JPH0430787B2 - - Google Patents
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- JPH0430787B2 JPH0430787B2 JP58220123A JP22012383A JPH0430787B2 JP H0430787 B2 JPH0430787 B2 JP H0430787B2 JP 58220123 A JP58220123 A JP 58220123A JP 22012383 A JP22012383 A JP 22012383A JP H0430787 B2 JPH0430787 B2 JP H0430787B2
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- rays
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- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B17/00—Surgical instruments, devices or methods
- A61B17/56—Surgical instruments or methods for treatment of bones or joints; Devices specially adapted therefor
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
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- H04N5/32—Transforming X-rays
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- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
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- A61B6/52—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/5258—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise
- A61B6/5282—Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving detection or reduction of artifacts or noise due to scatter
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- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、Ｘ線を被写体に曝射することによ
り得られる透過Ｘ線情報に基づく可視画像により
医用診断を可能とするＸ線診断装置に関する。
り得られる透過Ｘ線情報に基づく可視画像により
医用診断を可能とするＸ線診断装置に関する。
〔発明の技術的背景とその問題点〕
一般に、Ｘ線診断装置において、Ｘ線を検出す
る検出器には、直接Ｘ線と共に、被写体等で散乱
した散乱Ｘ線が入射する。この散乱Ｘ線は、画像
のコントラスト鮮鋭度を劣化させる主たる原因と
なる。このため、散乱Ｘ線を除去することが重要
である。
る検出器には、直接Ｘ線と共に、被写体等で散乱
した散乱Ｘ線が入射する。この散乱Ｘ線は、画像
のコントラスト鮮鋭度を劣化させる主たる原因と
なる。このため、散乱Ｘ線を除去することが重要
である。
そこで、従来、散乱Ｘ線を除去するために、Ｘ
線診断装置にはグリツドが使用されている。
線診断装置にはグリツドが使用されている。
しかしながら、グリツドは、それ自体散乱Ｘ線
の発生源となるので、散乱Ｘ線の除去には自ずと
限界がある。
の発生源となるので、散乱Ｘ線の除去には自ずと
限界がある。
尚、散乱Ｘ線の除去は、コントラストおよび鮮
鋭度を向上して良質の画像とし、さらに、直接Ｘ
線による画像に対する対数変換を可能としその結
果被写体によるＸ線の減弱量を正確に求められる
ので極めて重要である。その重要性により、散乱
Ｘ線の性質につき、種々研究されているにもかか
わらず、複雑な現象を呈することにより、統一的
