JPH0431330B2 - - Google Patents
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- JPH0431330B2 JPH0431330B2 JP13505985A JP13505985A JPH0431330B2 JP H0431330 B2 JPH0431330 B2 JP H0431330B2 JP 13505985 A JP13505985 A JP 13505985A JP 13505985 A JP13505985 A JP 13505985A JP H0431330 B2 JPH0431330 B2 JP H0431330B2
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
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Landscapes
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
<産業上の利用分野>
本発明は、差圧などを静電容量を介して電気信
号に変換する容量式差圧伝送器に係り、特にデジ
タル信号により外部に伝送することの出来る容量
式差圧伝送器に関する。
号に変換する容量式差圧伝送器に係り、特にデジ
タル信号により外部に伝送することの出来る容量
式差圧伝送器に関する。
<従来技術>
従来の差圧伝送器は容量式のセンサあるいはス
トレンゲージなどを用いて構成され、多くは4〜
20mAなどの統一アナログ信号に変換して、例え
ば2線式線路で遠方の受信器に伝送するように構
成されて来た。
トレンゲージなどを用いて構成され、多くは4〜
20mAなどの統一アナログ信号に変換して、例え
ば2線式線路で遠方の受信器に伝送するように構
成されて来た。
従つて、これ等の差圧伝送器はアナログ演算回
路を主体として構成されて来た。
路を主体として構成されて来た。
<発明が解決しようとする問題点>
従来の差圧伝送器がアナログ演算回路を主体と
して構成されていたため、このアナログ演算回路
の性能により差圧伝送器全体の性能が決定される
欠点があつた。
して構成されていたため、このアナログ演算回路
の性能により差圧伝送器全体の性能が決定される
欠点があつた。
<問題点を解決するための手段>
そこで、本発明においてはオペレーシヨナルア
ンプなどによるアナログ演算回路を使用すること
なく、例えばC−MOSジツクデバイスなどを用
いて容量式センサをデジタル演算部へインターフ
エースする方式を提供し、高精度の信号伝送を可
能とするものである。このため、本発明では、差
圧に応じて変化する第1および第2センサ容量
と、このセンサ容量の各一端が接続された共通接
続点に一端が接続された固定容量と、この共通接
続点に入力端が接続され所定の閾値を越えた入力
電圧の変化に応答して出力レベルを変えこの出力
レベルの変化を入力端に負帰還する検出ゲート手
段と、この検出ゲート手段の出力レベルの変化周
期を計数する計数手段と、この計数手段の任意ビ
ツトの出力レベルと検出ゲート手段の出力レベル
とに応答して第1センサ容量の他端へ第1固定電
圧と可変電圧とを交互に印加する第1励振手段
と、計数手段の任意ビツトの出力レベルと検出ゲ
ート手段の出力レベルとに応答して第2センサ容
量の他端へ可変電圧と第2固定電圧とを交互に印
加する第2励振ゲート手段と、少くとも検出ゲー
ト手段の出力レベルに応答して可変電圧と基準電
圧とを第3固定容量の他端へ交互に印加する第3
励振ゲート手段と、マイクロコンピユータを有し
このマイクロコンピユータにより計数手段の出力
に発生する2位置信号の各レベルの保持時間の差
を読みとりこの時間差の極性に応じて可変電圧を
上昇あるいは下降させる操作信号を出力し更にこ
の操作信号に関連した伝送用デジタル信号を外部
に伝送する通信手段を有するデジタル演算手段と
を具備する構成としたものである。
ンプなどによるアナログ演算回路を使用すること
なく、例えばC−MOSジツクデバイスなどを用
いて容量式センサをデジタル演算部へインターフ
エースする方式を提供し、高精度の信号伝送を可
能とするものである。このため、本発明では、差
圧に応じて変化する第1および第2センサ容量
と、このセンサ容量の各一端が接続された共通接
続点に一端が接続された固定容量と、この共通接
続点に入力端が接続され所定の閾値を越えた入力
