JPH04310683A - 光ディスクおよび光ディスク用カートリッジ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はカートリッジに内蔵され
た光ディスクおよび光ディスク用カートリッジに関する
。

【０００２】

【従来の技術】従来の光ディスクは内周部のカートリッ
ジとの接触面に保護層は形成されず、基板の材質が剥き
出しになっていた。

【０００３】また、光ディスク用カートリッジの外周内
側の光ディスクとの接触面は矩形であり、光ディスクの
端面がカートリッジの内周面と接触するようになってい
て、テーパー状にはなっていなかった。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかし従来技術では、
光ディスクの内周部のカートリッジとの接触面に保護層
は形成されないため、光ディスクを高速で回転する場合
、そこの部分に傷がついて塵発生の原因となったり、そ
の傷が大きくなって機械特性の劣化の原因になりエラー
率の増加をきたすという課題を有していた。また、カー
トリッジの外周内側の光ディスクとの接触面が矩形であ
り、その矩形部分に光ディスクに端面が直接接触するの
で、落下したときに光ディスクの端面に亀裂がはいる可
能性が高かった。

【０００５】そこで本発明はこのような課題を解決する
ものでその目的とするところは、光ディスクの内周部の
カートリッジとの接触面に傷がつかないようにし、それ
による塵発生でエラー率の増加をきたしたり、その傷が
大きくなることによる機械特性の劣化がないので、信頼
性が高い光ディスクを提供するところにある。また、カ
ートリッジの内周部の光ディスクとの接触部分を光ディ
スクに形成した保護部分より柔らかい物質で形成し、カ
ートリッジの外周内側の光ディスクとの接触面がテーパ
ー状になり、そのテーパー状の部分に光ディスクが接触
するように設計されているので、落下したときに光ディ
スクの端面がカートリッジの外周内側の面に接触しない
ので光ディスク端面から亀裂がはいることがないところ
にある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明の光ディスクは、
カートリッジに内蔵された光ディスクにおいて、その光
ディスクの内周部のカートリッジとの接触面及びスピン
ドルとの接触面に、前述の光ディスクに用いる基板より
表面硬度の高い材質からなる保護部分を形成したことを
特徴とする。

【０００７】また、本発明の光ディスク用カートリッジ
は前述のカートリッジの内周部の前述の光ディスクとの
接触部分を前述の保護部分より柔らかい物質で形成し、
外周内側の前述の光ディスクとの接触面がテーパー状に
なり、そのテーパー状の部分に前述の光ディスクの外端
部の角が接触するように設計されていることを特徴とす
る。

【０００８】

【実施例】以下本発明について図面に基づいて詳細に説
明する。図１は本発明の光ディスク用カートリッジに本
発明になる光ディスクを入れたところを示す断面図、図
２は本発明の光ディスクの基本構成を示す断面図である
。１はポリカーボネートの基板、２はＳｉＡｌＮのセラ
ミックス層、３はＮｄＤｙＦｅＣｏの記録層、４もＳｉ
ＡｌＮのセラミックス層、５はＡｌＴｉの反射層、６は
紫外線硬化樹脂からなる保護コート層、７は光ディスク
の内周部に形成された保護部分、８はハブ、９は紫外線
硬化樹脂よりなるハードコート層、１０はＺｎＡｌＯよ
りなる帯電防止層、１１は光ディスク用カートリッジ、
１２は光ディスク用カートリッジの内周部のテーパー状
部分、１３は７の保護部分より柔らかい物質で形成した
保護部分、１４は光ドライブのスピンドル部分である。

【０００９】１のポリカーボネートの基板は射出圧縮成
形によって作成したものであり、金属性のスタンパを用
いて、トラッキンク用の溝とピット列が転写されている
。２および４のＳｉＡｌＮのセラミックス層はＳｉＡｌ
の合金ターゲットを用いて、窒素とアルゴンの混合ガス
を導入することによるＲＦ反応マグネトロンスパッタ法
により成膜したものである。３の記録層はＮｄＤｙＦｅ
Ｃｏの合金ターゲットを用いてアルゴンガスを導入する
ことによるＤＣマグネトロンスパッタ法により成膜した
ものである。５のＡｌＴｉの反射層はＡｌＴｉの合金タ
ーゲットを用いてアルゴンガスを導入することによるＤ
Ｃマグネトロンスパッタ法により成膜したものである。 尚、これらの２から５のスパッタ法により成膜した記録
層部は連続成膜によって形成した。