な理解が得られていないばかりか、散乱Ｘ線の十
分な除去の方法について未だ殆んど知られていな
いのが現状である。
鋭度を向上して良質の画像とし、さらに、直接Ｘ
線による画像に対する対数変換を可能としその結
果被写体によるＸ線の減弱量を正確に求められる
ので極めて重要である。その重要性により、散乱
Ｘ線の性質につき、種々研究されているにもかか
わらず、複雑な現象を呈することにより、統一的
な理解が得られていないばかりか、散乱Ｘ線の十
分な除去の方法について未だ殆んど知られていな
いのが現状である。
〔発明の目的〕
この発明は、前記事情に鑑みてなされたもので
あり、検出器に入射するＸ線成分から散乱Ｘ線成
分を除去して、コントラストおよび鮮鋭度が高
く、かつ、ボケのない画像を表示することのでき
るＸ線診断装置を提供することを目的とするもの
である。
あり、検出器に入射するＸ線成分から散乱Ｘ線成
分を除去して、コントラストおよび鮮鋭度が高
く、かつ、ボケのない画像を表示することのでき
るＸ線診断装置を提供することを目的とするもの
である。
前記目的を達成するための本発明の概要は、被
検体を透過するＸ線を検出する検出器により出力
される検出信号を基にして画像を表示するＸ線診
断装置において、Ｘ線照射野内のＸ線を部分的に
遮断するＸ線遮蔽部材を有しかつＸ線照射野内に
出入り可能なＸ線遮断手段と、このＸ線遮断手段
をＸ線照射野内に位置させて被写体にＸ線を曝射
して前記Ｘ線遮蔽部材で遮蔽された部分で得られ
る被写体透過Ｘ線情報を基に、内部補間によつて
画像を構成する各画素の散乱Ｘ線量を算出する第
１の演算手段と、この第１の演算手段の出力デー
タを、Ｘ線照射野内に前記Ｘ線遮断手段を位置さ
せずに被写体にＸ線を曝射して得られる被写体透
過Ｘ線情報より減算し、直接Ｘ線成分による被写
体透過Ｘ線情報を出力可能な第２の演算手段とを
具備することを特徴とするものである。
検体を透過するＸ線を検出する検出器により出力
される検出信号を基にして画像を表示するＸ線診
断装置において、Ｘ線照射野内のＸ線を部分的に
遮断するＸ線遮蔽部材を有しかつＸ線照射野内に
出入り可能なＸ線遮断手段と、このＸ線遮断手段
をＸ線照射野内に位置させて被写体にＸ線を曝射
して前記Ｘ線遮蔽部材で遮蔽された部分で得られ
る被写体透過Ｘ線情報を基に、内部補間によつて
画像を構成する各画素の散乱Ｘ線量を算出する第
１の演算手段と、この第１の演算手段の出力デー
タを、Ｘ線照射野内に前記Ｘ線遮断手段を位置さ
せずに被写体にＸ線を曝射して得られる被写体透
過Ｘ線情報より減算し、直接Ｘ線成分による被写
体透過Ｘ線情報を出力可能な第２の演算手段とを
具備することを特徴とするものである。
先ず、この発明につきその原理を説明する。
被写体に入射したＸ線は、そのまま透過して検
出器に入射する直接Ｘ線になるものと、被写体を
構成する原子（あるいは分子）との相互作用によ
り吸収あるいは散乱するものとがある。後者の散
乱するのが散乱Ｘ線である。
出器に入射する直接Ｘ線になるものと、被写体を
構成する原子（あるいは分子）との相互作用によ
り吸収あるいは散乱するものとがある。後者の散
乱するのが散乱Ｘ線である。
第１図に、Ｘ線発生部たる例えばＸ線管１１よ
り出射するＸ線が被写体１２内で散乱し、空間的
広がりをもつて検出器１３に到達する有様を模式
的に示す。第２図は、前記検出器１３上の位置と
Ｘ線強度との関係を示す特性図である。第２図に
おける中央部の鋭いピークのわずかな広がりＫは
システムたとえばＸ線焦点等に起因するボケに対
応し、その周辺にすそ野の広い散乱Ｘ線に対応す
る分布Ｌが観測される。
り出射するＸ線が被写体１２内で散乱し、空間的
広がりをもつて検出器１３に到達する有様を模式
的に示す。第２図は、前記検出器１３上の位置と
Ｘ線強度との関係を示す特性図である。第２図に
おける中央部の鋭いピークのわずかな広がりＫは
システムたとえばＸ線焦点等に起因するボケに対
応し、その周辺にすそ野の広い散乱Ｘ線に対応す
る分布Ｌが観測される。
また、第３図は前記散乱Ｘ線の空間分布の様子
を模式的に示したものであり、同図Ａは被写体１
２に細いビーム状のＸ線が入射する様子を示し、
同図Ｂはそれぞれ１本づつのＸ線ビームに対する
散乱Ｘ線の空間分布を示し、同図ＣはＢに示すＸ
線ビームの個々の分布の重ね合せで与えられる実
際の散乱線分布を示している。ここで、−ａおよ
びａはＸ線照射野の境界であり、またIsc（ｘ）は
散乱Ｘ線の強度を意味する。尚、簡単のため第３