電圧の変化に応答して出力レベルを変えこの出力
レベルの変化を入力端に負帰還する検出ゲート手
段と、この検出ゲート手段の出力レベルの変化周
期を計数する計数手段と、この計数手段の任意ビ
ツトの出力レベルと検出ゲート手段の出力レベル
とに応答して第1センサ容量の他端へ第1固定電
圧と可変電圧とを交互に印加する第1励振手段
と、計数手段の任意ビツトの出力レベルと検出ゲ
ート手段の出力レベルとに応答して第2センサ容
量の他端へ可変電圧と第2固定電圧とを交互に印
加する第2励振ゲート手段と、少くとも検出ゲー
ト手段の出力レベルに応答して可変電圧と基準電
圧とを第3固定容量の他端へ交互に印加する第3
励振ゲート手段と、マイクロコンピユータを有し
このマイクロコンピユータにより計数手段の出力
に発生する2位置信号の各レベルの保持時間の差
を読みとりこの時間差の極性に応じて可変電圧を
上昇あるいは下降させる操作信号を出力し更にこ
の操作信号に関連した伝送用デジタル信号を外部
に伝送する通信手段を有するデジタル演算手段と
を具備する構成としたものである。
<実施例>
以下、本発明の実施例について図面に基づき説
明する。第1図は本発明の一実施例を示すブロツ
ク図である。10はインタフエース部、20はデ
ジタル演算部である。
明する。第1図は本発明の一実施例を示すブロツ
ク図である。10はインタフエース部、20はデ
ジタル演算部である。
センサ容量C1,C2の各一端は検出ゲートを構
成するインバータG1の入力端に接続されている。
インバータG1の入力端と出力端の間には抵抗Rc
が負帰還接続されている。
成するインバータG1の入力端に接続されている。
インバータG1の入力端と出力端の間には抵抗Rc
が負帰還接続されている。
インバータG1の出力端はnビツトのカウンタ
CT1Aの入力端CLに接続され、その出力端Qoは
第1励振ゲート手段としてのアンドゲートG2の
入力の一端に接続されている。更に出力端Qoは
インバータG3を介して第2励振ゲート手段とし
てのアンドゲートG4の入力の一端に接続されて
いる。アンドゲートG2,G4の入力の他端はイン
バータG1の出力端とインバータG5を介して接続
されている。
CT1Aの入力端CLに接続され、その出力端Qoは
第1励振ゲート手段としてのアンドゲートG2の
入力の一端に接続されている。更に出力端Qoは
インバータG3を介して第2励振ゲート手段とし
てのアンドゲートG4の入力の一端に接続されて
いる。アンドゲートG2,G4の入力の他端はイン
バータG1の出力端とインバータG5を介して接続
されている。
バツフアゲートG6はデジタル演算部20から
の操作信号Dppを受け、その出力端にデユテイ比
の変化するパルス信号を出力する。このパルス信
号を抵抗R1、コンデンサC4で構成したフイルタ
により可変電圧Vに変換する。
の操作信号Dppを受け、その出力端にデユテイ比
の変化するパルス信号を出力する。このパルス信
号を抵抗R1、コンデンサC4で構成したフイルタ
により可変電圧Vに変換する。
第3励振ゲートとしてのインバータG7の正電
源端には可変電圧V、負電源端は基準電位点Cに
それぞれ接続され、その入力端にはインバータ
G1の出力端の電圧が印加されている。インバー
タG7の出力端はインバータG1の入力端にその一
端が接続されたコンデンサC3の他端に接続され
ている。
源端には可変電圧V、負電源端は基準電位点Cに
それぞれ接続され、その入力端にはインバータ
G1の出力端の電圧が印加されている。インバー
タG7の出力端はインバータG1の入力端にその一
端が接続されたコンデンサC3の他端に接続され
ている。
アンドゲートG2の正電源端、負電源端にはそ
れぞれ正電圧+E、可変電圧Vが印加され、アン
ドゲートG4の正電源端、負電源端にはそれぞれ
可変電圧V、負電圧−Eが印加されている。
れぞれ正電圧+E、可変電圧Vが印加され、アン
ドゲートG4の正電源端、負電源端にはそれぞれ
可変電圧V、負電圧−Eが印加されている。
カウンタCT1の出力端は、監視ゲートとしての
イクスクルシーブオアゲートG8の入力の一端に
接続されている。イクスクルシーブオアゲート
G8の入力の他端にはデジタル演算部20からの
検知信号Dsが印加されている。
イクスクルシーブオアゲートG8の入力の一端に
接続されている。イクスクルシーブオアゲート
G8の入力の他端にはデジタル演算部20からの
検知信号Dsが印加されている。
CT2はクロツクカウンタでありその入力端CL