【００１０】６の紫外線硬化樹脂よりなる保護コート層
は、スピンコート法によって平均厚さが１０マイクロメ
ータになるように塗布した。この保護コート層の厚みは
塗布厚が平均で５マイクロメータから２０マイクロメー
タの範囲になるように塗布すると耐候性試験での信頼性
および機械特性が確保された。５マイクロメータ未満で
は８０度８５％で３０００時間耐候性試験したときのエ
ラー率が増加した。２０マイクロメーターより厚く塗布
すると保護コート層の硬化による収縮により基板に応力
がかかって、径方向の反り量が大きくなってしまった。 しかし、配合を工夫し硬化収縮率を低下させ、塗布温度
で５００から１０００ｃｐｓ程度の粘度のものは２０マ
イクロメータ以上の厚さでも反り量は大きくならず、３
０マイクロメーター程度も可能であった。しかし、塗布
しやすさを考慮すると５から２０マイクロメータが最も
適当である。さらに好ましくは８から１３マイクロメー
タ平均の厚さになるように塗布するとよい。

【００１１】７の光ディスクの内周部に形成された保護
部分は６の保護コートと同じ材質のものを用いて、１２
の７より柔らかい物質で形成した部分および１４の光ド
ライブのスピンドル部分にかかるように塗布し硬化させ
た。従来はこの７の部分は基板材質がむき出しになって
いた。当然この７の部分は他のアクリル樹脂、メラミン
樹脂、ポリアセタール樹脂、ポリイソシアヌレート樹脂
などの表面硬度の高い樹脂を貼りつけたり、紫外線硬化
樹脂以外の他の３次元高分子で形成したも構わない。こ
の場合基板にこれらの保護樹脂を埋め込む溝を形成して
もよい。

【００１２】８のハブはＳＵＳ４３０製の金属ハブを用
い、ウレタンアクリレート系の紫外線硬化樹脂で接着し
た。ハブの中心孔の回転中心とディスク状の基板の回転
中心を合わせ紫外線を照射することにより接着層を硬化
させた。

【００１３】９の紫外線硬化樹脂よりなるハードコート
層は紫外線硬化樹脂をスピンコート法によって５マイク
ロメーター平均の厚さになるように塗布し、高圧水銀灯
により紫外線を照射して硬化させた。

【００１４】１０のＺｎＡｌＯの帯電防止層はＺｎＡｌ
Ｏの焼結ターゲットを用いて、アルゴンと酸素の混合ガ
スを導入することによるＲＦマグネトロンスパッタ法に
より形成したものである。

【００１５】１１の光ディスク用のカートリッジはポリ
カーボネート樹脂を用いて成形したものである。

【００１６】１２の光ディスク用カートリッジの内周部
のテーパー状部分は光ディスクの外端部の角がほぼ４５
°に接触するように成形した。そして光ディスクの端面
が１０の光ディスク用カートリッジの内周面と面接触し
ないように先の４５°の接触部分が対向させてある。 尚、光ディスクの外端部の角は０．５ミリから１ミリ程
度面取りしたり、紫外線硬化樹脂で保護層を形成したの
で、この光ディスクの角がつぶれてしまうことはなかっ
た。またここの部分の角度も４５°に限らず、２０°か
ら７０°程度でも問題なかった。

【００１７】１３の７より柔らかい物質で形成した保護
部分はポリウレタンゴムを用いて、カートリッジに接着
した。ここの材質もシリコン樹脂、ポリイソプレン、ポ
リクロロプレン、ポリブタジェン、布、セルロースなど
他の物質を用いても構わず同様の効果があった。

【００１８】光ディスクの内周部のカートリッジとの接
触面及びスピンドルとの接触面に、光ディスクに用いる
基板より表面硬度の高い材質からなる保護部分を形成し
た場合は、カートリッジの内周部の光ディスクとの接触
部分を光ディスクに形成した前述の保護部分より柔らか
い物質で形成しない場合でも構わない。

