が前
記TMレジスタに設定されたタイマ時間内に入力
された場合には同様に、RAM13内のエリア
M2,M3,M4の0〜20番地に夫々最大20の中心
座標(xs,ys)が書込まれる。 一方、前記ステツプSAのイニシヤライズ処理
実行後、ステツプSBのタツチ処理が実行された
が、次のステツプSC1で、まだ人体がタツチ電極
T1〜TFに触れていないために、M>0でない
ことが判別された場合、ステツプSC8に進行し、
フラグF1が「1」か否かが判断される。而して
既にイニシヤライズ処理で「1」に設定されてい
るため、ステツプSBのタツチ処理に復帰する。
そして、人体が触れるまで、ステツプSB,SC1,
SC8,SB,……が繰返される。 また、ステツプSC8でフラグF1が万一、「1」
でないときには、ステツプSC9に進行し、フラグ
F2が「0」か否かが判断される。而して「0」
でなければ、ステツプSC11にジヤンプし、他方、
「0」であればステツプSC10によりフラグF2を
「1」に設定したのち、ステツプSC11に進む。ス
テツプSC11では、前記タイマ時間が経過したか
否かが判断され、経過していなければ、ステツプ
SC12に進む。 前記タイマ時間内に文字パターンが入力された
のち、ステツプSC12に進行した場合、このステ
ツプSC12ではフラグF1が「1」にされる。そ
して、ステツプSC13に進行するが、例えばいま、
第18図に示すように、全体が1ストロークの数
字「2」を入力したことにすると、その1ストロ
ーク分の中心座標(xs,ys)が最大20、RAM1
3のエリアM1に既に記憶されている。このため、
ステツプSC13では各中心座標(xs,ys)を追
跡して1ストローク目の長さ、即ち、ストローク
長が算出される。そしてステツプSC14では、算
出されたストローク長を、第18図Bに示すよう
に、6等分に分割して分割点の座標を決定する。
次にステツプSC15では第18図Cに示すように、
始点と分割点、分割点と分割点、分割点と終点と
を結んで、第19図のベクトル図にしたがい、6
つの分割部の各ベルトを決定し、ベクトル列を得
る。而して第18図Cの列で得られるベクトル列
は、「175570」である。 次にステツプSC16では、前記ベクトル列を
ROM12内の標準ベクトル列と比較する。この
場合、1ストロークの文字であるから第20図の
各文字の標準ベクトルに対し、各成分の方向差を
夫々求めたのち、その方向差の和を求める。即
ち、標準ベクトル列の成分を「a1a2a3a4a5a6」、
検出されたベクトル列の成分を「b1b2b3b4b5b6」
とすると、まず各成分の差(a1−b1)、(a2−b2)
……(a6−b6)を求める。この結果として−7
〜+7の値が求められるが、−4〜+4の場合は、
その絶対値を方向差とし、−7〜−5の場合は1
〜3に変換した値を、+5〜+7の場合は3〜1
に変換した値を方向差として、これら6個の方向
差の和を求める。 例えば、第20図の標準ベクトルのうち、文字
「0」の標準ベクトル列「467012」を例にすると、
前記ベクトル列「175570」との間で、4−1=
3、6−7=−1、7−5=2、0−5=−5、
1−7=−6、2−0=2の各演算後、方向差
3、1、2、3、2、2を求め、3+1+2+3
+2+2=13の方向差の和が求められる。而して
他の文字「0」、「1」、「2」、……についても同
様である。そしてステツプSC17では、上述のよ
うにして求められた方向差の和のなかからその値
が最小のものが抽出されて、その文字が入力され
た文字として判別される。次いでステツプSC18
では、ステツプSC17で複数の文字が類似文字と
して出力されたか否かが判別され、若しも複数の
文字が出力されたときには、更にステツプSC19
に進行し、入力文字につき詳細な特性が確認判別
される。この場合、入力文字が類似文字と判別さ
れる例は、例えば、第24図に示すように、文字
「P」と「D」、「I」と「F」、……であるが、例
えば「P」と「D」の場合、1ストローク目と2
ストローク目との終点間の距離の大小関係等を比
較してその判別が行われる。この結果、複数の類
似文字の中から1つの文字が抽出され、(ステツ
プSC20)、入力された文字パターンとして、その
文字がドツト表示部4に表示され、またメツセー
ジデータとしてRAM13に記憶される。 他方、ステツプSC18で差の和の最小の文字が
1つであつたときには、直ちにその文字が入力文
字とされる。また、前記ステツプSC13〜SC17の
各処理は全体のストローク数が2,3,4のもの
においては、第2ストローク目、第3ストローク
目、第4ストローク目についても、第1ストロー
ク目の処理同様な処理が実行されることは勿論で
ある。 猶、前記実施例では4×4のマトリクス状に
XY座標系に沿つて配列した16個のタツチ電極を
用いたが、タツチ電極の数は16に限らず、任意で
ある。またXY座標系は16×16のマトリクス状に
配列した256個の点により構成したが、このXY
座標系の規模も前記実施例に限定されるものでは
ない。更に、前記実施例では入力する文字のスト
ローク数を最大4までの数字、アルフアベツトと
したが、このストローク数は任意であり、また文
字の種類もカタカナ、ヒラガナ、漢字、記号、更
には任意の図形であつてもよい。またストローク
長を6等分したが、この分割数も6に限らず任意
である。更に電子腕時計に限らず、他の電子機器
に対してもこの発明を適用可能である。 〔発明の効果〕 この発明は、以上説明したように、XY座標系
上に複数のタツチ電極をマトリクス状に配設し、
文字パターンの入力に際して指などの人体が前記
複数のタツチ電極に接触した際の各タツチ電極の
接触容量成分を検出し、而して検出した接触容量
成分の値が最大であるタツチ電極の接触容量成分
と隣接するタツチ電極の接触容量成分とから、人
体接触座標位置を検出し記憶するようにした座標
入力装置を提供したから、小型の電子機器、例え
ば電子腕時計のようなものにおいても文字、図形
等の文字パターン座標入力が容易に且つ高精度に
行なえ、種々の応用が行えるようになる利点があ
る。
座標位置を入力する座標入力装置に関する。 〔従来技術〕 従来、文字、図形などを入力してそれを認識す
る入力装置として、種々のものが提案されてい
る。例えば、タブレツト上にX軸およびY軸方向
にマトリクス上に配列した検知線によつて、前記
タブレツトにペン型治具によつて描かれる文字、
図形の座標位置を検出し、それをパルス信号に変
換する入力装置、また、CRT表示装置にライト
ペンで入力する装置、あるいはまた、押し釦をマ