図Ａ，Ｂ，Ｃは一次元として表わした。
を模式的に示したものであり、同図Ａは被写体１
２に細いビーム状のＸ線が入射する様子を示し、
同図Ｂはそれぞれ１本づつのＸ線ビームに対する
散乱Ｘ線の空間分布を示し、同図ＣはＢに示すＸ
線ビームの個々の分布の重ね合せで与えられる実
際の散乱線分布を示している。ここで、−ａおよ
びａはＸ線照射野の境界であり、またIsc（ｘ）は
散乱Ｘ線の強度を意味する。尚、簡単のため第３
図Ａ，Ｂ，Ｃは一次元として表わした。
ところで、Ｘ線照射により検出器に入射するＸ
線強度Im（ｘ，ｙ）は、直接Ｘ線強度Ip（ｘ，ｙ）
と散乱Ｘ線強度Isc（ｘ，ｙ）との和として次式の
ように表わされる。すなわち、 Im（ｘ，ｙ）＝Ip（ｘ，ｙ）＋Isc（ｘ，ｙ）
……(1) ここで、（ｘ，ｙ）は検出器面上の位置を表わ
す座標である。すでに述べたように、散乱線成分
Isc（ｘ，ｙ）の空間的な変動はゆるやかであるの
で、Ｘ線照射野内における複数個の散乱Ｘ線成分
のデータを用いて、比較的精度良くＸ線照射野内
全域の散乱線成分Isc（ｘ，ｙ）を推定することが
可能となる。
線強度Im（ｘ，ｙ）は、直接Ｘ線強度Ip（ｘ，ｙ）
と散乱Ｘ線強度Isc（ｘ，ｙ）との和として次式の
ように表わされる。すなわち、 Im（ｘ，ｙ）＝Ip（ｘ，ｙ）＋Isc（ｘ，ｙ）
……(1) ここで、（ｘ，ｙ）は検出器面上の位置を表わ
す座標である。すでに述べたように、散乱線成分
Isc（ｘ，ｙ）の空間的な変動はゆるやかであるの
で、Ｘ線照射野内における複数個の散乱Ｘ線成分
のデータを用いて、比較的精度良くＸ線照射野内
全域の散乱線成分Isc（ｘ，ｙ）を推定することが
可能となる。
次に、前記原理に則つた本発明の一実施例につ
いて説明する。
いて説明する。
第４図は本発明に係るＸ線診断装置を示す説明
図である。同図に示すように、本発明に係るＸ線
診断装置は、Ｘ線発生部たる例えばＸ線管１８
と、このＸ線管１８より曝射されるＸ線のＸ線照
射野内であつて被写体２１とＸ線管１８との間に
出入り可能なＸ線遮断手段２０（後に詳述する）
と、被写体２１を透過するＸ線を検出する検出器
２２と、この検出器２２より出力される被写体透
過Ｘ線情報（アナログ信号）をデイジタル信号に
変換するＡ／Ｄ（アナログ・デイジタル）変換手
段２３と、Ｘ線遮断手段２０をＸ線照射野内に位
置させたまま被写体２１にＸ線を曝射したとき
に、Ａ／Ｄ交換手段２３より出力されるデータを
一旦記憶するとともに、このデータを後述する第
１の演算手段２６に転送し、この第１の演算手段
２６の出力（演算結果）を再び記憶する第１の記
憶手段２４と、この第１の記憶手段２４に先に記
憶されたデータを基に散乱線分布を演算し、この
演算結果を第１の記憶手段２４に転送する第１の
演算手段２６と、Ｘ線遮断手段２０をＸ線照射野
外に位置させたまま被写体２１にＸ線を曝射した
ときに、Ａ／Ｄ交換手段２３より出力されるデー
タを記憶する第２の記憶手段２５と、この第２の
記憶手段２５より読み出されたデータから、前記
第１の記憶手段２４より読み出されたデータ（散
乱Ｘ線データ）を演算する第２の演算手段２７
と、この第２の演算手段の出力（デイジタル信
号）をアナログ信号に変換するＤ／Ａ（デイジタ
ル・アナログ）変換手段２８と、このＤ／Ａ変換
手段２８の出力を基に画像表示を行うモニタ２９
と、前記Ｘ線遮断手段２０及び前記第１、第２の
記憶手段２４，２５並びに前記第１、第２の演算
手段２６，２７の動作を制御する制御手段３０と
を含んで構成される。尚、同図１９で示すのは、
Ｘ線照射野を決定するＸ線絞りである。
図である。同図に示すように、本発明に係るＸ線
診断装置は、Ｘ線発生部たる例えばＸ線管１８
と、このＸ線管１８より曝射されるＸ線のＸ線照
射野内であつて被写体２１とＸ線管１８との間に
出入り可能なＸ線遮断手段２０（後に詳述する）
と、被写体２１を透過するＸ線を検出する検出器
２２と、この検出器２２より出力される被写体透
過Ｘ線情報（アナログ信号）をデイジタル信号に
変換するＡ／Ｄ（アナログ・デイジタル）変換手
段２３と、Ｘ線遮断手段２０をＸ線照射野内に位
置させたまま被写体２１にＸ線を曝射したとき
に、Ａ／Ｄ交換手段２３より出力されるデータを
一旦記憶するとともに、このデータを後述する第
１の演算手段２６に転送し、この第１の演算手段
２６の出力（演算結果）を再び記憶する第１の記
憶手段２４と、この第１の記憶手段２４に先に記
憶されたデータを基に散乱線分布を演算し、この