にデジタル演算部20からクロツクパルスPcを受
けこれを単にカウントし時間情報をコード化して
所要ビツトのデジタル信号Dcとして出力端Qよ
りデジタル演算部20へ出力する。
にデジタル演算部20からクロツクパルスPcを受
けこれを単にカウントし時間情報をコード化して
所要ビツトのデジタル信号Dcとして出力端Qよ
りデジタル演算部20へ出力する。
以上の構成のうちセンサ容量C1,C2とコンデ
ンサC3を除いた部分でデジタル演算部へのイン
タフエース部10を構成している。
ンサC3を除いた部分でデジタル演算部へのイン
タフエース部10を構成している。
デジタル演算部20のうち、RAMはランダム
アクセスメモリ、ROMはリードオンリメモリ、
CPUはマイクロプロセツサ、IO1は信号伝送のた
めの入出力ポート、TCは入出力ポートIO1の出
力を受けて電流信号やその他の慣用信号を伝送す
るための伝送回路、IO2,IO3,IO4はそれぞれイ
ンタフエース部10との間を結ぶ入出力ポートで
あり、これ等の各要素の間はバスBSで結ばれて
いる。
アクセスメモリ、ROMはリードオンリメモリ、
CPUはマイクロプロセツサ、IO1は信号伝送のた
めの入出力ポート、TCは入出力ポートIO1の出
力を受けて電流信号やその他の慣用信号を伝送す
るための伝送回路、IO2,IO3,IO4はそれぞれイ
ンタフエース部10との間を結ぶ入出力ポートで
あり、これ等の各要素の間はバスBSで結ばれて
いる。
CLGはクロツクパルスPcを発生するクロツク
ジエネレータであり、このクロツクパルスPcをク
ロツクカウンタCT2とマイクロプロセツサCPU
にそれぞれ供給する。
ジエネレータであり、このクロツクパルスPcをク
ロツクカウンタCT2とマイクロプロセツサCPU
にそれぞれ供給する。
入出力ポートIO2はマイクロプロセツサCPUか
らバスBSを介して受けた指令に基づいて検知信
号DsをイクスクルシーブオアゲートG8の入力の
他端に印加する。その出力端に発生したトリガパ
ルスPTによりクロツクカウンタCT2の中の時間情
報であるデジタル信号Dcを入出力ポートIO3に格
納する。
らバスBSを介して受けた指令に基づいて検知信
号DsをイクスクルシーブオアゲートG8の入力の
他端に印加する。その出力端に発生したトリガパ
ルスPTによりクロツクカウンタCT2の中の時間情
報であるデジタル信号Dcを入出力ポートIO3に格
納する。
一方、マイクロプロセツサCPUで処理された
信号は入出力ポートIO4を介して操作信号Dppとし
てバツフアゲートG6に出力される。
信号は入出力ポートIO4を介して操作信号Dppとし
てバツフアゲートG6に出力される。
なお、インバータG1,G3,G5、バツフアゲー
トG6などの論理素子の付勢は正電圧+E、負電
圧−Eで行ない、これ等の値は例えば+2.5ボル
ト、−2.5ボルトなどとする。更に、インバータ
G1,G3,G5,G7、バツフアゲートG6、アンドゲ
ートG2,G5などの論理素子はPチヤネルMOS−
FETとNチヤネルMOS−FETで構成されたC−
MOS回路を用いると付勢電圧値が出力レベルの
電圧値となるので都合が良い。
トG6などの論理素子の付勢は正電圧+E、負電
圧−Eで行ない、これ等の値は例えば+2.5ボル
ト、−2.5ボルトなどとする。更に、インバータ
G1,G3,G5,G7、バツフアゲートG6、アンドゲ
ートG2,G5などの論理素子はPチヤネルMOS−
FETとNチヤネルMOS−FETで構成されたC−
MOS回路を用いると付勢電圧値が出力レベルの
電圧値となるので都合が良い。
次に、以上の如く構成された第1図に示す容量
式差圧伝送器の動作について第2図に示す波形図
を用いて説明する。
式差圧伝送器の動作について第2図に示す波形図
を用いて説明する。
カウンタCT1の出力が第2図1,ヘの期間T1
で示すハイレベル“H”でインバータG5の出力
がローレベル“L”にあるときは、アンドゲート
G2の出力(第2図1,ハ)は“L”状態であり、
インバータG1の入力端の入力電圧eiは第2図1,
イのA0で示す状態にあり、インバータG1の出力
端の出力レベルは第2図1,ロで示す様に“H”
状態にあるので、抵抗Rcを介してセンサ容量C1,
C2およびコンデンサC3が充電され徐々に電位が
上昇する。インバータG1のスレシホールドレベ
ルVTHに電圧eiが達すると、インバータG1の出力
が反転し、インバータG1の入力端の電圧eiは第2
図1,イのA1で示す状態になる。この場合、ス