トリクス状に配列しておき、文字、図形に沿つた
状態で、必要な押し釦をオンする装置などがあ
る。 〔従来技術の問題点〕 腕時計などの小型電子機器に上述した従来の入
力装置の原理を適用して文字、図形を入力する場
合、従来の入力装置には夫々、次のような問題点
がある。即ち、タブレツトとペン型治具を用いた
入力装置では、特別な治具が必要となり、また装
置が複雑なため、小型の電子機器であるから、そ
の表面積が小さいため、例えば、腕時計の場合に
は、時刻表示部と文字、図形の入力部とを重合さ
せる必要があるが、そのためには、前記タブレツ
トは透明でなければあらないが、透明なタブレツ
トは、製作が困難である点もある。また、押し釦
を用いた入力装置では、座標位置の検出精度が押
し釦の数によつて決定されるため、精度向上のた
めには、その封を増やさねばならぬから、小型の
電子機器には不適である点、また機械的なスイツ
チであるから耐久性に乏しい点、透明化できない
点等の問題点がある。 〔発明の目的〕 タツチ電極を用いることにより、小型の電子機
器においても、文字、図形等の文字パターンの座
標位置が高精度で入力できるようにした座標入力
装置を提供することである。 〔発明の要点〕 XY座標系上に複数のタツチ電極をマトリクス
状に配設し、文字パターンの入力に際して指など
の人体が前記複数のタツチ電極に接触した際に、
各タツチ電極の接触容量成分を検出し、而して検
出した接触容量成分の値が最大であるタツチ電極
の容量成分と隣接するタツチ電極の容量成分とか
ら人体接触座標位置を検出し記憶するようにした
座標入力装置である。 〔実施例〕 以下、図面を参照してこの発明を、アラーム時
刻になると予メ設定されているメツセージを表示
する機能を有する電子腕時計に適用した一実施例
を説明する。第1図は、電子腕時計の外観図であ
る。時計ケース1の上面には、透明な表面ガラス
2が固定されており、而してその表面ガラス2の
上面には更に、後述するXY座標系に沿つて4×
4のマトリクス状に合計16枚の透明なタツチ電極
3が一定間隔で配設されていると共に、タツチ電
極3の上方には、また、液晶表示装置から成るド
ツト表示部4が配設されている。また、時計ケー
ス1内には、計時回路、液晶駆動回路、文字パタ
ーン処理回路などの電子回路部品のほかに、電池
などが配設されている。なお、説明の便宜上、前
記16個のタツチ電極に、図示の如き16進表現によ
る番号S/0〜S/Fを付しておく。 第2図におよび第3図は、前記タツチ電極3の
スイツチング特性の原理図である。第2図におい
て、前記時計ケース1は、金属製であり、同様に
金属製の裏蓋(図示略)を介して腕に装着され
る。そして時計ケース1には、電源電圧の高電位
VDD(論理値“1”)側に接続されており、一方
のタツチ電極として併用されている。このため、
腕時計を腕に装着している状態において、タツチ
電極3に人体が触れることによつて該タツチ電極
3をON動作させることができるようになつてい
る。また符号Cxは浮遊容量成分であり、これは、
タツチ電極3の配線によつて生ずる電極配線容量
および本実施例に使用されているCMOSICのゲ
ートの入力インピーダンスが高いために生ずるゲ
ート容量等によるものである。また符号Cyは、
タツチ電極3に触れたとき、時計ケース1とタツ
チ電極3間に生ずる人体の接触容量成分である。
したがつて、前記浮遊容量成分Cxは常に存在し
ているものであるが、接触成分Cyは人為的に生
ずるものである。 また、符号Aは所定周期(例えば64Hz)の矩形
波信号であり、この矩形波信号Aは抵抗5、Nチ
ヤンネルMOSトランジスタ6およびPチヤンネ
ルMOSトランジスタ7から成るCMOSインバー
タ8の各ゲートに入力されている。トランジスタ
6のソース側には、電源電圧の低電位Vss(論理
値“0”)が供給されており、またトランジスタ
7のソース側には、時計ケース1を介して高電位
VDDが供給されている。そして、CMOSインバー
タ8の出力信号は、タツチ電極3に入力するほ
か、COMSインバータ9を介し、信号Bとして
出力する。即ち、前記信号Bは、タツチ電極3に
人体が接触しているか否か、つまりタツチの有無
の判定に供される被判定信号である。 而して、タツチ電極3に人体が触れていない状
態において、第3図1に示すように、矩形波信号
Aが高電位レベルになつてCMOSインバータ8
に入力されると、該COMSインバータ9の出力
信号は低電位レベルとなり、したがつて、インバ
ータ9の出力信号は高電位レベルとなる。このと
き、CMOSインバータ8の出力信号は、浮遊容
量成分Cxの影響を受けるので、インバータ9の
出力信号は、第3図2に示すように、その立上り
が矩形波信号Aに対して、時間T0だけ遅れる。 次に、タツチ電極3に人体が触れた場合には、
タツチ電極3と時計ケース1との間に接触容量成
分Cyが形成され、そして、この接触容量成分Cy
は浮遊容量成分Cxに対して、並列接続された状
態となるので、インバータ9の出力信号Bは、矩
形波信号Aに対して浮遊容量成分Cxと接触容量
成分Cyとの合成容量に対応するだけ遅れて出力
される。 ところで、接触容量成分Cyの大きさは、人体
とタツチ電極3との接触面積あるいは押圧力等の
接触状態によつて異なるが、略前記接触面積に比
例している。而して、接触容量成分Cyが小さい
ときのインバータ9の出力信号Bは、タツチ電極
3に人体が接触していないときの出力信号〔第3
図2参照〕と比較して、第3図3に示すように、
その立上りが時間T1だけ更に遅れて出力され
る。また、接触容量成分Cyが大きいときのイン
バータ9の出力信号Bは、第3図4に示すよう
に、その立上りが時間T1+T2だけ遅れて出力
される。このようにして、CMOSインバータ9
の出力信号Bの出力状態に応じて、接触面積に略
比例した値として出力される接触容量成分Cyの
大きさを知ることができるものである。 第4図は、4×4のマトリクス状に配設された
前記タツチ電極3に設定されているXY座標系を
説明するものである。而して、このXY座標系は
更に、図示するように、外周部に位置する12個の
タツチ電極3(記号S/0,S/1,S/2,S/3,
S/
4,S/7,S/8,S/B,S/C,S/D,S/E
,S/F
で夫々示すもの)の各中心位置を結ぶ座標面内に
おいて16×16=256点の座標位置を設定されてい
る。そしてそのXY座標位置は点(0,0)〜
(15,15)により、表現される。 次に第5図、第6図を参照して、第4図のよう
に形成されているXY座標系上の256個の座標位
置を入力する原理を説明する。即ち、本発明の場