【００１９】また、カートリッジの内周部の光ディスク
との接触部分を光ディスクに形成した前述の保護部分よ
り柔らかい物質で形成した場合は、光ディスクの内周部
のカートリッジとの接触面に、光ディスクに用いる基板
より表面硬度の高い材質からなる保護部分を形成しなく
ても構わない。

【００２０】次に表１に本発明になる光ディスクと従来
の光ディスクの耐久性試験結果および落下試験結果を示
す。

【表１】 表中の実施例１は本実施例で示した光ディスクをホット
メルト装着剤で貼り合わせて両面型の光ディスクとし、
本発明になる光ディスク用カートリッジに入れたもので
あり、実施例２は本実施例で示した光ディスクを用いて
本発明になるカートリッジに入れたものである。比較例
１は従来の貼り合わせ型光ディスクを従来のカートリッ
ジに入れたもので、比較例２は従来の単板型光ディスク
を従来のカートリッジに入れたものである。

【００２１】従来のカートリッジとディスクの接触面に
保護層を形成しない場合は、そこの部分に傷がつき塵が
発生してエラーが増加してしまった。そして、極端な場
合は機械特性の面振れ加速度が大きくなってしまった。 また、落下試験においては光ディスクの外周部の記録層
が基板から剥離したり、極端な場合は基板の外周側に亀
裂が発生するものもあった。しかし、表１の結果からわ
かるように本発明になる光ディスクおよび光ディスク用
カートリッジを用いた場合は耐久性試験や落下試験にお
いても問題ないので、信頼性が高くなることがわかる。

【００２２】尚、本発明はこれらの実施例に限定される
と考えるべきではなく、本発明の趣旨を逸脱しない限り
種々の変更は可能である。

【００２３】

【発明の効果】本発明では、光ディスクの内周部のカー
トリッジとの接触面に傷がつかないので、その傷発生に
よって生じる塵発生がないので、塵発生によるエラー率
の増加をきたしたり、その傷が大きくなることに伴う機
械特性の劣化がないという効果を有する。また、カート
リッジの外周内側の光ディスクとの接触面がテーパー状
になり、そのテーパー状の部分に光ディスクの外端部の
角が接触するように設計されているので、落下したとき
に光ディスクの外端部に傷や記録層の剥離などを生じな
いという効果を有する。

【図面の簡単な説明】

【００２４】

【図１】図１は本発明の光ディスク用カートリッジに本
発明になる光ディスクを入れたところを示す断面図であ
る。

【００２５】

【図２】図２は本発明になる光ディスクの基本構成を示
す断面図である。

【００２６】

【符号の説明】

１　　ポリカーボネートの基板 ２　　ＳｉＡｌＮのセラミックス層 ３　　ＮｄＤｙＦｅＣｏの記録層 ４　　ＳｉＡｌＮのセラミックス層 ５　　ＡｌＴｉの反射層 ６　　紫外線硬化樹脂からなる保護コート層７　　光デ
ィスクの内周部に形成された保護部分８　　ハブ ９　　紫外線硬化樹脂よりなるハードコート層１０　　
ＺｎＡｌＯよりなる帯電防止層１１　　光ディスク用カ
ートリッジ １２　　光ディスク用カートリッジの内周部のテーパー
状部分 １３　　ポリウレタンゴムで形成した保護部分１４　　
光ドライブのスピンドル部分

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】カートリッジに内蔵された光ディスクにお
   いて、該光ディスクの内周部のカートリッジとの接触面
   及びスピンドルとの接触面に、前記光ディスクに用いる
   基板より表面硬度の高い材質からなる保護部分を形成し
   たことを特徴とする光ディスク。
2. 【請求項２】前記カートリッジの内周部の前記光ディス
   クとの接触部分を前記保護部分より柔らかい物質で形成
   し、外周内側の前記光ディスクとの接触面がテーパー状
   になり、該テーパー状の部分に前記光ディスクの外端部
   の角が接触するように設計されていることを特徴とする
   光ディスク用カートリッジ。