レシホールドレベルVTHは+E、−Eの電圧で付
勢されているのでVTH=0でインバータG1の出力
が反転する。この電圧変化e1は、入力端での電荷
変動を考慮すると次式で示される。
で示すハイレベル“H”でインバータG5の出力
がローレベル“L”にあるときは、アンドゲート
G2の出力(第2図1,ハ)は“L”状態であり、
インバータG1の入力端の入力電圧eiは第2図1,
イのA0で示す状態にあり、インバータG1の出力
端の出力レベルは第2図1,ロで示す様に“H”
状態にあるので、抵抗Rcを介してセンサ容量C1,
C2およびコンデンサC3が充電され徐々に電位が
上昇する。インバータG1のスレシホールドレベ
ルVTHに電圧eiが達すると、インバータG1の出力
が反転し、インバータG1の入力端の電圧eiは第2
図1,イのA1で示す状態になる。この場合、ス
レシホールドレベルVTHは+E、−Eの電圧で付
勢されているのでVTH=0でインバータG1の出力
が反転する。この電圧変化e1は、入力端での電荷
変動を考慮すると次式で示される。
e1=C1(E−V)+C3V/C1+C2+C3 (1)
尚、これ等の状態では、インバータG3の出力
はカウンタCT1の出力を反転した第2図1,ヘの
状態にあり、このためアンドゲートG4の出力は
“L”状態に固定されており、センサ容量C1側の
みが切替えられる。
はカウンタCT1の出力を反転した第2図1,ヘの
状態にあり、このためアンドゲートG4の出力は
“L”状態に固定されており、センサ容量C1側の
みが切替えられる。
状態A0からA1に切替つた後の過渡状態は初期
値を(1)式で示す値としてスレシホールドレベル
VTHに電圧eiが低下するまでの放電時間t1を算出
すると、 t1=−Rc(C1+C2+C3)lnE/(e1+E) (2) となる。
値を(1)式で示す値としてスレシホールドレベル
VTHに電圧eiが低下するまでの放電時間t1を算出
すると、 t1=−Rc(C1+C2+C3)lnE/(e1+E) (2) となる。
放電時間t1の経過後、インバータG1の出力が反
転する(第2図1,ロ)。反転直後のインバータ
G1の入力端の電圧変化e1′は(1)式と同じとなる。
従つて、この場合のセンサ容量C1,C2およびコ
ンデンサC3への逆方向の放電時間t1′も(2)式で示
す値となる。この放電時間は第2図1,イの
A1′で示す領域である。
転する(第2図1,ロ)。反転直後のインバータ
G1の入力端の電圧変化e1′は(1)式と同じとなる。
従つて、この場合のセンサ容量C1,C2およびコ
ンデンサC3への逆方向の放電時間t1′も(2)式で示
す値となる。この放電時間は第2図1,イの
A1′で示す領域である。
次にカウンタCT1の出力が第2図1,ヘの期期
T2で示すローレベル“L”のときはアンドゲー
トG2の出力は“L”状態に固定され、アンドゲ
ートG4の出力はインバータG1の出力レベルの変
化に従つて変化する(第2図1,ニ)。この場合
のセンサ容量C1,C2およびコンデンサC3の充放
電関係の動作は期間T1の場合と同様であり、そ
の入力電圧eiの変化e2および放電時間t2はそれぞ
れ下式で示される値となる。
T2で示すローレベル“L”のときはアンドゲー
トG2の出力は“L”状態に固定され、アンドゲ
ートG4の出力はインバータG1の出力レベルの変
化に従つて変化する(第2図1,ニ)。この場合
のセンサ容量C1,C2およびコンデンサC3の充放
電関係の動作は期間T1の場合と同様であり、そ
の入力電圧eiの変化e2および放電時間t2はそれぞ
れ下式で示される値となる。
e2=C2(E+V)−C3V/C1+C2+C3 (3)
t2=−Rc(C1+C2+C3)lnE/e2+E (4)
インバータG1の出力レベルの変化に伴う逆方
向への電圧変化e2′もe2と同値であり、従つて逆
方向への放電時間t1′も(4)式で示す値と同値とな
る。
向への電圧変化e2′もe2と同値であり、従つて逆
方向への放電時間t1′も(4)式で示す値と同値とな
る。
一方、デジタル演算部20からは後述する様に
カウンタCT1の出力パルスの期間T1とT2が等し
くなる様に操作信号DppをバツフアゲートG6の入
力端に出力する。その出力端には第2図1,トに
示す波形のパルス信号を出力し、これを抵抗R1、
コンデンサC4で構成するフイルタで平滑して可
変電圧Vとする。この可変電圧Vでインバータ
G7を付勢するのでコンデンサC3の他端に印加さ
れる電圧(第2図1,ホ)は可変電圧Vの大きさ