合、既に述べたように、前記信号Bの立上りの遅
れが前記接触容量成分Cyに比例、即ち、接触面
積に比例することから、前記信号Bの遅れ量を後
述するカウンタによつて検出し、そしてその検出
値を演算処理することによつて、現在、人体が接
触している領域の中心座標位置を求めるものであ
る。而して、第5図aはいま、人の指が記号A,
B,C,D,E等で示す複数のタツチ電極3に同
時に接触している状態を示している。またこのと
き、前記カウンタは、各タツチ電極3に対するカ
ウント動作を実行し、その結果、各タツチ電極3
の接触面積に比例したカウント値が夫々検出され
ている。そして、後述する制御部では先ず、これ
らカウント値のなかからその値が最大のタツチ電
極3を求め、(図示の例では信号Bで示すタツチ
電極3)、次に、カウント値が最大のタツチ電極
3を中心にしてその上方、下方、右方、左方の各
タツチ電極3(第5図bに示すように、記号D,
E,A,Cで示すタツチ電極3)を選択し、それ
らの各カウント値を用いて斜線で示す現在の接触
領域の中心座標位置が、カウント値が最大のタツ
チ電極3(記号Bで示すタツチ電極3)の中心座
標位置からどの方向にどれだけずれているかを算
出し、前記現在の接触領域の中心位置の座標を求
める。この場合、 前記カウント値が最大のタツチ電極3の番号
をKm、 Kmのカウント値をB、 Kmの上方のタツチ電極3のカウント値を
D、 Kmの下方のタツチ電極3のカウント値を
E、 Kmの左方のタツチ電極3のカウント値を
A、 Kmの右方のタツチ電極3のカウント値を
C、 とすると、)〜)の5つのカウント値から前
記中心位置の座標がX軸、Y軸につき実行される
演算によつて求められる。即ち、第6図は演算の
アルゴリズムを図示したもので、横軸はタツチ電
極3の中心位置(即ち、点a,b,cは夫々、記
号A,B,Cで示すタツチ電極3の各中心位置を
示している)を示し、縦軸に前記カウント値を示
している。また図中、点Sは前記現在の接触領域
の中心位置を示し、そのカウント値をSとし、而
して点Sの座標位置が二等辺三角形の合同により
求められる。 第6図において、直線bcと直線b′c′との交点を
P1とし、また直線ab上の点aの左側に、Lc′P
1C=La′P2aとなる点P2をとる。更に、直
線P2a′と直線b′c′との交点を点S′とし、またこ
の点S′から直線abに降した垂線との交点を前記
点Sとする。而して △SS′P1≡△SS′P2 の関係から、次式(1)が求められ、その結果、式(2)
が得られる。なお、タツチ電極3のピツチ(即
ち、例えば点aと点b間の距離)をlxとし、ま
た、点Sと点b間の距離をdxとする。 B−C/lx=S−C/lx+bx=S−A/lx−dx……(1
) dx=lx/2・A−C/B−C (2) y軸方向についても全く同様であり、式(3)が得
られる。即ち、 dy=ly/2・D−E/B−E (3) 茲で、第4図の前記XY座標に式(2)、(3)を適用
すると、次のようになる。即ち、このXY座標
は、点(0,0)〜点(15,15)から成るから、 lx=ly=5 (4) となる。 また、16個のタツチ電極3の番号を夫々(5x,
5y)により表わすとすると、x,yのとる値は
0,1,2,3の何れかである。いまKm=
(5xm,5ym)とすると、その座標位置(X,Y)
は (X,Y)=(5xm+5/2・A−C/B−C、 5ym+5/2・D−E/B−E) ……(5) となる。 但し、Kmが端の電極であり、隣接するタツチ
電極3がない場合、即ちxm=0、xm=3、ym
=0、ym=3のときには夫々、前記カウント値
C,A,E,Dを夫々「0」に設定する。 以上のようにして、第4図のXY座標系におい
ては、現在の接触領域の中心座標位置が、式(5)を
演算することによつて求められることになる。 次に第7図および第8図を参照して回路構成を
説明する。制御部11は、この電子腕時計のすべ
ての動作を制御するマイクロプログラムを記憶
し、マイクロ命令AD,DA,0P,NAを並列的
に出力する。而してマイクロ命令ADは,ROM
(リードオンリメモリ)12およびRAM(ランダ
ムアクセスメモリ)13に夫々アドレスデータと
して印加される。またマイクロ命令DAは、前記
RAM13または演算部14に対しデータとして
印加される。更にマイクロ命名OPは、オペレー
シヨンデコーダ15に印加され、その結果、該オ
ペレーシヨンデコータ15は各種制御信号CS1,
CS2,R/W,X,Y,Zを出力する。また、マ
イクロ命令NAはアドレス部16に印加され、而
してアドレス部16ではマイクロ命令NAと後述
する信号d,e,16Hzとから次の処理を実行する
マイクロ命令AD,DA,OP,NAを読出すため
のアドレスデータを出力し、制御部11へ印加す
る。 ROM12には、数字およびアルフアベツトの
各文字パターンに対する標準ベクトル列(後述)
がデータとして記憶されており、制御信号CS1の
印加時に前記データが読出されて演算部14へ与
えられる。 RAM13は、第9図に示すような各種レジス
タを有しており、演算部14が行なう計時処理、
タイマ処理、文字認識処理等の各種処理時に利用
される。而してTレジスタは現在時刻記憶用、A
レジスタは、アラーム時刻記憶用、TMレジスタ
は、タイマ時刻記憶用であり、また、その他のレ
ジスタについては後述する。更にRAM13の他
のエリアには、前記式(5)の演算によつて算出した
座標位置(X,Y)のデータを記憶するエリア
M1〜M4が第10図に示すように設けられてい
る。即ち、エリアM1,M2,M3,M4は夫々、タ
ツチ電極3から入力された文字パターンデータの
1ストローク目、2ストローク目、3ストローク
目、4ストローク目の各座標位置データ(X,
Y)が夫々、最大20づつ書込める。そして演算部
14における前記文字認識処理時においては、
RAM14の各エリアM1〜M4に、このようにし
て書込まれたデータから、先ず、各ストロークの
全長(ストローク長)が算出され、次いで各スト
ローク長を6等分して分割した各部のベクトルを
判断してベクトル列を得、更にこのベクトル列を
前記ROM12内の各文字パターンに対する標準
ベクトル列と比較し、而して最も類似した標準ベ
クトル列の文字パターンを入力された文字パター
ンデータとする処理が実行される。なお、RAM
13は、制御信号CS2、R/Wによつてデータの
読出し、書込みが行なわれる。 茲で、前記ストローク、ベクトルにつき説明す
る。第18図はストローク数が1の数字「2」を
タツチ電極3から入力した状態を示すもので、第
18図Aに示すように、文字パターンデータ