演算結果を第１の記憶手段２４に転送する第１の
演算手段２６と、Ｘ線遮断手段２０をＸ線照射野
外に位置させたまま被写体２１にＸ線を曝射した
ときに、Ａ／Ｄ交換手段２３より出力されるデー
タを記憶する第２の記憶手段２５と、この第２の
記憶手段２５より読み出されたデータから、前記
第１の記憶手段２４より読み出されたデータ（散
乱Ｘ線データ）を演算する第２の演算手段２７
と、この第２の演算手段の出力（デイジタル信
号）をアナログ信号に変換するＤ／Ａ（デイジタ
ル・アナログ）変換手段２８と、このＤ／Ａ変換
手段２８の出力を基に画像表示を行うモニタ２９
と、前記Ｘ線遮断手段２０及び前記第１、第２の
記憶手段２４，２５並びに前記第１、第２の演算
手段２６，２７の動作を制御する制御手段３０と
を含んで構成される。尚、同図１９で示すのは、
Ｘ線照射野を決定するＸ線絞りである。
前記Ｘ線遮断手段２０は、前記制御手段３０に
より制御される図示しない駆動手段によりＸ線照
射野内に出入可能に駆動（ととえば矢印Ｘ方向）
されるとともに、たとえば第５図に示すように、
複数個のＸ線遮蔽部材たとえば鉛片３１Ａを有す
る薄板たとえばアクリル板３１Ｂにより構成され
る。しかして、第６図に示すように、Ｘ線遮断手
段２０をＸ線照射野内に位置させたまま、被写体
２１にＸ線を照射すると、検出器２２によつて検
出される被写体透過Ｘ線の強度分布は、たとえば
Ａ−A′線について、第７図に示すように、１，
２，３，４，５で示す部分（鉛片３１Ａによつて
Ｘ線がおおわれた部分）が急激に落ち込む強度分
布となり、この１〜５で示す落ち込み部分の値が
散乱Ｘ線強度Iscを示すことになる。（なぜなら、
直接Ｘ線成分は鉛片３１Ａで遮蔽されるので現わ
れ得ないはずである） 前記第１の演算手段２６は、Ｘ線遮断手段２０
における鉛片３１Ａでおおわれた部分に相当する
記憶データ（第１の記憶手段２４に記憶されてい
る）を基に、たとえば内部補間により各画素の散
乱Ｘ線量を算出する。
より制御される図示しない駆動手段によりＸ線照
射野内に出入可能に駆動（ととえば矢印Ｘ方向）
されるとともに、たとえば第５図に示すように、
複数個のＸ線遮蔽部材たとえば鉛片３１Ａを有す
る薄板たとえばアクリル板３１Ｂにより構成され
る。しかして、第６図に示すように、Ｘ線遮断手
段２０をＸ線照射野内に位置させたまま、被写体
２１にＸ線を照射すると、検出器２２によつて検
出される被写体透過Ｘ線の強度分布は、たとえば
Ａ−A′線について、第７図に示すように、１，
２，３，４，５で示す部分（鉛片３１Ａによつて
Ｘ線がおおわれた部分）が急激に落ち込む強度分
布となり、この１〜５で示す落ち込み部分の値が
散乱Ｘ線強度Iscを示すことになる。（なぜなら、
直接Ｘ線成分は鉛片３１Ａで遮蔽されるので現わ
れ得ないはずである） 前記第１の演算手段２６は、Ｘ線遮断手段２０
における鉛片３１Ａでおおわれた部分に相当する
記憶データ（第１の記憶手段２４に記憶されてい
る）を基に、たとえば内部補間により各画素の散
乱Ｘ線量を算出する。
次に、以上のように構成される装置の作用につ
いて、第８図をも参照しながら説明する。
いて、第８図をも参照しながら説明する。
先ず、散乱Ｘ線強度を求めるために、第４図に
示すようにＸ線遮断手段２０をＸ線照射野内に位
置させて、Ｘ線管１８により被写体２１にＸ線を
曝射する。被写体２１を透過したＸ線は、検出器
２２で検出され、被写体透過Ｘ線情報としてＡ／
Ｄ交換手段２３に入力し、デイジタル信号に変換
され、第１の記憶手段２４に一旦記憶される。こ
の第１の記憶手段２４に一旦記憶されたデータを
基に第１の演算手段２６は、散乱Ｘ線量を算出す
る。すなわち、Ｘ線遮断手段２０における鉛片３
１Ａでおおわれた部分に相当する記憶データ（第
１の記憶手段２４に記憶される）から、内部補間
によつて各画素の散乱Ｘ線量を算出する。
示すようにＸ線遮断手段２０をＸ線照射野内に位
置させて、Ｘ線管１８により被写体２１にＸ線を
曝射する。被写体２１を透過したＸ線は、検出器
２２で検出され、被写体透過Ｘ線情報としてＡ／
Ｄ交換手段２３に入力し、デイジタル信号に変換
され、第１の記憶手段２４に一旦記憶される。こ
の第１の記憶手段２４に一旦記憶されたデータを
基に第１の演算手段２６は、散乱Ｘ線量を算出す
る。すなわち、Ｘ線遮断手段２０における鉛片３
１Ａでおおわれた部分に相当する記憶データ（第
１の記憶手段２４に記憶される）から、内部補間
によつて各画素の散乱Ｘ線量を算出する。