に従つて変化し期間T1とT2が等しくされる。
カウンタCT1の出力パルスの期間T1とT2が等し
くなる様に操作信号DppをバツフアゲートG6の入
力端に出力する。その出力端には第2図1,トに
示す波形のパルス信号を出力し、これを抵抗R1、
コンデンサC4で構成するフイルタで平滑して可
変電圧Vとする。この可変電圧Vでインバータ
G7を付勢するのでコンデンサC3の他端に印加さ
れる電圧(第2図1,ホ)は可変電圧Vの大きさ
に従つて変化し期間T1とT2が等しくされる。
放電時間t1t2に対応するカウンタCT1の入力端
での変化数をnビツト計数した計数値がT1、T2
であるので(2)、(4)式を等しくおいて、e1=e2が得
られ、(1)、(3)式を等しくおくと次式が得られる。
での変化数をnビツト計数した計数値がT1、T2
であるので(2)、(4)式を等しくおいて、e1=e2が得
られ、(1)、(3)式を等しくおくと次式が得られる。
C1(E−V)+C3V=C2(E+V)−C3V (5)
ここで、センサ容量C1,C2は差圧により変化
する変化成分C1′,C2′と浮遊容量などによる変化
しない不変成分Cpとの和で示されるので(5)式を
これ等の成分を用いて書き換えると、 (C1′+Cp)(E−V)+C3V=(C1′+Cp)(E+
V)+C3V (6) となる。C3とCpと等しく選定し不変成分Cpを消
去すると(6)式は次の(7)式となる。
する変化成分C1′,C2′と浮遊容量などによる変化
しない不変成分Cpとの和で示されるので(5)式を
これ等の成分を用いて書き換えると、 (C1′+Cp)(E−V)+C3V=(C1′+Cp)(E+
V)+C3V (6) となる。C3とCpと等しく選定し不変成分Cpを消
去すると(6)式は次の(7)式となる。
V=C1′−C2′/C1′+C2′E (7)
従つて、差圧により静電容量が変化する変化成
分C1′,C2′のみで可変電圧Vを表わすことができ
る。また、可変電圧Vは第2図1,トの波形を平
滑した電圧であるので V=ET10−ET20/T10+T20 (8) として表わされる。(7)式および(8)式から、 C1′−C2′/C1′+C2′=T10−T20/T10+T20 (9) となる。
分C1′,C2′のみで可変電圧Vを表わすことができ
る。また、可変電圧Vは第2図1,トの波形を平
滑した電圧であるので V=ET10−ET20/T10+T20 (8) として表わされる。(7)式および(8)式から、 C1′−C2′/C1′+C2′=T10−T20/T10+T20 (9) となる。
従つて、T10、T20の値から逆に差圧を知るこ
とができる。T10、T20の値はデジタル演算部2
0より送出された値であるので、対応する信号を
入出力ポートIO1より伝送回路TCを介して例え
ばデジタル信号として伝送することがきる。
とができる。T10、T20の値はデジタル演算部2
0より送出された値であるので、対応する信号を
入出力ポートIO1より伝送回路TCを介して例え
ばデジタル信号として伝送することがきる。
次にデジタル演算部20での信号処理を中心と
した動作の説明をする。
した動作の説明をする。
デジタル演算部20ではメモリRAMまたは
ROMに書き込まれたプログラムによりマイクロ
プロセツサCPUの制御のもとに入出力ポートIO2
を介して第2図2,ロに示す波形の検知信号Ds
をイクスクルシーブオアゲートG8の入力の他端
に出力する。一方、カウンタCT1の出力端Qoか
らは第2図2,イに示す波形の出力信号がエクス
クルシーブオアゲートG8の入力の一端に印加さ
れている。
ROMに書き込まれたプログラムによりマイクロ
プロセツサCPUの制御のもとに入出力ポートIO2
を介して第2図2,ロに示す波形の検知信号Ds
をイクスクルシーブオアゲートG8の入力の他端
に出力する。一方、カウンタCT1の出力端Qoか
らは第2図2,イに示す波形の出力信号がエクス
クルシーブオアゲートG8の入力の一端に印加さ
れている。
検知信号Dsが“L”状態のときは、イクスク
ルシーブオアゲートG8より出力されるトリガパ
ルスPTは第2図2,ハに示すようにカウンタCT1
の出力レベルが“L”から“H”への変化を
“H”レベルとして入出力ポートIO3の入力端Tr
へ伝達される。逆に、検知信号Dsが“H”状態
のときは、トリガパルスPTはカウンタCT1の出力
レベルが“H”から“L”への変化を“H”レベ
ルとして入出力ポートIO3の入力端Trへ伝達され
る。