「2」を入力すると、その座標位置データが上述
したようにしてRAM13の、この場合は1スト
ローク目であるから、エリアM1に書込まれる。
そして第18図Bに示すように、1ストローク目
のストローク長の算出後、6等分される。そして
第18図Cに示すように、各等分点が始点側から
終点側に向けて直線近似され、第19図のベクト
ル(0〜7の8種類)にしたがつて、各部のベク
トルが判断され、ベクトル列が算出される。 第20図、第21図、第22図、第23図は
夫々、ストローク数が1,2,3,4の各文字パ
ターンに対する標準ベクトル列を示し、前記
ROM12に記憶されている。 第7図にもどつて、演算部14は、制御信号X
の制御下に上述した各種演算を実行し、その結果
データをRAM13、ドツト表示部4、入力部1
7に与える。また、ジヤツジ演算を実行した際に
は、演算結果データ有りを示す信号d、キヤリー
発生を示す信号cを夫々出力し、アドレス部16
に供給し、次アドレスを出力させる。 ドツト表示部4は、制御信号Yの制御下に、ア
ラーム時刻になると予め記憶設定されているメツ
セージを一定時間表示したりする。また、入力部
17は、前記タツチ電極3等から成り、制御信号
Zの制御下に、前記カウント値を入力データとし
て出力し、RAM13、演算部14に与えて処理
させる。 発振回路18は、例えば32.768KHzの基準周波
数信号を常時発振し分周回路19に与える。そし
て、分周回路19からは、16Hzまで分周された信
号16Hzが出力し、アドレス部16へ与えられる。
これに応じて1/16秒ごとに1回づつ計時処理フロ
ーが実行される。 次に、第8図により前記入力部17の構成を具
体的に説明する。デコーダ21には、文字認識処
理の実行時に、制御部11が出力する4ビツトの
データaが印加される。このデータaは、第1図
において番号S0〜SFを付しておいた16個のタツ
チ電極T1〜TFを順次時分割的に指定し、各タ
ツチ電極から対応する信号B(第3図参照)を順
次出力させるためのものである。即ち、前記デー
タaはデコーダ21により、デコードされて順次
高電位VDDレベルの信号として出力される信号
“1”〜“16”に変換され、夫々対応するトラン
スミツシヨンゲートG1〜G16のゲートに供給
される。また、トランスミツシヨンゲートG1〜
G16の入力側は対応するタツチ電極T1〜TF
の出力端子に夫々接続され、更に、トランスミツ
シヨングートG1〜G16の出力側は共に、第2
図で説明したCMOSインバータ8,9に夫々接
続されている。そしてタイミング信号発生回路2
2が出力する矩形波信号c(この矩形波信号cは
第2図において説明した矩形波信号Aと同一目的
の信号である)がCMOSインバータ8およびア
ンドゲート23に夫々、ゲート制御信号として印
加されている。また、タイミング信号発生回路2
2は、タウンタ25に実際のカウント動作を行な
わせるための高周波の信号dを出力して、アンド
ゲート23に印加する。更に、インバータ9の出
力信号(前記信号B)は、インバータ24により
反転された信号eとしてアンドゲート23に供給
される。この結果、アンドゲート23からは前記
信号dに同期した信号fが出力して、カウンタ2
5のクロツク入力端子CKに印加され、カウント
される。そして、そのカウント値Xは、前記
RAM13、演算部14に送出される。而してこ
のカウント値Xは、既に述べたように、タツチ電
極T1〜TFの接触容量成分Cyの大きさに比例し
たものとなつている。なお、カウンタ25のクリ
ア入力端子CLには、各タツチ電極T1〜TFが時
分割的に順次指定されるその指定終了時に、タイ
ミング信号発生回路22が出力する信号bによつ
て、クリアされ、次のタツチ電極のカウント動作
に備えられる。また、一端が高電位VDDレベルに
接続され、且つ他端が抵抗26を介し低電位Vss
レベルに接続されているACスイツチの出力がト
ランステートバツフア27を介し、制御部11へ
AC信号として送出されている。これは、タツチ
電極T1〜TFの浮遊容量成分Cxは環境の条件に
よつて大きく変化するために、メツセージを入力
する際などには、予め前記ACスイツチをオンし、
これに応じて制御部11が前記データaを出力し
てタツチ電極T1〜TFを少なくとも1回、一通
りスキヤンして各浮遊容量成分Cxに対するカウ
ント値を得、RAM13に、記憶しておために設
けられている。 次に、第12図ないし第17図のフローチヤー
トを参照して動作を具体的に説明する。先ず、第
12図のジエネラルフローを参照して全体動作の
概要を説明する。このジエネラルフローは、第7
図の分周回路19から信号16Hzが出力するたび
に、即ち、1/16秒ごとに実行開始される。そして
先ず、ステツプS1の計時処理が実行され、演算
部14は、RAM13のTレジスタ内のそれ以前
のデータに対し、所定の演算を行なつて、現在時
刻データを算出する。そして、この現在時刻デー
タは、ドツト表示部4に送出されて表示される。 次に、ステツプS2のタイマ処理が実行される。
このタイマ処理は、後述するフローにおいて一定
時間、何らかの処理を行なう必要があり、TMレ
ジスタに一定時間がプリセツトされている場合
に、この処理の実行ごとに、所定時間が減算され
てゆく。 次にメツセージ設定モードであるか否かの判断
処理がステツプS3において実行される。而して
この判断処理は、メツセージ設定のためのモード
スイツチ(図示略)がオンされたか否かによつて
そのメツセージ設定モードが設定されたか否かを
判断し、「YES」であれば、ステツプS8に進行し
て文字認識処理ルーチンの方向へゆき、他方、
「ON」であれば、ステツプS4の判断処理に進む。
この判断処理は、ALレジスタに予め設定されて
いるアラーム時刻に達したか否かが判断され、
「YES」であれば、ステツプS5に進行し、前記メ
ツセージデータがRAMから読出されて表示さ
れ、また一定時間表示されると、そのことがステ
ツプS6により判断され、ステツプS7によりメツ
セージは表示を消去される。他方、ステツプS4,
S6において何れも「NO」と判断されたときに
は、このジエネラルフローの処理は終了し、他の
処理(図示略)が開始される。 また、ステツプS3においてメツセージ設定モ
ードの設定が判断されてステツプS8に進行した
場合、このステツプS8では、RAM13内のフラ
グFAが「0」か否かが判断される。而して、文
字認識処理を実行していない通常は「0」にセツ
トされており、したがつて、次にステツプS9に
進行し、フラグFAにデータ「1」がセツトされ、
文字認識処理実行中であることが記憶される。そ