ここで、内部補間法について、たとえば第６図
におけるＡ−A′線に沿つてデータを線形補間す
る例を示した第８図を用いて説明する。同図横軸
は第１の記憶手段２４内のＡ−A′線（第６図参
照）に対応するメモリアドレスを、また縦軸は画
素値をそれぞれ示し、〓印で示す値１′，２′，
３′，４′は、第６図に示す鉛片１，２，３，４に
おおわれた位置における散乱Ｘ線データを示して
いる。この散乱Ｘ線データ１′，２′，３′，４′を
基に補間された各画素における計算値は・印で与
えられる。尚、散乱Ｘ線データ１より左側の値は
補間不可能となるので、たとえば散乱Ｘ線データ
１の値を配置すると良い。このようにして補間さ
れた散乱Ｘ線データは、再び第１の記憶手段２４
に記憶される。
におけるＡ−A′線に沿つてデータを線形補間す
る例を示した第８図を用いて説明する。同図横軸
は第１の記憶手段２４内のＡ−A′線（第６図参
照）に対応するメモリアドレスを、また縦軸は画
素値をそれぞれ示し、〓印で示す値１′，２′，
３′，４′は、第６図に示す鉛片１，２，３，４に
おおわれた位置における散乱Ｘ線データを示して
いる。この散乱Ｘ線データ１′，２′，３′，４′を
基に補間された各画素における計算値は・印で与
えられる。尚、散乱Ｘ線データ１より左側の値は
補間不可能となるので、たとえば散乱Ｘ線データ
１の値を配置すると良い。このようにして補間さ
れた散乱Ｘ線データは、再び第１の記憶手段２４
に記憶される。
次に、Ｘ線遮断手段２０をＸ線照射野外に位置
させたままでＸ線を曝射する。このＸ線曝射によ
つて得られた被写体透過Ｘ線は、検出器２２で検
出され、Ａ／Ｄ変換手段２３でデイジタル信号に
変換された後、第２の記憶手段２５に記憶され
る。しかして、この第２の記憶手段２５に記憶さ
れたデータと、前記第１の記憶手段２４に記憶さ
れた散乱Ｘ線データとが、それぞれ読み出され、
第２の演算手段２７の演算に供される。すなわ
ち、この第２の演算手段２７は、第２の記憶手段
２５の記憶データ（これは、Ｘ線遮断手段２０を
用いない場合に得られた被写体透過Ｘ線情報を意
味する）から、第１の記憶手段２４の記憶データ
（補間された散乱Ｘ線データを意味する）を差し
引き、Ｘ線の直接成分のみ（散乱線成分を含まな
いことを意味する）によるデータをＤ／Ａ変換手
段２８に出力する。このようにしてＤ／Ａ変換手
段２８に入力されたデータは、アナログ信号に変
換されたモニタ２９における画像表示に供され
る。ここで、モニタ２９の画像表示は、ボケがな
く、コントラスト及び鮮鋭度の高いＸ線画像とな
る。以下、その理由について説明する。すなわ
ち、本装置によれば、Ｘ線遮断手段２０を用いた
場合と用いない場合との被写体透過Ｘ線情報を
得、前者すなわち、Ｘ線遮断手段２０を用いた場
合の情報を基に散乱Ｘ線成分を算出し、この散乱
線成分を前記Ｘ線遮断手段２０を用いない場合の
情報より減算すことにより、モニタ２９の画像表
示に供されるデータは、散乱線成分を含まない直
接Ｘ線成分のみによる被写体透過Ｘ線情報とな
る。よつて、モニタ２９の画像表示はボケがな
く、コントラスト及び鮮鋭度の高いＸ線画像とな
るのである。
させたままでＸ線を曝射する。このＸ線曝射によ
つて得られた被写体透過Ｘ線は、検出器２２で検
出され、Ａ／Ｄ変換手段２３でデイジタル信号に
変換された後、第２の記憶手段２５に記憶され
る。しかして、この第２の記憶手段２５に記憶さ
れたデータと、前記第１の記憶手段２４に記憶さ
れた散乱Ｘ線データとが、それぞれ読み出され、
第２の演算手段２７の演算に供される。すなわ
ち、この第２の演算手段２７は、第２の記憶手段
２５の記憶データ（これは、Ｘ線遮断手段２０を
用いない場合に得られた被写体透過Ｘ線情報を意
味する）から、第１の記憶手段２４の記憶データ
（補間された散乱Ｘ線データを意味する）を差し
引き、Ｘ線の直接成分のみ（散乱線成分を含まな
いことを意味する）によるデータをＤ／Ａ変換手
段２８に出力する。このようにしてＤ／Ａ変換手
段２８に入力されたデータは、アナログ信号に変
換されたモニタ２９における画像表示に供され
る。ここで、モニタ２９の画像表示は、ボケがな
く、コントラスト及び鮮鋭度の高いＸ線画像とな
る。以下、その理由について説明する。すなわ
ち、本装置によれば、Ｘ線遮断手段２０を用いた
場合と用いない場合との被写体透過Ｘ線情報を
得、前者すなわち、Ｘ線遮断手段２０を用いた場
合の情報を基に散乱Ｘ線成分を算出し、この散乱