ルシーブオアゲートG8より出力されるトリガパ
ルスPTは第2図2,ハに示すようにカウンタCT1
の出力レベルが“L”から“H”への変化を
“H”レベルとして入出力ポートIO3の入力端Tr
へ伝達される。逆に、検知信号Dsが“H”状態
のときは、トリガパルスPTはカウンタCT1の出力
レベルが“H”から“L”への変化を“H”レベ
ルとして入出力ポートIO3の入力端Trへ伝達され
る。
クロツクカウンタCT2はクロツクジエネレータ
CLGのクロツクパルスPc(第2図2,ニ)を入力
端CLに受け、これを単にカウントして時間情報
をコード化し、所要ビツトのデジタル信号Dcと
して入出力ポートIO3へ伝達する。第2図2,ホ
におけるD1〜D5は5ビツトに模形化して示した
デジタル信号Dcである。このデジタル信号Dcは
トリガパルスPTの立上りに同期して入出力ポー
トIO3に格納され、この格納状態が第2図2,ヘ
で示すQ1〜Q5の状態である。
CLGのクロツクパルスPc(第2図2,ニ)を入力
端CLに受け、これを単にカウントして時間情報
をコード化し、所要ビツトのデジタル信号Dcと
して入出力ポートIO3へ伝達する。第2図2,ホ
におけるD1〜D5は5ビツトに模形化して示した
デジタル信号Dcである。このデジタル信号Dcは
トリガパルスPTの立上りに同期して入出力ポー
トIO3に格納され、この格納状態が第2図2,ヘ
で示すQ1〜Q5の状態である。
マイクロプロセツサCPUは、検知信号Dsの反
転に継続する時点TD1〜TD5における時間情報
Q1〜Q5を読込む。第2図2,ヘに示す例では、
時点TD1ではゼロ、TD2では10、TD3は16、TD4
では26、TD5ではゼロとするコードで示されてい
る。
転に継続する時点TD1〜TD5における時間情報
Q1〜Q5を読込む。第2図2,ヘに示す例では、
時点TD1ではゼロ、TD2では10、TD3は16、TD4
では26、TD5ではゼロとするコードで示されてい
る。
次に、例えば時点TD2で読込む時間値を第2図
2,ハで示すTR1の長さ即ちT1、TD3で読込む
時間値をTR2の長さ即ちT2に対応させるためマ
イクロプロセツサCPUにメモリRAMまたは
ROM内に格納されたプログラムにより次の演算
を実行させる。
2,ハで示すTR1の長さ即ちT1、TD3で読込む
時間値をTR2の長さ即ちT2に対応させるためマ
イクロプロセツサCPUにメモリRAMまたは
ROM内に格納されたプログラムにより次の演算
を実行させる。
検知信号Dsは“H”か
YES:T2に関するデータの内容を更新する。
NO:T1に関するデータの内容を更新する。
読込値は前回値より小さいか
YES:データを(読込値+2x)−(前回値)で更
新する。xはビツトサイズ、この例では5。
新する。xはビツトサイズ、この例では5。
NO:データを(読込値)−(前回値)で更新す
る。
る。
前回値を読込値で更新する。
以上の手順による演算の結果、時点TD2では上
記読込値からT1=(10−0)=10、TD3ではT2=
(16−10)=6、TD4ではT1=(26−16)=10、
TD5ではT2=(0+25−26)=6を得る。
記読込値からT1=(10−0)=10、TD3ではT2=
(16−10)=6、TD4ではT1=(26−16)=10、
TD5ではT2=(0+25−26)=6を得る。
この様なT1、T2の値に基づき、T1、T2の値を
更新するため更に次の演算をマイクロプロセツサ
CPUにより実行する。
更新するため更に次の演算をマイクロプロセツサ
CPUにより実行する。
T1>T2か
YES:T10を増加しT20を減少させる(第2図
1,ト)。
1,ト)。
NO:T10を減少しT20を増加させる(第2図
1,ト)。
1,ト)。
以上の演算を繰り返すと(8)式より可変電圧Vの
値を変化させることができる。従つて、YESの
場合は可変電圧Vが増加するので電圧変化e1は減
少し、電圧変化e2が増加する。NOの場合はこれ
と逆の変化をする。この結果、最終的にはe1=e2
となりT1=T2に至る。
値を変化させることができる。従つて、YESの
場合は可変電圧Vが増加するので電圧変化e1は減
少し、電圧変化e2が増加する。NOの場合はこれ
と逆の変化をする。この結果、最終的にはe1=e2
となりT1=T2に至る。
なお、マイクロプロセツサCPUは第1図に示
すトリガパルスPTを例えば点線で示すように割
込み入力として入力し割込みの発生ごとにマイク
ロプロセツサCPUは検知信号Dsを反転させてカ