して後述するフローにしたがつて入力部4のタツ
チスイツチT1〜TFから座標入力される文字パ
ターンの認識処理が実行され(ステツプS10)、
そして入力されたメツセージデータが、RAM1
3に記憶され(ステツプS11)、更にドツト表示
部4に表示確認され(ステツプS12)のち、フラ
グFAがクリアされて文字認識処理実行状態が解
除される。なお、ステツプS8において、フラグ
FAが「0」でなかつたときには、それ以前に実
行中の処理に復帰する。 第13図は前記ステツプS10における文字認識
処理の具体的内容を示すフローチヤートである。
即ち、文字認識処理ステツプに入ると、先ず、ス
テツプSAのイニシヤライズ処理が実行される。
このイニシヤライズ処理は、第14図にその具体
的な内容が示してある。先ず、ステツプSA、に
おいてRAM13内のフラグF1,F2に共にデ
ータ「1」がセツトされ、またRAM13内のス
トローク数カウンタZおよびカウンタnが共にク
リアされる。次に、ステツプSA2に進行し、AC
スイツチがONされたか否かが判断され、ONさ
れていなければ、他の処理ルーチンに進み、ま
た、ONされた場合にはステツプSEのデータ入力
処理に入る。而して、このデータ入力処理の内容
は、第15図のフローチヤートに示す2ステツプ
処理から成り、即ち、ACスイツチのONに伴つ
て制御部11は、第8図のデコーダ21に対しデ
ータn、即ち、タツチ電極T1〜TFを順次時分
割的に指定するための前記データaを出力しはじ
める。この場合、データa(データn)は「1」
づつインクリメントされてゆくので、データa
(データn)の内容は、第11図のタイムチヤー
トに示すように、タツチ電極T1に設定されてい
る番号S0〜SFと夫々対応したものに変化する。
そして先ず、タツチ電極T1においてACスイツ
チON後、まだ人体がタツチ電極T1に触れない
ときの浮遊容量成分Cxがカウンタ25のカウン
ト値Xとして求められる。即ち、デコーダ21か
ら高電位VDDの信号“1”が出力してトランスミ
ツシヨンゲートG1に印加され開成される。この
ため、タツチ電極T1のそのときの浮遊容量成分
Cxの大きさに応じて、矩形波信号Cの立上りか
ら遅れて立下る信号eがタツチ電極T1の出力と
してインバータ24から出力し、アンドゲート2
3に入力する。この結果、第11図にみられるよ
うに、矩形波信号Cと信号eが共に、高電位VDD
レベルの間だけアンドゲート23が開成されて信
号dに同期した信号fが出力し、カウンタ25の
クロツク入力端子CKに印加されて計数され、カ
ウント値Xとされる(ステツプSE2)。次にステ
ツプSA3に進行し、タツチ電極T1の前記カウン
ト値X1(いま、データnが「1」であるからX1
と記す)に一定値ξを加算した結果データが、
RAM13のYnレジスタ(n=S1の第9図に示
すレジスタ)に書込まれる。この処理は、浮遊容
量成分Cxのふらつき、カウンタ35の係数誤差
等を考慮し、ξ=2〜3に設定しておいて、浮遊
容量成分をやや大きめの値としておくために実行
される。 次に、ステツプSA4にゆき、データnがSFか
否か、つまり、タツチ電極T1〜TFまで一通り、
各浮遊容量成分Cxを検出したか否かが判断され
たのち、ステツプSA5に進み、データnが+1さ
れて「2」となり、タツチ電極T2の浮遊容量成
分Cxの検出を開始する。而して以後の処理はタ
ツチ電極T1のときと全く同様であり、ステツプ
SE、SA3〜SA5が更に15回繰返され、この結果、
RAM13内のXS1〜XSFレジスタには夫々、
ACスイツチON後、まだ人体がタツチ電極T1
〜TFに触れないときの各浮遊容量成分Cxが記憶
され、また対応するYS1〜YSFレジスタには、
一定値ξを加算した前記浮遊容量成分Cxの補正
値が、記憶される。 前記イニシヤライズ処理SAが終了すると、次
もステツプSBのタツチ処理に進行する。而して
このタツチ処理の詳細は、第16図のフローチヤ
ートに示している。先ず、ステツプSB1では、
RAM13内のMレジスタがクリアされ、また、
カウンタnがリセツトされる。次に、前記ステツ
プSEのデータ入力処理が同様に実行されるが、
この場合は、タツチ電極T1〜TFの前記XY座
標上を指などの人体で触れて、例えば第18図に
示すように、数字「2」の文字パターンを入力し
たときの各タツチ電極T1〜TFの浮遊容量成分
Cx、接触容量成分Cyの合成容量にもとづくカウ
ント値Xが検出される。そして、このときの第8
図の動作は、前述したことと同じであるから説明
を省略するが、先ず、タツチ電極T1のカウント
値X1(n=1のとき)が検出されると、ステツプ
SB2に進行し、X1〜Y1の演算が実行される。即
ち、浮遊容量成分Cxと接触容量成分Cyの合成容
量にもとづくカウント値X1から浮遊容量成分Cx
にもとづくカウント値Y1(いま、補正値として
Y1レジスタ、即ち、YS1レジスタに保持されて
いる)を減算した結果データ、換言すれば、接触
容量成分Cyのみにもとづくカウント値が算出さ
れて、第9図のT1レジスタ(TS1〜TSFで示
す)に書込まれる。 次にステツプSB3では、T1レジスタのデータ
がMレジスタのデータ(いま「0」)より大か否
かの判断処理が実行され、大であるからステツプ
SB4に進行し、T1レジスタ内のデータがMレジ
スタに転送保持され、またカウンタnのデータ
(いまn=1)がmレジスタに転送保持される。
而して、このステツプSB3,SB4の各処理は順次
検出されるタツチ電極T1〜TFの接触容量成分
Cyのみにもとづくカウント値のうち、最大のも
のを求める処理であり、即ち、前記接触容量成分
Cyが最大のタツチ電極を検出するためのもので
ある。 次にステツプSB5では、タツチ電極T1〜TF
が一通り検出されたか否かが判断され、カウンタ
nは+1されてタツチ電極T2の検出が開始され
る。そして以後、ステツプSE,SB2〜SB6が更
に15回繰返され、タツチ電極T1〜TFに対する
一通りのタツチ処理が完了する。而してこの間
に、ステツプSB3,SB4の実行により、今回のタ
ツチ処理の結果検出された、接触容量成分Cyが
最大のタツチ電極の番号がmレジスタに記憶され
ていると共に、その最大の接触容量成分Cyに対
するカウント値がMレジスタに記憶されているこ
とになる。 前記タツチ処理が終了すると、ステツプSC1に
進行し、Mレジスタのデータが「0」より大か否
かが判断される。即ち、人体が何れかのタツチ電
極T1〜TFに既に触れたか否かの判断処理であ
り、文字パターンが入力されて人体が触れていれ
ば既に述べたように、Mレジスタのデータは、