線成分を前記Ｘ線遮断手段２０を用いない場合の
情報より減算すことにより、モニタ２９の画像表
示に供されるデータは、散乱線成分を含まない直
接Ｘ線成分のみによる被写体透過Ｘ線情報とな
る。よつて、モニタ２９の画像表示はボケがな
く、コントラスト及び鮮鋭度の高いＸ線画像とな
るのである。
尚、本発明は前記実施例によつて限定されるも
のではなく、本発明の要旨の範囲内で適宜に変形
実施が可能であるのはいうまでもない。
のではなく、本発明の要旨の範囲内で適宜に変形
実施が可能であるのはいうまでもない。
たとえば、前記実施例の変形例として、第８図
に示した補間法の他に、第６図Ａ−A′方向に直
角あるいは斜方向への補間も可能である。また、
第７図に示した線形補間法の外に、滑らかにデー
タを補間するための適当な補間法も実施可能であ
る。例えば、標本化関数として知られるSinc関数
を用いた補間が考えられる。
に示した補間法の他に、第６図Ａ−A′方向に直
角あるいは斜方向への補間も可能である。また、
第７図に示した線形補間法の外に、滑らかにデー
タを補間するための適当な補間法も実施可能であ
る。例えば、標本化関数として知られるSinc関数
を用いた補間が考えられる。
また、前記実施例では、最初にＸ線遮断手段２
０を用いて被写体透過Ｘ線情報を得、次いでＸ線
遮断手段２０を用いないで被写体透過Ｘ線情報を
得たが、これは、Ｘ線遮断手段２０を用いずに情
報を得る間に第１の演算手段２６による演算を終
了させるようにし、本装置におけるデータ収集か
ら画像表示までの時間を短かくするためであり、
いずれが先であつても本発明の効果に何ら影響す
るものではない。
０を用いて被写体透過Ｘ線情報を得、次いでＸ線
遮断手段２０を用いないで被写体透過Ｘ線情報を
得たが、これは、Ｘ線遮断手段２０を用いずに情
報を得る間に第１の演算手段２６による演算を終
了させるようにし、本装置におけるデータ収集か
ら画像表示までの時間を短かくするためであり、
いずれが先であつても本発明の効果に何ら影響す
るものではない。
また、前記実施例ではＸ線遮蔽手段２０を、Ｘ
線発生部１８と被写体２１との間に配置するもの
としたが、被写体２１と検出器２２との間に上記
Ｘ線遮蔽手段２０を配置しても本発明の効果に何
ら影響を与えるものではない。
線発生部１８と被写体２１との間に配置するもの
としたが、被写体２１と検出器２２との間に上記
Ｘ線遮蔽手段２０を配置しても本発明の効果に何
ら影響を与えるものではない。
以上説明したように、この発明によると被写体
を透過したＸ線透過像を表示することができるの
で、画像のコントラストと鮮鋭度が向上しかつボ
ケのないＸ線画像が得られるところのＸ線診断装
置を提供することができ、医用診断能力の向上に
大きく寄与することができる。
を透過したＸ線透過像を表示することができるの
で、画像のコントラストと鮮鋭度が向上しかつボ
ケのないＸ線画像が得られるところのＸ線診断装
置を提供することができ、医用診断能力の向上に
大きく寄与することができる。
第１図は被写体にＸ線を曝射したときに散乱Ｘ
線が発生する状態を示す説明図、第２図は散乱Ｘ
線を含むＸ線の強度と検出器上の位置との関係を
示す特性図、第３図は散乱Ｘ線の空間分布の様子
を模式的に示す説明図、第４図は本発明に係るＸ
線診断装置の構成を示す説明図、第５図は第４図
に示す装置に具備されるＸ線遮断手段の一例を示
す説明図、第６図は第５図に示すＸ線遮断手段を
Ｘ線照射野内に配置したままＸ線曝射をする状態
を示す説明図、第７図は第６図における検出器に
より検出されたＸ線の強度分布を示す特性図、第
８図は散乱Ｘ線の補間の方法を説明するための説
明図である。 １８……Ｘ線管（Ｘ線発生部）、２０……Ｘ線
遮断手段、２１……被写体、２２……検出器、２
６……第１の演算手段、２７……第２の演算手
段。
線が発生する状態を示す説明図、第２図は散乱Ｘ
線を含むＸ線の強度と検出器上の位置との関係を
示す特性図、第３図は散乱Ｘ線の空間分布の様子
を模式的に示す説明図、第４図は本発明に係るＸ
線診断装置の構成を示す説明図、第５図は第４図
に示す装置に具備されるＸ線遮断手段の一例を示
す説明図、第６図は第５図に示すＸ線遮断手段を
Ｘ線照射野内に配置したままＸ線曝射をする状態
を示す説明図、第７図は第６図における検出器に
より検出されたＸ線の強度分布を示す特性図、第
８図は散乱Ｘ線の補間の方法を説明するための説
明図である。 １８……Ｘ線管（Ｘ線発生部）、２０……Ｘ線