ウンタCT1の“L”から“H”、“H”から“L”
へのレベル変化の発生をマイクロプロセツサ
CPUへ通知して入出力IO3のデータを読み込む。
すトリガパルスPTを例えば点線で示すように割
込み入力として入力し割込みの発生ごとにマイク
ロプロセツサCPUは検知信号Dsを反転させてカ
ウンタCT1の“L”から“H”、“H”から“L”
へのレベル変化の発生をマイクロプロセツサ
CPUへ通知して入出力IO3のデータを読み込む。
また、カウンタCT1のビツト構成を第2図では
2ビツトで、またクロツクカウンタCT2を5ビツ
トで説明したが、T1、T2の時間幅にクロツクパ
ルスPcを多数含む方が分解能の上から好ましい。
2ビツトで、またクロツクカウンタCT2を5ビツ
トで説明したが、T1、T2の時間幅にクロツクパ
ルスPcを多数含む方が分解能の上から好ましい。
更に、センサ容量C1,C2への励振電流とフイ
ルタでの電圧降下が少くない場合は、平滑回路か
ら可変電圧Vを送出する際にゲイン1のバツフア
増幅器を介在させれば良い。
ルタでの電圧降下が少くない場合は、平滑回路か
ら可変電圧Vを送出する際にゲイン1のバツフア
増幅器を介在させれば良い。
励振手段は+E、−E、Vなどの電圧を論理信
号に従つてスイツチングする手段であり、C−
MOSデバイスに限定されない任意のアナログス
イツチを用いることもできる。
号に従つてスイツチングする手段であり、C−
MOSデバイスに限定されない任意のアナログス
イツチを用いることもできる。
可変電圧Vはデユテイ比を有する操作信号Dpp
を送出して作つたが、これに限ることはなく、例
えばD/A変換器などの手段も使用できる。
を送出して作つたが、これに限ることはなく、例
えばD/A変換器などの手段も使用できる。
第3図は第1図における可変電圧Vを得る他の
実施例を示すブロツク図である。この実施例は第
1図における入出力ポートIO4からのデユテイサ
イクルの操作信号Dppの発信に変えて、入出力ポ
ートIO5を単なるコード信号を発信する構成とし
て、外部でコード・デユテイ変換を行いデジタル
演算部21での負担を軽くするものである。
実施例を示すブロツク図である。この実施例は第
1図における入出力ポートIO4からのデユテイサ
イクルの操作信号Dppの発信に変えて、入出力ポ
ートIO5を単なるコード信号を発信する構成とし
て、外部でコード・デユテイ変換を行いデジタル
演算部21での負担を軽くするものである。
第3図におけるMCはマグニチユドコンパレー
タであり、クロツクカウンタCT2からのサイクリ
ツクコードと入出力ポートIO5で増幅されるコー
ド信号とをその入力端DA,DBに受け、これ等
の大きさを比較してバツフアゲートG4へデユテ
イサイクル信号として伝達する。この場合は式(9)
の(T10+T20)の値がクロツクカウンタCT2の
デジタル信号Dcのビツト・サイズxで決まり2xで
与えられ、T10の値は入出力ポートIO5のコード
信号の値で与えられる。
タであり、クロツクカウンタCT2からのサイクリ
ツクコードと入出力ポートIO5で増幅されるコー
ド信号とをその入力端DA,DBに受け、これ等
の大きさを比較してバツフアゲートG4へデユテ
イサイクル信号として伝達する。この場合は式(9)
の(T10+T20)の値がクロツクカウンタCT2の
デジタル信号Dcのビツト・サイズxで決まり2xで
与えられ、T10の値は入出力ポートIO5のコード
信号の値で与えられる。
<発明の効果>
以上、実施例と共に具体的に説明した様に、本
発明によれば差圧などを静電容量の変化に変換し
これをマイクロコンピユータへデジタル量として
入力し、このデジタルの数値データを介して第
1、第2センサ容量にアナログ値の可変電圧とし
て帰還するようにして差圧に対応するデジタル信
号を得る様にした。従つて、この差圧に対応する
デジタル信号を伝送回路を介してそのままデジタ
ル値として伝送でき、したがつて精度の高い差圧
伝送器が実現できる。
発明によれば差圧などを静電容量の変化に変換し
これをマイクロコンピユータへデジタル量として
入力し、このデジタルの数値データを介して第
1、第2センサ容量にアナログ値の可変電圧とし
て帰還するようにして差圧に対応するデジタル信
号を得る様にした。従つて、この差圧に対応する
デジタル信号を伝送回路を介してそのままデジタ
ル値として伝送でき、したがつて精度の高い差圧
伝送器が実現できる。
第1図は本発明の一実施例を示すブロツク図、