「0」なり大であり、したがつて、ステツプSC2
に進行する。そしてステツプSC2では、フラグF
1が「1」か否かが判断され、而して「1」とな
つているからステツプSC3に進行し、前記TMレ
ジスタに一定時間がプリセツトされ、タイマがス
タートされる。これはTMレジスタに設定された
一定時間内に入力された文字パターンを一文字と
するための処理である。次にステツプSC4に進行
し、フラグF1がクリアされる。そしてステツプ
SC5に進行し、フラグF2が「1」か否かが判断
され、いま「1」であるため、ステツプSC6に進
行してストローク数カウンタZが+1されて
「1」となり、第1ストローク目を示す内容とな
る。次にステツプSC7によりフラグF2がクリア
され、次いでステツプSDのキーイン処理に入る。
而してこのキーイン処理は、第17図のフローチ
ヤートに、その詳細を示している。 このキーイン処理では、先ず、ステツプSD1の
処理により、前記mレジスタに記憶保持されてい
る接触容量成分Cyが最大のタツチ電極の番号
(S0〜SF)が座標(xm,ym)に変換される。
而してこの座標は、第4図のXY座標系におい
て、xm=0、1、2、3、ym=0、1、2、3
の各整数値で表現されるものであり、例えば、S
0のタツチ電極T1の座標は(3,3)である。
なお、この座標(xm,ym)は、RAM13内の
xmレジスタ、ymレジスタに夫々記憶される。 次にステツプSD2に進行し、xmが「0」か否
か、即ち、第4図において、右端の番号がS3,
S7,SB,SFのタツチ電極T3,T7,TB,
TFか否かが判断され、そうであれば式(5)にもと
づいて座標を求めるに際しての補正処理がステツ
プSD3において行われる。即ち、RAM13内の
Cレジスタがクリアされ(即ち、右方のタツチ電
極の接触容量成分は「0」である)、またAレジ
スタには番号が夫々S2,S6,SA,SE,のタ
ツチ電極T2,T6,TA,TEに対して求めら
れているTS1〜TSFレジスタ内の各データが転
送される。 他方、ステツプSD2においてXmのデータが
「0」でないときには、ステツプSD4に進行し、
更に、Xmが「3」か否か、即ち、第4図におい
て左端の、番号がS0,S4,S8,SCのタツ
チ電極T0,T4,T8,Tcか否かが判断され、
そうであれば式(5)の補正のために、Aレジスタが
クリアされ、(即ち、左方のタツチ電極の接触容
量成分は「0」である)、また、Cレジスタには、
番号がS1,S5,S9,SDのタツチ電極T1,
T5,T9,TDに対して求められているTS1
〜TSFレジスタ内のデータが転送される。 更にXmのデータが「3」でないときには、今
回検出された接触容量成分Cyが最大のタツチ電
極は真中の、番号がS5,S6,S9,SAのタ
ツチ電極T5,T6,T9,TAの何れか1つで
あり、したがつてその場合には、ステツプSD6の
処理によりAレジスタには、番号がS4,S5,
S8,S9のタツチ電極T4,T5,T8,T9
に対し求められているTS1〜TSFレジスタ内の
データが転送され、また、Cレジスタには、番号
S6,S7,SA,SBのタツチ電極T6,T7,
TA,TBに対し求められているTS1〜TSFレジ
スタ内のデータが転送される。 以上は、前記式(5)によつて現在の接触領域の中
心座標を求めるに際してX軸方向の補正を行なう
処理であるが、次のにステツプSD7〜SD11の各
ステツプの処理はY軸方向の補正を行なう処理で
ある。そして、ステツプSD7,SD8,SD9,
SD10,SD11は夫々、前記ステツプSD2,SD3,
SD4,SD5,SD6と夫々対応しており、自明であ
るからその詳細説明は省略する。 以上の各処理が終了すると、ステツプSD12の
式(5)の演算処理が実行され、現在の接触領域の中
心座標(xs,xs)が求められてRAM13内のxs
レジスタ、ysレジスタに夫々一時記憶される。こ
の場合、いま、最大接触容量成分のデータは、M
レジスタに格納されているため、前記ステツプ
SD12では、データBの替りに、データMと記載
している。また、データSは0〜19の値をとる
(第10図のRAM13参照)。 このようにして、前記中心座標(xs,ys)が
求められると、次にステツプSD13に進行し、今
回の座標(xs,ys)が前回の座標(xs−1、ys
−1)と一致するか否か、即ち、指が1個所に停
つて中心座標が変化していないかどうかが判断さ
れ、変化していれば、ステツプSD14に進行し、
第10図に示すRAM13の1ストローク目のエ
リアM1の0番地に前記座標(xs,ys)が記憶さ
れる。そしてRAM13内のSレジスタが+1さ
れて「1」となる。他方、ステツプSD13におい
て、中心座標が変化していないことが判断される
と、直ちにステツプSBのタツチ処理に復帰する。 以上で、入力された文字パターンデータの1ス
トローク目の1番地の中心座標が求められたこと
になり、而してタツチ電極T1〜TFから指が離
れるまで、ステツプSB、SC1〜SC7、SDの処理
が繰返され、この間に前記データSは、2〜19ま
で1づつ変化し、最大19個の中心座標(xs,ys)
が前記エリアM1の1〜19番地に書込まれる。ま
た、2ストロークの文字(例えば「4」)、3スト
ロークの文字(例えば「F」)、4ストロークの文
字(例えば「E」)の2ストローク目、3ストロ
ーク目、4ストローク目についても、各文字が前
記TMレジスタに設定されたタイマ時間内に入力
された場合には同様に、RAM13内のエリア
M2,M3,M4の0〜20番地に夫々最大20の中心
座標(xs,ys)が書込まれる。 一方、前記ステツプSAのイニシヤライズ処理
実行後、ステツプSBのタツチ処理が実行された
が、次のステツプSC1で、まだ人体がタツチ電極
T1〜TFに触れていないために、M>0でない
ことが判別された場合、ステツプSC8に進行し、
フラグF1が「1」か否かが判断される。而して
既にイニシヤライズ処理で「1」に設定されてい
るため、ステツプSBのタツチ処理に復帰する。
そして、人体が触れるまで、ステツプSB,SC1,
SC8,SB,……が繰返される。 また、ステツプSC8でフラグF1が万一、「1」
でないときには、ステツプSC9に進行し、フラグ
F2が「0」か否かが判断される。而して「0」
でなければ、ステツプSC11にジヤンプし、他方、
「0」であればステツプSC10によりフラグF2を
「1」に設定したのち、ステツプSC11に進む。ス
テツプSC11では、前記タイマ時間が経過したか
否かが判断され、経過していなければ、ステツプ
SC12に進む。 前記タイマ時間内に文字パターンが入力された