遮断手段、２１……被写体、２２……検出器、２
６……第１の演算手段、２７……第２の演算手
段。
Claims (1)
- １ 被検体を透過するＸ線を検出する検出器によ
り出力される検出信号を基にして画像を表示する
Ｘ線診断装置において、Ｘ線照射野内のＸ線を部
分的に遮断するＸ線遮蔽部材を有しかつＸ線照射
野内に出入り可能なＸ線遮断手段と、このＸ線遮
断手段をＸ線照射野内に位置させて被写体にＸ線
を曝射して前記Ｘ線遮蔽部材で遮蔽された部分で
得られる被写体透過Ｘ線情報を基に、内部補間に
よつて画像を構成する各画素の散乱Ｘ線量を算出
する第１の演算手段と、この第１の演算手段の出
力データを、Ｘ線照射野内に前記Ｘ線遮断手段を
位置させずに被写体にＸ線を曝射して得られる被
写体透過Ｘ線情報より減算し、直接Ｘ線成分によ
る被写体透過Ｘ線情報を出力可能な第２の演算手
段とを具備することを特徴とするＸ線診断装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58220123A JPS60111637A (ja) | 1983-11-22 | 1983-11-22 | Ｘ線診断装置 |
| EP19840114043 EP0142864A3 (en) | 1983-11-22 | 1984-11-20 | X-ray diagnostic apparatus utilizing x-ray shield member |
| KR1019840007276A KR870000635B1 (ko) | 1983-11-22 | 1984-11-21 | X선 진단장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58220123A JPS60111637A (ja) | 1983-11-22 | 1983-11-22 | Ｘ線診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60111637A JPS60111637A (ja) | 1985-06-18 |
| JPH0430787B2 true JPH0430787B2 (ja) | 1992-05-22 |
Family
ID=16746269
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58220123A Granted JPS60111637A (ja) | 1983-11-22 | 1983-11-22 | Ｘ線診断装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0142864A3 (ja) |
| JP (1) | JPS60111637A (ja) |
| KR (1) | KR870000635B1 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4727562A (en) * | 1985-09-16 | 1988-02-23 | General Electric Company | Measurement of scatter in x-ray imaging |
| JPH02237277A (ja) * | 1989-03-09 | 1990-09-19 | Toshiba Corp | Ｘ線診断装置 |
| JP3459745B2 (ja) | 1997-03-27 | 2003-10-27 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置、放射線撮影装置及び画像処理方法 |
| US6807250B2 (en) * | 2001-04-30 | 2004-10-19 | Eastman Kodak Company | Collimation device and method for acquiring a radiation image of a long body part using direct digital X-ray detectors |
| JP4118535B2 (ja) * | 2001-07-03 | 2008-07-16 | 株式会社日立メディコ | Ｘ線検査装置 |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3860821A (en) * | 1970-10-02 | 1975-01-14 | Raytheon Co | Imaging system |