第2図は第1図の各部の波形を示す波形図、第3
図は第1図における可変電圧を得る他の実施例を
示すブロツク図である。 C1,C2……センサ容量、G1,G3,G5,G7……
インバータ、G6……バツフアゲート、CT1……
カウンタ、CT2………クロツクカウンタ、IO1〜
IO5……入出力ポート、CPU……マイクロプロセ
ツサ、BS……バス、CLG……クロツクジエネレ
ータ、10……インタフエース部、20,21…
…デジタル演算部、V……可変電圧、ei……入力
電圧、Dpp……操作信号、Pc……クロツクパルス、
PT……トリガパルス、Ds……検知信号。
第2図は第1図の各部の波形を示す波形図、第3
図は第1図における可変電圧を得る他の実施例を
示すブロツク図である。 C1,C2……センサ容量、G1,G3,G5,G7……
インバータ、G6……バツフアゲート、CT1……
カウンタ、CT2………クロツクカウンタ、IO1〜
IO5……入出力ポート、CPU……マイクロプロセ
ツサ、BS……バス、CLG……クロツクジエネレ
ータ、10……インタフエース部、20,21…
…デジタル演算部、V……可変電圧、ei……入力
電圧、Dpp……操作信号、Pc……クロツクパルス、
PT……トリガパルス、Ds……検知信号。
Claims (1)
- 1 差圧に応じて変化する第1および第2センサ
容量と、このセンサ容量の各一端が接続された共
通接続点に一端が接続された固定容量と、この共
通接続点に入力端が接続され所定の閾値を越えた
入力電圧の変化に応答して出力レベルを変えこの
出力レベルの変化を前記入力端に負帰還する検出
ゲート手段と、この検出ゲート手段の出力レベル
の変化周期を計数する計数手段と、この計数手段
の任意ビツトの出力レベルと前記検出ゲート手段
の出力レベルとに応答して前記第1センサ容量の
他端へ第1固定電圧と可変電圧とを交互に印加す
る第1励振手段と、前記計数手段の任意ビツトの
出力レベルと前記検出ゲート手段の出力レベルと
に応答して前記第2センサ容量の他端へ前記可変
電圧と第2固定電圧とを交互に印加する第2励振
ゲート手段と、少くとも前記検出ゲート手段の出
力レベルに応答して前記可変電圧と基準電圧とを
前記第3固定容量の他端へ交互に印加する第3励
振ゲート手段と、マイクロコンピユータを有しこ
のマイクロコンピユータにより前記計数手段の出
力に発生する2位置信号の各レベルの保持時間の
差を読みとりこの時間差の極性に応じて前記可変
電圧を上昇あるいは下降させる操作信号を出力し
更にこの操作信号に関連した伝送用デジタル信号
を外部に伝送する通信手段を有するデジタル演算
手段とを具備することを特徴とする容量式差圧伝
送器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13505985A JPS61292517A (ja) | 1985-06-20 | 1985-06-20 | 容量式差圧伝送器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13505985A JPS61292517A (ja) | 1985-06-20 | 1985-06-20 | 容量式差圧伝送器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61292517A JPS61292517A (ja) | 1986-12-23 |
| JPH0431330B2 true JPH0431330B2 (ja) | 1992-05-26 |
Family
ID=15142930
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13505985A Granted JPS61292517A (ja) | 1985-06-20 | 1985-06-20 | 容量式差圧伝送器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61292517A (ja) |
-
1985
- 1985-06-20 JP JP13505985A patent/JPS61292517A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61292517A (ja) | 1986-12-23 |
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