のち、ステツプSC12に進行した場合、このステ
ツプSC12ではフラグF1が「1」にされる。そ
して、ステツプSC13に進行するが、例えばいま、
第18図に示すように、全体が1ストロークの数
字「2」を入力したことにすると、その1ストロ
ーク分の中心座標(xs,ys)が最大20、RAM1
3のエリアM1に既に記憶されている。このため、
ステツプSC13では各中心座標(xs,ys)を追
跡して1ストローク目の長さ、即ち、ストローク
長が算出される。そしてステツプSC14では、算
出されたストローク長を、第18図Bに示すよう
に、6等分に分割して分割点の座標を決定する。
次にステツプSC15では第18図Cに示すように、
始点と分割点、分割点と分割点、分割点と終点と
を結んで、第19図のベクトル図にしたがい、6
つの分割部の各ベルトを決定し、ベクトル列を得
る。而して第18図Cの列で得られるベクトル列
は、「175570」である。 次にステツプSC16では、前記ベクトル列を
ROM12内の標準ベクトル列と比較する。この
場合、1ストロークの文字であるから第20図の
各文字の標準ベクトルに対し、各成分の方向差を
夫々求めたのち、その方向差の和を求める。即
ち、標準ベクトル列の成分を「a1a2a3a4a5a6」、
検出されたベクトル列の成分を「b1b2b3b4b5b6」
とすると、まず各成分の差(a1−b1)、(a2−b2)
……(a6−b6)を求める。この結果として−7
〜+7の値が求められるが、−4〜+4の場合は、
その絶対値を方向差とし、−7〜−5の場合は1
〜3に変換した値を、+5〜+7の場合は3〜1
に変換した値を方向差として、これら6個の方向
差の和を求める。 例えば、第20図の標準ベクトルのうち、文字
「0」の標準ベクトル列「467012」を例にすると、
前記ベクトル列「175570」との間で、4−1=
3、6−7=−1、7−5=2、0−5=−5、
1−7=−6、2−0=2の各演算後、方向差
3、1、2、3、2、2を求め、3+1+2+3
+2+2=13の方向差の和が求められる。而して
他の文字「0」、「1」、「2」、……についても同
様である。そしてステツプSC17では、上述のよ
うにして求められた方向差の和のなかからその値
が最小のものが抽出されて、その文字が入力され
た文字として判別される。次いでステツプSC18
では、ステツプSC17で複数の文字が類似文字と
して出力されたか否かが判別され、若しも複数の
文字が出力されたときには、更にステツプSC19
に進行し、入力文字につき詳細な特性が確認判別
される。この場合、入力文字が類似文字と判別さ
れる例は、例えば、第24図に示すように、文字
「P」と「D」、「I」と「F」、……であるが、例
えば「P」と「D」の場合、1ストローク目と2
ストローク目との終点間の距離の大小関係等を比
較してその判別が行われる。この結果、複数の類
似文字の中から1つの文字が抽出され、(ステツ
プSC20)、入力された文字パターンとして、その
文字がドツト表示部4に表示され、またメツセー
ジデータとしてRAM13に記憶される。 他方、ステツプSC18で差の和の最小の文字が
1つであつたときには、直ちにその文字が入力文
字とされる。また、前記ステツプSC13〜SC17の
各処理は全体のストローク数が2,3,4のもの
においては、第2ストローク目、第3ストローク
目、第4ストローク目についても、第1ストロー
ク目の処理同様な処理が実行されることは勿論で
ある。 猶、前記実施例では4×4のマトリクス状に
XY座標系に沿つて配列した16個のタツチ電極を
用いたが、タツチ電極の数は16に限らず、任意で
ある。またXY座標系は16×16のマトリクス状に
配列した256個の点により構成したが、このXY
座標系の規模も前記実施例に限定されるものでは
ない。更に、前記実施例では入力する文字のスト
ローク数を最大4までの数字、アルフアベツトと
したが、このストローク数は任意であり、また文
字の種類もカタカナ、ヒラガナ、漢字、記号、更
には任意の図形であつてもよい。またストローク
長を6等分したが、この分割数も6に限らず任意
である。更に電子腕時計に限らず、他の電子機器
に対してもこの発明を適用可能である。 〔発明の効果〕 この発明は、以上説明したように、XY座標系
上に複数のタツチ電極をマトリクス状に配設し、
文字パターンの入力に際して指などの人体が前記
複数のタツチ電極に接触した際の各タツチ電極の
接触容量成分を検出し、而して検出した接触容量
成分の値が最大であるタツチ電極の接触容量成分
と隣接するタツチ電極の接触容量成分とから、人
体接触座標位置を検出し記憶するようにした座標
入力装置を提供したから、小型の電子機器、例え
ば電子腕時計のようなものにおいても文字、図形
等の文字パターン座標入力が容易に且つ高精度に
行なえ、種々の応用が行えるようになる利点があ
る。
図面は、この発明の一実施例を示し、第1図は
同例の電子腕時計の外観図、第2図はこの発明の
基本原理を示す構成図、第3図はそのタイムチヤ
ートを示す図、第4図はXY座標系の構成図、第
5図はタツチ電極3への人体の接触状態の例とそ
の最大接触容量成分のタツチ電極3を中心に抽出
した4個のタツチ電極3を示す図、第6図は人体
接触領域の中心座標を求める演算のアルゴリズム
を説明する図、第7図は全体の回路構成図、第8
図は入力部17の具体的回路図、第9図、第10
図は夫々、RAM13の構成を概念的に示す図、
第11図は前記入力部17の動作を説明するタイ
ムチヤートを示す図、第12図ないし第17図は
動作を説明するフローチヤートの図、第18図は
数字「2」の場合においてそのベクトル列を得る
動作を説明する図、第19図はベクトルの説明
図、第20図、第21図、第22図、第23図は
夫々、ストローク数が夫々1、2、3、4の文字
パターンの標準ベクトル列を示す図、第24図は
類似文字パターンの例を示す図である。 1……時計ケース、2……表面ガラス、3,T
1〜TF……タツチ電極、4……ドツト表示部、
Cx……浮遊容量成分、CY……接触容量成分、
8,9……CMOSインバータ、11……制御部、
12……ROM、13……RAM、14……演算
部、15……オペレーシヨンデコーダ、16……
アドレス部、17……入力部、18……発振回
路、19……分周回路、21……デコーダ、22
……タイミング信号発生回路、23……アンドゲ
ート、24……CMOSインバータ、25……カ
ウンタ、G1〜G16……トランスミツシヨンゲ
ート、AC……ACスイツチ。
同例の電子腕時計の外観図、第2図はこの発明の