| DE2452166A1 (de) * | 1974-11-02 | 1976-05-13 | Philips Patentverwaltung | Anordnung zum verringern des streustrahleneinflusses |
| DE2454537A1 (de) * | 1974-11-16 | 1976-05-20 | Philips Patentverwaltung | Verfahren zur reduzierung des einflusses von streustrahlung und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens |
| DE2939146A1 (de) * | 1979-09-27 | 1981-04-16 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Verfahren zur untersuchung eines koerpers mit durchdringender strahlung |
| JPS57126061U (ja) * | 1981-02-02 | 1982-08-06 | ||
| JPS5869532A (ja) * | 1981-10-22 | 1983-04-25 | 株式会社東芝 | Ｘ線撮影装置 |
| JPS58116890A (ja) * | 1981-12-29 | 1983-07-12 | Shimadzu Corp | デイジタルサブトラクシヨン式ｘ線装置およびｘ線画像処理方式 |
| JPS58116891A (ja) * | 1981-12-29 | 1983-07-12 | Shimadzu Corp | デイジタルサブトラクション式ｘ線装置 |
| FR2526575A1 (fr) * | 1982-05-04 | 1983-11-10 | Thomson Csf | Procede de traitement d'image radiologique en vue de corriger ladite image des defauts dus au rayonnement diffuse |
| EP0105618B1 (en) * | 1982-09-07 | 1989-10-25 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | X-ray imaging system having radiation scatter compensation and method |
| DE3304213A1 (de) * | 1983-02-08 | 1984-08-09 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Roentgendiagnostikanlage mit mitteln zur unterdrueckung der streustrahlung |
| DE3469666D1 (en) * | 1983-04-25 | 1988-04-07 | Toshiba Kk | X-ray diagnostic apparatus |
-
1983
- 1983-11-22 JP JP58220123A patent/JPS60111637A/ja active Granted
-
1984
- 1984-11-20 EP EP19840114043 patent/EP0142864A3/en not_active Withdrawn
- 1984-11-21 KR KR1019840007276A patent/KR870000635B1/ko not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR850003498A (ko) | 1985-06-20 |
| KR870000635B1 (ko) | 1987-04-03 |
| EP0142864A2 (en) | 1985-05-29 |
| JPS60111637A (ja) | 1985-06-18 |
| EP0142864A3 (en) | 1987-06-10 |
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