基本原理を示す構成図、第3図はそのタイムチヤ
ートを示す図、第4図はXY座標系の構成図、第
5図はタツチ電極3への人体の接触状態の例とそ
の最大接触容量成分のタツチ電極3を中心に抽出
した4個のタツチ電極3を示す図、第6図は人体
接触領域の中心座標を求める演算のアルゴリズム
を説明する図、第7図は全体の回路構成図、第8
図は入力部17の具体的回路図、第9図、第10
図は夫々、RAM13の構成を概念的に示す図、
第11図は前記入力部17の動作を説明するタイ
ムチヤートを示す図、第12図ないし第17図は
動作を説明するフローチヤートの図、第18図は
数字「2」の場合においてそのベクトル列を得る
動作を説明する図、第19図はベクトルの説明
図、第20図、第21図、第22図、第23図は
夫々、ストローク数が夫々1、2、3、4の文字
パターンの標準ベクトル列を示す図、第24図は
類似文字パターンの例を示す図である。 1……時計ケース、2……表面ガラス、3,T
1〜TF……タツチ電極、4……ドツト表示部、
Cx……浮遊容量成分、CY……接触容量成分、
8,9……CMOSインバータ、11……制御部、
12……ROM、13……RAM、14……演算
部、15……オペレーシヨンデコーダ、16……
アドレス部、17……入力部、18……発振回
路、19……分周回路、21……デコーダ、22
……タイミング信号発生回路、23……アンドゲ
ート、24……CMOSインバータ、25……カ
ウンタ、G1〜G16……トランスミツシヨンゲ
ート、AC……ACスイツチ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 マトリツクス状に配設されている複数のタツ
チ電極と、 この複数のタツチ電極のうち少なくとも2つ以
上のタツチ電極に同時に人体が接触した際の接触
容量成分を夫々検出する接触容量成分検出手段
と、 この接触容量成分検出手段によつて検出された
各タツチ電極の接触容量成分のうちその値が最大
のタツチ電極を判別する最大接触容量成分タツチ
電極判別手段と、 この最大接触容量成分タツチ電極判別手段で判
別された最大接触容量成分タツチ電極の接触容量
成分とこの最大接触容量成分タツチ電極に隣接す
るタツチ電極の接触容量成分との比から人体が接
触した領域のうちの中心の位置に応じた座標デー
タを得る座標位置検出手段と、 この中心座標位置検出手段で求められた前記座
標データを記憶する記憶手段と、 を具備したことを特徴とする座標入力装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57232561A JPS59121484A (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | 座標入力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57232561A JPS59121484A (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | 座標入力装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59121484A JPS59121484A (ja) | 1984-07-13 |
| JPH0430047B2 true JPH0430047B2 (ja) | 1992-05-20 |
Family
ID=16941256
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57232561A Granted JPS59121484A (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | 座標入力装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59121484A (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59121478A (ja) * | 1982-12-27 | 1984-07-13 | Casio Comput Co Ltd | 文字認識装置 |
| JPS6195412A (ja) * | 1984-10-17 | 1986-05-14 | Hitachi Ltd | 自動車機器制御用装置 |
| FR2615941B1 (fr) * | 1987-05-25 | 1991-12-06 | Sfena | Dispositif de detection de position d'un organe de commande sur une tablette tactile |
| JP2000278391A (ja) | 1999-03-26 | 2000-10-06 | Nec Saitama Ltd | 背面手書き入力機能を有する携帯電話機 |
| US6891531B2 (en) * | 2002-07-05 | 2005-05-10 | Sentelic Corporation | Sensing an object with a plurality of conductors |
| JP5636768B2 (ja) | 2010-06-30 | 2014-12-10 | ソニー株式会社 | 情報入力装置 |
| KR101119373B1 (ko) * | 2010-07-09 | 2012-03-06 | 삼성전기주식회사 | 하이브리드 터치패널의 작동방법 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56132028A (en) * | 1980-03-19 | 1981-10-16 | Casio Comput Co Ltd | Touch switch device |
| JPS57207931A (en) * | 1981-06-17 | 1982-12-20 | Fujitsu Ltd | Finger contact type coordinate inputting system |
-
1982
- 1982-12-27 JP JP57232561A patent/JPS59121484A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59121484A (ja) | 1984-07-13 |
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